Микроскопы Технические характеристики

Тела ферромагнитные — Свойства 453 Телевизионные микроскопы — Технические характеристики 345 Телевизионные пентоды — см. Пентоды телевизионные Телеобъективы 335 [c.731]

Техническая характеристика 140 Микроскопы Линника 72, 76 [c.483]

Настоящая монография охватывает ряд основных вопросов проблемы развития тепловой микроскопии, включая методические основы низко- и высокотемпературной металлографии, анализ конструктивного выполнения основных систем и узлов установок, разработанных под руководством автора. В книге рассмотрены также технические характеристики современной отечественной, главным образом серийной, и зарубежной аппаратуры, определены тенденции и рациональные пределы совершенствования средств тепловой микроскопии. Кроме того, монография содержит ряд экспериментальных результатов, полученных методами тепловой микроскопии и иллюстрирующих эффективность их использования для исследования строения и свойств широкого класса материалов (чистых металлов, промышленных сплавов, композиционных и полупроводниковых материалов). При этом в качестве примеров, как правило, приведены такие исследования, постановка которых оказалась возможной благодаря применению методов и аппаратуры для низко- и высокотемпературной металлографии и результаты которых ассоциируются с существенно новыми представлениями. [c.8]

Тип вакуумметра выбирают в соответствии с требуемым диапазоном измеряемых давлений, техническими характеристиками прибора и конструкцией всей установки. В серийных отечественных установках для тепловой микроскопии наибольшее распространение получил вакуумметр ВИТ-1А-П, предназначенный для монтажа на панели пульта управления. [c.56]

Технические характеристики микроскопа МВТ-71 приведены ниже, а также в табл. 10—12. [c.92]

Под резервами при этом понимают как неиспользованные пути увеличения информационной мощности установок, так и перспективные возможности ее прироста. Появление резервов в значительной мере обусловлено развитием современных методов и средств измерительной, регистрирующей и вычислительной техники, повышением уровня технических характеристик материалов и изделий, механизацией и автоматизацией эксперимента. Не вдаваясь в подробности расчетов оптимальной величины производительности установки, достаточно хорошо изложенных в работе [118], рассмотрим некоторые тенденции и пути развития аппаратуры для тепловой микроскопии на основе технических усовершенствований, обеспечивающих прирост информационной мощности установок для микроструктурного исследования материалов в широком диапазоне температур. [c.278]

Технические характеристики. измерительных микроскопов, выпускаемых отечественной промышленностью, приведены в табл. 56. [c.234]

Технические характеристики измерительных микроскопов, выпускаемых отечественной промышленностью [c.235]

Измерительные лупы выпускаются и испытываются по ГОСТ 8309—75 трех типов ЛИ-3 — лупы, склеенные из трех линз в пластмассовом корпусе ЛИ-4 и ЛИ-4М — лупы, склеенные попарно из четырех линз в металлическом корпусе. Лупы типов ЛИ-3 и ЛИ-4 имеют диапазон измерения до 15 мм. лупы ЛИ-4М— до 10 мм. Лупы состоят из подставки 3 (рис. 5.26), к которой крепятся корпус 1 с линзами 2 и шкала 4. Цена деления шкалы 0,1 мм. В лупах типов ЛИ-3 и ЛИ-4 шкала выполнена стеклянной, в линзах типа ЛИ-4М — металлической. Технические характеристики измерительных луп приведены в табл. 5.19. Для измерительных целей также могут быть использованы выпускаемые ЛОМО по ТУ 3-3.123—78 отсчетные микроскопы типа МИР-2 с ценой деления 0,058—0,036 мм и пределами измерения 0,15—6,00 мм и микротвердомеры, изготовляемые по ТУ 3-3.1377—77, имеющие увеличение 138 и 520 . [c.171]

Техническая характеристика измерительных микроскопов [c.176]

Поверка универсальных измерительных микроскопов регламентируется инструкцией 106—56 и методическими указаниями, разработанными во ВНИИМ в 1969 г. Подробно поверка микроскопов изложена в работах [1, 5]. Технические характеристики измерительных микроскопов приведены в табл. 5.23, погрешности измерения — в табл. 5.24. [c.178]

