Микроскоп простой

Аналогичная ситуация возникает и при использовании оптического микроскопа (простого или сложного) для изучения самосветящегося объекта при условиях, подобных рассмотренным вьппе. На основе критерия Рэлея, как и в телескопе, минимальное расстояние s на рис. 2.7, а [c.34]

Рис. 14.13 показывает разрез конденсора и сравнительно простого объектива микроскопа. Свет от препарата достигает объектива, проходя через покровное стекло. Благодаря явлению полного внутреннего отражения до объектива могут дойти лишь те [c.330]

Оптические приборы и оптические методы исследования широко применяются в самых разнообразных областях естествознания и техники. Напомним, например, об изучении структуры молекул с помощью их спектров излучения, поглощения и рассеяния света, а также о применении микроскопа в биологии, об использовании спектрального анализа в металлургии и геологии. Оптические квантовые генераторы неизмеримо расширяют возможности оптических методов исследования. Приведем несколько примеров, иллюстрирующих положение дела. Один из новых методов — голография — подробно описан в главе XI. Изучение атомно-молекулярных процессов, протекающих в излучающей среде лазеров, а также рассеяния света и фотолюминесценции с применением лазеров позволило получить большой объем сведений в атомной и молекулярной физике, равно как и в физике твердого тела. Оптические квантовые генераторы заметно изменили облик фотохимии с помощью мощного лазерного излучения могут производиться разделение изотопов и осуществляться направленные химические реакции. Благодаря монохроматичности излучения оптических квантовых генераторов оказывается сравнительно простыми измерения сдвига частоты, возникающего при рассеянии света вследствие эффекта Допплера этот метод широко используется в аэро- и гидродинамике для излучения поля скоростей в потоках газов и жидкостей. [c.770]

Ниже приведены примеры исследований, выполненных под руководством и при участии автора, свидетельствующие о том, что использование тепловой микроскопии в комплексе с рентгеноструктурным анализом, электронной микроскопией, микрорентгеноспектральным анализом, методом измерения электросопротивления позволяет при решении различных проблем металловедения получать весьма ценную информацию, которую, как правило, трудно или просто невозможно получить при автономном применении того или иного метода. 227 [c.224]

Фотоэлектрические датчики можно использовать для непосредственного и косвенного измерений перемещений. Работа их основана на действии луча света, пропускаемого через линейку или диск с прозрачными и непрозрачными штрихами, на фотоэлемент, в цепи которого и формируются электрические импульсы. Вращающиеся диски применяют при косвенном измерении поступательного перемещения или при непосредственном измерении углового перемещения (например, углового поворота стола). Простейший вид такого устройства с непрозрачным диском и равномерно расположенными по окружности перфорациями показан на рис. 118. Точность отсчета линейных перемещений не превышает 0,1 мм. В координатно-расточных станках для непосредственного измерения применяют фотоэлектрические микроскопы с несколько более высокой точностью отсчета. [c.197]

Для металлографических исследований применяются оптические системы, начиная от простейшей чечевицы — лупы и кончая сложными металлографическими микроскопами. Для макроанализа служат простые и сложные лупы, дающие увеличение до 30 крат. Микроанализ проводится на металлографических микроскопах при увеличениях до 2500 крат (после объектива). Металлографические микроскопы работают на отражённом свете по схеме, показанной на фиг. 15. [c.148]

К области стандартизации относятся задачи приведения в строгий порядок существующих изделий на основе их сходства между собой, создания приемлемого группирования и присвоения названий или определений. Это относится как к простейшим изделиям (штифты, заклепки и т. д.), так и к узлам и техническим устройствам самостоятельного значения (микроскопы, станки, подъемники и т. д.). При этом следует иметь в виду технические устройства, методы технологии, метрологии, химические методы и др., что может возникнуть в будущем. Вышеупомянутое группирование, систематизация и присвоение определений должны, следовательно, осуществляться таким образом, чтобы и будущие разработки могли быть туда внесены и чтобы это не требовало создания нового стандарта или изменения существующего. Методика конструирования может оказать при этом существенную пользу. [c.125]

