Метод оптический

К сожалению, не существует ни одного метода оптической пирометрии, который мог бы охватить весь набор встречающихся ситуаций. Однако разработаны различные подходы, каждый из которых способен преодолеть одну или две упомянутые выше трудности Выбор м,етода сильно зависит от конкретных особенностей применения и поэтому все, что изложено ниже,— это некоторые общие руководящие принципы, касающиеся основ различных методов. Характеристики большинства приборов, разработанных для частых применений, можно найти в трудах важнейших симпозиумов по термометрии, указанных в библиографии. [c.384]

В примере сферической волны сведения об источнике, зарегистрированные голограммой, можно извлечь непосредственной обработкой самой голограммы, т. е. с помощью измерения радиусов колец (см. 59). В более сложных случаях, например, голограммы шахматных фигур, попытка такого рода обработки обречена на неудачу. С этой точки зрения восстановление изображения можно рассматривать как автоматическое преобразование сведений из одной формы в другую, более удобную для восприятия и для формулировки того или иного заключения на основе усвоенных сведений. В то же время, именно такое преобразование и составляет содержание многочисленных методов оптической обработки информации. [c.268]

Оптическая пирометрия объединяет в себе комплекс методов, с помощью которых можно измерять температуру тела в достаточно широком интервале. Диапазон температур, измеряемых в оптической пирометрии, теоретически неограничен. Нижняя граница определяется большей частью чувствительностью приемников излучения. Большинство методов оптической пирометрии основано на измерении интенсивности излучения или поглощения исследуемого тела в ультрафиолетовой, видимой или инфракрасной областях спектра. Интенсивность излучения или поглощения связывается обычно с температурой при помощи законов теплового [c.146]

Все методы, применяемые в оптической пирометрии, являются косвенными, поэтому надежность результатов, получаемых с их помощью, зависит прежде всего от степени применимости к исследуемому объекту закона, связывающего температуру с измеряемой величиной. Методы оптической пирометрии не требуют непосредственного контакта измерительной аппаратуры с исследуемым телом. Благодаря этому они позволяют, во-первых, без ущерба для приборов измерять очень высокие температуры, во-вторых, проводить измерения температур удаленных Тел И, В-ТретьиХ, ИХ Применение не вызывает искажения состояний исследуемого объекта, к чему часто приводит термометрическое тело, применяемое в иных методах. [c.146]

Инверсная заселенность создается между уровнями Е и Е2 методом оптической накачки. Важно, чтобы основная масса энергии, излучаемой источником накачки, попадала в полосы поглощения активного вещества и эффективно использовалась для создания инверсной заселенности в системе рабочих уровней. Как уже упоминалось, для накачки активного вещества применяют импульсные газоразрядные ксеноновые лампы, коэффициент полезного действия которой около 50 % [c.286]

Существует и другой метод исследования уровней захвата кристаллофосфоров — метод оптической активации. Его сущность состоит в том, что электроны или дырки освобождаются с уровней захвата длинноволновой ИК-радиацией. [c.222]

Возбуждение кристалла рубина осуществляется методом оптической накачки с помощью импульсных источников света большой мощности. Поглощая излучение накачки в зеленой и синей областях спектра, ионы хрома переходят с основного уровня Аз (рис. 112) на уровни / 1 и представляющие собой широкие полосы. Часть возбужденных ионов с этих уровней снова возвращается в основное состояние Мз, а часть (путем безызлучательных переходов) попадает в состояние Е, включающее два близко расположенных уровня 2Л и Е. Вероятность перехода с этих уровней в основное состояние очень мала, вследствие чего они имеют большое время жизни (- 3 мс). На таких уровнях, называемых метастабильными, происходит накопление возбужденных ионов. [c.295]

Справочник состоит из двух книг. В первой книге рассмотрены общие вопросы разработки и применения средств неразрушающего контроля, а также методы , оптический, течеискания, капиллярный, тепловой, радио-волновый, а также радиационные. Вторая книга посвящена магнитным, электромагнитным (вихревых токов),. электрическим, комплексным методам и средствам контроля качества продукции, а также робототехническим средствам неразрушающего контроля. [c.9]

Применение оптических квантовых генераторов (лазеров) позволяет существенно расширить границы традиционных оптических методов контроля и создать принципиально новые методы оптического неразрушающего контроля, например, голографические, акустооптические и др. Лазерная дефектоскопия базируется на использовании основных свойств лазерного излучения — монохроматичности, когерентности и направленности. [c.51]

