Микроскоп прямое

По тому же принципу построено освещение на темном поле в микроскопе. Прямые лучи света, выходящие из конденсора, падают под острым углом на препарат и не попадают в объектив (см. рис. 75, г). [c.147]

С помощью электронного микроскопа можно увидеть более мелкие детали структуры, чем под оптическим микроскопом, так как он имеет очень высокую разрешающую способность, достигающую 25 X 10 см. Это объясняется тем, что электронные лучи обладают очень малой длиной волны, а, как видно из формулы (2), разрешающая способность микроскопа прямо пропорциональна длине волны. [c.54]

Первоначально под микроскопом на предварительно полированных и деформированных образцах можно наблюдать следы скольжения в виде прямых линий, которые одинаково ориентированы в пределах отдельных зерен. [c.47]

Разрешающая способность глаза человека при наблюдении на расстоянии 250 мм (так называемое расстояние наилучшего зрения) составляет приблизительно 0,1 мм. Два маленьких предмета, находящиеся на таком расстоянии и освещаемые даже прямым солнечным светом, можно считать практически некогерентными источниками. Тем более это относится к всестороннему освещению. Таким образом, при наблюдении невооруженным глазом в естественных условиях можно не принимать во внимание частичной когерентности волн, попадающих в глаз от различных точек предметов. Напротив, при наблюдении с помощью микроскопа, обладающего разрешением порядка длины волны, учет частичной когерентности освещения объекта, как правило, необходим. [c.107]

К числу схем, в которых используется прямая голо-графическая запись волновых фронтов, относится и схема голографического микроскопа, приведенная на рис. 32. Объект помещается в расходящийся лазерный пучок. [c.82]

Прямое наблюдение зерен аустенита проводят с помощью высокотемпературной и электронной микроскопии. [c.90]

Статьи, заключенные в данный сборник, содержат результаты исследований, выполненных за последние годы в области изучения микроструктурных особенностей деформационных процессов и разрушения в поликристаллических металлических материалах (в том числе композиционных) в условиях теплового и механического воздействия. При проведении исследований использованы методы качественной и количественной тепловой микроскопии в сочетании с другими физическими методами. В ряде работ содержатся сведения о методиках и аппаратуре, применяемых для получения прямых экспериментальных данных об изменениях микростроения и уровня механических свойств изучаемых материалов. Значительное внимание в сборнике уделено изучению микроструктурных особенностей развития пластической деформации сталей и сплавов, биметаллических композиций и сварных соединений при тепловом воздействии в условиях статического и циклического нагружения. [c.4]

Значительное развитие тепловая микроскопия получила благодаря разработке методов и устройств, позволяющих осуществить прямое наблюдение микроструктуры металлов и сплавов в процессе пластического деформирования при нагреве и механическом нагружении. Для осуществления таких исследований в 1948 г. в Институте металлургии им. А. А. Байкова АН СССР под руководством автора была создана установка, на которой фотографировали микроструктуру образцов в процессе их растяжения с максимальным усилием 10 кгс при нагреве до 1000° С в вакууме. [c.7]

Рядом отечественных и зарубежных исследователей показано, что методы тепловой микроскопии, основанные, как уже отмечалось, на изучении рельефов поверхностей исследуемых твердых тел, несмотря на то что прямому анализу подвергается небольшой объем металла, непосредственно прилегающий к плоскости металлического шлифа, достаточно эффективно могут быть использованы [c.10]

С помощью данного микроскопа можно наблюдать и фотографировать микроструктуру металлических образцов в отраженном свете, в светлом поле при прямом и косом освещении. [c.92]

Как уже отмечалось, микроскоп позволяет наблюдать микроструктуру образца в светлом поле, при прямом и косом освещении. В светлом поле при прямом освещении нить лампы источника света 1 проектируется коллектором 2 и осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 4. Диафрагма 5 коллектора 2 проектируется осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 6. Апертурная диафрагма 4 проектируется осветительной линзой 7 в плоскость выходного зрачка объективов 8 или 9. Полевая диафрагма проектируется осветительной линзой 7 в бесконечность. Так как объективы 8 и 9 рассчитаны на длину тубуса бесконечность , то изображение полевой диафрагмы проектируется объективами в плоскость предмета. [c.93]

Осветительная система микроскопа состоит из источника света 1 — ртутной лампы сверхвысокого давления типа ДРШ-100-2, коллектора 2, проектирующего светящуюся плазму лампы в плоскость апертурной диафрагмы 3. Последующий путь светового потока зеркало 4, осветительная линза 5 и светоделительное зеркало 6. Последнее обладает соотношением коэффициентов отражения и пропускания Г = 1 2 и установлено под углом 45° к оптическим осям светового потока осветителя и микроскопа при этом исследуемый образец 7 освещается и изучается в прямом светлом поле. [c.138]

Для успешного осуществления низкотемпературного металлографического исследования процесса деформации металлических материалов наиболее подходящим следует считать способ прямого микроструктурного изучения твердых тел при деформировании в среде сжиженных газов. Этот способ основан на прозрачности хладагента. Испытываемый образец с приготовленным на нем металлографическим шлифом укрепляют шлифом вниз в горизонтально расположенных захватах нагружающего устройства и помещают в низкотемпературную рабочую камеру типа сосуда Дьюара, содержащую хладагент (жидкий азот, аргон, воздух и др.). После прекращения интенсивного кипения сжиженного газа (при выравнивании температур образца, деталей механизма нагружения и хладагента) производят механическое нагружение и через прозрачный слой жидкого газа и герметически вмонтированное во внутреннее днище рабочей камеры смотровое плоскопараллельное стекло одновременно наблюдают, фотографируют или снимают на кинопленку поверхность образца с помощью металлографического микроскопа, объектив которого введен в вакуумируемое пространство между стенками рабочей камеры и уплотнен в ее наружном днище. [c.196]

Рабочая камера 11 типа сосуда Дьюара, выполненная из кварцевого стекла с нанесенным на внутреннюю поверхность металлизационным слоем 12, снабжена плоскопараллельным смотровым стеклом 13, расположенным в дне рабочей камеры. С помощью вакуумного уплотнения 14, размещенного между шлифованной кромкой рабочей камеры и основанием 15, устанавливаемом на предметный столик 16 металлографического микроскопа, рабочая камера связана через штуцер 17 с трубопроводом 18 откачивающей системы. Объектив 19 может свободно перемещаться в вертикальном направлении с помощью резинового вакуумного уплотнения 20, герметизирующего зону расположения объектива в основании рабочей камеры. В специальной втулке 21, установленной на опорном кольце 22 микроскопа и служащей для размещения объектива 19, расположено герметизированное плоскопараллельное стекло 23. Это стекло с уплотнениями 14 и 20 обеспечивает вакуум между стенками рабочей камеры, вполне достаточный для того, чтобы предотвратить выделение конденсата влаги на смотровом стекле 13. В результате оказалось возможным прямое наблюдение и фотографирование нижней горизонтальной полированной поверхности образца 1 через слой заливаемого в рабочую камеру хладагента 24, в качестве которого используются, как уже отмечалось, сжиженные газы или любые прозрачные охлаждающие смеси. [c.197]

Нетрудно заметить, что развитие средств тепловой микроскопии в общем случае может быть охарактеризовано непрерывным возрастанием объема информации, получаемой при проведении опыта. Если, например, первые установки типа ИМАШ позволяли лишь изучать высокотемпературное строение довольно ограниченного круга объектов исследования, то последующие модификации установок для тепловой микроскопии давали возможность осуществлять прямое наблюдение микроструктуры в процессе пластического деформирования при нагреве и сопоставлять структурное состояние мате- [c.279]

