Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Микроскопия микроскопы

В настоящее время применяются два основных метода для выявления и оценки профиля поверхности оптический (приборы — двойной микроскоп, микроскоп теневой проекции, микроинтерферометры) и щу-повой (приборы — профилометры и профилографы).  [c.7]

Микроскоп МЛ-2 отличается от микроскопа МЛ-1 модернизированной конструкцией, улучшенной схемой и большим комплектом, расширяющим возможности микроскопа. Микроскоп МЛ-2 снабжен специально предназначенной для него микрофотонасадкой.  [c.70]


Микроскоп БМ-56 наиболее простой из стереоскопических микроскопов. Микроскопы МБС-1 и МБС-2 являются более сложными и дорогими и отличаются большим увеличением при большом рабочем расстоянии, обеспечивают быстрое изменение увеличения и имеют ряд других преимуществ в конструкции.  [c.115]

Для отсчета перемещений на гильзе, скрепленной с микрометрической гайкой, имеется миллиметровая шкала, а на барабане, связанном с микрометрическим винтом, — круговая шкала с 200 делениями. Так как шаг винта равен 1 мм, то цена деления шкалы барабана равна 0,005 мм. Замедление движения стола осуществляется амортизаторами в виде часовых зубчатых механизмов. Стол микроскопа может быть повернут на любой угол при помощи маховичка 14. Для отсчета угла поворота стола служит градусная шкала с 360 делениями, нанесенными на его ободе, и шкала нониуса с величиной отсчета 3. На основании прибора установлена колонка 7 с кронштейном 11, на котором закреплен тубус микроскопа. Микроскопы с угломерной окулярной головкой показаны на рис. П. 19. В случае необходимости вместо угломерной головки может быть использована револьверная головка или головка двойного изображения. Кронштейн 11 можно смещать по высоте вращением рукоятки 8 реечной передачи и закреплять в требуемом положении фиксатором 6. Точная фокусировка детали производится поворотом накатанного кольца 12 держателя объектива 13. В верхней части стола имеются Т-образные пазы для закрепления различных приспособлений, на которые ставятся измеряемые детали. На рис. II.20 показана отдельно угломерная окулярная головка. Визирование деталей производится на сетке, видимой в окуляр 1. Обычно применяют простую сетку 8 или сетку 6 с дополнительными штриховыми линиями, проведенными на расстояниях 0,9 и 2,7 мм от центра. Простая сетка применяется для визирования деталей при измерениях линейных размеров. и углов. Сетка с дополнительными пунктирными линиями помимо этого общего случая может применяться также для измерения элементов профиля резьбы с использованием измерительных ножей.  [c.342]

Двойной микроскоп Линника. Прибор предназначен для измерения чистоты поверхностей 3—9-го классов чистоты. Действие микроскопа основано на принципе светового сечения (фиг. 102). Прибор (фиг. 103) состоит из двух микроскопов микроскоп А служит для освещения исследуемой поверхности (проектирующий микроскоп), микроскоп В — для наблюдения и измерения получаемого очертания кривой  [c.452]

Ориентация затачиваемого резца на станке и совмещение плоскости круга с осью поворота суппорта производится с помощью микроскопа. Микроскоп имеет сетку в виде перекрестия и окружностей с центром в перекрестии. Расстояние между окружностями 0,5 мм. Увеличение микроскопа 10Х.  [c.79]


Универсальный измерительный микроскоп типа УИМ-24 предназначен для тех же целей, что и упомянутые выше универсальные микроскопы. Микроскоп имеет отсчетный и визирный экраны. Прибор позволяет измерять объекты массой до 100 кг и длиной до 500 мм. Оптическая система прибора имеет визирную и три отсчетные части.  [c.111]

Микроскоп. Микроскоп (сложный) состоит схематически (фиг. 142-44,а) из одной короткофокусной системы —объектива.  [c.210]

Измерительные микроскопы. Микроскопы применяются для точных измерений длин и углов разнообразных деталей, имеющих сложный профиль (резьб, шаблонов, кулачков, конусов, чер-  [c.116]

На рис. 20, а приведен общий вид вертикального металлографического микроскопа. Микроскоп состоит из трех основных частей осветительного устройства I, собственно микроскопа II с иллюминационным тубусом Я, визуальным тубусом Б, предметным столиком С, механизмом грубой Г и точной Г наводки на фокус и нижнего корпуса III с основанием.  [c.36]

Микроскоп. Микроскоп, подобно телескопу, имеет одну линзу (объектив) для формирования реального изображения объекта и вторую линзу (окуляр) для исследования этого изображения. Объект, который нужно рассмотреть, помещают близко к фокальной плоскости объектива (но не точно в ней). Изображение образуется на большом расстоянии Ь от объектива — положим, что оно равно да 20 см. Это расстояние практически определяет размер микроскопа. Объект шириной х, расположенный на расстоянии от объектива, близком к /1, имеет реальное изображение шириной Нг = = (Ь/[1)х. Это изображение удалено от окуляра на расстояние /а и стягивает угол относительно окуляра Л1//2. Если предмет рассматривают невооруженным глазом с расстояния 25 см, он образует  [c.461]

Микроскоп. Микроскоп состоит из двух собирающих систем линз — объектива и окуляра, расположенных на большом расстоянии друг от друга. Они помещаются на концах трубки (тубуса), которая обычно укрепляется вертикально на штативе микроскопа, объектив ввинчивается в нее снизу, а окуляр вставляется сверху. Предмет помещается на малом расстоянии перед передним фокусом объектива. Объектив дает его действительное обратное увеличенное изображение, которое рассматривается через окуляр, действующий как лупа. Пусть /х и /5 — главные фокусные расстояния объектива, /г и /а — окуляра. Тогда фокусные расстояния / и / всей оптической системы микроскопа определятся формулами (12.3), т. е.  [c.164]