Контроль неразрушающий. Методы оптического вида. Общие требования [c.474]

В зависимости от типа материала, вида напряженного состояния, характера нагружения и уровня деформаций разрушение может быть обусловлено накопленным усталостным повреждением, накопленной деформацией или их совокупностью. В связи с этим необходимо измерять как величину суммарной односторонней накопленной деформации, так и изменение амплитуды деформации при каждом цикле нагружения [83]. Для исследования циклически упрочняющихся материалов наиболее эффективен метод оптически чувствительных покрытий, а также метод тензометрии (при величине деформации в первом полуцикле Г%). Для измерения перемещений в зоне вершины трегцины рекомендуется метод оптической интерференции, причем величина исходной деформации должна быть 1%. [c.239]

Для циклически разупрочняющихся металлов эффективны методы, обладающие достаточно большой разрешающей способностью — метод сеток и метод муаровых полос. Для измерения амплитудных деформаций, соответствующих нижней части кривой усталости, нужны более чувствительные методы (метод оптически чувствительных покрытий и тензометрирование в отдельных полуциклах). [c.239]

Методом оптической анизотропии обнаружены дополнительные [c.20]

Контроль углов и конусов. Углы и конусы измеря- ются с помощью угловых мер, шаблонов, угольников, конусных калибров, шариков, синусных и тангенсных линеек, универсальных микроскопов (координатным методом), оптических делительных головок, угломеров с нониусом и др. [c.602]

Метод оптически чувствительных покрытий, позволяющий измерять разности главных напряжений или разности главных деформаций на поверхности нагружаемых металлических деталей, был впервые предложен еще в 1930 г. Менаже [19]. В то время не было достаточно чувствительных материалов, и этот метод не получал распространения, пока в 50-х годах не появились новые, оптически чувствительные материалы, такие, как эпоксидные смолы. В последние годы он широко внедрялся на практике, особенно в авиационной промышленности. За это время проведено много исследований по дальнейшему развитию данного метода и разработке способов обработки результатов измерения для разных задач ). [c.274]

Материалы, применяющиеся для изготовления оптически чувствительных покрытий, и методика измерений аналогичны обычным в поляризационно-оптическом методе. Так как этим методом исследуются главным образом напряжения на поверхности непрозрачных деталей и конструкций, необходимы полярископы отражательного типа. Для этого можно брать любой из полярископов, рассмотренных в разд. 2.8 и показанных схематично на фиг. 2.15. Метод оптически чувствительных покрытий в некотором смысле подобен методу хрупких покрытий, находящему широкое применение уже многие годы. В обоих методах покрытие скрепляется с поверхностью исследуемой детали, в точках которой необходимо определить напряжения. При методе хрупких покрытий напряжения определяют по характеру трещин в покрытии и величине нагрузки, создающей эти трещины. В методе же оптически чувствительных покрытий нужную информацию получают из измерений двойного лучепреломления, возникающего в покрытии под действием напряжений. Таким образом, в обоих методах напряженное состояние в исследуемой детали определяется по напряженному состоянию покрытия. [c.274]

Исследования В. А. Егорова показали, что погрешности измерения методом оптического фотографирования при определении критерия Яск для классов чистоты, охватываемых интерференционными приборами, т. е. с 10 по 14-й класс, составляют + (7—15) %, а для классов чистоты, охватываемых приборами, построенными на принципе светового сечения, т. е. с 3-го по 9-й класс, составляют + (4—11) % [3]. [c.239]

Из прямых методов следует указать на метод оптического анализа, при котором используются прозрачные плоские, а сейчас уже и объёмные модели. [c.274]

Контроль чистоты поверхности. Для лабораторного контроля чистоты поверхности древесины наиболее пригоден метод оптического сечения плоским луком при помощи прибора акад. Линника. Заслуживает также внимания способ сравнения с эталонами, без увеличения или с малым увеличением при косом освещении — способ, применяемый для контроля особо ответственных изделий. Вообще же в производственной практике контроль качества механически обработанной древесины осуществляется преимущественно путём субъективной оценки мастера. [c.671]

Рассматриваемый период в развитии технической оптики ознаменовался также бурным развитием теории и практики оптических измерений. При историческом рассмотрении различных методов оптических измерений [c.370]

