Микроскопы Объективы

Построение 154—156 — Схемы 125 --шарниры четырехзвенные — Планы сил — Построение 155 — Планы скоростей и ускорений — Построение 136—139 Механика 125—165 Микрометры резьбовые — Погрешности 517 Микроскопы — Объективы — Резьбы 481, 501, 505 --инструментальные — Применение 523—525, 528, 532 [c.987]

У собранного прибора при юстировке узла освещения отсчетного микроскопа продольной шкалы требуется снять кронштейн с отсчетным микроскопом, объективом и шкалой поперечного микроскопа, а затем и стол. При юстировке узла освещения отсчетного микроскопа поперечной шкалы достаточно снять кронштейны с объективом и шкалой. [c.279]

На рис. 58 показан ход лучей и построение изображения при наличии всей оптической системы микроскопа — объектива и окуляра. [c.113]

Разрешающая сила микроскопа. Явление дифракции на апертуре объектива ограничивает возможности микроскопа. Как и в других оптических приборах, для количественной характеристики способности микроскопа вводится понятие его разрешающей силы. [c.199]

Исследуемый предмет освещен некогерентно, если точки Р и Р2 находятся вне дифракционного максимума объектива осветительной системы 0. Это происходит, когда угол раскрытия 2В] велик и поэтому дифракционный максимум от Oj узок. Разрешение и в этом случае определяется углом раскрытия 202 объектива микроскопа. [c.340]

Угол раскрытия объектива микроскопа должен обеспечить возможность взаимодействия хотя бы двух пучков света. Следовательно, апертура микроскопа и должна превышать ф1 — угол дифракции, соответствующий максимуму первого порядка [c.343]

Установленная формальная аналогия, разумеется, не случайна. Как при голографировании, так и при отображении в линзовой либо зеркальной оптической системе речь идет о преобразовании одной сферической волны (предмета) в другую, также сферическую волну (изображения). Формальный вид закона такого преобразования (линейное преобразование кривизны волновых фронтов) предопределен самой постановкой задачи и никак не связан с конкретным способом его реализации. Любой способ, голографический или линзовый, может только изменить кривизну исходного волнового фронта в определенное число раз и добавить к ней новое слагаемое ), но не более того. Анализ физического явления, призванного осуществить эту процедуру, конкретизирует физический смысл соответствующего множителя и слагаемого и их зависимость от характеристик явления и конструктивных особенностей системы. Последнее оказывается очень существенным при сравнительном рассмотрении разных способов. Как уже упоминалось, применение разных длин волн на первом и втором этапе предоставляет голографии неизмеримо более широкие возможности, чем аналогичный фактор в линзовых и зеркальных системах (различие показателей преломления в пространстве изображений и предметов, иммерсионные объективы микроскопов, см. 97), ибо можно использовать излучение с очень сильно различающимися длинами волн, например, рентгеновское и видимое (когда будет создан рентгеновский лазер). [c.253]

На оси системы возможны не более трех пар апланатических точек ). Поэтому соблюдение апланатизма имеет особое значение для систем, где объект располагается всегда приблизительно около определенной точки. Такой системой является объектив микроскопа. Действительно, в микроскопе рассматриваемый объект малого размера всегда помещается вблизи (фокальной плоскости объектива и посылает в объектив очень широкие пучки. Условие синусов и было сформулировано Аббе при исследовании путей улучшения объективов микроскопов. [c.312]

Аббе (1886 г.) ввел для микроскопии апохроматы, т. е. объективы, где соединены фокусы для трех сортов лучей и вместе с тем устранена сферическая аберрация для разных цветов (уничтожена хроматическая разность сферической аберрации, называемая обычно сферохроматической аберрацией). Апохроматы Аббе имеют большие [c.317]

Схема оптической системы микроскопа показана на рис. 14.12. Малый объект АВ помещается вблизи главного фокуса объектива 5 , дающего его увеличенное действительное изображение А В, которое рассматривают через окуляр 5., так, чтобы увеличенное мнимое изображение А"В" получалось на расстоянии наилучшего зрения от глаза или в бесконечности (наблюдение спокойным глазом). Оба способа наблюдения одинаково пригодны. [c.329]

Рис. 14.13 показывает разрез конденсора и сравнительно простого объектива микроскопа. Свет от препарата достигает объектива, проходя через покровное стекло. Благодаря явлению полного внутреннего отражения до объектива могут дойти лишь те [c.330]

Таким образом, разрешающая сила микроскопа тем больше, чем больше значение п sin и. Эта последняя величина получила название числовой апертуры объектива и обычно обозначается через Л. [c.350]

В объективах современных микроскопов числовая апертура достигает значительных величин. Для сухих систем п = 1 и sin и практически доходит до 0,95, так что возможно разрешение деталей, имеющих размеры около половины длины световой волны. С иммерсионными системами достигается разрешение в полтора раза большее. [c.354]

ИЛИ Р) собирается в фокальной плоскости объектива АА и далее расходится по всей плоскости изображения ЕЕ, Дифрагировавшая (отклоненная) волна О дает изображение в плоскости ЕЕ, которая является сопряженной с плоскостью объекта по отношению к объективу микроскопа. [c.366]

Б. По длине тубуса, на которую рассчитан объектив. Ранее говорилось об оптической длине тубуса. Однако чаще в микроскопии пользуются термином механическая длина тубуса или просто длина тубуса . В этом случае имеется в виду расстояние от нижнего среза тубуса, в который упирается объектив, до верхнего среза тубуса, на который опирается окуляр. В зависимости от конструкции микроскопа объективы рассчитываются на различные длины тубуса на длину 160 мм, 190 мм и на бесконечную длину тубуса (или иначе ее называют длина тубуса-—бесконечность ). Объектив последнего типа проектирует изображение на бесконечное расстояние и используется в микроскопе совместно с дополнительной (тубусной) линзой, которая переносит изображение из бесконечности в фокальную плоскость окуляра. [c.23]

Примечание. Буква П означает, что объектив не имеет натяжений и его можно применять в поляризационных микроскопах. Объективы со значком выпускаются также и без натяжениА (с индексом П ). Объектив ОМ-10 выпускается с индексом П или Л (для работы в свете люминесценции). [c.291]

Сферические и асферические зеркала (параболические, гиперболические, э.плиптиче-ские), внеосевые с внешней и с задней отражающими поверхностями применяются для объективов астрономических приборов, объективов микроскопов объективов фотоаппаратов, для прожекторов и различных тельных устройств. [c.169]

Под названием оптическое стекло в широком смысле эгого слова подразумевают всякое стекло, применяемое для оптических инструментов, а также переработанное белое листовое и зеркальное, идущее на и.зготовление стекол для очков, собирательных линз, зеркал, отбрасывающих свет, и т. д. Однако для оптических точных инструментов, например, для подзорных труб, микроскопов, объективов фотографических аппаратов, военно-оптических инструментов обычное листовое и зеркальное стекло абсолютно неприменимо. [c.1233]

В первом случае лучи от источника света направляются в тубус микроскопа и затем на тонкую стеклянную пластинку П (фиг. 50), расположенную под углом 45° к направлению оптической оси микроскопа (объектива). Грани пластинки строго параллельны и тщательно шлифованы. Часть лучей проходит через пластинку и, попадая на стенки тубуса, поглощается ими и теряется. Другая часть луче11 отражается и попадает на микрошлиф. Отразившись от его поверхносги, лучи проходят через объектив, вторично попадают на плоско-параллельную пла- [c.84]

Объектив является составной частью телескопических оптических систем и оптических систем микроскопов. Объективы как отдельные оптические системы разделяются на фотографические, киносъемочные, проекционные, для телевизионных передающих камер, фотоэлектрических оптических устройств и коллиматоров. Внутри каждЫ4 из этих групп объективы имеют свои отличительные особенности. [c.211]

Чем больше апертурное число А (A=h sin p), тем меньше разрешающая способность. В современных микроскопах отверстный угол объектива близок к 90°, показатель преломления воздуха равен 1. Отсюда [c.38]

БМИ — большой микроскоп инструментальный. Выпускаются также универсальные микроскопы, в которых вместо микрометрических измерителей применены миллиметровые шкалы с отсчетными спиральными микроскопами. Однако, несмотря на конструктивные различия, принципиальная схема измерения всех микроскопов является общей и заключается в визировании различных точек детален, перемещаемых для этого по взаимноперпендикулярным направлениям, и в измерении этих перемещений посредством тех или иных отсчетиых устройств. Для обеспечения лучшего визирования микроскопы снабжают сменными объективами различной степени увеличения. Рассмотрим конструкцию (рис. 10.17, б) и принцип действия БМИ (рис. 10.17, а). [c.130]

Под разрешающей силой микроскопа понимается то минимальное расстояние (линейное или угловое) между близлежащими точками, при котором их еще можно наблюдать раздельно. Вследствие того что объект располагается на небольшом расстоянии от объектива (обычно чуть дальше фокуса объектива), в данном случае не будет наблюдаться точная картина фраунгоферовой дифракции. Однако, так как плоскость изображения ПП объектива находится на расстоянии, существенно превьннающем диаметр объектива, проходящие лучи можно считать почти параллельными. Далее, при рассмотрении дифракции этих лучей на апертурной диафрагме MN [c.199]

Микроскоп. Для получения больших увеличений применяются микроскопы. Увеличенное изобрагкение мелких предметов в микроскопе получается с помощью оптической системы, состоящей из объектива и окз ляра. Самый ростой микроскоп — это [c.275]

Уточним постановку задачи об освещении объекта в микроскопе, воспользовавшись введенными ранее понятиями (см. 6.5). Объектив Oj (рис. G.68) служит для освещения объекта, который находится в плоскости изображения круглого некогерентного однородного излучаге.чя S. Исс.иедуем степень когерентности колебаний в двух точках Pj и Рз объекта, рассматриваемого с помощью объектива Ог- [c.339]

Итак, условия освещения объекта определяются раскрытием 201 объектива осветителя, а разрешение зависит от угла раскрытия 202 объектива микроскопа. Обычно для этих углов справедливо соотношение 2 i < 202, и, если исследование ведется вблизи предела разрешения, можно считать, что любой несамосветя-щийся объект освещен когерентно. [c.340]

Сравнивая соотношени 1/с/мин лйши/л с выражением для разрешающей силы телескопа [см. (6. 108)], заметим существенную разницу разрешающая сила микроскопа зависит не от диаметра объектива, а от угла его раскрытия. [c.342]

Пусть объектом служит однолте )ная дифракционная решетка с постоянной d (рис. 6.7 )). Будем считать ее плоской, что приемлемо, гак как и микроскопе исс.]едуются тошсие препараты, а глубина резкости столь сильного объектива мала. Плоская волна проходит сквозь решетку, распространяясь вдоль оптической оси микроскопа перпендикулярно плоскости решетки. В главной фокальной плоскости объектива получается спектр — [c.342]

Значение предложенного Аббе метода оценки разрешающей силы микроскопа заключается также в том, что он открывает дополнительную возможность его применения любой волнистый рельеф можно рассматривать как некоторую фа.ювую решетку. Для наблюдения ее изображения нужно превратить такую фазовую решетку з амплитудную, т.е п систему светлых и темных полос. В теории фазовой решетки доказывается, что это можно сделать, если уменьшить или увеличить на п/2 разность фаз между волнами, ответственными за нулевой спектр и спектры высших порядков. Цернике указал, что для этого достаточно внести тонкую стеклянную пластинку в фокальную плоскость объектива микроскопа. На область в центре такой пластинки, где локализован максимум нулевого порядка, наносится тонкий прозрачный слой, который изменяет на п/2 фазу волны, распространяющейся в направлении только этого спектра. Для осуществления такого изменения фазы глой вещества с показателем преломления п должен иметь толщину ./4(п — 1). Этот метод, получивший название фазового контраста, позволяет исследовать очень нечеткие структуры и играет большую роль в различных приложениях. [c.344]

Мы нашли выражение для разрешающей силы микроскопа, исходя из предположения, что точки объекта посылают некогерентные волны (объект самосветящийся), так что ди()зракционные картины просто накладываются одна на другую. Однако обычно в микроскоп рассматривают объекты освещенные, а не самосветящиеся. Это значит, что отдельные точки объекта рассеивают падающие на них волны, исходящие из одной и той же точки источника, и, следовательно, свет, идущий из разных точек объекта, оказывается когерентным. К такому случаю, гораздо более распространенному, наш вывод разрешающей силы микроскопа непосредственно неприложим (см. упражнение 120). Аббе указал весьма интересный прием определения разрешающей силы для случая освещенных объектов и нашел, что и в данном случае разрешающая сила также определяется числовой апертурой объектива. Метод рассмотрения Аббе состоит в следующем. [c.350]

Из изложенного ясно, что для получения правильного изображения надо, чтобы через объектив микроскопа и далее проникали дифракционные пучки всех направлений. Обычно внутри микроскопа не ставится препятствий, так что опасность представляет лишь входной зрачок, которым служит оправа объектива, ограничизаю-ищя его рабочее отверстие ). Чем меньше предмет или его деталь d, тем большие углы дифракции он обусловливает и тем шире должно быть отверстие объектива. Отверстие объектива определяется углом 2и между крайними лучами, идущими от объекта (расположенного у фокуса) к краям объектива. Половина этого угла носит название апертуры. Если апертура меньше pi — угла дифракции, соответствующего спектрам первого порядка, т. е. sin и < sin tpi = = Ao/d, то в микроскоп проникнут только лучи от центрального максимума и мы не увидим изображения, соответствующего деталям, определяемым величиной d, т. е. в случае нашей решетки будем иметь равномерное освещение. Таким образом, условр езш и У - XJd есть условие, необходимое для разрешения деталей d. В крайнем случае (sin и = %old) мы жертвуем максимумами высших порядков, т. е. как сказано, несколько ухудшаем качество изображения. Чем больше sin и по сравнению с kjd, тем больше спектров высших порядков участвует в построении изображения, т. е. тем точнее передается наблюдаемый объект. [c.353]

Как выглядит изображение мелкой сетки (скрещенные репгетки), если в фокальной плоскости объектива микроскопа поместить диафрагму в виде щели, проходящей параллельно вертикальным штрихам сетки параллельно горизонтальным штрихам сетки наклонно к тем и другим штрихам [c.888]

При выбранном положении камерного объектива, но при различных углах наклона е фотопластинки, делается серия фотогра- фий того же спектра. Рассматривая в микроскоп крайние участки полученных изображений спектра и сравнивая их, находят такой угол наклона, при котором все линии на спектрограмме окажутся одинаково резкими. [c.27]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...