Метод определения степени загрязнения частицами при помощи микроскопа описан в инструкции SAE ARP-598 Способ определения загрязненности жидкостей для гидравлических систем методом подсчета частиц [112]. Метод заключается в пропускании 100 лы жидкости через мелкопористый мембранный фильтр при определенных условиях. Фильтр разделен на квадраты площадь каждого квадрата равна 0,01 полезной площади фильтра. После пропускания жидкости мембрану фильтра рассматривают под микроскопом, в выбранных квадратах подсчитывают число частиц каждого размера, а затем, производя соответствующее умножение, получают общее количество частиц в образце. Получить этим методом одинаковые результаты при повторных опытах оказывается очень трудно. Для этого все приспособления и материалы перед употреблением должны быть тщательно и полностью очищены и оставаться чистыми в течение всего периода работы. Воздух в помещении не должен содержать пыли. Поэтому данный метод следует рассматривать лишь как первый шаг к разработке более простых и доступных для практики методов. [c.150]

Весь сложный комплекс явлений, составляющих существо процесса накопления повреждений при циклических нагрузках, объединяют общим термином — механическая усталость или просто усталость материала. В настоящее время принято считать, что усталостные повреждения на начальной стадии их развития связаны с пластическими деформациями в отдельных зернах поликристаллического агрегата, каким является каждый конструкционный металл или сплав. Указанные пластические деформации возникают лишь в отдельных зернах, ориентированных таким образом, что их плоскости наименьшего сопротивления скольжению близки к плоскостям действия максимальных касательных напряжений. Ориентированные таким образом зерна пластически деформируются еще на ранней стадии нагружения, на которой весь массив кристаллитов в целом ведет себя как упругое тело. Полагают, что соответствующий уровень напряжений составляет примерно 0,6... 0,7 от условного предела текучести То,2. Пластическое деформирование сначала в одном, а затем в обратном направлении сопровождается некоторыми разрушениями, происходящими в микроскопических объемах материала. Возникающие при этом микротрещины постепенно растут и частично сливаются от цикла к циклу. Более длинные трещины растут быстрее, а значительная часть наиболее мелких трещин прекращает свой рост вскоре после своего зарождения. В итоге слияния нескольких микротрещин раньше или позже возникает магистральная трещина, которая вначале видна лишь под микроскопом, а затем по мере развития — невооруженным глазом. Иногда образуется сразу несколько магистральных трещин. [c.334]

И все-таки, как правило, перед тем как поместить металлический образец под микроскоп, его обрабатывают химическими реактивами — травяТ. Обычно для этого пользуются растворами кислот, протирая ими поверхность шлифа или просто помещая шлиф в емкость с едкой жидкостью. Она растворяет металл и на гладкой поверхности шлифа формируются неровности-рельеф. Другим результатом травления может стать образование пленок продуктов реакции кислоты с металлом. А далее опять сказывается различие свойств отдельных фаз. На каждой из них рельеф имеет свой характер, и соответственно отражательная способность фаз становится различной. Нлп одни фазы оказываются покрытыми продуктами травления, а другие—нет. И снова между разными фазами возникает контраст, который и наблюдается через микроскоп. [c.54]

Методы определения внутренних напряжений. При механическом методе определения внутренних напряжений первого рода детали разрезают и по деформации после разрезки определяют внутренние напряжения. Механический метод требует уничтожения или порчи исследуемой детали и пригоден лишь для деталей простой формы— прутков, труб с осевой симметрией в распределении напряжений и призматических тел, находящихся в линейном напряженном состоянии. Измерения деформации можно производить различными методами — оптиметром, универсальным измерительным микроскопом, проволочными датчиками, акустическим методом и т. д. [c.78]

Перемещающее устройство ПУ изготовлено на базе учебного биологического микроскопа Биолам с плоской боковой стенкой. В пластине (6), служащей основанием корпуса микроскопа, просверливают и нарезают под винты два отверстия, удаленные одно от другого на расстояние Хо, и посредством двух винтов крепят микроскоп к столику (7) от универсального монохроматора УМ-2 (9х9х1,3 см ), который выполняет роль массивного основания перемещающего устройства. При помощи цилиндрической стойки (8) столик вместе с микроскопом просто и достаточно надежно фиксируется в ползунке оптической скамьи на нужной высоте. В боковой стенке микроскопа также просверливают и нарезают два отверстия, смещенные по вертикали на Хо и прижимают посредством двух винтов оправу (5) для закрепления кассеты (14) С фотопластинкой. Оправа (5) изготовлена из алюминия толщиной 3 мм и представляет собой пластину размером 11х14см [c.97]

Мы нашли выражение для разрешающей силы микроскопа, исходя из предположения, что точки объекта посылают некогерентные волны (объект самосветящийся), так что ди()зракционные картины просто накладываются одна на другую. Однако обычно в микроскоп рассматривают объекты освещенные, а не самосветящиеся. Это значит, что отдельные точки объекта рассеивают падающие на них волны, исходящие из одной и той же точки источника, и, следовательно, свет, идущий из разных точек объекта, оказывается когерентным. К такому случаю, гораздо более распространенному, наш вывод разрешающей силы микроскопа непосредственно неприложим (см. упражнение 120). Аббе указал весьма интересный прием определения разрешающей силы для случая освещенных объектов и нашел, что и в данном случае разрешающая сила также определяется числовой апертурой объектива. Метод рассмотрения Аббе состоит в следующем. [c.350]

Свет, освещающий объект, попадает на линзу микроскопа, претерпев рассеяние (ди( зракцию) на деталях объекта, так что структура светового пучка зависит от этого объекта. Рассмотрим для простоты случай, когда освещение производится параллельным , пучком (дифракция Фраунгофера), а объект имеет простую форму ), [c.350]

Приборы для контроля и измерения поверхностных дефектов и микрогео-метрнн. Благодаря малой глубине резкости микрообъективов обычные микроскопы можно использовать в качестве эффективного и достаточно простого средства измерения глубины поверхностных дефектов. Измерение осуществляется последовательной фокусировкой микроскопа на дно риски или царапины и ее верхний край и регистрацией перемещения тубуса микро- [c.74]

Изучение обычных и травленых шлифов под микроскопом в простом и поляризованном свете позволило установить количество фаз в реакционной зоне, их кристаллооптическое различие и толщину. Химический состав бериллидных фаз определялся с помощью рентгеноспектрального фазового микроанализа на приборе МАР-1 по Аа-излучению металла. В качестве эталонов использовались образцы чистых металлов и бериллия. Ширина пучка не превышала 2 мк. Точность определения концентрации металла в соединении составляла 1 %. В таблице приведен фазовый состав бериллидных слоев, образующихся на Мо, , N5 и Та при разной продолжительности отжига. [c.94]

Характер разрушения в сплаве Т11,5А11Мп очень сложный, что затрудняет оценку ве. шчииы пластической зоны в вершине трещины. Размер этой зоны можно просто определить на оптическо.л микроскопе, хотя результаты этих измерений не совпадают с расчетами по указанным выше гипотезам. [c.194]

ДИМЫ при анализе очень тонких покрытий или тех, которые с трудом поддаются химичеошму анализу. Предполагая, что покрытии шарообразные частицы равномерно распределены в узлах простой кубической решетки (рис. 15), -с помощью микроскопа можно определить [c.46]