Методы голографии довольно просто устраняют эти трудности. Все, что требуется,— это снять с короткой выдержкой голограмму образца. Это не только заморозит любое движение, но и обеспечит высокое качество голограммы. Поскольку голограмма регистрирует все трехмерные характеристики образца, то нет необходимости предварительно подготавливать образцы. Таким образом, опасность испортить образец резко снижается. Полученное голографическое изображение можно изучать в любое удобное время под микроскопом. Микроскоп можно сфокусировать на различные плоскости по всей глубине голографического изображения, таким образом можно изучать весь образец, не деформируя его. Более того, при восстановлении голографического изображения опять же можно использовать шлирен-методы и методы фазово-контрастного анализа для выявления различных деталей образца. Поэтому голография может удешевить и упростить существующую технику подготовки образцов.  [c.106]

Если фрагменты крупные, то они хорошо видны при изучении под оптическим микроскопом. На рис. 13 показана микроструктура металла, состоящего из крупных зерен, которые в свою очередь состоят из фрагментов и блоков.  [c.33]

Однако оптический микроскоп не является аппаратом, который может обнаружить кристаллик любого малого размера. Как известно из оптики, разрешающая способность микроскопа равна  [c.38]

Этот расчет показывает, что в оптическом микроскопе мы не увидим кристаллик, размер которого меньше 0,4—0,6 мкм, какое бы большое увеличение не применяли . Отсюда практически на оптическом микроскопе изучают и фотографируют структуру при увеличении не более чем в 1000—1500 раз, при этом самая маленькая частица, которая в нем различима, имеет на изображении размер 0,4—0,6 мм. Полученное изображение можно укрупнить и размер видимых частиц станет больше, но новых деталей в структуре при этом не выявляется.  [c.38]

Для изучения дисперсных структур, а также тонких деталей грубых структур (границы зерна, блочное строение и т. д.) в металлографии применяют электронный микроскоп.  [c.38]


В качестве освещения в электронном микроскопе использован электронный луч. Как видно из приведенной формулы, разрешающее расстояние определяется длиной волны.  [c.38]

В поле напряженностью 50000 В электронам сообщается скорость 124000 км/с, что соответствует длине волны, равной сотым долям ангстрема. Разрешающая способность современного электронного микроскопа порядка  [c.38]

В последнее время под электронным микроскопом изучают тонкие пленки исследуемого металла, в той или иной степени прозрачные для электронного луча. В этом случае разрешающая способность электронного микроскопа близка к величине межатомных расстояний.  [c.39]

С помощью метода микроскопического анализа с применением оптического или электронного микроскопа можно получить много данных о строении сплавов. Однако он не выявляет, равномерно лн распределяются атомы веществ, входящих в состав сплава. Так, например, сплав, структура которого показана на рис. 21,а, представляется совершенно однородным.  [c.39]

Микроскоп. Микроскоп снабжен длиннофокусным объективом с 20-кратным увеличением типа М.1487 фирмы Виккерс инстр -ментс ЛТД. . Числовая апертура объектива равна 0,65, фокусное расстояние — 12,2 мм, глубина резкости — 4 мк. Последняя особенность объектива позволила применить метод оптических сечений, с помощью которого можно получать фотографии треков частиц в пленке с разрешающей способностью но глубине около + 8 л/к. Используется окуляр фирмы Хьюдженайн с 6-кратным увеличением. Микроскоп прочно закрепляют на рабочем участке, чтобы свести к минимуму относительную вибрацию. Перемещение рычагов управления фокусировкой микроскопа усиливается стрелочным прибором, с помощью которого перемещение фокуса микроскопа может быть измерено с точностью 0,3 мк.  [c.192]

Фиг. 2]. Схема проверки прямолинейности струной и микроскопом / — микроскоп 2 — струна 3— проверяемая плоскосгь. Фиг. 2]. Схема <a href="/info/225476">проверки прямолинейности</a> струной и микроскопом / — микроскоп 2 — струна 3— проверяемая плоскосгь.
В точных инструменгах вместо луп применяются микроскопы. Микроскопы могут быть про.тые с неподвижными нитями н с подвижными нитями и тогда называются микроскопам и-м и крометрами.  [c.687]

Приспособления, а) Для исследования шлифованных п о в е рхно с т е й. Машины для распила образцов и для подготовки шлифованных поверхностей рамочно-пильный станок, верстак, наждачный круг. Для шлифовки станок со сменными шлифовальными дисками, имеющими вращение от 300 до 1000 оборотов в минуту и для окончательной полировки до 1500 оборотов в минуту. Шаровой микроскоп микроскоп для металла с оптическими приспособлениями для наблюдения п фотографирования, при увеличении до 3000 раз (т. I, стр. 593 и след.). Установка микроскопа по возможности в помещении, не подверженном сотрясениям (в последнее время применяется также приспособление для подвешивания микроскопа это приспособление служит для поглощения сотрясений). Желательна возможность затемнения комнаты, где помешается микроскоп.  [c.1000]

Для контроля шероховатости от 9 до 14 классов находят применение интерференционные микроскопы. Микроскоп МИИ-1 (рис. 230) устроен следующим образом. От источника света 3 через диафрагму и линзы пучок света направляется на разделительную призму 5, состоящую из двух склеенных между собой по диагональной плоскости призм. Эта плоскость полупосеребрена, в результате чего часть лучей проходит прямо сквозь призму и падает на эталонное зеркало 6, а другая часть лучей преломляется и падает на контролируемую поверхность детали 4, накладываемую сверху на корпус прибора. Лучи, отраженные от эталонного зеркала 5 и от контролируемой поверхности 4, вновь встречаются в разделительной призме 5 и направляются через линзу 2 в окуляр 1 прибора. Через окуляр можно наблюдать интерференционные полосы, изгиб которых соответствует микропрофилю поверхности, причем масштабом служит расстояние между серединами двух соседних темных (илп светлых) полос, соответствующее длине полуволны света (для белого света 0,275 мк).  [c.375]

