Электронный микроскоп проекционная линза

Put- 1. Электронный микроскоп просвечивающего типа (ПЭМ) 1—электронная пушка с ускорителем 2—конденсорные линзы 3—объективная линза 4—проекционные линзы J—световой микроскоп, дополнительно увеличивающий изображение, наблюдаемое на экране б—тубус со смотровыми окнами, через которые можно наблюдать изображение 7—высоковольтный кабель 8 — вакуумная система 9— пульт управления 10—стенд [c.575]

Другой весьма перспективный метод локального химического анализа — анализ спектра энергетических потерь электронов, прошедших через исследуемый объект. Спектр потерь также характеристический для каждого элемента периодической системы. Анализатором служит электростатическая линза, помещаемая между проекционной линзой и конечным экраном степень отклонения электронов этой линзой зависит от их скорости (энергии), что и позволяет с помощью специальных электронных схем получать спектры энергетических потерь. Описываемый метод очень чувствителен и имеет локальность, соответствующую максимально полезному увеличению микроскопа. Кроме того, этим методом легче, чем рентгеноспектральным, проводить анализ на легкие элементы. [c.61]

Осветительное устройство микроскопа (источник электронов — катод, направляющий электрод, анод, конденсорная линза) направляет на объект узкий пучок одинаково быстрых электронов. Проходя через объект — прозрачную для электронов пленку толщиной до 0,1 мкм — электроны рассеиваются в пространственном угле, который тем больше, чем больше толпщна или плотность пленки в каждой данной точке (рис. 2.2). Рассеянные объектом электроны попадают в поле объективной линзы и фокусируются вблизи фокальной плоскости проекционной линзы, создавая промежуточное изображение объекта на флуоресцирующем экране, увеличенное в 120-150 раз. Контрастность и четкость этого изображения обеспечиваются малостью апертурной диафрагмы, находящейся под объектом и пропускающей лишь те электроны, которые претерпели при прохождении сквозь объект небольшое отклонение. Поэтому изображение сильно рассеивающих мест объекта, формируемое относительно меньшим числом электронов, прошедших через диафрагму, пол) ается менее ярким. Центральная часть этого изображения увеличивается до 200 раз проекционной линзой и наблюдается на флуоресцирующем экране или фиксируется на фотопластинку. [c.32]

Изображение объекта получается при помощи электростатических или магнитных линз, причем конденсор, работающий как объектив, позволяет получить промежуточное изображение, которое затем увеличивается с помощью проекционной линзы до конечных размеров. Изображение объекта можно наблюдать непосредственно на люминесцентном экране или снять на фотопластинку. Объем электронного микроскопа, по которому проходит электронный пучок, должен находиться под высоким вакуумом. [c.120]

Действие данной линзы всегда зависит от способа применения. Поэтому сейчас самое время кратко обсудить наиболее важные применения коротких магнитных линз. Существует немало путаницы при классификации коротких линз на различные категории. В электронной микроскопии ситуация, однако, ясна магнитные линзы имеют три основных применения как конденсоры, объективы и проекционные линзы. [c.501]

Следовательно, общее увеличение электронного микроскопа Оу-тет равно произведению увеличений, даваемых объективной и проекционной катушками (линзами) в отдельности, и находится в пре-лелах 2600—24 700. [c.55]

Рассеянные при прохождении сквозь объект О электроны фокусируются объективной линзой 5 в плоскости Яо. Промежуточная линза 6 перебрасывает центральную часть изображения в предметную плоскость Пп проекционной линзы 7, дающей изображение уже на экране микроскопа 5 или фотопластинке 9 (ход электронных лучей в этом случае показан сплошными линиями). [c.166]

Как известно [1 2], оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа аналогична схеме обычного светового микроскопа (фиг. 1,а) конденсорная линза освещает узким пучком электронов объект, изображение которого с помощью двух электронных линз — объективной и проекционной — в увеличенном масщтабе переносится на конечный экран. Проходя через объект, расположенный вблизи апертурной диафрагмы объективной линзы, электроны взаимодействуют с атомалш объекта и отклоняются от первоначального направления падения пучка, т. е. рассеиваются , При этом у части электронов скорость меняется только по направлению, не меняясь по величине, что соответствует упругому рассеиванию. Скорость другой части электронов меняется и по направлению, и по величине, при этом часть энергии электронов затрачивается на возбуждение и ионизацию атомных электронов в объекте. Вследствие этого электроны, пройдя через объект, после рассеяния в нем имеют вид расходящегося пучка. При этом электроны, рассеянные на угол, больший апертурного угла объективно линзы, определяемого диаметром апертурной диафрагмы и ее геометрическим положением, поглощаются в толще материала этой диафрагмы, и в дальнейшем в формировании изображения, возникающего на экране электронного микроскопа, принимает участие только та часть рассеянных электронов, которая прошла через диафрагму (фиг. 1,6). [c.5]

