Микроскопы 432 — Техническая

Борная кислота — Свойства 396 Бринеля микроскоп — Технические л -рактеристики 344 Бром 384 [c.703]

Тела ферромагнитные — Свойства 453 Телевизионные микроскопы — Технические характеристики 345 Телевизионные пентоды — см. Пентоды телевизионные Телеобъективы 335 [c.731]

Строение металлов можно наблюдать уже при их наружном осмотре более ясно оно выявляется при рассмотрении шлифов под микроскопом. Например, при рассмотрении под микроскопом технического железа (рис. 15) видно, что оно состоит из отдельных светлых зерен, по границам которых располагаются примеси и неметаллические включения, имеющие темный цвет. Примеси и неметаллические включения разделяют зерна и, как правило, ухудшают механические свойства металлов. [c.41]

С о к о л о в С. Я-1 Ультразвуковой микроскоп, Техническая физика , т. XIX, вып. 2, 1949- [c.99]

С помощью описанных голографических пространственных фильтров решено большое количество технических задач по улучшению качества изображения повышению контраста, устранению дефокусировки. Одним из наиболее. эффективных применений метода явилось улучшение изображений в электронном микроскопе. Улучшенные изображения имели высокий контраст и разрешение, близкое к предельному. [c.53]

Техническая характеристика 140 Микроскопы Линника 72, 76 [c.483]

Выпускается большое количество марок растровых микроскопов, различающихся по назначению, техническим данным, конструктивным решениям. [c.180]

На стадии легкого скольжения основной вклад в деформацию дают дислокации, вышедшие на поверхность кристалла, что подтверждается экспериментально [10]. На этой стадии (площадка текучести на кривой напряжение — деформация) пластическая деформация растяжения отожженного технического железа [33] происходит путем лавинообразного течения, как это установлено наблюдениями линий скольжения на поверхности и методом дифракционной электронной микроскопии. По данным работы [34 ], в ходе легкого скольжения сдвиг не продолжается по тем плоскостям, где он уже происходил, так как легче активировать источники дислокаций в новых (неупрочненных) плоскостях скольжения. [c.46]

Основной особенностью существующих технических средств тепловой микроскопии является их доступность, заключающаяся в простоте принципов низко- и высокотемпературного металлографических анализов и несложности конструктивного выполнения специализированных установок для осуществления этих методов. [c.6]

При всем многообразии перспективных направлений развития тепловой микроскопии традиционные методы и средства низко- и высокотемпературной металлографии не утратили своего значения и широко применяются в практике заводских и исследовательских лабораторий. Однако все возрастающие требования технического прогресса ставят задачу коренного совершенствования существующих средств тепловой микроскопии, прежде всего, в направлении увеличения производительности и информационной мощности установок. Известно [3], что информационная мощность любой исследовательской установки может быть определена по формуле [c.7]

В книге рассмотрены технические средства тепловой микроскопии, создание и использование новых приборов и установок. Приведены некоторые результаты исследований поведения конструкционных материалов в условиях различных видов механического нагружения в вакууме и защитных газовых средах при температурах ниже 0° С и при нагреве. [c.2]

Настоящая монография охватывает ряд основных вопросов проблемы развития тепловой микроскопии, включая методические основы низко- и высокотемпературной металлографии, анализ конструктивного выполнения основных систем и узлов установок, разработанных под руководством автора. В книге рассмотрены также технические характеристики современной отечественной, главным образом серийной, и зарубежной аппаратуры, определены тенденции и рациональные пределы совершенствования средств тепловой микроскопии. Кроме того, монография содержит ряд экспериментальных результатов, полученных методами тепловой микроскопии и иллюстрирующих эффективность их использования для исследования строения и свойств широкого класса материалов (чистых металлов, промышленных сплавов, композиционных и полупроводниковых материалов). При этом в качестве примеров, как правило, приведены такие исследования, постановка которых оказалась возможной благодаря применению методов и аппаратуры для низко- и высокотемпературной металлографии и результаты которых ассоциируются с существенно новыми представлениями. [c.8]

ТЕХНИЧЕСКИЕ СРЕДСТВА ТЕПЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ [c.29]