В эту товарную позицию входят микроскопы, используемые любителями, преподавателями и т.д., и микроскопы, предназначенные для промышленного применения или для исследовательских лабораторий они остаются в этой товарной позиции, независимо от того, поставляются они со своими оптическими элементами (объективами, окулярами, зеркалами и т.д.) или нет. В товарную позицию включаются универсальные микроскопы поляризационные микроскопы металлургические микроскопы стереоскопические микроскопы фазоконтрастные и интерференционные микроскопы зеркальные микроскопы микроскопы с приспособлениями для черчения специальные микроскопы для осмотра камней в часовых механизмах микроскопы со ступенями нагрева или охлаждения.  [c.103]

Использование ЭОПа, преобразующих изображения, созданные инфракрасным излучением на видимые изображения, дает возможность сконструировать микроскоп для микроскопических пространственных наблюдений в области инфракрасных излучений. На рис. IX. 13 представлена оптическая схема инфракрасного микроскопа. Микроскоп состоит из осветительной системы 1, сменного микрообъектива 2, линзовых компонентов Зк4, плоского зеркала 5, средней светоделительной призмы 6, боковых призм 7 и 8, тубусных линз 9, отражательной системы 10, шторок 11, ЭОПов 12 и луп 13. Изображение объекта, образуемое объективом 2, посредством компонента 3 проектируется в переднюю фокальную плоскость компонента 4. Последний вместе с зеркалом 5, призмами 6—8, тубусными линзами 9 и отражательными системами 10 передает изображение на входные окна ЭОПа 12, расположенных в левых и правых ветвях бинокулярного тубуса. В обеих ветвях после светоделительной призмы 6, в плоскостях — 1 и Л 2—А 2, сопряженных с выходным зрачком микрообъектива 2, размещаются шторки 11.  [c.387]


Установочное кольцо служит как бы продолжением цилиндра, оно надевается на фланец цилиндра и закрепляется на нем неподвижно двумя винтами 7 м 4. Внутрь установочного кольца и цилиндра вставляется гильза, которая при помощи двух фиксаторных штифтов, имеющихся на установочном кольце, может неподвижно закрепляться в цилиндре. Первый фнксаторный штифт 5 имеет плоский зуб, который заходит в канавку гильзы и служит для закрепления гильзы на нужной высоте относительно цилиндра, при этом гильза может поворачиваться вокруг своей оси. Второй фикса-торный штифт 6 имеет конусный зуб, который входит в одно из отверстий на гильзе и может удерживать гильзу от п[зоворачивания вокруг ее оси. Гильза на наружной поверхности имеет 27 канавок, расположенных перпендикулярно к ее оси. В каждой канавке просверлено восемь отверстий. В верхней части гильза имеет две ручки, при помощи которых гильзу поддерживают при перемещении относительно цилиндра. Внутри гильзы на салазках укреплен микроскоп. Микроскоп 3 может перемещаться относительно гильзы на небольшую величину. В вертикальной плоскости микроскоп перемещается винтом 5, а в горизонтальной — винтом 9. Фо-  [c.99]

См. лит. при ст. Микроскоп. МИКРОСКОП (от греч. т1кг6з — малый и зкорёо — смотрю), оптич. прибор для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), не видимых нево-,оружейным глазом. Различные типы М. предназначаются для обнаружения и изучения. бактерий, органич. клеток, мелких кристаллов, структуры сплавов и др. объектов, размеры к-рых меньше мин. разрешения глаза., (см.. Разрешающая способность), равного  [c.419]

Блоки мозаики, как правило, очень малы, но различимы под электронным микроскопом. Обычно размеры блоков и степень их разориентировки измеряют методами рентгенострук-гурного анализа (см. п. 7).  [c.33]

Так как все металлы — вещества непрозрачные (для видимого света), то форму кристаллов, а также их размер и взаимное расположение изучают на специально изготавливаемых микрошлифах. В этом случае делают разрез металла в плоскости, интересующей исследователя. Затем полученную плоскость шлифуют и полируют до зеркального состояния Чтобы выявить структуру, следует создать рельеф или окрасить в разные цвета структурные составляющие, что достигается обычно химическим травлением. При травлении кислота в первую очередь воздействует на границы зерна, как места, имеющие наиболее дефектное строение и которые в травленом шлифе станут углублениями свет, падая на них, будет рассеиваться (рис. 18), и в поле зрения микроскопа они будут казаться темными, а тело зерна - светлым отражения or илос (рис. 1У). кости зерна и от его границ  [c.37]

Для рассмотрения микрощлифов при исследовании микроструктуры металлов применяют специальные микроскопы, в которых луч от источника света, отражаясь от шлифа проходит через объектив и окуляр, давая соответствующее увеличение.  [c.37]

Чем больше апертурное число А (A=h sin p), тем меньше разрешающая способность. В современных микроскопах отверстный угол объектива близок к 90°, показатель преломления воздуха равен 1. Отсюда  [c.38]

А, однако это только в том случае, если объект непосредственно исследуется под электронным микроскопом. При электронномнкроскопическом исследовании структуры металлов такие малые величины не могут быть выявлены. Дело в том, что принцип формирования изображения на электронном микроскопе таков, что в направлении прохождения электронных лучей объект помещают в виде пленки разной толщины.  [c.38]

Обычно поступают следующим образом. После приготовления микрошлифа на его поверхность наносят слой вещества (лак, углерод, кварц и т. д.) очень малой толщины. Образуется слепок, с большой точностью воспроизводящий рельеф шлифа (рис. 20). Затем слепок снимают со шлифа и помещают в электронный микроскоп. В тех местах, где слепок толще (в местах разницы в глубине травления), электроны рассеиваются сильнее и таким образом выявляется граннца между отдельными структурными составляющими сплава и границами зерен. Вещество, которое наносят на поверхность.  [c.39]