Суш,ественное преимущество оптики электронного микроскопа — возможность сочетать дифракцию с получением изображения при использовании метода микродифракции, о связано с возможностью легко и быстро менять фокусные расстояния электромагнитных линз. Фиг. 13.1, а показывает ход лучей в типичной увеличивающей системе стремя линзами объективной, промежуточной и проекционной, каждая из которых последовательно обеспечива- [c.288]

Электронный микроскоп, первая конструкция которого создана в СССР акад. А. А. Лебедевым, канд. физ.-мат. наук В. И. Верцнером и инж. И. Г. Зандиным, удостоенными в 1947 г. Сталинской премии, в отличие от металлографического микроскопа работает по схе.ме проходящих электронных лучей. Схема электронного микроскопа, приведенная на фиг. 82, имеет большое сходство со схемой обычного оптического проекционного микроскопа основное отличие заключается в том, что стеклянные линзы заменены электромагнитными линзами, которыми и производится преломление электронных лучей. Источник света заменен источником электронов, так называемой электронной пушкой, которая представляет собой вольфрамовую нить, нагревае.мую до высокой температуры и являющуюся катодом У (фиг. 82). Выходящие из электронной пушки электроны ускоряются в своем движении мощным электрическим полем, проходят через отверстие анода 2, электромагнитную линзу (конденсор) 3 и собираются на исследуемом объекте 4. В зависимости от того, что собой представляет исследуемый объект, электронные лучи будут давать различное рассеяние от разных участков предмета (толсты.х, тонких). Те элек- [c.94]

Дальще часть электронных лучей проходит через имеющееся в центре экрана 6 отверстие, проекционную линзу 8 и фокусируются на флуоресцирующем экране 9 для конечного изображения объекта. Увеличение проекционной линзы 8 можно изменять путем изменения силы тока, проходящего через ее обмотку, от 20 до 190 раз. Следовательно, общее увеличение электронного микроскопа можно изменять от 2600 до 25 ООО раз. [c.95]

Рис. 1. Оптическая схема электронного микроскопа (для изображения малого участка объекта и микродифракции) а, Ь, с — точки объекта А, В, С — их изображения (лучи от точки с отсечены селекторной диафрагмой) Д,. Ог, Оз—дифракционные максимумы О — их нзображеине,-создаваемое промежуточной линзой О" — нх окончательное изображение, создаваемое-проекционной линзой

Для перехода от изображения к общей дифракционной картине объекта в современных электронных микроскопах предусмотрено удаление (без нарушения вакуума) апертурной диафрагмы и полюсных наконечников проекционной линзы. В микроскопе УЭМ-100 апертурная диафрагма приближается вплотную к объекту. Тогда при выключенных объективной, промежуточной и проекционной линзах М икроскоп становится обыч1Ным электронолрафом. [c.167]

В центре флуоресцирующего экрана имеется отверстие, через которое часть электронных лучёй попадает в проекционную линзу линза создает второе увеличенное окончательное изображение, получающееся также на флуоресцирующем экране. Увеличение, создаваемое проекционной линзой, можно изменять от 20 до 200 раз, что позволяет изменять общее увеличение микроскопа от 2600 до 26 ООО раз. [c.99]

Первые электронные микроскопы, сконструированные по принципу просвечивающего оптического микроскопа, состояли из двух групп линз. Увеличение таких приборов можно было регулировать только с помощью проекционной линзы (при использовании для этой цели объективной линзы промежуточное изображение может выйти за пределы плоскости объекта проекционной линзы), т. е. в довольно узких пределах. Дело в том, что для каждой проекционной линзы существуют только одно оптимальное увеличение. В обмотке проекционной линзы выгодно иметь максимальное количество ампер-вИткон (не достигая при этом предела насыщения полюсного наконечника и максимально допустимого тока), поскольку максимальное возбуждение магнитных линз соответствует наименьшей сферической аберрации. Эго обусловлено тем, что при уменьшении фокусного расстояния [c.16]

Принцип дифракционной (голографической) микроскопии был описан в предыдущей статье(цитируемой далее как статья 1 ), в которой была подробно обсуждена одна из возможных схем его практического применения (так называемый проекционный метод). В этом методе микроскопический предмет освещается пучком света или электронов, испускаемых малым отверстием, либо непосредственно, либо через систему линз, причем между предметом и фотографической пластинкой, на которой формируется дифракционная картина, называемая голограммой, не помещается более ни одной линзы. Было показано, что если эта фотография, обработанная подходящим способом, освещается затем копией первоначальной освещающей волны, то в пространстве восстанавливается изображение исходного предмета совместно с его двойником , вообще говоря, размытым и искаженным. Теоретически и экспериментально было доказано также, что влияние этой побочной части на восстановленное изображение не велико, если выбраны предметы подходящего типа с достаточно больщим прозрачным пространством между темными частями. [c.270]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...