Интерференционные полосы

ШИРИНА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОЛОС [c.74]

Расстояние между соседними максимумами (или минимумами) называется шириной интерференционной полосы и определяется как [c.75]

Метод Юнга. Свет, исходящий от протяженного источника S, направлен па экран с двумя симметрично расположенными относительно S отверстиями (рис. 4.9). На экране Эз наблюдаются полосы. Юнг доказал, что интерференционные полосы наблюдаются только при достаточно малых размерах источника б". Усовершенствовав схему опыта, он получил весьма четкую интерференционную картину. По этой причине первое наблюдение явления интерференции приписывается именно Юнгу. Сущность его метода заключается [c.81]

Поскольку толщина слоя переменная, то получится совокупность интерференционных полос, параллельных ребру двугранного угла между зеркалом 3i и изображением зеркала 3 в пластинке П. Легко убедиться, что в рассмотренном нами случае идеального точечного источника, излучающего монохроматический свет, интерференционная картина независимо от толщины воздушного клина будет четкой. В действительности, если исходить из выражения интенсивности, видно, что она равна нулю каждый раз, когда толщина [c.91]

Форма интерференционной картины, положения максимумов и минимумов зависят от толщины и формы пластин, от угла между их поверхностями, от состояния поиерхности н т. д. Следовательно, можно, изучая форму и положение интерференционных полос, судить о свойствах исследуемой пластинки. Иначе говоря, интерференционные явления могут быть применены для измерения физических параметров прозрачных тел. Ценность интерференционного метода заключается, в частности, в том, что он чувствителен [c.104]

Отсюда угловая ширина интерференционной полосы будет [c.110]

Ширина интерференционной полосы. Исходя из (5,32), можно также определить ширину интерференционной полосы [c.116]

Крюки Рождественского . При исследовании дисперсии паров металлов вблизи линий поглощения резкое изменение направления интерференционных полос приводит к ухудшению точности измерений. С целью увеличения точности Рождественский усовершенствовал вышеописанную установку, вводя в другое плечо [c.267]

Опыт Физо, а также другие варианты этого опыта, проделанные позднее различными авторами, привели к сд ещению интерференционных полос примерно [c.420]

Физикам давно были известны многие оптические явления, непонятные с позиций геометрической ("лучевой") оптики. К их числу относят чередующиеся полосы максимальной и минимальной освещенности (интерференционные полосы), происхождение которых связано с возникающим в ряде опытов перераспределением потока световой энергии в пространстве. [c.175]

Такие интерференционные полосы должны наблюдаться невооруженным глазом. Но оказывается, что наблюдаемая на опыте равномерная освещенность экрана абсолютно не соответствует приведенному выше расчету интерференции двух монохроматических волн. Попытки постановки подобных опытов неодно- [c.182]

График этой функции представлен на рис. 5.18. Легко заметить, что эффект определяется соотношением между шириной интерференционной полосы ( она в свою очередь зависит от апертуры интерференции 2w) и расстоянием 2d, на которое разнесены два исходных некогерентных источника света Si и S2 Функция видимости может принимать значения, близкие к единице (если 2d dh). Вместе с тем интерференционные по- [c.199]

Ha экране будут наблюдаться интерференционные полосы. В зависимости от h выражение (5.30) принимает экстремальные значения [c.200]

При отсутствии в образце напряжений анализатор гасит световые лучи, прошедшие через поляризатор, и изображение получается затемненным. Под нагрузкой материал образца, становясь двоякопреломляющпм, разлагает поляризованный свет на две взаимно перпендикулярные и совпадающие с иаправленпе.м главных напряжений волны с разностью фаз, пропорциональной разности главных напряжений. В анализаторе волны снова совмещаются, и благодаря приобретенной разности фаз на изображении возникает спсте.ма интерференционных полос. При освещении белым светом образуются цветные полосы (изохромы), цвет которых зависит от разности главных напряжений — 02, а частота расположения — от величины нагрузки. [c.156]

Принцип действия интерферометров основан на использовании явле+1ия интерференции света, отраженного от образцовой и исследуемой поверхностей. Форма образующихся интерференционных полос зависит от вида и высоты (до 1 мкм) неровностей контролируемой поверхности. Принцип действия растровых микроскопов основан на явлении образования муаровых полос при наложении ]130бражений элементов двух периодических структур (направленных следов обработки и д.чфракцнонной решетки). При наличии неровностей муаровые полосы искривляются. Высоту микронеровностей определяют по степени искривления муаровых полсс. [c.201]

Из соображений симметрии следует, что интерференционная картина представляет собой совокупность параллельных полос, отстоящих на соответствующих расстояниях от центра экрана, определяемых выражением (4.21). В центре экрана находится главный (нулевой) максимум. Вверх и вниз от него на равных расстояниях друг от друга располагаются максимумы (и минимумы) первого, второго порядков и т. д. Интерференционные полосы располо-же 1Ы под прямым углом к линии SiSa- [c.75]

В зависимости от формы пластинки меняется и форма интерференционных полос. Нели пластинка имеет вид клина, то иитерфе-ренцио1П1ые полосы равной толщины имеют вид прямых, параллельных ребру клина. [c.89]

Ширина интерференционной полосы зависит от угла ф. Действительно, при переходе к соседнему максимуму разность хода лучей мсиястся на поэтому, обозначив соответствующее изменение угла падения через Ai, получим [c.110]

Изменение раз1юсти хода приведет к соответствующему сдвигу интерференционных полос. Сдвиг полос можно характеризовать отношением возникшей дополнительной разности хода к длине волны [c.111]

На пластинке Люммера— Герке наблюдаются интерференционные полосы очень высокого (десятка тысяч) порядка. Это позволяет использовать ее в сочеташш с другим спектральным прибором в основном для исследования тонкой структуры спектральных линий. [c.117]

В результате интер([)ереицни двух когерентных волн на пластинке образуется система интерференционных полос. Пусть точки А н В соответствуют положениям двух соседних полос. Поскольку при переходе от А к В разность хода пучков I п 2 меняется на X, то Adi + = Я, где Adi = а sin ii, Ad,. = а sin /о, а— расстояние между серединами двух соседних полос. [c.207]

Малейшее изменение формы объекта из-за деформащп в промежутке между двумя регистрациями изменяет фазу п[)едметной волны. Следовательно, если в промежуток времени между двумя экспозициями (важно, чтобы фотопластинка не сдвинулась между двумя экспозициями) произошли какие-то деформации, то при просвечивании этих голограмм увидим изображение объекта, перерезанное интерференционными полосами, но форме которых можно судить о характере деформации. Точность измерения этого метода весьма высокая он позволяет измерить деформации порядка десятой доли микрона. Возможности ко[1троля размеров, формы и качества обработки сложных деталей с помощью голографии сделают этот метод наиболее ценным в производстве. [c.222]

Каждая интерференционная полоса, набл.юдаемая в фокальной плоскости спектрографа, является геометрическим местом точек, для которых разность фаз интерферирующих волн постоянна. [c.268]

Смотреть страницы где упоминается термин Интерференционные полосы : [c.125] [c.75] [c.75] [c.82] [c.85] [c.86] [c.101] [c.105] [c.105] [c.110] [c.110] [c.111] [c.113] [c.116] [c.208] [c.209] [c.267] [c.267] [c.268] [c.420] [c.420] [c.427] [c.185] [c.195] [c.198] [c.201]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...