Рис. 20. С.чема получег([1я слеп-ка с поверхности мет алла для изучения его структуры при помощи электронного микроскопа Рис. 20. С.чема получег([1я слеп-ка с поверхности мет алла для изучения его структуры при помощи электронного микроскопа
Обычно полезное увеличение электронного микроскопа составляет величину порядка 5000—20000 раз, т. е. электронный мироскоп дает юлезное увеличение примерно в 10 раз большее, чем оптический.  [c.39]

Однако в последнее время для изучения строения металлических сплавов начали применять метод радиографии. При выплавке в металл вводят известное количество радио" тивного изотопа того элемента, распределение которого в металле изучаг 1а макро- или микрошлиф из приготовленного таким способом металла накладывают фотопленку. В местах расположения изучаемого элемента, к которому примешан теперь его радиоактивный изотоп, фотопленка окажется засвеченной радиоактивным излучением. Фотографируя под микроскопом проявленную пленку, можно получить микрорадиограмму с увеличением до 150 раз,  [c.39]

Это осуществляется изучением поверхностей, которые разделяли когда-то целый кусок металла. Этот метод называется фрактографией (в случае изучения поверхности излома при больших увеличениях с помощью электронного микроскопа — электроннофрактографией). Фрактографическое исследование  [c.40]

Рис. 23. Электронография изломов. Х5000 а, 6 — вязкий (чашечный) излом в, г — хрупкпй (речной) излому а, в — снято в электронном микроскопе а, г — снято на растровом микроскопе Рис. 23. Электронография изломов. Х5000 а, 6 — вязкий (чашечный) излом в, г — хрупкпй (речной) излому а, в — снято в <a href="/info/1617">электронном микроскопе</a> а, г — снято на растровом микроскопе
Сказанное подтверждается электроннофрактографическими исследованиями реплик (рис. 23,а, в) или непосредственно с поверхности (рис. 23,6, г). Первое проводят на одном электронном микроскопе, а второе на сканирующем (растровом) электронном микроскопе.  [c.41]


Смотреть страницы где упоминается термин Микроскопия микроскопы : [c.40]    [c.230]    [c.245]    [c.408]    [c.312]    [c.126]    [c.38]    [c.38]    [c.39]   
Тепловая микроскопия материалов (1976) -- [ c.91 , c.96 , c.99 , c.104 ]



ПОИСК



516—535 — Ошибки основных для объективов микроскопов 501 — Допуски 481 Размеры предельные

Автоэлектронная и автоионная микроскопия

Автоэлектронные микроскопы

Анализы и дефектоскопия Наблюдение с помощью биологического микроскопа за процессом кристаллизации из раствора соли

Апертура микроскопа

Ахроматы Зеркально-линзовые объективы Кварцевые для микроскопов

БРМНЕЛЯ .МИКРОСКОПЫ - БАЛ

Бинокулярный микроскоп БМ

Бланк Н. Б., Фомичева Н. А., Калинин В. М. Исследование структуры армированных полимерных материалов методом растровой электронной микроскопии

Большой горизонтальный микроскоп МИМ

Большой инструментальный микроскоп БМИ

Большой поляризационный микроскоп МП

Бринеля микроскопы

Бринеля микроскоп—Технические

Бринеля микроскоп—Технические рактеристики

Взаимности принцип электронной микроскопии

Вибрационный микроскоп

Возникновение контраста в просвечивающей электронной микроскопии и формирование изображений тонких фольг

Волновая теория образования изображения в микроскопе. Предел разрешения

Вспомогательные средства в микроскопии

Выбор рабочих параметров микроскопа

Высоковольтная микроскопия

Высокотемпературный вакуумный микроскоп ИМЕТ-ВМД с деформирующим устройством и дилатометром для исследования влияния пластической деформации на фазовые превращения и задержанное разрушение металлов

Габаритные особенности микроскопов

Габор Д Микроскопия на основе метода восстановления волнового фронта

Гейзенберга микроскоп

Геометрическая глубина резкости микроскопа

Глубина изображаемого пространства для микроскопа

Голографическая микроскопия

Голографический микроскоп

Голография в микроскопии

Голография как дополнение к микроскопии

Диагностический микроскоп

Диафрагмирование. Основные понятия, связанные с диафрагмированием Глаз как оптическая система. Фотоаппарат. Лупа. Микроскоп. Зрительная труба. Проекционные устройства Задачи

Другие инструментальные микроскопы

Зеркально-линзовые объективы микроскопа, являющиеся развитием зеркальной системы типа

Зеркальные и. зеркально-линзовые объективы микроскопов

Зональные пластин. Ультразвуковой микроскоп

Зрачок выходной микроскопа

ИЗОБРАЖАЮЩИЕ СИСТЕМЫ СКОЛЬЗЯЩЕГО ПАДЕНИЯ И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ В РЕНТГЕНОВСКИХ ТЕЛЕСКОПАХ И МИКРОСКОПАХ

ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДАМИ ТЕПЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ ВОЛОКНИСТЫХ И СЛОИСТЫХ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ КОМПОЗИЦИЙ, А ТАКЖЕ УГЛЕМЕТАЛЛОПЛАСТИКОВ

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРОЕНИЯ И СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ МЕТОДАМИ ТЕПЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Измерение внутреннее на микроскопах — Погрешности — Формулы

Измерение калибра-пробки для конусов инструментов на универсальном микроскопе

Измерение параметров наружной резьбы на микроскопах

Измерение расстояния между центрами отверстий детали на инструментальном микроскопе с окулярной головкой двойного изображения

Измерение среднего диаметра резьбового калибра-пробки на универсальном микроскопе с ножами

Измерение среднего диаметра резьбы на универсальном или большом инструментальном микроскопах с ножами

Измерение шага резьбового калибра-пробки на универсальном микроскопе УИМ

Измерение шага резьбовой детали на большом инструментальном микроскопе БИМ

Измерения в прямоугольных координатах на инструментальном и универсальном микроскопах

Измерения шаблонов на инструментальном и универсальном микроскопах

Измерительные микроскопы 431 — Характеристика

Измерительные микроскопы — СМ. Микроскопы измерительные

Изображение в микроскопе

Изучение устройства металлографического микроскопа и анализ микроструктуры железоуглеродистых сплавов, находящихся в равновесном состоянии

Инструментальные и универсальные микроскопы

Инструментальные микроскопы

Инструментальный микроскоп малой модели

Инструментальный микроскоп малой модели фирмы Цейсс

Инструментальный микроскоп фирмы Гартнер (США)

Инструментальный микроскоп фирмы Цейсс (Нью Иорк)

Инструментальный микроскоп фирмы Цейсс (средняя модель)

Интерференционная микроскопия

Интерференционная микроскопия, контраст при расфокусировке, стриоскопия и фазовый контраст

Инфракрасные микроскопы

Ионный микроскоп Карманы» электронные и/или дырочные

Исследование деформационной способности железомарганцевых сплавов методом дифракционной электронной микроскопии

Исследование зеркально-линзовых объективов микроскопа на засветку. Светопропускание в ультрафиолетовой области спектра

Исследование рабочих поверхностей колец методом электронной микроскопии

Исследование распределения скрытого изображения при помощи электронного микроскопа (Ф. Хэмм и Г. Херлин)

Исследование структуры металлов и сплавов с помощью электронного микроскопа

Источники света для микроскопов

К у к о л ь В. В., К о в а л е в а А, И. Исследование фазовых превращений и рекристаллизации с помощью эмиссионного микроскопа

Карта 130. Проверка прямолинейности плоскостей при помощи струны и микроскопа

Когерентность, степень комплексная при освещении микроскопа

Конденсоры микроскопов

Конденторы и коллекторы микроскопов

Конструктивные схемы основных групп объективов микроскопа

Конструкции микрообъективов окуляров микроскопов

Конструкция микроскопа и принципы его работы

Контроль прямолинейности плоскостей Коллимационный при помощи струны и микроскопа

Косвенное исследование в электронном микроскопе

Краткий обзор некоторых конструкций оптических систем зеркальных и зеркально-линзовых объективов микроскопов

Краткий обзор развития аппаратуры для тепловой микроскопии за рубежом

Лабораторные работы по металловедению Наблюдение с помощью биологического микроскопа за процессом кристаллизации из раствора соли

Лазерные сканирующие микроскопы (ЛСМ)

Ливенгука микроскоп

Линника микроинтерферометры микроскопы двойные

Лупы и микроскопы

МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ ОПТИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП

МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ТЕПЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

МИКРОСКОПЫ — НАПРЯЖЕНИЯ

Место РЭМ в микроскопии

Металлические Проверка струной и микроскопом

Метод просвечивающей растровой электронной микроскопии

Метод секционированных излучателей, цифровой прибор с разверткой типа В, конструкции Кино и томоУльтразвуковая микроскопия, методы

Метод трансмиссионной электронной микроскопии

Методы изучения в электронном микроскопе выбранного участка поверхности образца

Методы микроскопии и типы микроскопов

Методы оптической микроскопии

Методы световой микроскопии

Механизм зубчато-рычажный для микроскопа

Механизм червячно-кулачковый для установки тубуса микроскоп

Механизмы тензометров с отсчетом по микроскопу

Механизмы тонкой и грубой подачи. Предметные столики микроскопов

Механические узлы и принадлежности микроскопов

Механические узлы микроскопа

Микроскоп

Микроскоп

Микроскоп «Квантимет» сканирующий

Микроскоп «Квантимет» сканирующий телевизионный — Схема

Микроскоп Дайсона

Микроскоп автоколлимационный — Принцип действия 1 кн. 78—79 — Схема

Микроскоп биологический

Микроскоп биологический большой МББ

Микроскоп биологический дорожный МБД

Микроскоп биологический исследовательский МБИ

Микроскоп биологический лабораторный

Микроскоп биологический рабочий МБР

Микроскоп биологический упрощенный МБУ

Микроскоп геометрическая

Микроскоп глубина аккомодационная

Микроскоп горизонтальный металлографический МИМ

Микроскоп двойной

Микроскоп дифракционная

Микроскоп дифракционная теория

Микроскоп для деформации

Микроскоп измерительный для толстослойных фотоэмульсий МБИ

Микроскоп изображаемого пространств

Микроскоп интерференционный

Микроскоп ионный

Микроскоп металлографический

Микроскоп металлографический с дистанционным управлением МИМ

Микроскоп металлографический упрощенный ММУ

Микроскоп метод темного поля

Микроскоп механическая длина

Микроскоп оптический

Микроскоп отражательный

Микроскоп панкратический

Микроскоп петрографический МИН

Микроскоп полезное увеличение

Микроскоп поляризационный

Микроскоп поляризационный дорожный МПД

Микроскоп поляризационный исследовательский МИН

Микроскоп поляризационный стереоскопический МПС

Микроскоп проекционный

Микроскоп просвечивающий электронный

Микроскоп просмотровый МБИ

Микроскоп простой

Микроскоп прямое

Микроскоп разрешающая способность

Микроскоп растровый

Микроскоп растровый электронный — Характеристики

Микроскоп рент I CiioBCKHir

Микроскоп рудный МИН

Микроскоп с иммерсией

Микроскоп световой

Микроскоп световой (оптический)