Хотя вклад Фуко в развитие практической оптики велик, все же его методы оптических измерений не были безупречны. В 1880 г. Г. Фогель ввел важное усовершенствование измерительного прибора для оценки хроматической аберрации оптических систем. На оси испытуемой оптической системы он предложил установить спектроскоп таким образом, чтобы изображение звезды получалось прямо на щели. Если хроматическая аберрация отсутствовала, то ширина светящегося диска на щели для всех длин волн была одинакова. [c.371]

Для исследования возможностей метода оптической ИК интроскопии и для испытания прибора, реализующего этот метод, была проведена серия исследований на различных тест-объектах, а также на образцах полупроводниковых материалов германия п- и р-типа электропроводности, электронного и дырочного кремния, фосфида галлия, как нелегированного так и легированного Те, S, Mg, Be, и арсенида галлия, легированного Те до Л д = 5--ь [c.184]

Как следует из (237), сигнал с выхода фотоприемника содержит низкочастотную составляющую т) Е1 + Е1) и переменную составляющую 2т] 5 о os ((Од ), частота которой равна доплеровской частоте. Этот сигнал после фильтрации может быть подан на блок измерения доплеровской частоты. Описанный способ сравнения частот двух световых пучков с применением квадратичного фотоприемника в качестве смесителя известен как метод оптического гетеродинирования [162]. [c.281]

Эти и предшествующие им результаты [3831, основанные на результатах Эйнштейна [186], согласно которым дополнительная диссипация пропорциональна квадрату завихренности частиц, свидетельствуют о том, что при течении Пуазейля частицы мигрируют по направлению к оси трубы. Однако в соответствии с точными экспериментальными данными [693] частицы концентрируются в ко.льцевом слое на расстоянии от оси трубы около 0,6 ее радиуса. Эксперименты проводились в стеклянной трубке внутренним диаметром 11,2 0,2 мм со сферическими частицами из полиметилметакрилата диаметром 0,32 0,8 1,21 и 1,71 мм в среде постоянной плотности, представляющей собой смесь глицерина, 1,3-бутан-диола и воды в различных пропорциях. Концентрация частиц изменялась от 0,33 до 4 частиц/см . Распределение концентрации определялось методом оптического сканирования. [c.41]

Оптическая автокорреляция [743]. Впоследствии для изучения турбулентности высокоскоростного потока, где суш ественны пульсации п.чотности, были использованы методы оптической автокор-ре.чяцпп [431, 432, 836]. [c.94]

Метод оптической фоторегпстрации основан на рассеянии света, ПОЭТОЛ1У можно зарегистрировать частицы размером до 4 мк, что позволяет использовать эти частицы для визуальной индикации при изучении однофазной турбулентности. [c.94]

Для оценки временных сварочных напряжений используют методы оптического моделирования. Образцы изготавливают из оптически активного материала (поликарбонат или эпоксидная смола) и нагревают. В процессе нагрева регистрируют (визуально или фотокиносъемкой) характерные картины светлых и темных полос, возникающих на поверхности пластины при облучении монохроматическим источником света. По этим картинам [c.419]

Проведенное рассмотрение также сможет в какой-то степени подготовить читателя к пониманию открывшихся за последнее время возможностей реализации исключительно точных оптических измерений, которые проводмгся < Под крышей допле-ровской линии . Изложение таких современных методов оптической спектроскопии (интерференция агомнь х состояний, некоторые способы лазерной спектроскопии) в рамках этой книги, к сожалению, невозможно. [c.398]

Методами оптической астро]Юмии иет возможности обнаружить антивещество во Вселенной. В самом деле, с точки зрения классической теории количество излучаемой частицей энергии — dt ldt [c.376]

Для метода оптического возбуждения существенно использование не менее трех энергетических уровнений атома (см. рис. 40.5). Важно также, чтобы уровень был долгоживущим (в трехуровневой системе), а уровни Ез — широкими. В самом деле, при использовании только двух энергетических уровней невозможно создать их стационарную инверсную заселенность за счет оптического возбуждения. Нарастание плотности потока возбуждающего излучения будет увеличивать и число актов поглощения фотонов, и число актов их индуцированного излучения. В результате даже при бесконечной мощности излучения заселенности энергетических уровней станут всего лишь одинаковыми, и их инверсная заселенность не будет достигнута. В том, что разность заселенностей — N2 не может изменить знак, легко убедиться при помощи общего выражения (224.3) для этой величины. [c.791]

На синергетических свойствах систем металл-водород основан новый вид обработки, а именно, водородной обработки материалов. Поэтому нами начато изучение особенностей элементов самоорганизации, морфологии И кинетики гидридных превращений в системе Pd-H методом оптической микроскопии in situ. [c.38]

Методом оптической и электронной микроскопии проведен анализ неоднородности зональности строения материалп Проволоки из феррито-перлитной стали, предсказанной макро моделью. [c.65]

Если проводить общую классификацию, то в спекл-интерферометрии можно выделить два основных метода корреляционную спекл-интерферометрию и спекл-фото-графию. В каждом из этих методов оптически шероховатая поверхность регистрируется в начальном положении и смещенном относительно него, затем анализируется картина интерферевщионных полос. Отличия метода спекл-фото-графии от корреляционной спекл-интерферометрии заключаются в возможности изменения чувствительности к значению смещения и в отсутствии опорного пучка при фотозаписи. [c.33]

Контроль формы зеркальных сферических и асферических поверхностей. Такой контроль практически не отличается от описанного выше метода. Оптическая схема, приведенная на рис. 41, представляет собой осевую схему голографического асферометра на базе интерферометра Майкельсона. Плоская волна от источника света (на рисунке не показан) разделяется полупрозрачным зеркалом 2 на две. Прошедшая волна освещает контролируемое 102 [c.102]

Рассмотрим задачу о прохождении луча света через некоторую область 1 (рис. 11.1), показатель преломления которой в направлении координатных осей х и у отличается от показателя преломления окружающей среды. Очевидно, в соответствии с законом преломления Снеллиуса луч света после прохождения области / должен отклоняться от первоначального направления. Поведение луча после прохождения через неоднородность фиксируется в плоскости экрана 2 тремя измеряемыми параметрами смещением б между точками А и А углом отклонения е луча от первоначального направления временем запаздывания т прихода луча в точку А (по более длинному оптическому пути) по отношению к времени прихода луча в точку А. Па регистрации трех указанных параметров световой волны основываются три основных метода оптической визуализации неоднородностей плотности в газодинамическом потоке. Эти методы называют соответственно прямотене- [c.216]

Этим методом были определены сверхтонкие расщепления нормальных уровней водорода, дейтерия, трития и -ряда других элементов [i27-i29j веденные в табл. 118. Методы оптической спектроскопии позволяют найти эти расщепления либо со значительно меньшей точностью, либо вообще исключают возможность их измерения (например, для изотопов водорода). [c.574]

Нетравленый шлиф стали, "содержащей, % С 0,07 Сг 27 Мо 2 и отпущенной при 650° С в течение 1000 ч, исследуют методом оптического фазового контраста или с помощью травителя 107в. При этом карбиды сильно вытравливаются, в то время как ст-фаза вследствие легкого подтравливания располагается ниже ферритной матрицы. При термическом травлении при 500° С в течение 5 мин карбид темнеет, феррит окрашивается в цвета от желтого до коричневого, а ст-фаза остается светлой. Этим методом выявляют обедненные хромом области вокруг карбидов и ст-фазу по различию в степени потемнения. Термическое травление позволяет также определять размеры карбидных частиц. Карбиды по границам зерен остаются светлыми, если их размер не превышает определенную величину. Аустенит имеет желто-коричневый цвет, приграничные области зерен, особенно вблизи мельчайших карбидов, окрашиваются в цвета от коричневого до фиолетового (вследствие обеднения легирующими элементами). [c.142]

Одна из наиболее трудных задач состоит в из.адерении количества продуктов реакции после отжига, поскольку желательно ограничить полную толщину реакционной зоны величиной приблизительно 2 мкм. В большинстве исследований были использованы методы оптической металлографии. Наиболее важен в этих работах этап приготовления образцов, так как необходимо получить плоскую поверхность шлифа и избежать появления ступеньки между твердым волокном и значительно более мягкой матрицей. В каждой лаборатории принята своя методика приготовления микрошлифов, но, по-видимому, основные условия состоят в следующем необходимо избегать излишнего нажатия при полировании и следует создавать хорошую опору для края образца в опрессовочном материале или использовать специальный держатель, Шмитцем и Меткалфом [38] разработана методика косых сечений, которая была использована в последующих исследованиях. Для определения местного увеличения в направлении скоса был использован расчет конического сечения разрезанного наискось волокна. Этот метод пригоден для толщин менее 0,3 мкм и становится не столь надежным при больших толщинах из-за ошибок, вызванных отсутствием плоскостности сечения. Электронная ]микроскопия с использованием метода реплик оказалась не впол- [c.103]