Решение одной задачи несколькими методами часто практикуется во многих опубликованных работах авторов, в том числе и в настоящей книге. Целесообразность применения нескольких методов можно пояснить на следующих примерах. В моделях из оптически чувствительного материала иногда создаются весьма значительные перемещения (например, при фиксировании деформаций), которые можно довольно точно измерить очень простыми средствами. На фиг. П.1 показаны картины полос (а) и (б) и изменение формы (б) поперечного сечения объемной модели кольца сложной формы из оптически чувствительного материала. Диаметр модели кольца составляет около 200 мм. Изменения геометрических размеров порядка нескольких десятых миллиметра в плоскости кольца вдоль обозначенных линий и перпендикулярно к поверхности можно точно измерить микрометрами и индикаторами. Относительные деформации порядка 10" можно определить с помощью микроскопа. Относительные изменения толщины порядка 10 , возникающие в срезах, также можно легко измерить стандартным компаратором. Эти измерения дополняют и контролируют результаты, получаемые с помощью поляризационнооптических измерений. Для исследования распределения нестационарных напряжений и деформаций удобно поляризационно-оптический метод сочетать с методом полос муара (фиг. П.2 и П.З). [c.14]

Регистрация показаний сводится к измерению под микроскопом диаметра окружности, являющейся границей поверхности упругого соприкосновения тел при ударе. Чтобы эта граница была видимой, одну из контактирующих поверхностей покрывают слоем вещества, которое проявляет зону упругого контакта, возникшую при ударе. Покрытие контактирующих поверхностей парафиновое. Коэффициент пропорциональности между силой и диаметром поверхности контакта определяют экспериментально по результатам статической калибровки на прессе. При этом ударяемое тело устанавливают на образцовый динамометр, а нагрузку задают ступенями, причем при каждой нагрузке эксперимент повторяют несколько раз. Полученные результаты показывают, что применение комплекта соударяющихся элементов с выбранными параметрами, набора прокладок и приспособлений для их крепления позволяет воспроизводить на устройстве маятникового типа максимальные ударные ускорения в диапазоне 0,6 10 —1,0-10 м-с " при длительности ударного импульса 1,3-10 —6 10 с. Предложенный упругоконтактный метод калибровки ударных акселерометров на устройствах маятникового типа, основанный на измерении размеров поверхности контакта соударяющихся тел, весьма прост, погрешность его не более +3 %. [c.372]

Вместе с этим отчетливо установлено, что импульсный электрический пробой минералов сопровождается расплавлением и испарением части вещества. Об этом свидетельствует наличие стекла во всех исследованных минералах, в том числе и таких тугоплавких, как кварц и оливин существенно форстеритового состава. Стекло, имеющееся во всех пробах вещества из области канала разряда, чаще всего имеет вид сферических частиц, но находится в пренебрежимо малом количестве (2-3 частицы в иммерсионном препарате) и потому не могло быть выделено в количестве, достаточном для исследования его состава. Частицы стекла изучались под микроскопом в проходящем свете. Во всех пробах наряду со стеклом, которое является результатом охлаждения расплава данного минерала, обнаружены редкие шарики стекла с весьма высоким показателем светопреломления (п > 1.750). Частицы стекла в виде шариков и вытянутые формы часто содержат газовые и кристаллические включения, частицы высокопреломляющего стекла. Для олигоклаза характерны вытянутые каплеобразные частицы стекла, заканчивающиеся тонким и длинным волоконцем длиной до 200 мк. Даже просто шарики имеют часто тончайший хвост толщиной менее 1 мкм. Обломки этих хвостов в виде тонких иголочек, видимых только благодаря полоске Бекке, довольно часто попадаются в препарате. [c.202]

Механизм длительного разрушения в условиях ползучести (иногда применяют термин статическая усталость , который мы используем в дальнейшем) представляет собой сочетание дислокационного механизма развития микротрещин с термофлукту-ационным и диффузионным механизмами образования и движения вакансий [30, 11]. Характерной особенностью повреждений при ползучести является образование пор, появляющихся наряду с микротрещинами и вызывающих специфическую объемную ползучесть, т. е. прогрессирующее во времени разрыхление материала [9, 10, 30, 36]. В условиях постоянного или монотонно изменяющегося напряжения объемная ползучесть становится заметной (в отличие от сдвиговой ползучести) лишь незадолго до момента полного разрушения. Однако при циклическом действии напряжений объемная ползучесть отмечается на более ранних стадиях деформационного процесса. Стадия диссеминированных повреждений завершается появлением поперечных трещин, которые видны на поверхности образца при небольшом увеличении микроскопа или даже простым глазом. [c.26]