Значительное развитие тепловая микроскопия получила благодаря разработке устройств, позволяющих осуществить прямое наблюдение микроструктуры металлов и сплавов в процессе пластического деформирования при нагреве (охлаждении) и механическом нагружении. [c.491]

Прямолинейность и плоскостность опорных поверхностей и направляющих проверяют при сборке прямыми или косвенными методами. В первом случае контролируют положение самой детали, базирующейся на опорных поверхностях и направляющих. Во втором случае перед монтажом детали проверяют прямолинейность базовых поверхностей. Основные методы таких проверок на краску при помощи уровня специального мостика с индикаторами, микроскопа и струны или сообщающихся сосудов. Используют также оптические методы контроля. [c.384]

Тензометр Петерсона (фиг. 147) [45]. Две пустотелые лёгкие стойки 1 соединены двумя пластинчатыми пружинами 2, образующими упругий шарнир. Верхние концы стоек отогнуты под прямым углом по направлению друг к другу и образуют небольшой зазор, меняющийся по величине при деформации исследуемой детали. Зазор измеряется микроскопом 3. Тензометр прижимается к детали силой Р. База прибора — [c.224]

Контроль в зависимости от размеров и точности производится линейками, уровнями или приборами и приспособлениями, дающими возможность определить расстояния точек проверяемого профиля от базовой прямой или плоскости, например, с помощью линейки и плиток, индикатора или миниметра, натянутой струной и микроскопом, оптическими приборами (по принципу визирования), зеркалом и коллиматором и т. п. [c.30]

За последние годы получены важнейшие данные о поведении и свойствах отдельных дислокаций—об их движении и расщеплении, об образовании скоплений и взаимодействии дислокаций между собой и с точечными дефектами [9]. Прямое экспериментальное наблюдение различных эффектов, предсказанных теорией дислокаций, явилось блестящим ее подтверждением. Открытие ряда новых эффектов, связанных с механизмом пластической деформации, структурой наклепанного металла и микромеханизмом разрушения, а также прямое наблюдение доменной структуры упорядочивающихся сплавов [10], — подлинный триумф электронной микроскопии. Прямое наблюдение зарожд.ения, дв1ижения, взаимодействия и выхода дислокаций из образца (с образованием ступенек — линий скольжения) непосредственно во время деформации образца внутри микроскопа [11, 16] открывает дополнительные замечательные возможности. [c.170]

Величина поверхности и пористость. Для сравнения эксперимента с теорией и для анализа механизмов разыгрывающихся на поверхностях разнообразных процессов, измеренные электрофизические и адсорбционные параметры свободных поверхностей относят к единице поверхности исследуемого объекта. Возникает вопрос — как измерить величину этой поверхности. Данные измерений на монокристаллах обычно относят к величине геометрической поверхности, которая, как видно из рис.1 (введение) может быть во много раз меньше величины поверхности, доступной для адсорбции сравнительно небольших по размеру молекул. Отношение такой "адсорбционной" поверхности к геометрической часто называют коэффициентом шероховатости. Качественные оценки этого коэффициента делаются на основе статистической обработки данных оптической и электронной микроскопии. Прямое определение поверхности адсорбционными методами в случае массивных тел, как правило, невозможно из-за малой величины поверхности. Значительный професс в измерении полной поверхности тонких пленок был достигнут в последние годы благодаря использованию пьезорезонансных кварцевых весов. В них измеряется сдвиг резонансной частоты монокристалла а-кварца с нанесенной на его поверхность пленкой [c.227]

Таким образом установлено, что диаметр выxo зрачка микроскопа прямо пропорционален числовой [c.326]

Электронный микроскоп позволяет подробно изучать тонкую структуру (субструктуру) металла. Одно из наиболее важных достижений электронной микроскопии — возможность прямого наблюдения дефектов кристаллической структуры. На рис. 3, в показана микроструктура, полученная в электронном MHKpo Koife. [c.13]

Иа основании результатов прямых структурных исследований о исцрльзованием методов рентгено-структурного анализа, электронной микродифракции, автоионной, ростровой электронной и оптической микроскопии показано, что структу1ш исследованных сплавов представляет собой трехмерные конформации исходной цепочки тетраэдров состава ПМ,)М (с атомом металлоида в центре). [c.68]

Сравнивая дна описанных гол1М ра( 1ических микроскопа с прямой голографической регистрацией но схеме Лейта и с голографической регистрацией, использукпцей предварительное увеличение, можно отметить преимущества и недостатки каждого из них. [c.85]

О преимуществах схемы прямой регистрации уже говорилось, к недостаткам ее можно отнести высокие требования к разрешающей способности регистрирующей среды и сильное влияние пятнистой структуры (спек.л-структуры) на качество изображения. В голографической схеме, использующей микрообъективы для создания увеличенно1 о изображения предмета, требования к разрешающей способности минимальны, пятнистая структура мало влияет на изображение, но поле зрения и глубина регистрируемого пространства определяются свойствами применяемого микрообъектива и оказываются весьма мaJ ыми. Таким образом, обе описанные схемы [ологра-фического микроскопа обладают существенными недостатками, ограничивающими возможностг. их применения при микроскопических исследованиях. [c.85]

ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ. Для прямого анализа расположения атомов вокруг линии дислокации необходимо очень высокое разрешение. В настоящее время такое разрешение дает только ионный микроскоп (ионный проектор), принцип действия которого состоит в следующем. С поверхности образца, представляющего собой иглу с очень малым радиусом закругления острия (менее 10 см), находящуюся под действием поля высокого напряжения, срываются электроны. За счет эффекта поляризации на игле осаждаются молекулы нейтральнм о газа. После соприкосновения с ио-верхностью металла молекулы газа диффундируют к острию иглы. Когда такая молекула попадает в область местного усиления поля высокого напряжения, происходит ее ионизация и ион летит под действием ускоряющего высокого напряжения к флуоресцирующему экрану прибора. Этот метод, имеющий наибольшее разрешение из всех известных в настоящее время прямых методов исследования структуры материалов, позволяет различать отдельные атомы в кристаллах. Увеличение прибора определяется соотношением между радиусом кривизны острия и расстоянием от объекта до экрана и может достигать нескольких миллионов. [c.94]

В первое время парк приборов был довольно скромным. Постепенно вкладывались средства в приобретение различных приборов. В небольшой комнате размещались горизонтальный и вертикальный оптиметры, инструментарный микроскоп. Стол-компаратор для поверки лент из-за отсутствия места в здании Поверочной палаты был установлен прямо на улице под открытым небом. Имеющиеся эталоны позволяли поверять только измерительный инструмент [c.93]

Впервые соотношение (3.1) было установлено Ломером и Розенбергом [229] на моно- и поликристаллах сплавов меди. Бейли и Хирш [230] получили зависимость (3.1) прямыми измерениями плотности дислокаций методом трансмиссионной электронной микроскопии на по-ликристаллическом серебре, а Кэррингтон, Гейл и Мак Лин [231] — на поликристаллическом железе. [c.98]

Вывод о зарождении пор на границах элементов структуры был подтвержден экспериментально Вилсдорфом с сотрудниками [397] прямыми наблюдениями деформации тонких пленок металлов непосредственно в высоковольтном электронном микроскопе. [c.198]

В чистых металлах ИПД кручением обычно приводит к формированию равноосной структуры, средний размер зерен в которой составляет около 100 нм, а РКУ-прессование обеспечивает размер зерен, равный 200-300 нм. На рис. 1.7а, б показаны типичные микроструктуры Си, подвергнутой ИПД кручением, наблюдаемые в просвечивающем электронном микроскопе в светлопольном и темнопольном изображениях, вместе с соответствующей дифракционной картиной [8]. Видно, что интенсивная деформация приводит к формированию в Си однородной ультрамелкозерни-стой структуры уже при комнатной температуре. Многочисленные рефлексы на электронограмме, расположенные вдоль окружностей, указывают на большеугловые разориентировки соседних зерен. Присутствие преимущественно большеугловых границ в структуре металлов после интенсивной деформации было подтверждено также прямыми измерениями разориентировок индивидуальных границ зерен [56], и это является важной особенностью материалов, подвергнутых ИПД [3,8,13,38]. [c.19]

Прямые наблюдения границ зерен, выполненные методом высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, дают доказательства их специфической дефектной структуры в наноструктурных материалах вследствие присутствия атомных ступенек и фасеток, а также зернограничных дислокаций. В свою очередь, высокие напряжения и искажения кристаллической решетки ведут к дилатациям решетки, проявляющимся в изменении межатомных расстояний, появлении значительных статических и динамических атомных смещений, которые экспериментально наблюдались в рентгеновских и мессбауэрографических исследованиях. [c.86]

Оптическая система растрового микроскопа представлена на рис. 32. Штрихи растровой сетки 3 пересекают совмещенную с сеткой узкую и длинную щель. Форма щели и расстояние между штрихами подобраны так, чтобы после проецирования на поверхность они были эквидистантными, а изображение щели становилось прямым и одинаковой ширины на всем протяжении. Щель освещают белым источником света 5 через конденсор 4 и на испытуемой поверхности 1 получают изображение чередующихся коротких и узких участков освещенной щели. Для проецирования используется микрообъектив 2. Под некоторым углом к поверхности наблюдают искривленное распределение растровых элементов вдоль щели. Изображение растра проектируют с помощью объектива 10 и зеркала 6 в наблюдательную систему. Для увеличения проек- [c.115]

В 1950 г. в Государственном оптическом институте (ГОИ) были разработаны специальные зеркально-линзовые насадки к объективам микроскопа, увеличивающие рабочее расстояние. В качестве примера на рис. 43 приведена оптическая система, состоящая из собственно объектива микроскопа с увеличением 40 и апертурой 0,65 (40x0,65) и микронасадки (компоненты / и //) с рабочим расстоянием 30 мм и увеличением 1, дающей промежуточное изображение О. Первая поверхность линзы I выполнена асферической и тщательно просветлена. Чтобы исключать влияние прямой засветки, на центральную часть линзы нанесен непрозрачный экран. [c.95]

В 1931 г. Роджерс [29] исследовал рост зерен в стали при нагреве ее до 900° С в атмосфере водорода, используя при этом микроскоп с малым увеличением. Большого успеха добились Эссер и Корнелиус [30], изучавшие при прямом наблюдении в микроскоп структуру образцов, нагреваемых в вакууме. Созданное этими исследователями устройство для наблюдения за микроструктурой нагретых материалов стало известно в литературе под названием столик Эссера . [c.103]

Установка для наблюдения за микроструктурой на поверхности нагретого образца в процессе его растяжения, созданная в 1965 г. Казеном с соавторами [38], состоит из нагревательного микроскопа, снабженного гидравлической системой для растяжения образца с постоянной скоростью (изменяющейся в пределах от 2,5 10 до 2,5 10 мм/с), а также устройствами для контроля и регистрации температуры и программирования режима нагрева, регистрации нагрузки и удлинения образца. Во время опыта можно осуществлять прямое наблюдение, фотографирование и кинематографирование поверхности образца. [c.111]

В связи с развитием ряда отраслей новой техники, где применяются детали из тугоплавких металлов и сплавов, работающие в условиях высокотемпературного нагрева, значительное внимание уделяется исследованиям микростроения и прочности этих материалов. Особый интерес представляют прямое наблюдение в микроскоп, фотографирование и киносъемка микроструктуры образцов непосредственно во время нагрева их в интервале температур до 2000° С и выше. В связи с этим основной тенденцией развития аппаратуры, предназначенной для изучения тугоплавких материалов методами тепловой микроскопии, является расширение температурного интервала проведения опытов. Как отмечалось выше, в нагревательной камере Ваку-терм максимальная рабочая температура составляет 1800° С установка НМ-4 фирмы Юнион Оптикал позволяет проводить исследования при нагреве до 2300 С. [c.136]

