Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Микроскоп петрографический МИН

Благодаря работам академика Д. С. Белянкина , который положил начало технической петрографии в нашей стране, микроскоп прочно вошел в обиход керамической практики. Исследование строения керамических изделий, выявление их фазового состава не мыслятся без применения петрографического анализа.  [c.165]

Исследование включений под микроскопом на шлифе дополняется изучением выделенных электролизом из металла включений в проходящем или отраженном свете и определением их оптических констант, т. е. определением их минералогического состава петрографическими методами [15]. Наиболее важная характеристика включений — показатель преломления N. Схема определения природы включений и характерные признаки основных неметаллических включений в сталях приведены в табл. 1.4 и на рис. 1.15.  [c.34]


Микроскоп используется для рядовых, повседневных работ в петрографических, минералогических, химических и других лабораториях.  [c.93]

Микроскоп МИН-8— большая модель поляризационного микроскопа, предназначенная для исследования прозрачных объектов в проходящем свете в ортоскопическом и коноскопическом ходе лучей. Микроскоп может применяться в минералогических, петрографических, химических, физических и других лабораториях.  [c.99]

Незначительное газонасыщение титановых сплавов при 830—850° С с эмалями ЭВТ-8А, ЭВТ-23 можно объяснить диффузией кислорода через поры, несплошности покрытия в процессе его формирования. Об этом свидетельствуют результаты металлографического анализа образцов сплава ВТ-6С и петрографического анализа эмали ЭВТ-8А после эмалировочного обжига. Эмаль ЭВТ-8А на сплаве ВТ-6С представляет собой стекловидное покрытие с малой пористостью, о чем также свидетельствуют результаты рентгеноструктурного анализа. В проходящем свете микроскопа видно, что эмаль имеет мелкие поры. После выдержки при 750° С в течение 2 ч эмаль находится в том же состоянии, количество пор уменьшается. В отраженном и проходящем свете в стекловидной основе покрытия видны включения, которые не имеют правильной геометрической формы.  [c.205]

Внедрение в практику исследования керамических материалов рентгеноструктурного анализа в значительной мере расширяет возможность определения фазового состава. В отличие от поляризационного микроскопа рентгеноструктурный анализ позволяет определять кристаллические фазы высокой степени дисперсности (вплоть до размера 0,01—0,001 мк), количество той или иной кристаллической фазы, а также особенности строения кристаллической решетки (дефектность структуры, образование твердых растворов). Для широкого внедрения этого метода в практику исследования огнеупорных изделий необходимо переходить от качественного к количественному определению той или иной кристаллической фазы. Но рентгеноструктурный анализ не дает возможности определить строение изделия— характер распределения кристаллической и стекловидной фаз. Термический анализ наряду с рентгеноструктурным позволяет установить температурные точки возникновения и перехода кристаллических фаз в процессе нагревания огнеупорного сырца или сырья. Сочетание петрографического, рентгеноструктурного и термического анализов, а если представляется возможным и специального фазового химического анализа, делает возможным изучение микроструктуры и фазового состава огнеупорных изделий.  [c.164]


Металлографический микроскоп отличается от биологического или петрографического типом используемого освещения. Поскольку металлы непрозрачны для видимого света, их невозможно исследовать на просвет, поэтому приходится использовать отражение.  [c.7]

Автор исследовал влияние отдельных окислов на образование промежуточного контактного слоя и на согласованность глазури с черепком [15]. Исходными глазурями служили обычная белая и коричневая глазурь для электроизоляционного фарфора. Состав глазурей несколько изменялся за счет введения тех илр иных соединений или замещения одних окислов другими. Петрографический анализ прозрачных шлифов этих глазурей показал что белая глазурь на электрофарфоре (составы приведены в табл 12) не создает контактного слоя, доступного для рассмогре ния под микроскопом. Та же глазурь, но с добавкой 0,6—1,8 °/с MgO делает этот слой резко очерченным толщина (ширина) ег< определяется в 20—100 (а (рис. 8 и 9). Коричневая глазурь об разует на поверхности фарфорового черепка промежуточны контактный слой заметной толщины, в среднем около 20 П( кристаллическому строению этот слой представляет собой игль муллита (рис. 10).  [c.59]

Кальцитовый компенсатор предназначен для количественных измерений разности хода в двулучепреломляющих объектах и для определения характера анизотропных сред при ортоскопическом и коноскопическом наблюдении. Компенсатор применяется при работе с поляризационными микроскопами в минералогических, петрографических, стекольных и других лабораториях.  [c.203]

Фазовый- состав. Изучение минералогического состава и микроструктуры изделия — его петрографическое исследование — осуществляют путем просмотра под микроскопом в проходящем и отраженном свете тонкого шлифа и аншлифа, а также определения коэффициентов преломления отдельных составляющих в иммерсионных жидкостях. Петрографическое исследование позволяет также изучать процесс шлакоразъедания огнеупорных изделий, особенно в тех случаях, когда этот процесс имеет характер не поверхностного растворения, а глубокого проникновения отдельных окислов в тело кирпича и фазового перерождения огнеупора.  [c.164]

Микрсграфический анализ. Первые представления о структуре пленок могут быть получены путем простого изучения их под микроскопом в обычном или поляризованном свете по методам минералогического или петрографического анализа.  [c.35]

Мр1крографический анализ. Первые представления о структуре пленок получаются путем простого изучения их под микроскопом в обычном или поляризованном св ете по методам минералогического или петрографического анализа. Этот feтoд дает также возможность определения пористости пленок, если только размеры пор не меньше разрешающей способности микроскопа, т. е. если диаметр пор не менее 0,3—0,5 м/с.  [c.38]


Смотреть страницы где упоминается термин Микроскоп петрографический МИН : [c.93]    [c.94]    [c.483]    [c.115]   
Смотреть главы в:

Микроскопы, принадлежности к ним и лупы  -> Микроскоп петрографический МИН



ПОИСК



Микроскоп

Микроскопия

Микроскопия микроскопы



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте