Оптические части микроскопов

Оптическая часть микроскопа, состоящая из сменного объектива /, оборачивающей оптической системы и окулярной головки такого же типа, как и в универсальном микроскопе, дает прямое изображение контролируемого объекта. Общее увеличение микроскопа зависит от увеличения сменного объектива (1, 1,5, 3-и 5Х) и при постоянном увеличении окуляра в 10Х может составить 10, 15, 30 и 50Х. [c.361]

ЦЕНТРИРОВКА ОПТИЧЕСКИХ ЧАСТЕЙ МИКРОСКОПА [c.75]

При выполнении микрофотографических работ важное значение приобретает центрировка оптических частей микроскопа. [c.75]

Ниже приводятся простейшие способы центрировки оптических частей микроскопа. [c.76]

Начальная стадия проектирования новых или функционально действующих основных оптико-механических узлов микроскопов производится до разработки оптической части микроскопа, и не принимается во внимание особенность того или иного оптического устройства. Иными словами, конструктору оптических систем предоставляются в распоряжение скомпонованные в общую схему механические устройства микроскопа, в которые ему следует вписать оптические компоненты. [c.368]

Данный этап конструирования заканчивается выдачей схемы Л-7 (ГОСТ 2.701—68), определяющей относительное расположение составных оптических частей микроскопа. [c.369]

В крышке камеры имеется смотровое плоскопараллельное стекло 29 диаметром 50 и толщиной 1,5 мм. Для фотографирования микроструктуры используется микрофотонасадка типа МФН-8 для съемки на фотопластинки размером 9 X 12 см или МФН-12 для съемки на кинопленку шириной 35 мм. Оптическая система микроскопа разделена на две части. Вне рабочей камеры установки находятся тубус, осветительная система и окуляр, жестко соединенные с вертикальным валом 30, проходящим через систему подвижного [c.164]

С помощью рукоятки 46 вал 30 микроскопа МВТ поворачивается в пределах угла около 50°, ограничиваемого юстировочными упорными винтами. Таким образом, над рабочей частью образца располагается либо оптическая система микроскопа (объектив, тубус с осветителем и окуляр), либо при повороте рукоятки и вала 30 в другое крайнее положение над точкой пересечения поверхности образца оптической осью микроскопа оказывается вершина смонтированного на секторе 31 индентора. Соответствие двух указанных точек достигается при юстировании прибора поворотом объектива микроскопа в эксцентриковой втулке, снабженной специальной контргайкой. [c.166]

Ось прибора 15 — цилиндрический ступенчатый валик — жестко соединена с основанием. На ось надета втулка 14, называемая бак-сой, к которой прикреплен корпус 17 алидады. В нем сосредоточена оптическая часть прибора, передающая изображение шкалы лимба к отсчетному микроскопу 9, который также укреплен на алидаде. На ней же находится и одна из коллимационных труб. По другую [c.119]

Для исследований микроструктуры наиболее часто используют световые микроскопы МИЛ -7 и МИМ-8 Разрешающая способность оптического светового микроскопа с применением масляного иммерсионного объектива соответствует практически 1 мкм. [c.311]

Длина рабочей части от 0,2 до 25 мм Сравнительный Оптический Штангенциркуль Микроскоп БМИ 0,05...0,10 мм 0,02 мм [c.685]

Оптическая схема микроскопа представлена на фиг. 35. Источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, а полевая диафрагма 3 — в плоскость препарата 4. При это.м объектив 5 работает и в качестве конденсора как часть освети- [c.78]

Оптическая схема микроскопа показана на фиг. 53. Источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, полевая диафрагма 3 — в плоскость объекта 4. После поляризатора (поляризационной призмы) 6 лучи попадают на полупрозрачную отражательную пластинку 7, направляющую свет в объектив 5, который работает и как часть осветительной системы, и как объектив, дающий изображение объекта. Отражательная пластинка 7 может быть заменена призмой 8, которая несколько увеличивает освещенность объекта и создает эффект косого освещения, выявляющего рельеф поверхности образца. Отраженные от объекта лучи после объектива идут в анализатор 9 (поляризационный фильтр) и изображение объекта наблюдается через окуляр 10. [c.107]

Длину диагонали отпечатка предпочтительнее измерять в центре поля зрения микроскопа в целях исключения возможных недостатков оптической системы микроскопа, которые большей частью проявляются на краях поля зрения. [c.293]

Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Резьба для объективов и гнезд под них. Часть 1. Резьба КМС (4/5"х 1/36"). Взамен ГОСТ 3469-91 (ИСО 8038-95). (ИСО 8038—1—97). Прямое с дополнением [c.162]

Для исследования препаратов методом темного поля применяется конденсор темного поля ОИ-13. Оптическая часть этого конденсора состоит из сферического выпуклого зеркала и линзы-кардиоида. С помощью двух регулировочных винтов и пружинного устройства оптическая часть может перемещаться в плоскости, перпендикулярной оптической оси, что обеспечивает центровку конденсора относительно оси микроскопа. Конденсор ОИ-13 применяется для работы с любыми системами объективов, при естественном или искусственном освещении. Апертура конденсора ОИ-13 составляет 1,2. С помощью такого конденсора можно установить наличие частиц, размеры которых лежат за пределами разрешающей способности микроскопа. В темном поле такие частицы имеют вид светящихся точек. [c.56]

При микрофотографировании для целей дисперсионного анализа наиболее часто применяют освещение проходящим светом, направленным параллельно оптической оси микроскопа, которое создает эффект светлого поля. Такое освещение препарата называется центральным. При этом методе достигается наибольшая освещенность препарата и резкое очертание контура изучаемых частиц. [c.77]

На рис. 1 приведена оптическая схема микроскопа МИМ-7. Микроскоп представляет собой комбинацию двух увеличивающих оптических систем — объектива 12 и окуляра 19, разделенных значительным расстоянием. Расстояние между фокусами объектива и окуляра называется оптической длиной тубуса I. Эта величина близка по значению к расстоянию между опорной плоскостью объектива и верхним краем тубуса микроскопа (на схеме тубус не показан, окуляр 19 вставляется в его верхнюю часть). Исследуемый шлиф помещают на предметный столик 13 перед объективом, немного дальше его фокуса так, что объектив дает увеличенное действительное изображение структуры. Это изображение при помощи линзы 14 переносится в плоскость, близкую к фокусу окуляра. Окуляр расположен относительно промежуточного изображения как лупа, в результате [c.7]

На рис. IX.6 показаны общий вид и устройство оптической головки. Она состоит из корпуса 4 и поворотной части 5, внутри которой на подшипниках скольжения установлен шпиндель 9. Шпиндель может занимать вертикальное положение — 90° от горизонтали и вниз от нее на 10 . На шпинделе неподвижно закреплено червячное колесо 8, приводимое во вращение червяком 10, когда он введен с ним в зацепление люлькой 11, поворачиваемой рукояткой 7 (рис. IX.6, а). Червяк вращается рукояткой / маховичка. Закрепление шпинделя в требуемом положении производится рукояткой 2. К внутреннему торцу червячного колеса 8 (рис. IX.6, б) строго концентрично прикреплен стеклянный диск 7, на ободе которого выполнена круговая шкала с ценой деления 1 . По этой шкале с по.мощью оптического отсчетного микроскопа 5 при увеличении в 60 раз производится отсчет углов поворота. Круговая шкала освещается лампочкой 6 через призму и зеркальце. В поле зрения окуляра расположен нониус (рис. IX.6, а), разделенный на 60 частей. По нониусу можно отсчитывать углы с точностью до Г. На рисунке показан отсчет угла поворота шпинделя со значением 9° 15. [c.181]

Рисовальный аппарат РА-1 служит для зарисовки объектов, исследуемых через оптическую систему микроскопа (фиг. 231). Аппаратом можно пользоваться при работе со всеми типами микроскопа. Основной частью прибора является призма-кубик, соединяющая два пучка лучей и направляющая их в глаз наблюдателя один из них идет от объекта непосредственно через микроскоп, а второй —от бумаги н карандаша, которым обводится изображение объекта. [c.361]

ОПТИЧЕСКИЕ И МЕХАНИЧЕСКИЕ ЧАСТИ МИКРОСКОПА [c.63]