Микроскоп световой высокотемпературный

Микроскоп световой нагрева

Микроскоп световой охлаждения

Микроскоп световой полезное увеличение

Микроскоп световой приставки для деформации

Микроскоп световой разрешающая способность

Микроскоп световой разрешение

Микроскоп световой характеристики

Микроскоп сканирующий

Микроскоп сканирующий туннельный

Микроскоп сложный

Микроскоп сложный 303, XIII

Микроскоп спектрофотометр ультрафиолетовый

Микроскоп сравнения МС

Микроскоп схема для определения полезного

Микроскоп телевизионный

Микроскоп теорчт Аббе

Микроскоп трихинный МБУ

Микроскоп тубус

Микроскоп ультрафиолетовый упрощенный МУФ-Зм

Микроскоп универсальный измерительный

Микроскоп универсальный исследовательский МБИ

Микроскоп фазового контраста

Микроскоп фазоконтрастный

Микроскоп хлопковый МБУ

Микроскоп хлопковый проекционный МХП

Микроскоп числовая апертура

Микроскоп ь—, — нммерснопмыи

Микроскоп электронный

Микроскоп электронный просвечивающий высоковольтный

Микроскоп электронный просвечивающий нагрева

Микроскоп электронный просвечивающий охлаждения

Микроскоп электронный просвечивающий приставки аналитические

Микроскоп электронный просвечивающий разрешение

Микроскоп электронный просвечивающий увеличение

Микроскоп электронный растровый

Микроскоп электронный растровый глубина фокуса

Микроскоп электронный растровый классификация

Микроскоп электронный растровый разрешение

Микроскоп электронный растровый электронные пушки

Микроскоп электронный растровый электронные пушки, характеристики

Микроскоп, схема

Микроскопия

Микроскопия

Микроскопия (М. Кокс)

Микроскопия автоионная

Микроскопия высокотемпературная

Микроскопия интерференций мая

Микроскопия люминесцентная

Микроскопия люминесцентная в сине-фиолетовом свете

Микроскопия люминесцентная в ультрафиолетовом свет

Микроскопия на основе метода восстановления волнового фронта

Микроскопия оптическая

Микроскопия поляризационная

Микроскопия просвечивающая

Микроскопия просвечивающая электронная

Микроскопия световая

Микроскопия световая (оптическая)

Микроскопия световая контрастность изображения

Микроскопия световая полезное увеличение

Микроскопия световая поляризованный свет

Микроскопия световая светлое поле

Микроскопия световая темное поле

Микроскопия темнопольная

Микроскопия тепловая

Микроскопия тепловая 491 — Параметры установок для высокотемпературных исследований 492 — Схема

Микроскопия тепловая 491 — Параметры установок для высокотемпературных исследований 492 — Схема установки тина ИМАШ-20-75 «АлаТоо

Микроскопия ультрафиолетовая

Микроскопия фазовоконтрастная

Микроскопия флуоресцентная

Микроскопия цветная абсорбционная в невидимых лучах

Микроскопия электронная

Микроскопия электронная просвечивающая диффузионное рассеяние электронов

Микроскопия электронная просвечивающая диффузное рассеяние электронов

Микроскопия электронная просвечивающая изучение дислокационной структуры

Микроскопия электронная просвечивающая изучение тонкой структуры

Микроскопия электронная просвечивающая косвенный метод

Микроскопия электронная просвечивающая кристаллографический анализ

Микроскопия электронная просвечивающая микродифракционный анализ

Микроскопия электронная просвечивающая микродифракционный фазовый анализ

Микроскопия электронная просвечивающая полупрямой метод

Микроскопия электронная просвечивающая приготовление образцов

Микроскопия электронная просвечивающая прямой метод

Микроскопия электронная растровая

Микроскопия электронная растровая изучение структуры

Микроскопия электронная растровая локальный анализ

Микроскопия электронная растровая перспективы развития

Микроскопы 242, 250 — Разрешающая

Микроскопы 242, 250 — Разрешающая Бринеля

Микроскопы 242, 250 — Разрешающая двойные по Линнику

Микроскопы 242, 250 — Разрешающая металлографические

Микроскопы 328 — Применение

Микроскопы 328 — Применение двойные Линника

Микроскопы 328 — Применение для измерения резьб

Микроскопы 432 — Техническая

Микроскопы 432 — Техническая двойные 517 — Оптическая

Микроскопы 432 — Техническая система — Характеристика

Микроскопы Линника

Микроскопы Линника характеристики

Микроскопы Метрологические характеристики для контроля шероховатости поверхности

Микроскопы Метрологические характеристики измерительные 69, 71 — Угломерные головки окулярные

Микроскопы Объективы

Микроскопы Основные положения теории микроскопа

Микроскопы Сила разрешающая

Микроскопы Технические характеристики

Микроскопы двойные Линник

Микроскопы двойные Линник измерительные универсальные

Микроскопы двойные Линник инструментальные

Микроскопы двойные Линник интерференционные Линника

Микроскопы двойные Линник отсчетные

Микроскопы двойные Линник сравнительные для определения шероховатости поверхности

Микроскопы двойные Линника измерительные 431 — Характеристика

Микроскопы двойные для измерения параметров цилиндрических резьб

Микроскопы двойные измерительные 726 — Характеристика

Микроскопы двойные интерференционные

Микроскопы для ядерной физики

Микроскопы и вспомогательные приборы для исследования частиц аэрозолей и порошков

Микроскопы измерительные

Микроскопы измерительные 20 — Характеристика инструментальные 20 — Характеристика

Микроскопы измерительные 20 — Характеристика универсальные 20, 118, 122 Характеристика