Оптическая система установка ИМАШ-18 состоит из объектива 11 с большим рабочим расстоянием, укрепленного на опак-иллюминаторе 12 специального металлографического микроскопа. В осветителе микроскопа 13 применена ртутная газоразрядная лампа сверхвысокой яркости типа ДРШ-100-2 мощностью 100 Вт. Яркость свечения жгута паров плазмы в этой лампе составляет около 100 кстб. Следует напомнить, что яркость электрической дуги составляет всего около 15 кстб. Визуальное наблюдение за структурой образца осуществляется через окуляр 14 и монохроматический узкополосной светофильтр 15. Последний является одним из важных элементов оптической системы [58]. Он пропускает преимущественно волны с длиной X = 546 мкм (ртутная линия в спектре лампы) и срезает собственное световое излучение образца, а также волны других длин из спектра лампы. При этом становится возможным прямое наблюдение за микроструктурой образца в отраженном свете, а также фотографирование или киносъемка ее камерой 16. [c.138]

Вследствие известной ограниченности световой микроскопии (недостаточные глубина резкости и разрешающая способность) при изучении физических основ прочности материалов все чаще применяются методы прямого наблюдения за поведением дислокаций и образованием полос скольжения с помощью высоковольтного и растрового электронных микроскопов в широком диапазоне температур Эти методы тепловой электронной микроскопии, позволяющие осуществлять, например, исследование динамических свойств дислокаций in situ, вносят существенный вклад в изучение субми-кроскопических особенностей деформирования и разрушения материалов в условиях высоких и низких температур. [c.292]

Методы прицельного измерения микротвердости в широком диапазоне температур основаны на использовании прямого наблюдения с помощью светового или растрового электронного микроскопов за поверхностью нагретого (или охлажденного) образца. Эти методы позволяют точно выбирать места индентации и непосредственно измерять величину отпечатка инден-тора в процессе опыта. [c.295]

Число питтингов на единицу площади и их диаметр легко определять путем сравнения со стандартными изображениями. Что касается глубины питтингов, то обычно определяют их максимальную глубину. В некоторых случаях под ней подразумевают глубину самого глубокого питтинга, наблюдаемого на исследуемом образце, в других — среднее значение, например для пяти самых глубоких питтингов. Глубину питтингов можно измерить с помощью микроскопа, который сначала фокусируют на дно питтинга, а затем - на поверхность непрокорродировавшего металла. Таким образом, получается разница между двумя уровнями фокусировш. Глубину питтинга можно также измерить с помощью микрометра или, изготовляя поперечный шлиф через питтикг и затем проводя. прямые измерения, возможно, с помощью микроскопа. [c.26]

Одним из наиболее интересных и всепроникающих факторов является тип скольжения, к которому давно проявляют интерес исследователи КР. В последнее время он начал привлекать внимание и в связи с водородными процессами. Тип скольжения, как обобщенное понятие, впервые был предлонген [305] для описания внешнего вида поверхностных линий скольжения. Он может быть либо планарным (т. е. довольно прямым и параллельным), либо волнистым (искривленным и разветвляющимся). Эти внешние особенности линий скольжения в общем случае хорошо коррелируют со структурой полос дислокационного соскальзывания, наблюдаемой в тонкопленочной электронной микроскопии, и поэтому тип скольжения, даже будучи несколько описательным понятием, все же получил широкое признание. Эта терминология, однако, не лишена некоторой неоднозначности, так как скольжение как планарное, так и волнистое может, кроме того, быть либо тонким (образуются многочисленные ступеньки соскальзывания малой высоты), либо грубым (большие, но редкие ступеньки) [201]. [c.126]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...