Термической усталостью называется процесс длительного разрушения, протекающий при периодических теплосменах (термических циклах), но в отсутствие внешних силовых воздействий на рассматриваемый конструкционный элемент, В реальных эксплуатационных условиях эти теплосмены обычно вызывают некоторое переменное поле макроскопических напряжений, которым сопутствует рассмотренная выше механическая усталость материала. Вместе с тем, теплосмены и сами по себе отражаются на механических свойствах металла, в частности, они могут приводить к постепенному снижению сопротивления хрупкому и усталостному разрушению. При отсутствии всяких макроскопических напряжений (например, в условиях свободных температурных деформаций равномерно нагреваемого и охлаждаемого стержня) уже десять—двадцать тысяч термоциклов с размахом температуры в 600—700° могут приводить к растрескиванию некоторых материалов, причем поверхностные трещины видны при небольшом увеличении микроскопа или простым глазом. К этому явлению целесообразно применять недавно возникший термин термоструктурная усталость в отличие от более общего случая стесненных температурных деформаций, который мы будем называть термомеханическая усталость . [c.28]

Особое прикладное значение в Г. о. имеет теория центрир. оптич. системы — совокупности преломляющих и отражающих поверхностей вращения, имеющих общую ось, наз. оптич. осью, и симметричное относительно этой оси распределение показателей преломления (если система содержит неоднородные среды). Большинство используемых на практике онтич. систем фотообъективов, зрительных труб, микроскопов и т. п.) является центрированными, В таких системах для области пространства, бесконечно близкой к оптич. оси и наз. параксиальной областью, действуют простые законы, связывающие положение луча, вышедшего из системы, с вошедшим в неё лучом. Для центрир. оптич. систем область Гаусса совпадает с параксиальной областью. Исходные положения параксиальной оптики — т. и. законы солинойного сродства, по к-рым каждой прямой пространства предметов соответствует одпа сопряжённая с ней прямая в пространстве изображений, каждой точке — сопряжённая с ней точка и, как следствие, каждой плоскости — сопряжённая с ней плоскость. С помощью условного распространения действия законов параксиальной оптики на всё пространство вводится понятие идеальной оптич. системы, изображающей любую точку пространства предметов в виде точки в пространстве изображений. Любая геом. фигура, расположенная в пространстве предметов на плоскости, перпендикулярной оптич. оси, изображается идеальной системой в виде геометрически подобной фигуры в пространство изображений также на плоскости, перпендикулярной [c.439]

Микроскопия, теория исходит из оболочечной модели ядра. В простейшем случае возбуждение Г. р.— результат перехода нуклонов из одной главной заполненной оболочки в другую, иезаполненную (рис. 3). Взаимодействие нуклонов упорядочивает эти переходы в когв- [c.456]

Центр, проблемой М. является изучение атомной структуры металлов и сплавов и её эволюции при изменении темп-ры, давления, магн. поля и др. Теория позволяет лишь в простейших случаях рассчитать характер кристаллич. структуры исходя из электронного строения атомов, и практически вся информация о кристаллич. решётках получена экспериментально (дифракция ренгг. лучей, электронов, нейтронов, алектроллая микроскопия высокого разрешения, мёссбауэровская спектроскопия). [c.112]

В методе Дифференциального интерференц. контраста (ДИК) обе волны проходят через один и тот же объект с небольшим боковым смещением. Наиб, распространение получил вариант ДИК по Номарскоыу, в к-рои разделение и сведение пучков производятся в поляризов. свете с по.мощью спец, двоякопреломляю-щих призм, установленных соответственно перед конденсором и после объектива. Величина разведения пучков выбирается близкой к разрешающей способности микроскопа, чтобы не было за.метно двоение изображения. Изображение в ДНК отражает градиент разности оптич. пути в объекте в направлении раздвоения. Получаемое цветное изображение рельефно в нём, так же как и в предыдущем случае, отсутствуют ореолы. Благодаря тому, что оба интерферирующих пучка проходят через одни и те же оптич. элементы, устройства, реализующие ДИК, просты и удобны в обращении. [c.146]

