Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Тонкие пленки

В последнее время под электронным микроскопом изучают тонкие пленки исследуемого металла, в той или иной степени прозрачные для электронного луча. В этом случае разрешающая способность электронного микроскопа близка к величине межатомных расстояний.  [c.39]

Электронно-лучевой метод перспективен при обработке отверстий диаметром 1 мм—10 мкм, прорезании пазов, резке заготовок, изготовлении тонких пленок и сеток из фольги. Обрабатывают заготовки из труднообрабатываемых металлов и сплавов, а также из неметаллических материалов рубина, керамики, кварца, полупроводниковых материалов.  [c.413]


Существует ряд теорий, объясняющих эти законы роста пленки на основании контроля процесса окисления переносом ионов или электронов в тонких пленках по механизмам, отличающимся от диффузного механизма.  [c.48]

Если qaF > kT (образование тонких пленок), разложение в ряд экспоненты, содержащейся в предыдущем уравнении, с учетом только первых членов разложения дает уравнение  [c.52]

Таким образом, при наличии высокого градиента потенциала (у очень тонких пленок) прямая пропорциональность между скоростью перемещения ионов и полем сменяется экспоненциальной зави- Рис. 29. Схема образования симостью. катионных вакансий при  [c.53]

Движение ионов при образовании очень тонких пленок преобладает в одном направлении. В этом проводника р-типа случае нет равновесия между металлом и окислом  [c.53]

Рис. 31. Зависимость электронного и ионного тока i в очень тонких пленках от толщины последних Рис. 31. Зависимость электронного и ионного тока i в очень тонких пленках от толщины последних
Ландсберга Хемосорбция Тонкие пленки — — — — —  [c.81]

Для определения структуры и типов соединений, образующих пленку, используют электронографический метод на массивных образцах — метод дифракции электронов на отражение, а для исследования тонких пленок, предварительно отделенных от металла — метод на прохождение.  [c.436]

Рис. 353. Схема установки для определения скорости коррозионных процессов под тонкими пленками электролитов Рис. 353. Схема установки для определения <a href="/info/218739">скорости коррозионных процессов</a> под тонкими пленками электролитов
Способность винипласта к формованию проявляется при температурах 130—140° С. Более высокие температ )ы мо1 ут вызвать расслоение листов материала на тонкие пленки, из которых он спрессован.  [c.414]

Другим весьма важным свойством масел является маслянистость, т. е. способность в результате адсорбции (поглощения) образовывать на сопряженных поверхностях тонкие пленки — граничные слои, предотвращающие непосредственный контакт поверхностей.  [c.144]

Скорость разрушения ЛКП зависит от свойств атмосферы, в которой оно находится, т. е. от количества атмосферных загрязнений, осадков и продолжительности воздействия солнечных лучей. Некоторую роль играет цвет наружного слоя покрытия, определяющий способность отражать инфракрасные и ультрафиолетовые лучи, а также тип связующего. При прочих равных условиях эффективность высококачественных ЛКП, применяемых для противокоррозионной защиты, определяется их суммарной толщиной. Покрытие определенной толщины предпочтительнее наносить в несколько слоев, чем в один, потому что краска, наносимая в несколько слоев, лучше закрывает поры и, кроме того, в тонких пленках легче происходят испарение растворителя и пространственные превращения при полимеризации.  [c.251]


Метод лаковых покрытий заключается в том, что на чистую поверхность исследуемой конструкции наносится тонкий слой лака. При его высыхании образуется тонкая пленка, плотно соединенная с металлом. Рецептура лака подбирается так, чтобы удлинение пленки при разрыве было в пределах упругих удлинений металла. При нагружении испытуемого объекта в зоне повышенных напряжений в лаковом покрытии образуется сетка мелких трещин.  [c.532]

Определение теплофизических характеристик рассматриваемых нами покрытий связано с двумя основными трудностями. Во-первых, число известных методов для определения теплофизических коэффициентов тонких слоев (толщина в десятые и сотые доли миллиметра) весьма ограниченно. Это объясняется те.м, что в ряде случаев требуется точное измерение температуры внутри образца, как правило, в двух точках. Такие измерения, естественно, не удается осуществить в тонких пленках, так как при незначительной толщине исследуемого слоя его термическое сопротивление оказывается соизмеримым с термическим сопротивлением контактов термопар, что приводит к большим неточностям при абсолютных измерениях.  [c.122]

Для металлов (гелиоприемники, как правило, изготовлены из металла) с увеличением длины волны спектральная лучеиспускательная способность падает, а отражательная способность увеличивается. В длинноволновой области спектра металл обладает значительным отражением. Если на металле создать тонкую пленку, сильно поглощающую длинноволновые лучи, то можно получить идеальную для теплового гелиоприемника поверхность, так как видимые и близкие инфракрасные лучи, на которые приходится большая часть солнечной энергии, поглощаются пленкой (покрытие имеет высокое значение е, а/гл ). Учитывая то, что температуры гелиоприемников при использовании концентраторов солнечной энергии достигают 1000 К, для этих целен необходимо применять высокотемпературный класс покрытий.  [c.217]

Катодолюминесценция — свечение, вызываемое действием катодных лучей — быстродвижущимися под действием электрического поля электронами. Этот вид возбуждения широко применяется в газоразрядных трубах, где ускоренный электрическим полем электрон на своем пути может ионизовать сотни и тысячи атомов газа, вызывая тем самым их свечение. Катодолюминесценция успешно применяется также для возбуждения порошков, тонких пленок и поверхностных слоев монокристаллов.  [c.360]

Транзистор эпитаксиальный — транзистор, изготовленный путем напыления тонких пленок на поверхность полупроводниковой пластины, которая обычно служит коллекторной областью будущего транзистора преимущества возможность одновременного изготовления большого числа транзисторов, близких один к другому по параметрам, высокие граничные частоты, малые объемные сопротивления [9].  [c.159]

Явление интерференции в тонких пленках применяется для контроля качества обработки поверхностей, просветления оптики.  [c.267]

Наибольший интерес представляют собой случаи локализации интерференционных полос на поверхности какой-либо пластинки, используемой для создания разности хода (полосы равной толщины), и локализация их в бесконечности (полосы равного наклона). Удобно начать изучение этих явлений с исследования интерференции в тонких пластинах при освещении протяженными источниками света, которую часто называют цветами тонких пластин. Все наблюдали чрезвычайно красивые цвета тонких пленок (например, пленок нефти на поверхности воды) при освещении их солнечным светом. Рассмотрим физику этих явлений, так как она окажется очень полезной для понимания более сложных процессов, происходящих в интерферометрах, интерференционных фильтрах и других оптических устройствах.  [c.210]

В применении к равновесию тонких пленок жидкости, закрепленных на твердой рамке, в условии (61,4) справа должен стоять нуль. Действительно, сумма l// i+ l/Ri должна быть одинаковой вдоль всей свободной поверхности пленки и в то же время на двух своих сторонах она должна иметь противоположный знак, поскольку если одна сторона выпукла, то другая вогнута с теми же радиусами кривизны, которые, однако, должны считаться теперь отрицательными. Отсюда следует, что условие равновесия тонкой пленки есть  [c.335]

Для того чтобы выяснить условия формирования интерференционной картины вблизи поверхности тонких пленок и причину ее ярко выраженной пространственной локализации,рассмотрим схему подобного опыта в предельно простом варианте.  [c.122]


В хороших лабораторных условиях при освещении тонких пленок белым светом удается еще наблюдать интерференционные полосы 4—5-го порядка за счет избирательной спектральной чувствительности человеческого глаза. Следовательно, толщина пленок из веществ с показателем преломления около 1,3 должна составлять приблизительно 1,5—2 длины световой волны.  [c.125]

Для повышения коррозионной стойкости и некоторого улучшения режущих свойств проводят так называемую обработку паром, состоящую в нагреве готового инструмента в атмосфере пара (температура та же, что и при отпуске). При этом на поверхности образуется тонкая пленка магнитной окиси железа (2—3,5 мкм), которая предотвращает прилипание стружки к инструменту 1 попышает коррозионную стойкость ста. ш.  [c.431]

Теория Мотта и Кабреры позволяет прежде всего определить критическую толщину окисной пленки hg, выше которой применима теория образования толстой окалины, а ниже которой необходимо использовать теорию для тонких пленок.  [c.50]

В этом случае скорость перемещения ионов пропорциональна полю. Если qaF < kT, то можно предположить, что и ija < kT, откуда h > qaFlkT. Обозначив величину qaFlkT через h , имеем для случая тонких пленок  [c.52]

Если h< hi образование очень тонких пленок), то поскольку hi= qaFikT, постольку qaF kT, и общее уравнение для скорости перемещения ионов и преобразуется в уравнение  [c.53]

Схематический график зависимости логарифма i от h по Хауффе и Ильшнеру приведен на рис. 31. Из этого графика следует, что скорость перемещения электронов вследствие туннельного эффекта определяет скорость образования самых тонких пленок (область /), а скорость переноса ионов — скорость роста более толстых пленок (область II). Так, окисление алюминия во влажном кислороде при 25 С описывается во времени логарифмическим законом, переходящим по мере увеличения толщины окисной пленки в обратный логарифмический закон (рис. 32) переход от логарифмического закона к обратно логарифмическому закону окисления наблюдали у тантала в интервале от 100 до 300° С.  [c.55]

Кроме расс.мотренных методов испытаний, применяемых при лабораторных исследованиях, в последние годы разработан ряд новых физико-химических методов, к числу которы.х относится применение меченых атомов, оптические методы измерения толщины тонких пленок на металлах, определение структуры окис-ных тенок на металлах и др. Эти методы отличаются большой чувствительностью и пригодны для решения ряда важных теоретических вопросов.  [c.351]

В зависимости от состава, всем высокомолекулярным синтетическим материалам присущи свойства, выгодно отличающие их от металлов и от силикатных материалов. К числу этих свойств относятся простота изготовления деталей и аппаратов сложных конструкций, высокая устойчивость в агрессивных средах, низкая плотность изделий (пе превышаю Щая 1,8 Мг1м , а в большинстве с.яучаев равная 1,0—, 2> Мг/м ) возможность и широких пределах изменять механическую прочность для статических и динамических нагрузок как правило, высокая стойкость к истирающим усилиям хорошие диэлектрические и теплоизоляционные свойства в1лсокие клеящие свойства некоторых полимеров (позволяющие использовать их для изготовления клеев и замазок) уплотнительные и герметизирующие свойства отдельных полимеров способность поглощать и гасить вибрации способность образовывать чрезвычайно тонкие пленки.  [c.392]

Пластмассы с наполнителями или без наполнителей выпускаются в виде пресспорошков (для прессования), литьевых масс (для литья), листовых материалов (для механической обработки, гнутья, щтам-повки и выдавливания), тонких пленок (толщиной до 0,5 мм).  [c.347]

Амидопласты и фторопласты обладают текучестью под нагрузкой (амидопласты при повышенных, а фторопласты при обычных температурах). Применение амидопластов и фторопластов в виде тонких пленок ( толщиной 0,05—0,5 мм) на металлической основе устраняет текучесть.  [c.367]

Случай, когда одна из фаз — жидкость. Когда одна из фаз — жидкость илн газ, межфазпая граница (илп поверхностная фаза) может рассматриваться как растянутая упругая тонкая пленка, имеющая вдоль любой линии d l натяжение H d l, где 2 фиксирована по величине и направлена по нормали к линии d l и по касательной к межфазной поверхности  [c.60]

