Микроскопия интерференций мая

Промер интерферограммы производят на компараторе ИЗА-2 или на измерительном микроскопе МИР-12. Измеряют положения всех трех компонент линии в нескольких порядках интерференции. Расчет частотных интервалов производят по методу односторонних полос. Результаты усредняют по 4—5 порядкам. Находят среднюю ошибку измерений. [c.85]

Окисное травление (метод цветов побежалости) основано на неравной скорости окисления структурных составляющих сплава при нагреве. Образец нагревается до температуры, соответствующей определённому цвету побежалости, выдерживается при этой температуре 10—15 мин. и затем просматривается под микроскопом. Окисленная поверхность вследствие интерференции света приобретает различную окраску в местах, соответствующих различным структурным составляющим. Данный вид травления с успехом применяется для многофазных сплавов, трудно поддающихся травлению другими методами. [c.146]

Интерференционный микроскоп МИИ-1 также выпускается серийно и имеет широкое распространение в промышленности. Прибор основан на принципе интерференции, возникающей при наложении когерентных световых лучей, идущих от одного источника света. [c.155]

Микроинтерферометр модели МИИ-12 (МОМ) — это микроскоп-профилометр, действие которого основано на интерференции света с образованием полос равного [c.351]

Метод интерференционного контраста состоит в том, что каждый луч, входящий в микроскоп, раздваивается один проходит сквозь наблюдаемую частицу, второй — мимо. В окулярной части микроскопа оба луча вновь соединяются и интерферируют между собой. Результат интерференции определяется разностью хода лучей Д, к-ран выражается ф-лой Д = NX — (п — n )d, где [c.146]

Принцип действия микроинтерферометра такой же, как и обычного, но отличается тем, что в -качестве одной из поверхностей, которая создает интерференционную картину, используется измеряемая поверхность. А это значит, что прибор предназначен для измерения поверхностей с малыми неровностями, так как на грубых поверхностях интерференцию получить невозможно. В принципе микроинтерферометр представляет сочетание интерферометра и микроскопа. Наиболее типичным является прибор ММИ-4. [c.137]

Величины напряжений для всех рассмотренных точек моделей были определены по результатам измерения порядков полос интерференции на срезах из замороженных моделей. Измерения проводились по точкам среза с применением поляризационного микроскопа МП-7 с компенсатором и путем оптического умножения картины полос. [c.128]

Трудность расчетного определения полей деформаций и напряжений у вершины трещины привела к необходимости разработки и применения экспериментальных методов исследования деформаций и напряжений. В настоящее время достаточно хорошо разработаны и эффективно используются методы фотоупругих покрытий, сеток, муара, тензометрии, рентгеновского анализа, травления, дифракционных решеток, электронной микроскопии, фазовой интерференции, нанесения медных покрытий, голографии, прямого наблюдения полированной поверхности образцов (1, 10, 6, 34, 49, 56, 130, 187, 199, 260, 261, 287], позволяющие исследовать поля деформаций при статическом и циклическом [c.15]

Особый случай дифракционного контраста возникает при прямом изображении периодичности кристаллической решетки исследуемого материала. Такое изображение получается в результате интерференции прямо прошедшего и дифрагированных пучков, пропущенных через апертурную диафрагму. Картина периодического распределения элементов структуры (в пределе отдельных атомов), на которых происходит рассеяние электронов, тем информативнее, чем больше пучков пропускается через апертурную диафрагму. Для получения картин прямого разрешения кристаллической решетки необходимо, во-первых, чтобы микроскоп имел достаточно высокую разрешаемую способность и, во-вторых, чтобы объект был достаточно тонким, плоскопараллельным и имел прямые сквозные структурные каналы, параллельные прямому пучку. [c.53]

Математической основой представлений Аббе явился уже упомянутый аппарат преобразования Фурье, с помощью которого сложное, пространственное распределение света на поверхности объекта представляется в виде суммы пространственных гармонических составляющих. Аббе показал, что процесс формирования изображения в обычном микроскопе можно представить как двойное преобразование Фурье на первом этапе в результате интерференции излучения, исходящего из различных точек объекта, в задней фокальной плоскости объектива микроскопа возникает модель пространственного спектра объекта. На втором этапе в результате интерференции света, исходящего из различных точек фокальной плоскости, осуществляется еще одно преобразование Фурье. Два последовательных преобразования Фурье приводят к восстановлению первичной функции, т. е. к появлению изображения объекта. [c.44]