Технические характеристики отечественных и зарубежных координатно-измерительных приборов и машин приведены в табл. 11.9. Координатно-измерительные приборы типа УИМ-29 и ДИП созданы на базе универсальных измерительных микроскопов. Они производят измерение по двум координатам. Результаты измерений представлены в цифровой форме с их фиксацией на цифропечатающей машине. Для обработки результатов измерения в комплект прибора модели ДИП-1 входит мини-ЭВМ. [c.322]

Таблица 2.20 Техническая характеристика металлографических микроскопов

Технические характеристики Общее увеличение микроскопа. ... от 5бх до 300 [c.30]

Технические характеристики микроскопа МББ-1А аналогичны характеристикам микроскопа МББ-1. [c.50]

Технические характеристики Общее увеличение микроскопа 100>< и 280>< [c.77]

Технические характеристики микроскопа МП-7 аналогичны характеристикам микроскопа МП-6. [c.107]

Технические характеристики и комплект принадлежностей микроскопа МБС-2 такие же, как у микроскопа МБС-1. [c.121]

По техническим характеристикам оптических узлов и осветителя микроскоп МПС-1 подобен микроскопу МБС-1. [c.122]

Техническая характеристика микроскопа [c.125]

Техническая характеристика универсального микроскопа [c.245]

Техническая характеристика нового микроскопа почти не отличается от характеристик других рассмотренных выше образцов универсальных микроскопов. [c.269]

Микроскоп автоколлимационный — Принцип действия 1 кн. 78—79 — Схема 1 кн. 78 — Технические характеристики 80 [c.319]

ТАБЛИЦА 39.7 ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МИКРОСКОПОВ [c.622]

Основы теории микроскопии изложены в гл. I, а поэтому здесь будут описаны лишь принципиальные оптические схемы, элементы конструкции и даны технические характеристики некоторых приборов этой группы. [c.127]

Выбор размеров камеры и исследуемых образцов лимитировался техническими характеристиками микроскопа рабочее расстояние от объектива до образца должно быть равным 270 мм, расстояние между визирными линиями обеих ветвей прибора может изменяться от 70 до 170 мм. [c.76]

Основные технические характеристики микроскопа МПМ-1 К [c.518]

Техническая характеристика двойного микроскопа МИС-11 [c.518]

Техническая характеристика интерференционного микроскопа МИИ-1 [c.520]

Микроскопы 432 — Техническая характеристика 238, 240 [c.594]

Описанные в предыдущих главах методы тепловой микроскопии основывались главным образом на серийных типах аппаратуры. Вполне понятно, что применение в рассматриваемой системе образец—экспериментатор новых технических средств исследования строения и свойств твердых тел в широком диапазоне температур позволит существенно сократить трудоемкость эксперимента, ускорить получение интересующих исследователя характеристик,, повысить точность и надежность результатов исследования. [c.276]

Из приборов светового сечения в СССР выпускаются приборы ПСС-2, вместо ранней модели МИС-П. Новая конструкция микроскопа имеет примерно те же технические данные, что и модель МИС-11, но обладает лучшими оптическими характеристиками, позволяющими значительно увеличить точность измерения. Прибор снабжен сменными объективами. Общее увеличение микроскопа 75 , 266 , 337 и 750 . Поле зрения прибора соответственно 3,6 1,2 0,8 0,36 мм (при измерении шероховатости поверхности с помощью оптических приборов длина участка измерения ограничивается полем зрения прибора). [c.121]

Практические вопросы применения и выбора технических средств для проведения дисперсионного анализа частиц аэрозолей и порошков методами микроскопии требуют знакомства с такими свойствами оптической системы микроскопа, как увеличение, разрешающая сила, глубина резкости, поле зрения, апертура и т. д. Для ознакомления с этими характеристиками микроскопа -рассмотрим принципиальную схему его оптической системы (рис. 2.1). [c.28]

Задание. 1. Ознакомиться с принципом работы спектрографа (например, ИСП-30) и основными характеристиками оптической схемы по техническому описанию. 2. Провести вычисление линейной дисперсии спектрографа ИСП-30 в спектральном диапазоне 400—250 нм через интервалы 10—15 нм. 3. Измерить линейную дисперсию. Для измерения дисперсии фотографируют дуговой спектр железа, на фотопластинке отмечают 10—15 пар близких линий >.1 и Х2 = Х - - Ах по изучаемому диапазону спектра и с помощью измерительного микроскопа МИР-12 измеряют расстояния А/ между ними. Тогда = А//АЯ,. 4. Построить теоретический и экспериментальный графики )г = f(Я). [c.522]