Микроскопы измерительные инструментальные

Микроскопы измерительные интерференционные

Микроскопы измерительные резьбовые

Микроскопы измерительные рычажные

Микроскопы измерительные сравнительные

Микроскопы ионные — Исследование структуры паяных соединений

Микроскопы люминесцентные

Микроскопы оптические сложные, включая микроскопы для микрофотосъемки

Микроскопы специальные

Микроскопы сравнения В. И. Сар кина

Микроскопы стереоскопические

Микроскопы стереоскопические — Технические

Микроскопы тепловиэионные 139 — Технические

Микроскопы ультразвуковые

Микроскопы универсальные

Микроскопы универсальные — Применение для контроля червяко

Микроскопы электронные — Исследование структуры паяных соединений 311, 315 Типы

Микроскопы — Метрологические характеристики 67 — Стандарты

Микроскопы — Метрологические характеристики 67 — Стандарты инструментальные

Микроскопы — Объективы Резьбы

Микроскопы — Объективы Резьбы инструментальные — Применение

Микроскопы — Объективы Резьбы резьбовые

Микроскопы — Характеристики

Микроскопы, кроме оптических аппараты дифракционные

Микроскопы, сравнительная характеристика

НАСТЬ ПЕРВАЯ Изучение устройства металлографического микроскопа

Назначение и принцип действия микроскопа

Некоторые правила настройки микроскопа

Некоторые практические указаРентгеновская микроскопия (Б. М. Ровинский и В. Г. ЛютСпособы получения рентгеновского теневого изображения

Некоторые приложения образование изображения в микроскопе интерпретация эффекта Калье

Некоторые теоретические обосноваиня допустимых остаточных аберраций и центрального экранирования зрачка в объективах микроскопа

Нормы времени на выполнение работ на микроскопах

О рациональном устройстве оптических систем микроскопов

О точности изготовления оптических деталей микроскопов

ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ ПО ТЕОРИИ И КОНСТРУИРОВАНИЮ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ МИКРОСКОПОВ Основные формулы гауссовой оптики

ОПТИЧЕСКИЕ УЗЛЫ И СИСТЕМЫ МИКРОСКОПОВ Линзовые объективы микроскопов

Обоснование унификации оптических систем микроскопов

Общие основания и этапы конструирования оптических систем микроскопов

Объектив микроскопа с масляной иммерсией

Объективы для универсального столика к поляризационным микроскопам

Объективы и окуляры зрительных труб и микроскопов

Объективы и окуляры микроскопа

Объективы, окуляры, источники света и светофильтры для микроскопов

Обычное освещение микроскопов

Обычный просвечивающий электронный микроскоп

Оглавление И Предметные столики микроскопов

Ознакомление с теорией микроскопа, его устройством и техникой измерения деталей микроструктуры

Окуляры микроскопов 244 —

Определение размера зерна поликристаллических материалов с применением оптической и электронной микроскопии

Определение степени дисперсности под микроскопом

Определение толщины прозрачных покрытий с помощью двойного микроскопа МИС

Оптическаи схема микроскопа н его основные характеристики

Оптическая и электронная микроскопия для исследования структуры и микрорельефа поверхности

Оптическая измерительная бабка к универсальному микроскопу

Оптические схемы некоторых типов микроскопов

Оптические узлы микроскопа

Оптические части микроскопов

Осветитель для поляризационных микроскопов ОИ

Основные методы измерений на инструментальном и универсальном микроскопах

Основные оптические и механические узлы микроскопа

Основные типы и конструктивные особенности металлогра фических микроскопов

Основы оптической микроскопии

Основы теории микроскопа

Отражательный электронный микроскоп

Отсчетный микроскоп со спиральным окулярным микрометром

Оформление чертежей оптических деталей и узлов микроскопов по ЕСКД

ПРИГОТОВЛЕНИЕ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И ПРИНЦИПЫ ОБРАЗОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ

ПРИМЕНЕНИЕ ТЕПЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ В СОЧЕТАНИИ С ДРУГИМИ ФИЗИЧЕСКИМИ МЕТОДАМИ ИССЛЕДОВАНИЯ

Перископ для работ с микроскопом в горячей камере

Погрешности измерения диаметров внутренних микроскопов

Подготовка микроскопа к работе и уход за ним

Поле зрения микроскопа

Поле зрения микроскопа Полутени» по Липпиху

Поле зрения микроскопа Полутень» по Лорану

Полевой ионный микроскоп (ПИМ)

Понятие о микроскопе

Предел р п микроскопа

Пределы применения металлографического микроскопа с вертикальным освещением

Приготовление микрошлифа для изучения микроструктуры при помощи светового микроскопа

Применение изображающих зеркальных систем в рентгеновских телескопах и микроскопах

Пример автоматического расчета объектива для микроскопа

Принадлежности и вспомогательные средства к микроскопам

Принцип действия электронного микроскопа

Принципы формирования изображения просвечивающей электронной микроскопии

Проекционно-измерительный микроскоп фирмы Гаузер (Швейцария)

Проекционные приборы — микроскопы и проекторы

Проекционный рентгеновский микроскоп

Просвечивающая электронная микроскопия (М. П. Усиков, Л. М. Утевский)

Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения в инженерии поверхности

Просвечивающая электронная микроскопия л связывание

Профилографы бесконтактные. Двойной микроскоп

Прямое исследование в электронном микроскопе

Пути развития оптики микроскопов на основе применения современных технических и технологических средств

Разборка микроскопа

Разборка, юстировка и ремонт микроскопа

Раздел П. Устройство и характеристики микроскопов

Различные методы расчета объективов микроскопа

Разрешающая сила дифракционной решетки микроскопа

Разрешающая сила микроскопа . 98. Электронный микроскоп

Разрешающая сила телескопа и микроскопа

Разрешающая способность и полезное увеличение микроскопа

Разрешающая способность микроскопа 308, XIII

Разрешающая способность телескопа и микроскопа

Расслоение микроскопия оптическая

Растровая микроскопия. Рентгеноструктурный анализ

Растровый рентгеновский микроскоп (микрозонд)

Револьверная головка микроскопа

Ремонт и юстировка инструментальных микроскопов других конструкций

Рентгеновская микроскопия и микроанализ

Рентгеновская микроскопия и микроанализ контактная микрорентгенография

Рентгеновская микроскопия и микроанализ отражательная

Рентгеновская микроскопия и микроанализ проекционная

Рентгеновская микроскопия и микроанализ сканирующая микроскопия

Связь структуры оптического изображения со значениями поля иа поверхности (теория возникновения изображения в микроскопе Э. Аббе)

Система микроскопа осветительная

Сканирующий зондовый микроскоп в исследовании ДОЭ

Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп

Слепок (для электронной микроскопии)

Специальные виды микроскопии

Спиральный отсчегный микроскоп

Способность разрешающая объектива микроскопа

Способы освещения микрообъективов при апертуре микроскопа

Способы освещения микрообъективов при апертуре микроскопа большой

Способы освещения микрообъективов при апертуре микроскопа малой

Способы освещения микрообъективов при апертуре микроскопа межуточные катоды фотоумножителей

Способы помещения объекта в электронный микроскоп

Стеклянные светофильтры для микроскопии

Стол контролера типа под микроскоп ММИ

Схема микроскопа оптическая

Схема хода лучей через микроскоп

ТЕХНИЧЕСКИЕ СРЕДСТВА ТЕПЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Телевизионные микроскопы и счетчики микрочастиц

Телевизионные микроскопы — Технические характеристики

Темнопольная контрастная микроскопия

Теория оптической системы микроскопа

Тепловизионные микроскопы и микрорадиометры

Техника рентгеновской теневой микроскопии

Толщина непрозрачных покрытий микроскопа

Точность при измерении разности хода в интерференционной микроскопии. Связь с разрешающей силой микроскопа

Тубус микроскопа с кронштейном

Тубусные оптические элементы микроскопа. Насадки

Увеличение видимое лупы микроскопа

Увеличение микроскопа

Увеличение микроскопа s— нормальное

Увеличение микроскопа микроскопа

Увеличение микроскопа общее

Увеличение микроскопа телескопа

Угломерные головки окулярные к измерительным микроскопам

Угломерные приспособления к измерительным микроскопам

Ультразвук в архитектурной микроскопии

Ультрафиолетовые микроскопы

Ультрафиолетовый и инфракрасный микроскопы

Ультрафиолетовый оптический микроскоп

Универсальные микроскопы других конструкций

Универсальный микроскоп фирмы Цейсс (вторая модель)

Универсальный микроскоп фирмы Цейсс (старая модель)

Уравнения голографической микроскопи

Усовершенствование просвечивающего электронного микроскопа

Устройства наблюдательные микроскопов

Устройство и характеристики принадлежностей к микроскопам

Фазово-контрастные и интерференционные методы в микроскопии

Фокусирующие микроскопы

Формирование изображения в электронном микроскопе

Фэйдж — Изучение потока в пограничном слое с помощью гидродинамического микроскопа

Хроматические аберрации линзовых и призменных компонентов, расположенных в тубусе микроскопа

Частичная когерентность. Освещение в интерферометрах и образование изображения в микроскопе

Что может и чего не может световой микроскоп

Что можно увидеть с помощью микроскопа

Шкала микроскопа

Школьный микроскоп ШМ

Электронная микроскопия Утевский)

Электронная микроскопия вакуумная установка для напылени

Электронная микроскопия выбор метода исследования

Электронная микроскопия и электронография (Л. М Утевский)

Электронная микроскопия косвенные методы

Электронная микроскопия лаковый метод приготовления слепко

Электронная микроскопия метод позитивных слепков

Электронная микроскопия метод позитивных слепков оксидный метод приготовления слепков

Электронная микроскопия метод позитивных слепков подготовка микрошлифа для исследования

Электронная микроскопия метод позитивных слепков полупрямого исследования

Электронная микроскопия метод позитивных слепков приготовления слепков (конденсация из паров)

Электронная микроскопия методика

Электронная микроскопия оттенение рельефа слепков

Электронная микроскопия подготовка образцов

Электронная микроскопия полупрямой метод

Электронная микроскопия получение слепков

Электронная микроскопия прицельная съемка

Электронная микроскопия прямые методы

Электронная микроскопия разрешение

Электронная микроскопия стереосъемка

Электронная микроскопия, биологические

Электронная микроскопия, биологические высоковольтная

Электронная микроскопия, биологические дефекты упаковки

Электронная микроскопия, биологические колонковое приближение

Электронная микроскопия, биологические кристаллические дефекты

Электронная микроскопия, биологические образцы

Электронная микроскопия, биологические просвечивающая

Электронная микроскопия, биологические сканирование

Электронная микроскопия, биологические сканирующая

Электронная микроскопия, биологические темнопольные изображения

Электронно-сканирующая микроскопия структуры при высокоскоростном соударении

Электронный микроскоп и рентгеновский голографический микроскоп

Электронный микроскоп объективная линза

Электронный микроскоп объективная линза принцип действия

Электронный микроскоп объективная линза схема

Электронный микроскоп проекционная линза

Электронный микроскоп, калибровка увеличения

Электронный микроскоп, калибровка увеличения отечественные модели

Электронный микроскоп, калибровка увеличения отражательный

Электронный микроскоп, калибровка увеличения принцип действия

Электронный микроскоп, калибровка увеличения просвечивающий

Электронный микроскоп, калибровка увеличения растровый

Электронный микроскоп, калибровка увеличения эмиссионный

Электронный микроскоп, оптика

Эмиссионный электронный микроскоп

Юстировка и ремонт инструментальных микроскопов

Юстировка и ремонт инструментальных микроскопов большой модели

Юстировка и ремонт микроскопа

Юстировка и ремонт микроскопа. Стол микроскопа

Юстировка и ремонт универсальных микроскопов

Юстировка отсчетного микроскопа головки

Юстировка проекционного устройства к микроскопу

Юстировка центрировочного микроскопа



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте