Микроскопия световая светлое поле

Осветительная система микроскопа состоит из источника света 1 — ртутной лампы сверхвысокого давления типа ДРШ-100-2, коллектора 2, проектирующего светящуюся плазму лампы в плоскость апертурной диафрагмы 3. Последующий путь светового потока зеркало 4, осветительная линза 5 и светоделительное зеркало 6. Последнее обладает соотношением коэффициентов отражения и пропускания Г = 1 2 и установлено под углом 45° к оптическим осям светового потока осветителя и микроскопа при этом исследуемый образец 7 освещается и изучается в прямом светлом поле. [c.138]

При дальнейшем смещении апертурной диафрагмы конденсора относительно оси объектива до тех пор, пока световой пучок, направляемый конденсором на препарат, совсем не попадает в объектив, метод косого освещения превращается в метод темного поля в проходящем свете (рис. 2.26). В поле зрения микроскопа на темном фоне получаются светлые изображения частиц препарата за счет рассеянного им света. Метод применим для получения изображений прозрачных, непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле объектов. [c.36]

Оптическая схема микроскопа для исследования микрошлифа в темном поле отличается от описанной схемы исследования в светлом поле тем, что вместо линзы 10 (рис. 3.11) устанавливается линза 22. Центральная часть одной из поверхностей линзы 22 покрыта черным непрозрачным лаком в виде диска, задерживающего центральную часть светового пучка и пропускающего краевые лучи, проходящие через прозрачное кольцо линзы 22 и падающие на зеркало 23 в виде светового кольца. Для того чтобы световые лучи не попадали на отражательную пластинку И, введена диафрагма 24. Отразившись от зеркала 23, лучи падают на внутреннюю зеркальную поверхность параболического зеркала 25 и, отразившись от него, концентрируются на микрошлифе. [c.26]

Абсорбционные объекты дают контрастные изображения с хорошо выраженными границами между темными и светлыми частями. На них можно обнаружить все детали, которые способен разрешить микроскоп при заданной разрешающей способности. Напротив, изображения рефракционных объектов почти лишены контраста. В таких изображениях трудно, а часто и практически невозможно разрешить детали изучаемого объекта, хотя бы разрешающей способности микроскопа и было достаточно для этой цели. Причина такого различия между абсорбционными и рефракционными структурами состоит в том, что объектив микроскопа воспроизводит в плоскости изображения, а следовательно и на сетчатке глаза, то же распределение интенсивности светового поля, которое существует в плоскости объекта, а светочувствительные нервные окончания сетчатки реагируют именно на интенсивность световой волны, а не на ее фазу. [c.378]

При помощи конденсора С и осветителя / свет фокусируется в пучок, приблизительно параллельный оптической оси микроскопа. Объектив принимает световые лучи, отражающиеся перпендикулярно от поверхности образца. Те лучи, которые отражаются от неровностей поверхности, не попадают в поле объектива. Следовательно, изображение поверхности 5, образованное при помощи окуляра Е, будет представлять собой большую светлую область, пересеченную темными линиями или усеянную темными точками, которые соответствуют границам зерен, фигурам травления, а также разного рода неровностям поверхности. Этот метод исследования позволяет фиксировать цветные изображения некоторых составляющих, например, включений, графита и др. [c.7]

ТИТОВЫХ пятен определяется визуально на световом экране в отраженном свете по характерному полуметаллическому блеску, в спорных случаях магнетит отличается от биотита путем расщепления детали. Биотит при этом приобретает более светлую и коричневую окраску, магнетит остается черным. Площадь пятен проверяется на сетчатом экране при размерах клетки 1 мм. Размеры круглых отверстий контролируются калибрами или оптическим методом на проекторе. Формы и размеры контура детали в целом и отдельных отверстий, а также правильность размещения отверстий проверяются одним из двух оптических методов с помощью инструментального микроскопа путем замера координат отдельных точек либо с помощью проектора путем проектирования изображения детали на тщательно вычерченный шаблон, масштаб которого соответствует увеличению, принятому при контроле данного изделия. На шаблоне непосредственно наносятся по обе стороны каждого контура границы полей допусков. Метод проектора и шаблона отличается большей наглядностью контроля и большей скоростью, но требует большой работы по предварительному изготовлению контрольных шаблонов — экранов, отдельных для каждого изделия. Метод инструментального микроскопа более универсален, и микроскоп всегда готов к действию, но измерения отнимают больше времени и результаты ненаглядны, они получаются после обработки ряда отсчетов, погрешности заметить труднее. [c.189]

Для освещения объектов по методу темного поля необходимо использовать конденсор, числовая апертура которого больше, чем апертура микрообъектива (Ак > Аоб). Наблюдение по методу темного поля можно осуществить при одностороннем или круговом освещении. На рис. 165 приведена схема конденсора темного поля. В конденсоре используется кольцевая диафрагма 4 такого размера, чтобы средний диск диафрагмы перекрывал световой пучок, соответствующий апертуре микрообъектива. Если в предметной плоскости 2 отсутствует объект, то наблюдатель видит в окуляр микроскопа темное поле, так как лучи, вышедшие из конденсора 5, не попадают в микрообъентив 1. При наличии в предметной плоскости объекта его мелкие детали диффузно рассеивают свет и кажутся светлыми на темном поле. [c.204]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...