Для определения толщины органосилановых пленок, адсорбированных на свинцовом стекле, Тутас и др. [49] применили новый метод — метод оптической эллипсометрии. Изучение характера [c.22]

Микроморфология разрущения в зоне магистральной трещины носит двойственный характер. В основном разрущение идет по границам зерен за счет образования клиновидных трещин. С другой стороны, в зоне клиновидных трещин впереди фронта магистральной трещины и рядом с ней имеется значительное количество пор ползучести. В металле диска далее по периметру вне зоны видимой трещины и микротрещин имеются зародыщи пор, выявляемые методами оптической и электронной микроскопии. Следовательно, в зоне концентрации напряжений идет процесс порообразования. При периодических перегрузках, которые могут иметь место в пусковой период работы ротора, в металле, пораженном порами, происходит образование клиновидных межзеренных трещин в пределах зерна. В устье трещины за счет ускорения процессов диффузий в поле повышенных напряжений и межзеренного проскальзывания происходит образование крупных карбидов и снижается трещиностойкость стали. В дальнейшем процесс разрушения идет с ускорением и завершается смешанным разрушением. [c.47]

Разрушение заклепок из сплава В94, работавших в основном в среде морского воздуха, можно отнести к коррозионно-устало-стному с преобладающим влиянием коррозии. Отмечались множественный характер трещин, целиком прошедших по границам зерен, зернистое строение излома, наличие продуктов коррозии на изломах в виде темных налетов. Влияние повторных нагрузок на разрушение выявилось методом оптической фрактографии по наличию микроусталостных полосок, которые располагались на поверхностях границ зерен (рис. 107). [c.134]

Влияние условий трения на структуру и фазовый состав частиц износа исследовалось в работе [138]. Трение осуществлялось по схеме индентор — кольцо нри нормальной нагрузке 6,2 кгс и скорости скольжения 0,44 м/с. Путь трения — 1 км. Испытания проводились на воздухе и в вакууме 2-10 мм рт. ст. при температурах 293 и 77° К. Методами оптической и электронной микроскопии, микродифракции и микротвердости было установлено, что внешняя среда оказывает существенное влияние на форму, размер и свойства частиц износа. При трении на воздухе формируются мелкодисперсные частицы без металлического блеска, а в условиях глубокого вакуума образуются крупные, неравпоосные частицы [c.86]

Метод оптически чувствительных покрытий получил развитие и в оте-яественных лабораториях [25 —31 ].— Прим. ред. [c.274]

При измерении полей деформаций с помощью метода оптически активных (фотоупругнх) покрытий приборы, используемые для измерения разности хода лучей в покрытии (т. е. для измерения разности главных деформаций и для определения направлений главных осей), называют полярископами одностороннего действия. На рис. 29, а показан полярископ удваивающего типа с полупрозрачным зер- [c.389]

Как следует из табл. 4, чувствительность (относительная) РСМД весьма невелика и гораздо ниже, чем чувствительность, достигнутая в методах оптической спектроскопии и рентгеновского флюоресцентного анализа. Однако по абсолютной чувствительности рентгеноспектральный микроанал1гз превосходит все другие методы. Так, анализ с чувствительностью 0,1 — 0,01 % элемента в микрообъеме массой 10 I —10 г означает возможность определения содержания вещества до 10 I"—10 1 г. Если же массу анализируемого элемента, равную lO i г, равномерно распределить ио объему, который анализируется при точечном оптическом спектральном анализе (0,5 мм ), то концентрация элемента составит всего 10" %. Следовательно, метод РСМА с высокой эффективностью может быть применен для анализа очень малых количеств примеси, если они распределены неравномерно в виде микровключений в основном материале. [c.496]

Прокопенко В. Т., Рондарев В. С., Яськов А. Д. Измерение неоднородности распределения свободных носителей заряда в сильнолегированных полупроводниках методом оптического зондирования. — Электронная техника , [c.329]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...