Большое разнообразие научно-технических задач, решаемых с помощью микроскопии, вызывает необходимость применения микроскопов с широким диапазоном их характеристик. Это достигается за счет использования различных сочетаний объективов и окуляров. [c.199]

Составление и обоснование технического задания на проектирование микроскопа. В техническом задании приводятся материалы и практические соображения, необходимые для проектирования, назначения прибора кратко описываются основные физические принципы, на основании которых функционируют микроскопы указываются требования к основным оптическим узлам и системе микроскопа в целом как в отношении оптических характеристик, так и габаритов приводятся комплекты микрообъективов, окуляров, оптических принадлежностей и устройств, с помощью которых достигаются те или иные методы освещения, типы применяемых источников и приемников световой энергии. (ФЭУ, ЭОПа, фотопластинок и др.). Особое внимание уделяется взаимозаменяемости и максимальной унификации узлов, их экономичности, надежности в эксплуатации и патентоспособности. [c.368]

Технические характеристики некоторых микроскопов для пространстиенных измерений [c.76]

Технические характеристики некоторых стереомикроскопов приведены в табл. 12. Для коитреля прецизионных изделий типа фотешаблонов СБИС применяют телевизионные (ТВМ) и фотоэлектрические (ФЭМ) микроскопы, имеющие высокое пространственное разрешение (до 0,01 мкм при полях зрения порядка 0,1 мм). Для измерений средней точности используют измерительные микроскопы различных конструкций оптико-механического типа. [c.84]

В установках тепловой микроскопии используют главным образом насосы типов ВН-0,1, ВН-494, ВН-461М (ВН-0,8Г) и РВН-20, технические характеристики которых приведены в табл. 5. [c.39]

Технические характеристики Общее увеличение микроскопа 63 —1575х Напряжение питающей сети. . 127/220 в Потребляемая мощность. ... 250 вт Габаритные размеры...... 565x185x416 мм [c.70]

Измерительные микроскопы нашли очень широкое применение в измерительных лабораториях заводов и в научно-исследователь-ских институтах. Основы теориь А икроскопии изложены в гл. I, поэтому здесь будут описаны лищь принципиальные оптические схемы, элементы конструкции и даны технические характеристики некоторых приборов этой группы. [c.107]

Прибор для размерной настройки инструмента мод. 2011 (конструкция ВНИИизмерения и Челябинского инструментального завода) предназначен для размерной настройки резцов к станкам токарной группы. Для контроля положения режущих кромок инструмента применяется окулярный микроскоп с тридцатикратным увеличением. Проверка положения режущих инструментов по вертикали- осуществляется индикатором, установленным на отдельной стойке. Прибор снабжен сменными державками для установки инструментальных блоков или борштанг, идентичных устройствам для базирования их на станке. Настройка инструмента осуществляется совмещением изображения режущей кромки инструмента в окуляре микроскопа с его координатной сеткой. Установка микроскопа производится по концевым мерам длины и индикатора. Каретки, несущие на себе микроскоп, перемещаются в прямоугольных направляющих от ходовых винтов. Техническая характеристика прибора приведена ниже. [c.479]

Прибор для размерной настройки ин струмента мод. 2012 (конструкция ВНИИизмерения и Челябинского инструментального завода) предназначен для предварительной настройки режущего инструмента в инструментальных блоках карусельных станков с ЧПУ по заданным размерам в двух горизонтальных плоскостях. Установка заданных координат производится по металлическим штриховым мерам и отсчетным микроскопам МО и МО-В с визированием режущей кромки инструмента по визирному микроскопу М12, Установка положения режущей кромки по вертикали осуществляется по индикатору часового типа. Техническая характеристика прибора приведена ниже. [c.479]

В настоящее время выпускается также прибор светового сечения модели ПСС-2. Эта конструкция микроскопа имеет примерно те же технические данные, что и модель МИС-П, но обладает лучшими оптическими характеристиками, обеспечивающими более высокую точность измерения. Сменные объективы дают увеличение 75 , 266 , 337 и 750 . Поле зрения прибора соответственно 3,6 1,2 0,8 и 0,36 мм (при измерени шероховатости поверхности с помощью оптических приборов длина участков измерения ограничивается полем зрения прибора). [c.111]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...