Интерференционная микроскопия может осуществляться несколькими способами. В некоторых случаях две голограммы накладываются друг на друга, и с них одновременно восстанавливаются изображения. Интерференцию, обусловленную изменениями в поле объекта, можно увидеть, если первая из голограмм является голограммой незанятого объектом положения. Интерференционные полосы, обусловленные ростом некоторых объектов, [c.630]

Интерференционная микроскопия 630, 631 Интерференция 40, 43, 48—50, 401 Интерферометры голографические 22, 321, 322, 504 — 508 [c.731]

Полем интерференции называется поверхность или плоскость, в которой исследуется интерференционная картина. Полем интерференция может быть ( кальная плоскость лупы или микроскопа, через которые рассматривается интерференционная картина, плоскость фотопластинки и т. п. Интерферометры, в которых осуществляется интерференция в результате взаимодействия двух пучков лучей, называются двухлучевыми, трех пучков лучей — трехлучевыми, многих пучков лучей — многолучевыми [39]. [c.21]

Фиг. 206. Оптическая с.чема интерференц-микроскопа МИИ-1

Интерференц-микроскоп применяется для лабораторных измерений поверхностей, чистота которых находится в пределах 9—14-го классов чистоты по ГОСТ 2789-45. Погрешность измерения не превышает + 5 /о от измеряемой величины. [c.153]

При просвечивании пластинок замороженной модели в связи с их малой толщиной получается незначительный порядок полос интерференции. Поэтому измерения разности хода выполняются с помощью компенсаторов. По опыту Института машиноведения АН СССР, все измерения на пластинках замороженной модели могут проводиться с помощью стандартного кристаллографического микроскопа ПМ-7, снабженного компенсатором и приспособлением для передвижки и поворота пластинок. Фотографии картин полос для тонких пластинок, вырезанных из замороженной модели, могут быть при необходимости получены на обычном полярископе с применением приспособлений для удвоения-хода лучей при скрещенных и параллельных поляризаторе и анализаторе [8]. [c.176]

К группе оптических приборов относятся оптиметры, измерительные машины, микроскопы, проекционные аппараты и приборы для измерения методом интерференции света. [c.55]

Принцип действия интерферометров основан на использовании явле+1ия интерференции света, отраженного от образцовой и исследуемой поверхностей. Форма образующихся интерференционных полос зависит от вида и высоты (до 1 мкм) неровностей контролируемой поверхности. Принцип действия растровых микроскопов основан на явлении образования муаровых полос при наложении ]130бражений элементов двух периодических структур (направленных следов обработки и д.чфракцнонной решетки). При наличии неровностей муаровые полосы искривляются. Высоту микронеровностей определяют по степени искривления муаровых полсс. [c.201]

Я перенес главу, посвященную основным фотометрическим понятиям, во введение, желая использовать правильную терминологию уже при описании явлений интерференции и оставив в отделе лучевой оптики лишь вопросы, связанные с ролью оптических инструментов при преобразовании светового потока. Заново написаны многие страницы, посвященные интерференции, в изложении которой и во втором переработанном издании осталось много неудовлетворительного. Я постарался сгруппировать вопросы кристаллооптики в отделе VIII, хотя и не счел возможным полностью отказаться от изложения некоторых вопросов поляризации при двойном лучепреломлении в отделе VI, ибо основные фактические сведения по поляризации мне были необходимы при изложении вопросов прохождения света через границу двух сред, с которых мне казалось естественным начать ту часть курса, где проблема взаимодействия света и вещества начинает выдвигаться на первый план. Я переработал изложение астрономических методов определения скорости света и добавил некоторые новые сведения о последних лабораторных определениях этой величины. Гораздо больше внимания уделено аберрации света. Рассмотрены рефлекторы и менисковые системы Д. Д. Максутова. Значительным изменениям подверглось изложение вопроса о разрешающей способности микроскопа я постарался отчетливее представить проблему о самосветя-щихся и освещенных объектах. Точно так же значительно подробнее разъяснен вопрос о фазовой микроскопии, приобретший значительную актуальность за последние годы. [c.11]

