Поле зрения микроскопа

Вводят в поле зрения микроскопа монохроматора желтые линии и фокусируют их. [c.260]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

На рис. 180 представлена принципиальная схема автоматических анализаторов изображения. Видимое в микроскопе изображение поверхности образца попадает на мишень так называемого видикона передающей телевизионной камеры, где преобразуется в ряд электрических импульсов. Далее сигнал попадает в блок дискриминатора, где происходит выборочный анализ объемов, находящихся в поле зрения микроскопа. Обработанный таким - -г-- ь- [c.283]

В поле зрения микроскопа наблюдения (по оси Па и //б), расположенного под углом 90° к оси проектирующего микроскопа, будут наблюдаться два изображения щели, отраженных от поверхностей аа прозрачного покрытия / и бб детали 2. Изображение щели смещено друг относительно друга на величину Ь, пропорциональную оптической толщине покрытия. [c.91]

В поле зрения микроскопа наблюдается два изображения щели, образованной поверхностями покрытия изображения щелей смещены по отношению одно к другому на величину, пропорциональную оптической толщине покрытия (nh). При небольшой толщине покрытия оба изображения смещены, но изображения щелей перекрывают одно другое, и в поле зрения будет видна одна широкая [c.96]

Для более точного и надежного сравнения шероховатости испытываемой поверхности и образца служит сравнительный микроскоп, который накладывается на испытываемую деталь и образец, и в поле зрения микроскопа видна одновременно поверхность детали и образца. [c.295]

В поле зрения микроскопа при отсутствии нагрузки, а также при статической нагрузке видна одна граница между светом и тенью (рис. 12, а). Показания при нулевой и статической нагрузках отсчитывают, совмещая перекрестие окуляр-микрометра с этой границей между затемненной и освещенной частью поля зрения. [c.538]

Форма частиц загрязнителя должна быть шарообразной. Это позволит отличить их от случайно попавших в поле зрения микроскопа частиц. Кроме того, зная диаметры шарообразных частиц и их количество, можно более достоверно подсчитать и объемную концентрацию загрязнителя в жидкости. [c.69]

При указанной концентрации загрязнителя и высоте столба жидкости, из которой осаждается загрязнитель, 40—50 мм среднее расстояние между частицами в 10—15 раз больше их диаметра, что позволяет сравнительно легко и точно подсчитать размеры и количество частиц в поле зрения микроскопа. [c.70]

Микроскоп ММР-2 собрать для работы в темном поле с окулярами Гюйгенса 10 и объективом ахроматом F-8,2 А-037. При этом общее увеличение равно 244. Для измерения частиц в поле зрения окуляра 10 установить сетку и окуляр-линейку. Сетка предназначена для четкого ограничения поля зрения микроскопа и примерной оценки размера частиц. Для более точной оценки размера частиц служит окуляр-линейка. [c.72]

Чтобы установить необходимую площадь просмотра кюветы под микроскопом, нужно определить среднее число частиц для каждого интервала в одной или нескольких единичных зонах, расположенных в центре кюветы. Единичной зоной считать зону, полученную перемещением поля зрения микроскопа на расстояние, равное 4 мм. При работе на микроскопе ММР-2 с увеличением 244 единичная зона состоит из 10 полей зрения. [c.73]

Если число частиц в подсчитываемом интервале, приходящееся на единичную зону, не превышает 3, то счет их производить по всей площади кюветы последовательным прохождением полос шириной, равной полю зрения микроскопа. Если частиц в подсчитываемом интервале, приходящихся на единичную зону, 3— 20 шт., то счет их производить в 10 единичных зонах. Схема счета приведена на рис. 14. Если в подсчитываемом интервале частиц, приходящихся на единичную зону, больше 20 шт., то [c.73]