Охлаждение необходимо для предохранения препарата, а также оптических и механических частей микроскопа от излишнего перегрева. [c.136]

Можно направить осевой пучок наклонно к оптической оси микроскопа или исключить центральную часть светового конуса, освещая объект только краевыми лучами, падающими под острым углом с какой-либо одной стороны. [c.145]

Объектив и окуляр микроскопа участвуют в создании изображения неодинаково. Объектив — наиболее сложная и ответственная часть микроскопа — работает в широких пучках (с большой апертурой), но с малым наклоном этих пучков к оптической оси (малое поле). Окуляр работает в узких пучках, но с большим их наклоном (большое поле). При расчете объективов и окуляров это различие проявляется в коррекции соответствующих аберраций. [c.15]

Перед работой для проверки совпадения оптической оси микроскопа с осью центров устанавливают в центрах эталон 14, регулируя с помощью винтов 15 положение тубуса головки микроскопа, добиваются совпадения нулевой линии неподвижной шкалы в окуляре с вертикальной линией среза на эталоне. При контроле метчик располагается на приборе таким образом, чтобы его рабочая часть была обращена к объективу микроскопа. [c.256]

Оптическая схема микроскопа для исследования микрошлифа в темном поле отличается от описанной схемы исследования в светлом поле тем, что вместо линзы 10 (рис. 3.11) устанавливается линза 22. Центральная часть одной из поверхностей линзы 22 покрыта черным непрозрачным лаком в виде диска, задерживающего центральную часть светового пучка и пропускающего краевые лучи, проходящие через прозрачное кольцо линзы 22 и падающие на зеркало 23 в виде светового кольца. Для того чтобы световые лучи не попадали на отражательную пластинку И, введена диафрагма 24. Отразившись от зеркала 23, лучи падают на внутреннюю зеркальную поверхность параболического зеркала 25 и, отразившись от него, концентрируются на микрошлифе. [c.26]

Определение внутренних напряжений консольным методом проводят на установке, состоящей из консоли, от-счетного микроскопа (оптическая часть микроскопа МИР-12) и термостатирующего устройства (рис. 31). Консоль представляет собой две пластины из нержавеющей стали размером 80X15 мм, толщиной 0,25—0,3 мм (пластина-подложка) и 1,0—1,5 мм (пластина-основа-ние), соединенные точечной сваркой через двухмиллиметровую стальную прокладку. В пластине-основании иногда предусматриваются три отверстия диаметром 10 мм для измерения толщины покрытия микрометром. Пласти-ну-подложку щлифуют шкуркой №№12—20, обезжиривают уайт-спиритом и измеряют ее толщину в трех точках б. Лакокрасочный материал наносят наливом или кистью так, чтобы не было потеков по краям и на обратной стороне пластины, помещают на подставку и сразу измеряют расстояние между пластиной-подложкой и пластиной-основанием к. На подставке можно закреплять одновременно шесть консолей. После отверждения покрытия измеряют длину пленки I, суммарную толщину покрытия б + Аб (в тех же точках, в которых измеряли толщину подложки) и расстояние между пластинами к + Ак. Внутренние напряжения о (в МПа) рассчитывают по формуле [c.145]

Вторая ветвь оптической системы представляет собой оптическую часть регистрирующего устройства и дредназначена для передачи энергии рассеянного света от исследуемой точки модели на светочувствительную площадку приемника света — катод фотоэлектронного умножителя (ФЭУ). В эту ветвь входят объектив (от универсального измерительного микроскопа УИМ-21) 8, вогнутое зеркало 9, отрицательная линза 10, монохроматический фильтр 11, катод ФЭУ 12. Объектив проектирует с увеличением изображение просвечиваемого элемента модели на вогнутое зеркало, которое в этой ветви играет роль диафрагмы в алюминиевом слое зеркала на оптической оси второй ветви оставлен непокрытым кружок диаметром 0,5 мм — световой зонд . Узкий пучок света, прошедший [c.32]

Горизонтальный микроскоп МИМ-8м. Исследовательский микроскоп МИМ.-8М дает увеличение до 1350 при визуальном наблюдении и до 1700 при фотографировании, обеспечивая высокую четкость изображения. В микроскопе применяют ахроматические и апохрома-тические объективы. Общий вид центральной части микроскопа МИМ-8м и его оптическая, схема показаны на рис. 1.9 и 1.10. [c.29]

Интерферометр Номарского представляет собой двухлучевой поляризационный прибор, реализуемый на базе обычного (например, металлографического) микроскопа с помощью приставки — призмы Волластона, которая устанавливается между объективом и остальной частью оптической системы микроскопа. [c.234]

Одной из важнейших задач электронной микроскопии в химии, порошковой металлургии и в целом ряде других смежных областей являются исследования формы и размеров частиц тонкодисперных веществ, поскольку физические и химические свойства многих материалов часто очень сильно зависят от степени дисперсности вещества. Исследования такого рода с помощью обычного оптического микроскопа в большинстве случаев могут дать лишь весьма приближенную характеристику. Например, определение величины зерен, меньших 0,5 мк, в обычном микроскопе уже невозможно, поскольку эта величина близка к пределу разрешающей способности оптического светового микроскопа. Поэтому здесь на помощь приходит электронная микроскопия. [c.30]

ФРАКТОГРАФИЯ — изучение поверхности мехаиич. разрушения (изломов) образцов и деталей обычно с помощью оптич. или электронного микроскопа в сочетании с осмотром при небольшом увеличении. При этом поверхность излома не подвергается предварит, шлифовке и травлению. Преимуществом Ф. является изучение слабых мест разрушенных образцов или деталей в том состоянии, в к-ром произошло разрушение. Ф. помогает выяснить строение и0всрх(юсти разрушения, последовательность развития этого процесса, роль отд. структурных составляющих, изменение их состояния под действием нагрузки и т. д. Основной методич. зада-4eii fp. является ориентировка изучаемой части поверхности излома относительно оптической оси микроскопа. Для ориентировки служит шарнирное приспособление на столико металл-микроскопа, Ф. проводится в прямом свете, при слегка наклонном положении поверхности излома. При зтом выявляется микрорельеф поверхности. [c.406]

Микрообъектив является наиболее существенной частью оптической системы микроскопа и исправлению его аберраций придается большое значение. Поэтому микрообъективы (особенно большого увеличения) представляют собой сложные многолинзовые системы. По степени исправления аберраций микрообъективы можно разделить на несколько групп. [c.22]

Оптическая схема микроскопа, приведенная на фиг. 42, в основной своей части аналогична схеме микроскопа МИМ-8м. На схеме обозначены следующие основные элементы 1 — источник света 2 — коллекторная линза < —диск со светофильтрами 4 — ирисовая апертурная диафрагма 5 — поляризатор 6 — ирисовая полевая диафрагма 7 — диафрагма темного поля 8 — кольцевое зеркало темного поля 9 — полупрозрачная пластинка 10 — призма для косого освещения И— эпиконденсор 12 — объектив /3 — анализатор 14 — поворотная призма 15 — гомаль 16 — фотопластинка 17-—окуляр. [c.89]

В крышке камеры имеется смотровое плоско-параллельное стекло диаметром 50 и толщиной 1,5 мм. Для фотографирования микроструктуры используется микрофотопасадка (типа МФН-8 для съемки на фотопластинки размером 9x12 см или МФН-12 для съемки на фотопленку шириной 35 мм). Оптическая система микроскопа разделена на две части. Вне рабочей камеры установки находятся тубус, осветительная система и окуляр, жестко соединенные с вертикальным валом 34, проходящим через систему подвижного вакуумного уплотнения. На нижнем конце этого вала внутри рабочей камеры укреплен стальной сектор 35, на котором смонтированы соосный с тубусом объектив 36, а также механизм подвески алмазного индентора. [c.20]

Оптическая схема микроскопа изображена на фиг. 211. В вер1хней части проекционного тубуса помещен источник света 1. Лучи света от источника проходят через светофильтр и освещают узкую щель 2. Щель расположена в фокальной плоскости ахроматической линзы (на схеме не показана), и таким образом лучи, идущие через щель, выходят из этой линзы параллельными пучками, которые собираются в фокальной плоскости осветительного объектива. [c.154]

Работа с электронным микроскопом сложнее, чем с оптическим параметры электрической цепи, определяющие оптику микроскопа, должны выдерживаться строго постоянными, что контролируется электроизмерительными приборами. Обычно исследования с помощью электронного микроскопа проводят следующим образом. В специальную камеру устанавливают объект и затем, проверив герметичность сочленения всех элементов микроскопа, включают вакуумные насосы и по достижении необходимого разрежения включают накал вольфрамовой спирали электронной пушки. После этого подают высокое напряжение, создающее электрическое поле для повышения скорости электронов, затем подмагничиваюш ий ток, питающий электромагнитные линзы, и, постепенно передвигая изучаемый предмет, рассматривают его участки, наиболее интересующие наблюдателя, и, если необходимо, фотографируют. В микроскопах многих конструкций можно изолировать камеру объекта и фотокамеру от остальной части микроскопа и наполнить воздухом только эту часть микроскопа, а затем заменить предмет исследования и фотопластинку. В микроскопах других конструкций заполняется воздухом вся система это менее удобно, так как требуется большая затрата времени на последующую откачку воздуха. [c.78]

При исследованиях металлов необходимо весьма сильное освещение, так как в большинстве случаев поиходится работать с очень большими увеличениями. Исследуемый образец (травленный шлиф) кладется на горизонтальный стол, на. одящийся сверху перпендикулярно поставленного объектива. Источник света, микроскоп (с изломанным ходом лучей) н фотографическая камера с большим расстоянием часто монтируются на оптической скамье. Микроскоп снабжен подъемным окуляром. [c.530]

Массовые модели биологических микроскопов снабжены поворотным и центрируемым столиком (рис. 29). Верхняя часть 1, изготовленная из пластмассы, поворачивается на угол 360° в кольце 5 и стопорится винтом 6. Кольцо может перемещаться в небольших пределах в горизонтальной плоскости посредством винтов 5 и пружинного упора 4. Этим осуществляется совмещение оси вращения столика с оптической осью микроскопа. Препарат, установленный на столике, зажимается пружинящими клеммами 2 (на поверхности столика для клемм имеются отверстия ф 4Лз). При работе с сильными объективами очень трудно перемещать препарат рукой по столику. Поэтому для перемещения препарата пользуются пре-паратоводителем, для крепления которого предназначены два цилиндрических отверстия 0 ЪA и одно резьбовое отверстие М4х0,7. Расстояния между всеми отверстиями стандартизованы. [c.46]

Основной оптической частью установок для микроспектрофото-метрирования и микроспектрографирования является микроскоп, который создает увеличенное изображение объекта, позволяя визуально изучать микроструктуру препарата и выбирать отдельные элементы структуры для измерения. Кроме того, благодаря своей большой апертуре микроскоп создает высокую концентрацию света на объекте. [c.72]

Столик микроскопа может вращаться. Шкала вращающейся рабочей части столика содержит 360 делений через 1°. Столик имеет три отверстия для крепления препаратоводителя и два отверстия для установки столика Федорова. Последний дает возможность ориентировать исследуемый объект под различными углами относительно оптической оси микроскопа. Линзы 5 конденсора — сменные с различной апертурой, а линза 6 откидная. [c.242]

Объектив является важнейшей частью оптической системы микроскопа. От него в первую очфедь зависит степень увеличения, резкость, отсутствие искажений и передача мелкой структуры объекта. [c.82]

Оптическая схема микроскопа приведена на рис. 1.32. Луч ОКГ 18 направляется зеркалами 1, 3, 17 и призмой 16 (при использовании внешнего ОКГ его излучение отражается призмой 15 и также направляется на призму 16, которая разворачивается в этом случае в положение, обозначенное штриховой линией) на светоделитель 19, деляш,ий его на два луча — сигнальный и опорный. Сигнальный луч трансформируется линзой 22 и диафрагмой 25 в расходящийся пучок, который направляется призмой 4 на объект. Плоскопараллельная пластина 5 осуществляет при повороте параллельный сдвиг луча. Объектив 6 установлен за объектом световой пучок после объектива попадает на фотопластинку 7. Наблюдение объекта проводится через окуляр 5. Часть сигнального луча, отраженная светоделителем 20, направляется зеркалом 13 и призмой 11 на объект для его боковой подсветки. [c.54]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...