О. микроскопа — важнейшая часть его оптич, системы, создающая увелич. изображение объекта наблюдения в передней фокальной плоскости окуляра. Масштаб изображения обратно пропорционален фокусному расстоянию О. и составляет примерно от 1,5 до 100 крат. Предел разрешения микроскопа е — мин. расстояние между центрами светящихся точек объекта, видимых раздельно, определяется дифракц. явлениями в О. и вычисляется по ф-ле е = 0,6 ХМ, где А — числовая апертура О., равная произведению показателя преломления среды, находящейся между объектом и О., на синус апертурного угла. Для О, микроскопов 0,03 Л 1,4 диаметр поля изображения — от 18 мм до 32 мм. Простейшие О. микроскопов создают изображение, обладающее значит, кривизной, в результате чего при переходе от наблюдения центр, части поля к его краям необходима перефокусировка. [c.392]

Аморфные и квазиаморфные тела, размеры частиц к-рых меньше разрешаемого в электронном микроскопе расстояния, рассеивают электроны диффузно. Для их исследования используются простейшие методы амплитудной Э. м. Напр., в ПЭМ контраст изображения, т. е. перепад яркостей изображения соседних участков объекта, в первом приближении пропорционален перепаду толщин этих участков. Для расчёта контраста изображений кристаллич. тел и решения обратной задачи—расчёта структуры объекта по наблюдаемому изображению—привлекаются методы фазовой Э. м. решается задача о дифракции электронов на кристаллич. решётке. При этом дополнительно учитываются неупругие взаимодействия электронов с объектом рассеяние на плазмонах, фононах и т. п, В ПЭМ и растровых ПЭМ (ПРЭМ) высокого разрешения получают изображения отд. молекул или атомов тяжёлых элементов пользуясь методами фазовой Э. м., восстанавливают по изображениям трёхмерную структуру кристаллов и биол. макромолекул. Для решения подобных задач применяют, в частности, методы голографии, а расчёты производят на ЭВМ. [c.550]

Метод исследования был основан на том факте, что мельчайшие частицы, присутствующие обычно в большинстве жидкостей и невидимые при простом освещении даже под сильным мнркоскопом, становятся заметными при интенсивном освещении, если они рассматриваются на черном фоне. Техника наблюдения в упомянутой работе впоследствии была модифицирована, однако без существенных изменений в ее основе, и использована при изучении других задач, связанных с движением жидкости. В некоторых случаях для облегчения наблюдений в жидкость вводились мельчайшие частицы. Некоторые из этих исследований, в частности те, которые имеют отношение к пограничному слою, описаны в общих чертах в настоящей статье. Все исследования были проведены не с воздухом, а с водой, поскольку в воде при тех же самых числах Рейнольдса благодаря более медленному движению частиц облегчается наблюдение этих частиц, а также потому, что в случае воды легче подобрать подходящие частицы, чем для воздуха. Ранее для наблюдения за движением частиц использовались ультрамикроскопы, которые позже были переименованы в гидродинамические микроскопы. Строго говоря, ультрамикроскоп представляет собой прибор или, точнее, специальную осветительную систему с микроскопом для изучения Броуновского движения в жидкости. Принцип работы прибора основан на том факте, что частицы, имеющие размер меньше длины волны света, при прохождении через очень яркий пучок света рассеивают свет и их движение становится видимым под микроскопом. Установка, применяемая в данной работе, сходна с ультрамикроскопом, поскольку и в этом случае под микроскопом наблюдается движение частиц, пересекающих луч света. Однако наблюдаемые частицы имеют размер, больший, чем длина волны света, и скорость их движения, исключая область вблизи твердой [c.119]

Микроскоп сравнении является простым оптичеоким прибором, в поле зрения которого одновременно видны поверхности исследуемого образца и о азца с известной шероховатостью. По равенству общего вида поверхностей, по о ему впечатлению о распределении освещенности в поле зрения судят о равенстве сте пени шероховатости испытуемой поверхности и степени шероховатости образца [c.367]

Перед детальным изучением сплава следует провести предварительное исследование, чтобы убедиться в достаточной однородности отожженного слитка по составу. Для этого недостаточно просто визуально наблюдать разрешение дуб1л та Ка на линиях, полученных под большими углами. Простое качественное исследование заключается в изучении под микроскопом расщепления дублета на линиях при относительно малых углах, так как размытие от неравномерности состава легче заметить, когда составляющие дублета сближены. Другой метод применил Оуэн [146] с сотрудниками при определении периодов решетки на опилках из разных частей слитка. Оба описанных метода применимы, конечно, только в том случае, если кривая зависимости периода решетки от состава имеет достаточно крутой наклон. Относительная точность каждого метода зависит от характера изменения состава. Небольшое колеба- [c.262]

Для измерений с высокой степенью точности, повидимому, наиболее удобен прецизионный микрометрический метод Национального бюро стандартов [163]. Принцип метода Ч реэвы-чайно прост. Образец в виде прутка помещают в равномерно обогреваемой камере, для изменения его длины применяют два микроскоп-микрометра, смонтированных горизонтально на подвижном компараторе и сфокусированных на две очень тонкие проволочки. Проволочки прикреплены к концам образца, расположены вертикально и выходят из печного пространства. Температура образца измеряется термопарой. На приборе Национального бюро стандартов можно измерять изменения длины в температурном интервале от — 150 до + 1000°. Коэффициент линейного расширения определяется с точностью 0,1%. Для построения диаграмм состояния обычно не требуется ль-шой точности, и более удобными оказываются другие приборы. [c.286]

Деформируемые кобальтовые сплавы обладают простейшей микроструктурой, поскольку содержание карбидных выделений в них стараются сдерживать, чтобы свести к минимуму их влияние на деформируемость. Сплав HS-188, например, содержит после прокатного самоотжига мелкодисперсные вну-тризеренные выделения карбидов М С и зернограничные частицы Mjj g (рис. 5.10,г). С плав в основном применяют в виде листового проката, в этом случае для обеспечения достаточной высокотемпературной длительной прочности оптимальна равномерная микроструктура с размером зерен 5—6 класса по шкале ASTM. Недавно показали [24], что термомеханическая обработка тонкого (0,4 мм) листа способна улучшить сопротивление ползучести сплава HS-188 для малой деформации (<1%) путем создания сильно выраженной текстуры рекристаллизации. В этом режиме завершающая операция обработки давлением заключалась в холодной прокатке с обжатием на 80 % с последующим отжигом при 1232 °С в течение 10 мин. По отношению к плоскости листа и направлению прокатки главными компонентами текстуры были (ИО) [llO] и (112) [но]. Трансмиссионная электронная микроскопия позволила установить, что наблюдаемые улучшения явились следствием сочетания активного формирования границ субзерен с образованием карбидных выделений на дислокационной [c.195]

Настоящая схема метода электронномикроскопической авторадиографии применима для всех материалов. Ее разрешение и чувствительность на 1—2 порядка выше, чем контактной авторадиографии. Техника метода принципиально проста, результаты вполне воспроизводимы. Метод электронномикроскоии-ческой авторадиографии позволяет видеть в электронном микроскопе авторадиограмму,- совмещенную с угольной репликой и, таким образом, определять локализацию радиоактивного элемента в тонкой структуре исследуемого объекта. Метод электронномикроскопической авторадиографии позволяет и количественно оценить распределение меченых атомов в структуре для этого надо определить плотность кристаллов проявленного серебра в соответствующих участках авторадиограммы реплики (аналогично измерению плотности почернения при фотометри- [c.473]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...