При этом увеличении цена деления шкалы окуляр-линейки равна 5 мкм цена деления сетки — 25 мкм площадь сетки — 0,16 Мм сторона квадрата сетки — 0,4 мм (ширина поля зрения микроскопа). При просмотре чистой кюветы в ней обнаружено частиц размером 5—10 мкм — 15 шт., 10—25 мкм — 8 шт. [c.75]

Точность визуальных методов измерения может быть различной. Если определение данного участка поверхности производится путем измерения через определенные интервалы не менее 50 ординат микропрофиля с каждого участка поверхности, видимого в поле зрения микроскопа, то этот способ по точности приближался к фотографическому и погрешности измерения также будут расположены в этих пределах при измерении на МИИ-1 погрешность + (7—15)% и при измерении на МИС-11 + (4—11 %). Если же оценка чистоты поверхности производится путем измерения усредненной высоты профиля поверхности, видимого в поле зрения микроскопа, то в этом случае визуальный метод будет по точности значительно уступать фотографическому [7 ]. [c.239]

К салазкам поперечного перемещения закреплен центральный микроскоп, который за счет сменных объективов имеет два увеличения 50>< и 30 . При меньшем увеличении объектива 6 в окуляре 7 применяют сетку с перекрестием и 25 окружностями с интервалами через 0,1 мм. Поле зрения микроскопа около 2 мм. Вместо окуляра может применяться головка двойного изображения. Справа от центрального микроскопа на основной отливке закреплен отсчетный 25 387 [c.387]

В правом микроскопе наклоняющаяся пластина, вызывающая перемещение изображения штриха поверяемой шкалы, служит для измерения величины отклонения поверяемого интервала шкалы (между начальным штрихом и наблюдаемым штрихом) от соответствующего интервала образцовой шкалы. Отсчеты производятся по шкале, имеющей пределы измерения —5 мк (с ценой деления 0,1 мк) и проектируемой в верхней части поля зрения микроскопа. Благодаря высокой чувствительности глаза к перемещению изображения штрихов по глубине и применению для измерений оптических микрометров погрешности измерения не превышают +0,25 мк. [c.392]

На фиг. 7 представлена схема прибора Виккерса. Образец помещают на предметный столик 1. Вращением штурвала 2 образец подводят на расстояние 0,5—1,0 мм до вершины алмазной пирамиды 5. Стержень 4 передаёт нагрузку на пирамиду от неравноплечего рычага 5, на свободный конец которого при помощи стержня 6 подвешены грузы 7. Поворотом спусковой ручки 8 освобождают эксцентрик 9, который приводится во вращение под действием груза 10, подвешенного на блок при помощи стального тросика. При вращении эксцентрика 9 плунжер 11 опускается, освобождая рычаг 5, и нагрузка плавно передаётся на пирамиду. Скорость вращения эксцентрика задаётся масляным тормозом 12, который регулируется так, что длительность на1 ружения и время выдержки под нагрузкой получаются равными 10 сек. Верхняя часть плунжера 11 представляет собой резиновую подушку, на которую опирается конус, укреплённый на рычаге 5. Такое устройство способствует опусканию и подъёму груза без толчков. Исходное положение рычага 5 и связанных с ним деталей достигается нажимом на нижнюю педаль 13. После того как отпечаток произведён, столик 1 опускают настолько, чтобы можно было подвести микроскоп 74, укреплённый на откидном кронштейне. В поле зрения микроскопа имеются две шторки, раздвижение которых определяется по счётчику. Счётчик при сомкнутых шторках устанавливается на нуль. В зависимости от объектива (X 12,3 или X 5) одно де- [c.6]

В марках Бр ОС 8-12, Бр ОС 7-17, Бр ОС -2 и Бр ОС 10-10 допускается присутствие 2п н N1 ло 2%. 2. В марке Бр ОС 5-25 содержание Р снижается до 0,05% при изготовлении толстостенных деталей (более 0 мм), 3. Марки Бр ОЦС 6-6-3. Бр ОЦ 4-3 и Бр ОФ 6,5-0,4, применяемые для ответственного литья и обработки давлением, имеют пониженное содержание вредных примесей, согласно группе А . 4. В марках Бр О 10. Гр ОЦ 10-2. применяемых для специальных целей, содержание пр1 месей снижается по 5Ь до 0,2%, по РЬ до о I и по В1 до 0.0О2 /(,- 5. Содержание ангидрида оловянной кислоты ЗпО допускается не более одного кристалла (0==2 мм) в поле зрения микроскопа при увеличении X 0. [c.109]

Когда измеряются беспорядочно расположенные неровности (при доводке или шабрении), более целесообразно работать с белым светом, при этом в поле зрения микроскопа будет видна белая полоса, а по сторонам от нее — две темные и несколько цветных полос. Наибольшее число видимых в поле зрения полос облегчает при беспорядочном расположении неровностей производить оценку степени их изгиба и, следовательно, повышает надежность результатов измерения. При измерении в белом свете обычно ориентируются на черные полосы. [c.118]

Электродный потенциал измеряется с помощью лампового потенциометра 16 по отношению к насыщенному каломельному электроду. В потенциометрическую цепь включается электролитический щуп /7, представляющий собой изогнутую стеклянную трубку, оканчивающуюся капилляром и заполненную раствором электролита. Щуп закрепляется в трехкоординатном штативе 18, с помощью которого конец щупа устанавливается в центре поля зрения микроскопа и по высоте относительно поверхности образца. Штатив в свою очередь закреплен на двух координатном столе 10, что позволяет перемещая координатный стол, а в месте с ним электролитический щуп, ванну и микроскоп, измерять электродный потенциал в любой точке рабочей части образца. [c.75]

Фиг, 77, Лунка в поле зрения микроскопа. [c.152]

В поле зрения микроскопа наблюдения изображение светящейся щели имеет вид, представленный на рис. 12.5, б. Сначала нить сетки окулярного микрометра подводят к вершине измеряемой неровности, а затем — к впадине. По разности отсчетов окулярного микрометра определяют высоту неровности. [c.352]

Через неподвижные оптические клинья 1 лучи идут ко второй паре клиньев 2, укрепленных на приливе подвижной каретки 5. На этой же каретке укреплена линейная шкала 4, имеющая 600 делений. Каретка и неподвижные клинья смонтированы на основании 6, которое присоединено винтами к корпусу алидады в нижней ее части. На каретке укреплена также рейка 9, входящая в зацепление с трибом 8, сидящим на одной оси с маховичком 7. Поворачивая маховичок, оператор перемещает каретку. За клиньями расположена неподвижно укрепленная на корпусе прямоугольная призма, направляющая пучок лучей в сторону диафрагмы 5, два окна которой (большое и малое) ограничивают поле зрения микроскопа. Через большое окно рассматривают совмещенное изображение [c.129]

В поле зрения микроскоп-микрометра находятся два биссектора (рис. 249), из которых один, неподвижный, находится в середине поля зрения, другой, подвижный приводят в движение, вращая барабан. [c.337]

При испытаниях фильтровальных материалов (элементов) важное значение имеют правильный выбор искусственного загрязнения и его концентрация в жидкости. Для того чтобы частицы искусственного загрязнения отличались от случайно попавших частиц в поле зрения микроскопа, они должны иметь правильную шарообразную форму. Кроме того, если концентрация загрязнений в жидкости велика, то возможно коагуляция их частиц, что снизит точность измерений. [c.614]

Разница между преобладающими величинами зерен в одном поле зрения микроскопа допускается в пределах двух баллов. [c.103]

Для более точного учета влияния магнитной обработки на размер кристаллов в поле зрения микроскопа фиксируют преобладающий (не менее 60—70% общего числа) размер кристаллов. [c.88]

Неметаллические включения обладают меньшей отражающей способностью, чем металлы, поэтому в поле зрения микроскопа они выявляются в виде темных пятен. Чтобы отличить нх от пор, которые также выявляются [c.311]

Так как все металлы — вещества непрозрачные (для видимого света), то форму кристаллов, а также их размер и взаимное расположение изучают на специально изготавливаемых микрошлифах. В этом случае делают разрез металла в плоскости, интересующей исследователя. Затем полученную плоскость шлифуют и полируют до зеркального состояния Чтобы выявить структуру, следует создать рельеф или окрасить в разные цвета структурные составляющие, что достигается обычно химическим травлением. При травлении кислота в первую очередь воздействует на границы зерна, как места, имеющие наиболее дефектное строение и которые в травленом шлифе станут углублениями свет, падая на них, будет рассеиваться (рис. 18), и в поле зрения микроскопа они будут казаться темными, а тело зерна - светлым отражения or илос (рис. 1У). кости зерна и от его границ [c.37]

В поле зрения микроскопа (рис. 10.16, г) видны штрихи миллн-метрогюй шкалыМШ (4,5, 46, 47), один из которых находится в зоне линейной шкалы 2, часть круговой шкалы 4 и дуги витков двойной спи- [c.128]

В одном из опытов Сведберга-определялось число появлений данного количества броуновских частиц в поле зрения микроскопа. При этом были получены следующие результаты [c.49]

В этих условиях наблюдалось формирование поверхностных периодических структур но кроях незатронутых лазерной гравировкой участков металлических пленок. ППС располагались вдоль траектории движения фокального пятно лазерного излучения. Зона распространения ППС в радиальном по отношению к фокальному пятну направлении в большинстве случаев не превышало 10—15 мкм, однако наблюдались и структуры, захватывавшие полосы необработанного покрытия до 250 мкм. При этом ППС группировались в полосы с уменьшающейся контрастностью в поле зрения микроскопа. ППС дальней зоны качественно отличаются от ППС ближней зоны. Изморенные в дальней зоне периоды ППС составляли величины 3— 3,5 мкм. В ближней зоне величина периода была приблизительно такая же, но строгая периодичность норушолась, в ряде случаев элементы структур располагались как лучи, радиально расходящиеся от дефектов лазерной гравировки. [c.96]

Выделенный дискриминатором сигиая в дальнейшем постуНаеТ в счетно-решающее устройство, позволяющее производить измерение площади, занимаемой анализируемыми элементами структуры образца, распределение по размерам и определение общего числа частиц, находящихся в поле зрения микроскопа. [c.12]

Для установки поверхности в одно и то же место по отношению к игле профилографа при определении предполагаемых изменений применяется микроскоп и нанесепш.ш на поверхности ролика отпечаток при помощи алмазной пирамиды прибора Виккерса для определения твердости материалов вдавливанием. Ролик, установленный па призму, передвигается на пей до тех пор, пока центр отпечатка не попадет в од][о и то ave место поля зрения микроскопа, после чего записывается профилограмма. Сопоставление мея ду собой профилограмм, снятых с одного и того я е места поверхности ролика (по образующей) до и после испытания, позволит судить об изменениях, которые произошли на поверхности ролика в процессе испытания. [c.46]

Металлографическим исследованием малоуглеродистой стали лля холодной штампоаки можно определять следующие ее свойства содержание углерода в стали, с известной степенью приближения, а следовательно, и ее марку. Содержание углерода определяется по характеру микроструктуры, видимой в поле зрения микроскопа, т. е. по процентному содержанию основных структурных составляющих малоуглеродистой стали — феррита и перлита. Микрошлпф, показывающий в поле зрения микроскопа только свет- тые кристаллы феррита, принадлежит образцу стали с минимальным содержанием углерода (фиг. 206). При наличии на микрошлифе заметных темных участков, равномерно распределенных между зернами феррита, можно установить большее содержание углерода в стали, так как эти темные участки являются зернами перлита. Заметное количество перлита присутствует в малоуглеродистой стали, начиная от марки 10, и увеличивается по мере возрастания процентного содержания углерода (фиг. 207). Наиболее п,дастичной является структура стали, состоящая почти из чистого феррита. [c.423]

Прибор ПМТ-3 имеет следующие характеристики увеличение микроскопа 130Х и 487Х параметры линейного поля зрения микроскопа с объективами фокусное расстояние — 23,2 л м, апертура 0,17—1,3, фокусное расстояние 6,2, апертура 0,65—0,3 пределы измерения диагоналей 0,005—0,25 мм нагрузка 0,049 Н (5 гс) — 1,902 Н (200 гс). [c.267]

При номинальной нагрузке на динамометр деформация, вызванная растяжением стакана 5, складываясь со значительно меньшей деформапией, вызванной сжатием стакана /, приводит к перемещению указателя 4 в поле зрения микроскопа приблизительно на 0,18 мм. Это перемещение измеряют окуляр-микрометром S. Увеличение микроскопа 300 , Номинальной нагрузке соответствует около 500 делений окуляр-микрометра. [c.538]

В кювету залили 10 см анализируемого масла. Высота налива масла в кювету 3,18см площадь кюветы 3,14 см площадь единичной зоны 0,04X0,4 = 0,016 m (0,04 — ширина поля зрения микроскопа, см 0,4 — расстояние, на которое передвигается поле зрения микроскопа при просмотре единичных зон). [c.75]

Высота неровностей, наблюдаемая в поле зрения микроскопа, измеряется посредством окуляр-микрометра. Профиль поверхности фотографируется специальной фотонасадкой. Прибор снаб- [c.155]

Следует отметить, что в указанном гониометре применен окулярный микрометр, у которого неподвижная шкала выполнена в виде гребенки, а роль сетки ползуна выполняют две паутинные нити, образующие биссектор. Расстояние между вершинами крайних, более глубоких впадин (размер /) равно расстоянию между двумя изображениями после объектива двух соседпих штрихов шкалы лимба. Расстояние между двумя вершинами соседних впадин гребенки соответствует одному обороту микрометрического винта, т. е. 120" (или 2 ). Число градусов и десятков минут читают по шкале лимба, число единиц минут — по гребенке и число секунд — по барабану. Чтобы произвести отсчет, нужно ось бис-сектора совместить со штрихом лимба. Чтобы отсчитать число минут, надо сосчитать слева количество линий, образующих вершины гребенки, не считая той, через которую проходит изображение штриха лимба. На рис. 120 изображено поле зрения микроскопа. В этом примере отсчет равен 135°4 (секунды отсчитывают по барабану). [c.141]

С помощью винта 8 микрометрического перемещения стола произвольно выбранный штрих лимба, видимый в поле зрения микроскопа, подводят под нульпункт и действием окулярного микрометра биссектор нитей наводят поочередно на левый от нуля, средний (стоящий на нуле) и правый штрихи лимба. Полученные отсчеты записывают в журнал наблюдений. [c.300]

Метод тёмного поля в проходящем свете применяют в биологии, гл. обр. для наблюдения прозрачных веаб-сорбирующих объектов, невидимых при методе светлого поля, напр. бактерий. Пучок лучей (рис. 3), освещающих препарат 2, выходит из конденсора 1 спец, конструкции (конденсор тёмного поля) в виде полого конуса и непосредственно в объектив 3 не попадает. Изображение создаётся только светом, рассеянным элементами структуры препарата, к-рые отличаются от окружающей среды показателем преломления. В поле зрения микроскопа на тёмном фоне видны светлые изображения деталей (рис. 1, г). Этим методом по виду изображения нельзя определить, прозрачны частицы или непрозрачны, больший или меньший показатель преломления они имеют по сравнению с окружающей средой. [c.144]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...