Распространение указанных выводов на самосветящиеся объекты (отсутствие когерентности) особенно важно потому, что и при осве-пщнном объекте далеко не всегда имеет место полная когерентность. Точки освещенного объекта посылают вполне когерентный свет только в том случае, если угловые размеры источника настолько малы, что угол, под которым он виден из места расположения предмета, мал по сравнению с Я/с(, где X — длина световой волны, а — расстояние между освещаемыми точками объекта. Действительно, в этом случае волны, доходящие от разных точек источника до освещаемых точек, имеют различие в фазах, малое по сравнению с 2я (см. упражнение 129), так что интерференция волн, рассеиваемых нашими точками, даст практически один и тот же эффект, от какой бы точки источника ни пришла освещающая волна (когерентность). Наоборот, когда угловые размеры источника велики по сравнению с Х1с1, то свет, приходящий к освещаемым точкам от разных точек источника, будет иметь всевозможные разности фаз от нуля до 2я, и, следовательно, рассеянные нашими точками волны могут давать самые разнообразные интерференционные картины (некогерентность). При промежуточных размерах источника когерентность будет осуществляться в большей или меньшей мере. В реальных условиях освещение объекта в микроскопе производится широкими пучками лучей, и полная когерентность, как правило, не имеет места. [c.355]

В методе Дифференциального интерференц. контраста (ДИК) обе волны проходят через один и тот же объект с небольшим боковым смещением. Наиб, распространение получил вариант ДИК по Номарскоыу, в к-рои разделение и сведение пучков производятся в поляризов. свете с по.мощью спец, двоякопреломляю-щих призм, установленных соответственно перед конденсором и после объектива. Величина разведения пучков выбирается близкой к разрешающей способности микроскопа, чтобы не было за.метно двоение изображения. Изображение в ДНК отражает градиент разности оптич. пути в объекте в направлении раздвоения. Получаемое цветное изображение рельефно в нём, так же как и в предыдущем случае, отсутствуют ореолы. Благодаря тому, что оба интерферирующих пучка проходят через одни и те же оптич. элементы, устройства, реализующие ДИК, просты и удобны в обращении. [c.146]

Компенсатор КПК выполнен по типу компенсатора Берека и его пластинка изготовлена из пластинки исландского шпата, вырезанной перпендикулярно оптической оси. Если пластинка установлена так, что ее оптическая ось параллельна оси микроскопа, то двойное лучепреломление равно нулю, и в поле зрения микроскопа при скрещенных поляризаторе и анализаторе виден черный крест. По мере поворота пластинка будет вносить все большую разность хода и давать больший порядок интерференционной окраски. При максимальном угле поворота на 30° пластинка вносит разность хода до 2100 ммк, т. е. до четвертого порядка интерференции. Точность отсчета угла поворота пластинки равна б. [c.203]

После того как Габором была изобретена голография, многие исследователи начали работать в этой новой области. Хейн, Дайсон и Малви [20, 21] продолжили усилия по созданию качественных голограмм с помощью электронного микроскопа. Как и Габор, они получили не столь успешные результаты, которые хотелось бы иметь. Успеху препятствовали многочисленные трудности, связанные с практикой, такие, как нестабильности объекта и напряжения в источнике питания электронной линзы. Другие исследователи занимались чисто оптической голографией, в том числе Роджерс [32], Эль-Сам и Киркпатрик [14, 15], Бэз [1] и Ломанн [27]. Однако голографические изображения получались некачественными, и интерес к голографии постепенно падал, пока в 50-х годах почти совсем не прекратилась деятельность в этой области исследований. Основная причина получения плохого изображения таилась в наличии сопряженного изображения. Были и другие трудности, которые можно связать с членом [ul (т. е. с интерференцией волн, рассеянных различными [c.15]

Номарский (G. Nomarski, 1959) и Стил предложили более простые и непосредственные методы, основанные на интерференции поляризованного света. Они могут быть с особой пользой применены к объективам микроскопа. [c.246]

Принципиальная схема многолучевого интерферометра для исследования неровностей поверхности приведена на рис. 132 [281. Основной частью интерференционной схемы являются пластина 4, Покрытая с нижней стороны полупрозрачным отражающим слоем, и испытуемая поверхность 5. Коэффициенты отражения пластины и испытуемой поверхности обычно подбирают близкими по значению. Между зеркальной пластиной и образцом возникает интерференция многократно отраженных лучей. Интерференционная картина, локализованная на поверхности пластины, рассматривается через микроскоп 1, 2, 3 с увеличением 100><. С помощью принципиальной схемы, изображенной на рис. 132, можно наблюдать интерференцию как в клинообразной, так и плоскоггараллельиой пластине в первом случае эго будут полосы равной толщины. Наряду с полосами равной толщины используются полосы равного наклона, которые позволяют исследовать не только форму плоской поверхности, но и контролировать плоскопараллельность, определяя при этом не только угол клина, но и знак изменения толщины. [c.221]

Интерес к голографии не исчерпывается только тем, что она дала возможность ввести в оптику третье измерение. Голография вторглась почти во все традиционные области прикладной оптики, заставив пересмотреть сложившиеся ранее границы между ними. Голографический приицип позволил по-новому осмыслить некоторые области ИК-техники, СВЧ-техники, акустики, рентгеновской и электронной микроскопии, короче говоря, все те направления, где играет роль интерференция волн. [c.302]

Вот как спустя 23 года после своих первых работ высказался Габор о своей идее, ее реализации и последствиях Для ученого нет большей радости, чем быть свидетелем того, как одна из его идей открывает собой новую, стремительно развивающуюся отрасль науки. Мне выпало счастье высказать одну такую идею. В тот период я много занимался электронной микроскопией. Волны де Бройля были достаточно короткими для разрешения атомных решеток, но из-за несовершенства электронных линз разрешающая способность оказывалась ограниченной практически. При апертуре, обеспечивающей необходимый дифракционный предел разрушения, можно было получить только размытое изображение. Тем не менее, если исходить из принципа Гюйгенса, пучок должен содержать всю необходимую информацию. Что мешает ее расшифровать Очевидно то, что на пластинке регистрируется только половина информации мы пренебрегаем фазой волны. Нельзя ли ее вы51вить с помощью интерференции, налагая когерентный фон. Немного математики и несколько опытов позволили быстро проверить идею о восстановлении волн. Достаточно было осуществить суперпозицию комплексной волны, приходящей от объекта, с простой волной (плоской или сферической), сделать фотографию, затем, осветив ее простой волной, восстановить исходную картину. Возникающее при этом изображение было трехмерным. Мешало одно незначительное обстоятельство одновременно восстанавливалось еще одно изображение - двойник объекта. [c.49]

Для исследования поверхностей трения чрезвычайно большой интерес представляют исследования микрорельефа с помощью светового микроскопа. Интерферометрия — наиболее чувствительный и точный оптический метод анализа микротопографии поверхности. Известны два основных метода интерференции двух-и многолучевой [75]. В методе двухлучевой интерференции оба пучка света взаимно усиливаются или интерферируют между собой. В результате процессов усиления или интерференции лучей возникают контурные линии каждая линия соединяет точки, соответствующие одному уровню исследуемой поверхности. Раз- [c.60]

Интер ференц-микроскоп акад В. П. Линника (МИИ-1). С помощью этого прибора получают интерференционную картину исследуемой поверхности (фиг. 206), по которой производят оценку чистоты поверхности. Оптическая схема интерференц-микроскопа МИИ-1 позволяет одновременное наблюдение интерференционной картины и контролируемой поверхности. Ог источника свега I или 1а пучок света через линзу 5 падает на разделяющую призму 6, состоящую из двух склеенных гипотенузами прямоугольных призм. Наклонная поверхность одной из этих призм полупосеребрена, благодаря чему половина падающего на него света отражается, а другая половина проходит насквозь и благодаря объективу 7 собирается на зеркале 8, установленном в фокусе объектива. Отразившись от зеркала 8, пучок света вновь проходит через объектив 7 и попадает на гипотенузу призмы 6, отразившись на которой, следует через объектив 0 на зеркало 14. [c.152]

Лучи, исходящие из одних и тех же участков объекта в различных направлениях, далее сходятся в одной точке на плоскости изображения. Они образуют там вторичное действительное изображение, которое в результате интерференции, обусловленной когерентностью исходящих от источника лучей, возникает из первичного изображения. Чем больше лучей принимает участие в образовании точки изображения, т. е. чем выше порядок дифрагирования лучей, попадающих в объектив, тем достовернее изображение объекта. Правда, в электронном микроскопе эти требования не выполняются. Здесь в формировании изображения участвует только дифракционный максимум нулевого порядка (центральный 124 [c.124]

Если интерференции дифрагированных пучков с прошедшим пучком или между собой препятствует ограничение, накладываемое апертурой объективной линзы, или если при данных условиях эксперимента разрешение микроскопа недостаточное, изменение интенсивности прошедшего пучка на светлопольном изображении будет зависеть от положения. На темнопольных изображениях, полученных от отдельных дифрагированных пучков, от положения будет зависеть изменение интенсивностидафрагирован-ных пучков. Совершенные плоскопараллельные кристаллы (однородной толщины) не будут давать контраста, однако любой дефект, изгиб или изменение толщины кристалла могут привести к его возникновению. [c.309]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...