Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Проекционный рентгеновский микроскоп

Проекционная рентгеновская микроскопия, для которой образец помещают так же, как в случае п. 1, пленку же — на некотором расстоянии от фокуса.  [c.385]

ПРОЕКЦИОННЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП (ф. 109/2)  [c.23]

ПРОЕКЦИОННАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ  [c.109]

Микропроцессоры (G 06 F использование в устройствах управления подачей горючей смеси в ДВС F 02 D 41/26) Микроскопы [G 02 В <21/00-21/36 бинокулярные устройства 21/20-21/22 корпуса 21/24-21/30 объективы 21/02-21/04 предметные столики 21/26 приспособления для освещения ультрафиолетовыми лучами 21/16 средства для освещения объектов наблюдения 21/06-21/14 для фотографических или проекционных целей 21/36) G 21 К (гамма-микроскопы 7/00 рентгеновские 7/00) (использование для исследования или анализа материалов N 21/01-21/91 измерительные В 9/04) G 01 электронные (или ионные Н 01 J 31126-211295, использование при анализе материалов G 01 N 23/225)]  [c.113]


Для исследования микроструктуры непрозрачных для видимого света объектов миниатюрного приборостроения и машиностроения при контроле конструктивных элементов и сборки деталей малых размеров в последнее время нашли широкое применение рентгеновские микроскопы. В ИМАШ АН СССР при сотрудничестве с ЛНПО Буревестник разработан новый тип рентгеновского микроскопа МИР-3 с разрешением 2 мкм и увеличением 200 крат, который обеспечивает возможность работы как в режиме проекционного рентгеновского микроскопа, так и в режиме рентгеновского микроденситометра, что дает возможность автоматизировать обработку результатов эксперимента (рис. 10).  [c.31]

Проекционный рентгеновский микроскоп для наблюдения структуры самосветящихся об ьектов представля-  [c.366]

Рис. 1. Схемы проекционных рентгеновских микроскопов для исследования структуры самоснетящихся (а) я просвечиваемых (б) объектов О — объект И — источник излучения Э — экран, Рис. 1. Схемы проекционных рентгеновских микроскопов для <a href="/info/772621">исследования структуры</a> самоснетящихся (а) я просвечиваемых (б) объектов О — объект И — <a href="/info/127375">источник излучения</a> Э — экран,
Изображение тонкой фольги перлита, полученное в проекционном рентгеновском микроскопе с точечным источником. Образец был утонен электролитически в смеси хлорной (5% H IO4) и уксусной (95% СН3СООН) кислот. Снимок получен в полихроматическом излучении золота, бомбардируемого электронами, ускоренными разностью потенциалов 12 кв.  [c.109]

Контактный рентгеновскай микроскоп является предельны. случаем проекционного Р. м. при S , равном толщине образца, к-рый устанавливается в непо-средств. контакте с фотоплёнкой или экраном. Этот метод иногда называют микрорадиогрвфией, Источник И устанавливается на значит, удалении от образца О, причём размер и соответственно мощность источника могут быть значительно больше, чем в случае проекционного Р. м. Разрешение зависит от толщины образца и контраста между тёмными и светлыми деталями объекта, в дифракц. пределе б Напр., при  [c.367]

Фиг. 26. Схема использования проекционного теневого рентгеновского микроскопа в качестве абсорбционного микроспектрометра. Фиг. 26. Схема использования проекционного теневого рентгеновского микроскопа в качестве абсорбционного микроспектрометра.

Рентгеновский абсорбционный микроанализ. Для решения ряда практических задач может быть использован метод рентгеновского абсорбционного микроанализа (РАМА). При этом методе, который является составной частью рентгеновской проекционной микроскопии (РПМ), не требуется сложная дорогостоящая аппаратура. Метод РПМ основан на получении увеличенной теневой проекции объекта в расходящемся пучке рентгеновского излучения, испускаемого точечным источником. Разрешение ироекцион-ного метода, лимитируемое размерами источника (величиной полутени) и френелевской дифракцией, достигает  [c.498]

Л), геометрич. разрешение определяется толщиной образца, угловым размером источника излучения и разрешением фотоматериала. Разрешение метода ограничивается также разрешающей способностью оптич. прибора (микроскопа, проекторам т. п.), применяемого для увеличения рентгеновской картины. Дифракционное разрешение и контрастность изображения определяются теми же условиями, что и в проекционной Р. м. Разрешающая способность контактной микрорентгенографии достигает 1 мк [8]. Примепение беззернистых фотографич. эмульсий, очень тонких образцов (1 мк) и электронных микроскопов дли увеличепия микрорептгенограмм позволит повысить разрешающую способность до 1000—500Л [9].  [c.423]


Смотреть страницы где упоминается термин Проекционный рентгеновский микроскоп : [c.24]    [c.167]    [c.249]   
Смотреть главы в:

Металлография железа 1  -> Проекционный рентгеновский микроскоп



ПОИСК



Микроскоп

Микроскопия

Микроскопия микроскопы

Рентгеновская микроскопия и микроанализ проекционная



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте