Слепок (для электронной микроскопии)

Если образец подготавливают путем электролитической полировки и травления, пленку на шлиф наносят в хорошо работающей вакуумной установке, а слепок от образца отделяют электролитически, то время, затрачиваемое на все операции — от получения образца до установки препарата в электронный микроскоп, можно сократить до 10—15 мин. [c.37]

Электронный микроскоп, дающий на один-два порядка большее разрешение, чем оптический, позволяет подробно изучать тонкую структуру (субструктуру) металла. Одно из наиболее важных достижений электронной микроскопии — возможность прямого наблюдения дефектов кристаллической структуры. В электронном микроскопе (для предупреждения вторичного излучения, искажающего наблюдаемую картину) изучается не самый металл, а лаковый или кварцевый слепок, полученный с поверхности протравленного шлифа и воспроизводящий детали его рельефа, зависящие от действительной структуры металла. В последнее время широко применяется прямой метод исследования на просвет. В этом случае исследуют тонкие пленки толщиной несколько сот ангстрем, прозрачных для электронов, приготовленные из массивных образцов. [c.13]

Электронный микроскоп, дающий на один-два порядка большее разрешение, чем оптический, позволяет подробно изучать тонкую структуру (субструктуру) металла. Одно из наиболее важных достижений электронной микроскопии — возможность прямого наблюдения дефектов кристаллической структуры. В электронном микроскопе (для предупреждения вторичного излучения, искажающего наблюдаемую картину) часто изучают не металл, а лаковый, кварцевый или более часто угольный слепок (или реплику), полученный с поверхности протравленного шлифа (или излома) п воспроизводящий детали его рельефа, обусловленные действительной структурой металла. [c.16]

Фиг. 25. Слепок с микрошлифа металла для изучения его структуры при помощи электронного микроскопа.

Слепок (для электронной микроскопии) 172, 173, 174 [c.1651]

В электронном микроскопе рассматривают реплику — слепок с особо тонкой структуры металла при увеличениях до 100 000 Этот важнейший анализ определяет размеры и форму зерен, структурные составляющие, неметаллические включения и их характер — трещины, пористость и т. д., качество термической обработки. Зная микроструктуру, можно объяснить причины изменения свойств металла. [c.13]

Использование просвечивающего микроскопа требует приготовления специальных объектов—тонких металлических пленок 100— 2000 А или реплик (слепков) с поверхности металлического шлифа, так как только они прозрачны для электронов. В настоящее время применяют слепки из различных материалов, обычно столь малой толщины, что прохождение электронов не вызывает собственной структуры этих материалов. Слепок имеет в разных участках различную толщину и поэтому неодинаково рассеивает проходящий поток электронов (рис. 42). [c.76]

Обычно поступают следующим образом. После приготовления микрошлифа на его поверхность наносят слой вещества (лак, углерод, кварц и т. д.) очень малой толщины. Образуется слепок, с большой точностью воспроизводящий рельеф шлифа (рис. 20). Затем слепок снимают со шлифа и помещают в электронный микроскоп. В тех местах, где слепок толще (в местах разницы в глубине травления), электроны рассеиваются сильнее и таким образом выявляется граннца между отдельными структурными составляющими сплава и границами зерен. Вещество, которое наносят на поверхность. [c.39]

Изучение структуры при помощи электронного микроскопа производится так. На протравленный шлиф наносится тонкий слой опецпального вещества, например лака, который потом осторожно снимается. Получается как бы маска структуры (фиг. 25). Этот слепок помещают в электронный м икроскоп, и па слепок направляется пучок быстро летящих электронов. Электроны частично пронизывают слепок насквозь, частично же поглощаются (рассеиваются) и тем больше, чем толще слепок. Пучок электронов, пронизывающий слепок, падает на фотопластинку. На фотопластинке [c.47]

Обычно поступают следующим образом. После приготовления микрошлифа на поверхность наносят слой вещества (лак, кварц и рр.) очень малой толщины. Образуется слепок, с какой-то степенью воспроизводящей рельеф шлифа (рис. 18). Затем слепок снимают со шлифа и помещают в электронный микроскоп. В тех местах, где слепок толще (в местах резкой разницы в глубине травления), электроны рассеиваются сильнее и таким образом выявляется граница между отдельными структурными составляющими сплава и границами зерен. Вещество, которое наносят на поверхность, вследствие поверхностного натяжения и ряда других причин не вполне точно копирует форму рельефа, поэтому разрешающая способность электронного микроскопа при использованри, например, кварцевых слепков может быть оценена приблизительно в 100 А. [c.26]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...