Микроскопия электронная растровая изучение структуры

Непосредственное изучение таких поверхностей возможно лишь в отражательном, эмиссионном или растровом микроскопах, наблюдение объектов в которых может быть отнесено также к прямым методам исследования. Однако наибольшее распространение имеют электронные микроскопы просвечивающего типа, обладающие наибольшим разрешением из всех перечисленных типов, и потому для изучения структур поверхностей непрозрачных тел были разработаны и успешно применяются косвенные методы. [c.41]

С целью изучения влияния природы волокнистого наполнителя на структуру полиэфирного армированного пластика в нашей работе был применен метод электронной микроскопии с использованием растрового электронного микроскопа (РЭМ), который позволяет получать почти трехмерное изображение исследуемой поверхности и исключает трудоемкий метод приготовления реплик с поверхности цри использовании электронного микроскопа просвечивающего типа. [c.100]

В результате учета наличия в сеченИи образца слабодеформированных зерен большие эффекты экструзии — интрузии (ЭИ) наблюдаются в приграничных зонах активных зерен и в полосах усталости, т. е. в областях сильной локализации деформации (рис. 2.12). Подробное изучение структуры зон ЭИ методом растровой электронной микроскопии показало, что материал в них расслаивается на ламели, которые квазивязко смещаются относительно друг друга. Аномально высокая дефектность этих областей и характер их структуры позволяют наряду с известными предложить гипотезу о механизме ЭИ, основанную на представлении о сильновозбужденных состояниях в кристаллах [1, 2]. Согласно [1] кристалл в случае сильных искажений решетки может перейти в двухфазное состояние. В нем возникают области с аномально высокой концентрацией дефектов структуры — атом-вакансионные состояния, которые чередуются с областями малоискаженной кристаллической фазы. Наличие этих состояний обусловливает вязкое течение, расслоение кристалла и пр. О том, что материал в областях, охваченных экструзией, находится в сильно-возбужденном состоянии, свидетельствует рис. 2.13, полученный методом реплик. [c.54]

Попытка выявить тонкую структуру, вызванную топохимическим взаимодействием частиц между собой и подложкой, обусловливающим возникновение адгезионно-когезионных связей, столкнулась с определенными техническими трудностями. В связи со сложностью изучения структуры на контактных границах частица - подложка и частица - частица даже с помощью растрового электронного микроскопа (разрешающая способность РЭМ составляет обычно 25. .. 30 нм) был использован вариант решения этой задачи с помощью синхротронного излучения (СИ). Схема зондирования образца из N1 с А1 покрытием, нанесенным холодным газодинамическим напыле-ние.м, показана на рис. 3.32. [c.165]

Изучение структуры излома с помощью электронного или растрового микроскопа (микро( )рактография) позволяет более уверенно судить о характере разрушения. Вязкое разрушение характеризуется чашечным микростроеиием излома (рис. 28, а). [c.44]

Металлографическое изучение деформации биметаллов целесообразно проводить с использованием комплексной методики экспериментирования, основанной на применении автоматических телевизионных анализаторов изображения. Это позволяет осуществлять количественную оценку накопления пластической деформации по числу полос скольжения в анализируемых участках материала, измерять длину трещин и площадь пластической деформации в их вершинах. Наряду с анализом деформационной структуры методика предусматривает проведение микрорентгеноспектраль-ного анализа и фрактографическое изучение изломов с помощью растровой электронной микроскопии. Ниже приведены примеры исследования процесса накопления пластической деформации в переходных зонах образцов биметалла Ст. 3+Х18Н10Т, подвергнутых циклическому нагружению на установке ИМАШ-10-68. Подсчет числа полос скольжения производится с помощью телевизионного анализатора изображения на площади, заключенной в рамку сканирования (рис. 1). Образец, размещенный на предметном столике автоматического количественного микроскопа РМС , перемещался по заданной программе вдоль выбранной базы измерения, ширина которой была равна высоте, а длина соответствовала ширине рамки сканирования, умноженной на число перемещений столика. [c.90]

Изломы изучают на макро- и микроуровне (при увеличениях до 50 тыс. крат и выше). Л етод визуального изучения изломов, а также с помощью светового микроскопа при небольших увеличениях называется фрактографисй. Исследование особенностей тонкой структуры изломов под электронным или растровым микроскопом носит название микрофрактографии (рис. 3). [c.10]

Возможность одновременного исследования структуры и элементного состава поверхности представляет особый интерес при изучении адсорбции, ее влияния на структуру поверхности взаимодействующих материалов при трении в активных смазочных средах. Для одновременного исследования структуры, состава и топографии роверхности комбинируют различные методы, а соответствующие приборы снабжают специальными пристав- ками. Широкое распространение получили просвечивающие и растровые электронные микроскопы с дифракционными приставками, растровый электронный микроскоп со спектрометром (рентгеновским микроанализатором) и др. [c.87]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...