Ниже приведены сведения, цель которых — помочь металловедам в расчете, конструировании и эксплуатации основных систем (вакуумной, нагревательной и оптической) установок для тепловой микроскопии и прежде всего ознакомить исследователей и практиков с техническими средствами микроструктурного исследования металлических материалов в широком температурном интервале. Системы механического нагружения описываются в соответствующих главах, где рассмотрены основные типы созданной автором аппаратуры. Кроме того, как показала практика, средства тепловой микроскопии успешно могут быть использованы на стандартных испытательных машинах. [c.30]

Весьма эффективными техническими средствами получения высокого и сверхвысокого вакуума в установках для тепловой микроскопии являются насосы поверхностного действия, принцип действия которых основан на том, 50 что воздух из вакуумной системы удаляется в результате оседания на рабо- [c.50]

Тип вакуумметра выбирают в соответствии с требуемым диапазоном измеряемых давлений, техническими характеристиками прибора и конструкцией всей установки. В серийных отечественных установках для тепловой микроскопии наибольшее распространение получил вакуумметр ВИТ-1А-П, предназначенный для монтажа на панели пульта управления. [c.56]

В устройствах для тепловой микроскопии необходимо, чтобы элементы механизмов приборов имели возможность перемещаться и вращаться в вакууме без нарушения герметичности. В зависимости от технических требований (скорости вращения, величины хода при возвратно-поступательном движении, значения переда- [c.63]

Технические характеристики микроскопа МВТ-71 приведены ниже, а также в табл. 10—12. [c.92]

Выше были рассмотрены основные типовые элементы и узлы установок для тепловой микроскопии. Рациональное использование описанных технических средств предполагает прежде всего максимальное применение в соответствующих установках стандартизованных узлов и составных частей, что существенно облегчает регламентацию техники экспериментирования. При этом аппаратура для совмещенных исследований строения и свойств материалов в широком диапазоне температур в условиях, приближенных к эксплуатационным или технологическим, должна обеспечить [c.101]

Естественно, что разработка стандартов, регламентирующих и гарантирующих определенную степень точности данных о строении и свойствах материалов, не должна быть привязана к техническим параметрам существующей аппаратуры. Высокий научно-технический уровень стандартизации будет обеспечен лишь при учете общих направлений совершенствования установок. Предметом стандартизации должны быть установки, дающие возможность проводить исследования по стандартизированным методикам. Следовательно, проблема регламентирования методов и средств тепловой микроскопии должна решаться путем поэтапной стандартизации [c.102]

Последовательное осуществление стандартизации методов и технических средств тепловой микроскопии позволит расширить области их применения в практике исследовательских и заводских лабораторий при решении задач эффективного использования материалов в технике. [c.102]

Описанные в предыдущих главах методы тепловой микроскопии основывались главным образом на серийных типах аппаратуры. Вполне понятно, что применение в рассматриваемой системе образец—экспериментатор новых технических средств исследования строения и свойств твердых тел в широком диапазоне температур позволит существенно сократить трудоемкость эксперимента, ускорить получение интересующих исследователя характеристик,, повысить точность и надежность результатов исследования. [c.276]

Решению проблем и задач совершенствования техники тепловой микроскопии в значительной мере может способствовать привлечение и дальнейшее развитие информационного подхода при расчетах оптимальных технических параметров перспективных типов аппаратуры. [c.276]

Под резервами при этом понимают как неиспользованные пути увеличения информационной мощности установок, так и перспективные возможности ее прироста. Появление резервов в значительной мере обусловлено развитием современных методов и средств измерительной, регистрирующей и вычислительной техники, повышением уровня технических характеристик материалов и изделий, механизацией и автоматизацией эксперимента. Не вдаваясь в подробности расчетов оптимальной величины производительности установки, достаточно хорошо изложенных в работе [118], рассмотрим некоторые тенденции и пути развития аппаратуры для тепловой микроскопии на основе технических усовершенствований, обеспечивающих прирост информационной мощности установок для микроструктурного исследования материалов в широком диапазоне температур. [c.278]

Рассмотрим в качестве примера некоторые существующие методы и технические средства аппаратурной оценки структуры образцов с помощью анализаторов изображения, что, как отмечалось выше, является одним из резервов повышения производительности установок для тепловой микроскопии. [c.282]

Комплексное использование разработанных методов и технических средств тепловой микроскопии в сочетании с устройствами, повышающими объективность получаемых данных, а также сокращающими ручной труд и снижающими утомляемость экспериментатора, позволяет проводить самые разнообразные исследования, в том числе направленные на изучение взаимосвязи структурных изменений в локальных объемах материала и уровня механических свойств последнего. [c.291]

Отмеченное разнообразие путей практической реализации методов тепловой микроскопии, естественно, обусловливает дифференцированный подход при разработке рекомендаций по стандартизации соответствующих технических средств. [c.294]

Оценка достигнутого уровня создания технических средств тепловой микроскопии и анализ тенденций в области производства соответствующей аппаратуры позволяют сделать вывод о том, что стандартизации в первую очередь подлежат [c.295]

По-видимому, в стандартах на установки для тепловой микроскопии, позволяющие проводить совмещенные исследования строения и механических свойств материалов, должно быть предусмотрено достижение технических 295 [c.295]

В перспективе должны быть регламентированы также технические разработки, превращающие металлографический микроскоп из только визуального в точно измерительный прибор, т. е. в дальнейшем стандартизацией должны быть охвачены методы и средства автоматизированного количественного анализа структуры материалов в широком диапазоне температур. [c.296]

Справочная книга содержит сведения, необходимые для выбора микроскопов отечественного производства и работы с ними. Изложены основные понятия из теории микроскопа, общие правила пользования микроскопами, технические данные и описания всех видов микроскопов, принадлежностей к ним и луп сведения об объективах, окулярах, источниках света, светофильтрах, покровных стеклах, флюорохромах и иммерсионных жидкостях, применяемых в микроскопии. [c.2]

С использованием методов растровой электронной микроскопии, метода скользящего пучка рентгеновских лучей и измерения микротвердости исследованы процессы самоорганизации дислокационной и субаереиной структуры в приповерхностных слоях и внутренних объемах технически чистого рекристаллизованного Мо при статическом растяжении и влияние магнетроиного покрытия Мо-45, 8Re-0,017 на особенности протекания этих процессов вблизи поверхности. Исследования проводили на образцах, растянутых до деформаций, соответствующих пределу пропорциональности, нижнему пределу текучести н пределу прочности. [c.185]

Убеднвинхь, что границы закаленного слоя, глубина и твердость у образна близки к заданным, можно перейти к изготовлению макро- н микрошлифов, исследованию микроструктуры, распределения твердости по глубине слоя в различных сечениях, наиболее ответственных местах (на участках с галтелью, пазами, отверстиями, вырезами и тому подобными осложнениями геометрии поверхности). Только на основе микроскопического анализа можно получить объективное заключение о величине зерна и однородности структуры закаленного слоя, глубине переходного слоя, дать правильные рекомендации ио корректировке режима закалки. Твердость закаленного слоя, особенно в пределах, задаваемых техническими условиями, является слишком грубым показателем качества закалки при отработке режима. Это показатель производственного иериодического контроля проведения процесса закалки по установленному режиму. При отработке режима кроме установленных пределов твердости необходимо оценивать микроструктуру закаленного слоя, хотя бы по какой-то факультативной шкале структур. При отработке режимов закалки крупногабаритных деталей их микроструктуру исследуют с помощью переносного микроскопа на микрошлифе лыски, отполированной вручную шлифовальной машинкой, т. е. без разрушения детали. Для деталей, подверженных деформации, производится обмер партии, определяется необходимость введения операции правки и поле допуска на последующую механическую обработку 62 [c.62]

Технические характеристики некоторых микроскопов для пространстиенных измерений [c.76]

Технические характеристики некоторых стереомикроскопов приведены в табл. 12. Для коитреля прецизионных изделий типа фотешаблонов СБИС применяют телевизионные (ТВМ) и фотоэлектрические (ФЭМ) микроскопы, имеющие высокое пространственное разрешение (до 0,01 мкм при полях зрения порядка 0,1 мм). Для измерений средней точности используют измерительные микроскопы различных конструкций оптико-механического типа. [c.84]

SO. Саррак В. И., Филиппов Г. А. Применение растровой электронной микроскопии для изучения задержанного разрушения закаленной стали. Применение в металловедении просвечивающей и растровой электронной микроскопии. Материалы семинара. М., Публикация Дома научно-технической пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского (МДНТП), 1976, с. 78—83. [c.197]

О своеобразии конфигураций неровностей поверхностей, получаемых при различных технологических процессах, можно судить по приводимым на рис. 1 микротопографическим картам (микрокартам) рельефа неровностей двух технических поверхностей. На рис. 1, а и б показаны микрофотография, полученная на электронном микроскопе (увеличение X 1000), и микрокарта (масштаб 640 1) поверхности детали из титанового сплава после вибрационного галтования в стальных шарах диаметром 2—4 мм в течение 30 мин. Из этих рисунков следует взаимное соответствие двух изображений микрорельефа данной поверхности, который характеризуется как бы беспорядочно расположенными выступами и впадинами различной высоты. Самые глубокие кратеры расположены в шести точках, хаотично разбросанных по участку поверхности. Совершенно иной рельеф имеют неровности поверхности, микрокарта которых показана на рис. 1, в. Эта поверхность получена плоским шлифованием [c.4]

Исследования проводили на образцах в виде пластинок ориентации [111], полученных выпиливанием и шлифованием из природных кристаллов, а также на сколах алмазов. Все образцы принадлежали к типу 1а, G содержанием азота 5 10 —3 10 см . Используемые образцы были достаточно совершенны, имели зональное распределение азота, плотность дислокаций составляла не более 10 Эксперименты по деформации алмаза в области его стабильности проводили в камерах типа наковальни с лункой сферической и тороидальной формы. Образцы размещали внутри цилиндрического нагревателя параллельно его образующей в зонах максимального градиента касательных напряжений. В качестве упруго-пластической среды, передающей давление и одновременно являющейся химически инертной по отношению к алмазу, использовали технический карбонитрид бора. Градуировка давления в камерах выполнялась по общепринятой методике [И], а температуры — с помощью термопары ПП-1 и по температуре плавления платины (2050° С) при давлении 50 кбар. Время выдержки при Т = onst и р onst составляло 1—10 мин, времена нагрева и нагружения 5—10 мин, скорость охлаждения равна 200 град сек. Образцы до и после деформации изучали методами рентгенографии и оптической микроскопии. [c.151]

Для предотвращения окисления поверхности при сварке предварительно полированные пластины проплавлялись в среде аргона. Определение межзеренного проскальзывания на образцах, вырезованных из сварных соединений, производилось на высокотемпературной установке типа ИМАШ-5С-65 и с использованием интерференционной микроскопии. Исследовались сварные соединения стали 1Х18Н9Т, сплава ЭИ 893 и технического никеля Н2. [c.98]

В установках тепловой микроскопии используют главным образом насосы типов ВН-0,1, ВН-494, ВН-461М (ВН-0,8Г) и РВН-20, технические характеристики которых приведены в табл. 5. [c.39]

В таблице приведены основные технические данные восьми модификаций стробоскопических микроскопов, разработанных на базе серийных объективов. Применение когерентных источников света со сверхкороткими импульсами (10 —с) [4] позволяет реализовать импульсную голографическую микроскопию [6], что открывает широкие перспективы в изучении мгновенного физико-механического состояния деформируемой микроповерхности при весьма высоких ускорениях. [c.304]

Более трех десятилетий работал Аносов на металлургических заводах Урала. Своими трудами он далеко продвинул теорию и практику металлургического производства. Разведывая новые месторождения полезных ископаемых, разрабатывая и внедряя новые процессы и механизмы в золотодобывающую промышленность и производство стали, Аносов явился подлинным новатором горнозаводского дела. Все его работы строились иа строго научных принципах. Он не шел проторенными путями. Его всесторонние знания, тщательно продуманные и блестяще проведенные эксперименты позволили ему делать глубокие обобщения, которые освещались им в научно-технических журналах и быстро становились достоянием широкого круга инженеров. Более 130 лет назад талантливый металлург впервые применил микроскоп для исследования внутреннего строения стали. Этим было положено начало микроскопическому анализу металлов, нашедшему сейчас повсеместное применение в науке и промышленности. Открытия П. П. Аносова явхетись научной основой для развития отечественной металлургии высококачественных (легированных) сталей. [c.42]

В табл. 5 представлены технические данные некоторых растровых электронных микроскопов, в которых предусмотрена установка рентгеновских спектрометров для проведения РСМА. [c.497]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...