В концентрационных элементах два одинаковых электрода контактируют с растворами разных составов. Существуют два типа концентрационных элементов. Первый называется солевым концентрационным элементом. Например, если один медный электрод погружен в концентрированный раствор сульфата меди, а другой — в разбавленный (рис. 2.3), то при замыкании такого элемента медь будет растворяться с электрода, находящегося в разбавленном растворе (анод) и осаждаться на другом электроде (катоде). Обе реакции ведут к выравниванию концентрации растворов. Другой тип концентрационного элемента, имеющий большое практическое значение, — элемент дифференциальной аэрации. Примером может служить элемент из двух железных электродов, погруженных в разбавленный раствор Na l, причем у одного электрода (катода) электролит интенсивно насыщается воздухом, а у другого (анода) — деаэрируется азотом. Различие в концентрации кислорода сопровождается возникновением разности потенциалов, что обусловливает протекание тока (рис. 2.4). Возникновение элемента этого вида вызывает разрушения в щелях (щелевая коррозия), образующихся на стыках труб или в резьбовых соединениях, поскольку концентрация кислорода в щелях ниже, чем снаружи. Этим также объясняется язвенное разрушение под слоем ржавчины (рис. 2.5) или коррозия на границе раздела раствор—.воздух (рис. 2.6). Доступ кислорода к участкам металла, покрытым ржавчиной или другими твердыми продуктами коррозии, затруднен по сравнению с участками, покрытыми тонкими пленками или свободными от них.  [c.25]


Смазку в малогабаритные подшипники, вращающиеся со скоростью п<50 м/с, подают фитилями или дозирующей маеленкой, отрегулированной на подачу нескольких капель масла в час. Фетровые фитили при работе выполняют и роль фильтра. Твердые смазки (графит, дисульфид молибдена и др.) используют в узлах, работающих в вакууме, при низких (/< —100° С) или высоких ( >300° С) температурах. В этом случае сепараторы подшипников изготовляют из самосмазывающихся материалов. Тела качения, соприкасаясь со стенками гнезд сепаратора, снимают с них тонкую пленку твердой смазки и переносят ее на поверхность качения колец подшипника.  [c.324]

Если наблюдение ведется в монохроматическом свете, то интерференционная картина п[1едстаБЛяет собой чередование светлых и темных полос. При наблюдении в белом свете илеика оказывается окрашенной в разные цвета. Подобная окрашенность пленок, обусловленная интерференцией отраженных от поверхностей лучей, носит название цветов тонких пленок. Следует заметить, что при наблюдении в белом свете отклонение от параллельности поверхности пластинки должно быть незначительным. Заметное отклонение от параллельности приводит к значительному сближению полос  [c.89]

Явление интерференции позволяет свести к минимуму коэффициент отражения поверхностей различных элементов (линз, призм и т. и.) оптическо11 системы — осуществить так называемое просветление оптики. С этой целью на поверхность элемента, например линзы, методом напыления в вакууме наносят тонкие пленки с коэ( к )ицие1ггом преломления, меньшим, чем у материала линзы. Падающий на поьерхносгь пленки пучок света / (рис. 5.14) частично отражается от внешней границы просветляющего слоя  [c.106]

Ранее нигде не использовалось ограничение, налагаемое на толщину пленки I. Тонкие пленки позволяют работать с протяженными источниками света, так как в этом случае мала апертура интерференции 2ю. Это и объясняет, почему говорят о цвете тонких пластин . Но здесь существенно ente одно обстоятельство, которое заслуживает специального рассмотрения. Речь идет  [c.212]

Рис. 4,5. Спиральные домены в тонких пленках феррит-гранатов в пере.меином мапгатном поле [102] Рис. 4,5. Спиральные домены в тонких пленках <a href="/info/63152">феррит-гранатов</a> в пере.меином мапгатном поле [102]
Явление интерференции в тонких пленках используется в ряде приборов как ч увствительнейший метод, позволяющий судить о ничтожном изменении толщины какой-либо воздушной прослойки.  [c.148]


Смотреть страницы где упоминается термин Тонкие пленки : [c.87]    [c.451]    [c.47]    [c.50]    [c.55]    [c.233]    [c.316]    [c.157]    [c.10]    [c.120]   
Смотреть главы в:

Курс теории коррозии и защиты металлов  -> Тонкие пленки

Практика электронной микроскопии  -> Тонкие пленки

Окисление металлов и сплавов  -> Тонкие пленки


Физика низких температур (1956) -- [ c.203 ]

Лазерная термометрия твердых тел (2001) -- [ c.47 , c.105 , c.192 ]

Задачи по оптике (1976) -- [ c.62 ]



ПОИСК



197, 424, (ill тонких проволок и пленок

Абрикосова теория переходов в тонких пленках

Аша ев Н. И., Загряжский В. Л. Эффект маски при конденсации тонких пленок в вакууме

Волноводные моды в тонкой пленке

Вопросы измерения характеристик тонких ферромагнитных пленок

Глава десятая МЕХАНИЗМ ПЕРЕНОСА ЗАРЯДОВ СКВОЗЬ ТОНКИЕ ПЛЕНКИ

Глубина проникновения рентгеновского излучения и интерференции на тонких пленках

Движение тонких пленок жидкости в поле центробежных сил

Измерения на тонких слоях и пленках

Импедансный метод изучения тонких окпсных пленок на алюминиевых сплавах. А. М. Сухотин, В. В. Звонова, Н. Я. Лантратова

Интерференция в тонких пленках

Интерферометр Фабри—Перо. Распределение интенсивности в интерференционной картине. Интерференционные кольца. Разрешающая способность. Факторы, ограничивающие разрешающую способность Дисперсионная область. Сканирующий интерферометр Фабри—Перо Интерференционные фильтры. Пластинка Люммера—Герке. Эшелон Майкельсона Интерференция в тонких пленках

Квантовые размерные эффекты в тонких пленках

Коррозия металлов под тонкими пленками воды и электролитов

Критическое поле и намагниченность тонкой пленки. Переохлаждение и перегрев

Критическое поле тонкой пленки

Магнитоупругая стенка Нееля в тонкой пленке

Материалы для толстых плеМатериалы для тонких магнитных пленок

Метод расчета распределения потенциала и тока контактной коррозии под тонкой пленкой коррозионной среды

Методы определения адгезионной прочности тонких пленок

Найдич Ю. В., Костюк Б. Д., Колесниченко Г. А., Ш а й к е в и ч С. С. Смачиваемость в системе металлический расплав — тонкая металлическая пленка — неметаллическая подложка

Намагниченность тонкой сверхпроводящей пленки

Намагничивание порошков и тонких пленок

Некоторые особенности двухфазного пограничного слоя и движения тонких пленок

Определение адгезионной прочности тонких пленок методом штифтов

Особенности определения адгезионной прочности тонких пленок путем их отрыва

Особенности теплообмена при кипении морской воды в тонких пленках

Отражение в тонких пленках

Параметры тонких турбулентных пристенных пленок, поддающиеся измерению

Перенос в тонких поликристаллических пленках

Переход в тонких пленках

Пленка конденсата тонкая

Пленки тонкие (невидимые)

Полуограниченное твердое тело г 0 с тонкой пленкой на плоскости г - 0 из материала, имеющего значительно большую теплопроводность. В точке (0, 0, г) расположен единичный мгновенный источник

Получение тонких пленок

Проблемы смазки Тонкие пленки и поверхностные силы Маслянистость жидкостей и скользкость твердых тел

Пропускание поглощающей тонкой пленки

Прохождение горячих электронов через тонкие металличеческие пленки. Тонкопленочные транзисторы

Процессы электронного переноса в областях пространственного заряда н тонких пленках

Размерное квантование в тонких пленках

Распространение поверхностных и затухающих волн по тонким пленкам

Сварка пластмассовой пленки и тонкого листа

Сверхпроводящие тонкие проволоки и пленки

Скорость конденсационного роста тонкой пленки

Смешанное состояние в тонкой пленке

Сопротивление тонких металлических пленок

Специфика электронного переноса в неоднородных тонких пленках и областях пространственного заряда

Сплавы для тонких пленок

Тонкая пленка на поверхности твердого тела

Тонкая пленка сверхпроводника 2-го рода в магнитном поле

Тонкие пленки диэлектрические

Тонкие пленки диэлектрические ферромагнитные

Тонкие пленки поглощение

Тонкие пленки пропускание

Увеличение устойчивости дуги в условиях фиксации.катодного пятна на тонкой пленке жидкой ртути

Удельное сопротивление тонких металлических пленок и проволок

Формулы Френеля. Тонкие пленки

Электронный перенос в тонких металлических пленках



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте