Микроскоп сложный

Цельнометаллические микроскопы. Сложный универсальный микроскоп не всегда удобен для проведения часто повторяющихся экспериментов. Поэтому был разработан ряд цельнометаллических микроскопов разного размера и назначения. Основные их конструкции представлены ниже. [c.81]

Работа с электронным микроскопом сложнее, чем с оптическим параметры электрической цепи, определяющие оптику микроскопа, должны выдерживаться строго постоянными, что контролируется электроизмерительными приборами. Обычно исследования с помощью электронного микроскопа проводят следующим образом. В специальную камеру устанавливают объект и затем, проверив, герметичность сочленения всех элементов микроскопа, включают вакуумные насосы и по достижении необходимого разрежения включают накал вольфрамовой спирали электронной пушки. После этого подают высокое напряжение, [c.103]

Микроскоп. Микроскоп (сложный) состоит схематически (фиг. 142-44,а) из одной короткофокусной системы —объектива. [c.210]

Инструментальные и универсальные микроскопы предназначены для абсолютных измерений бесконтактным методом углов и длин различных деталей сложной формы в прямоугольных и полярных координатах, таких, как резьбовой режущий инструмент, червячные фрезы, лекала, кулачки, резьбовые калибры, шаблоны, фасонные резцы и т. д. Отечественной оптико-механической промышленностью по ГОСТ 8074—71 выпускаются микроскопы с микрометрическими измерителями двух типов МЛ И — малый микроскоп инструментальный и [c.129]

Шаг резьбы и половину угла профиля резьбы контролируют в основном на микроскопах или проекторах. Для измерения шага резьбы иногда применяют стационарные или накладные шагомеры (рис. 14.13,6). При измерении резьб гаек одним из основных методов является метод слепка. Во внутренней резьбе примерно на секторе в /3 окружности при помощи легкоплавкого сплава снимают слепок с профиля резьбы и затем на микроскопе измеряют параметры резьбы. Этот метод очень трудоемкий, сложный и недостаточно точный. [c.180]

На рис. 5 и 6 представлены микрофотографии высокомодульных высокопрочных графитовых волокон двух типов. Как следует из полученных результатов, поверхность волокна из вискозы (рис. 5, а) имеет гладкую фибриллярную структуру с бороздками. С помощью оптического микроскопа удалось установить сложную геометрию поперечного сечения волокна (рис. 5,6) с более отчетливо проявляющимися бороздками. Электронные микрофотографии поверхности волокна, полученного из полиакрилонитрила [c.232]

Для получения остаточного давления в рабочей камере установок для тепловой микроскопии 10 —10 мм рт. ст. и ниже, как правило, применяют пароструйные диффузионные насосы. Принцип работы пароструйных насосов основан на использовании откачивающего действия струи пара, находящейся в насосе жидкости. Молекулы газа, попадающие в струю пара со стороны откачивающего патрубка, в результате диффузии увлекаются струей пара и перемещаются в сторону выбрасывающего патрубка, соединенного с форвакуумным насосом. В качестве рабочей жидкости, заливаемой внутрь корпуса пароструйного насоса и нагреваемой до температуры кипения, применяют специальные вакуумные масла, обладающие низким давлением паров (порядка 10 мм рт. ст.), сложные эфиры или ртуть. [c.44]

Кузнецы эпохи Гомера, знавшие о закалке железа, из-за трудностей его обработки изготовляли щиты, копья и мечи из бронзы. Способы упрочнения металлов известны людям с давних пор. Взять хотя бы наклеп, которым пользуются уже 3 тысячи лет. Давно известно, что закалка с высокой температурой нагрева чистых металлов, не имеющих полиморфных превращений, может улучшить их предел текучести. Это объясняется увеличением числа вакантных мест, которые действуют подобно легирующим элементам, создавая локальные искажения решетки. Однако исследования закалки на металлических фольгах под электронным микроскопом показали, что механизм упрочнения намного сложнее. [c.41]

Профили сложных фасонных резцов и фрез проверяют на микроскопе или измеряют отдельные элементы профиля комплексно — на проекторе, сравнивая с вычерченным на кальке профилем в соответствующем увеличении. [c.460]

Универсальный измерительный микроскоп предназначен для производства точных и сложных измерений длин, углов и профилей как в прямоугольных, так и в полярных координатах. [c.596]

Характеристика работ. Контроль и приемка сложных и ответственных деталей и узлов механизмов после механической и слесарной обработки с проверкой точности изготовления по чертежам и ТУ с применением универсального контрольно-измерительного инструмента и приборов (оптиметр, концевые меры, индикаторы, микроскоп и др.). Выборочная проверка качества сложных поковок, отливок и полуфабрикатов, поступающих на механическую и слесарную обработку. Проверка предельного гладкого специального инструмента с жесткими допусками и режущего инструмента сложного профиля (четырехступенчатые развертки, долбяки для рифления, фасонные резцы и др.). Проверка сложного вспомогательного инструмента. Наладка контрольно-измерительных приборов. [c.301]

Для металлографических исследований применяются оптические системы, начиная от простейшей чечевицы — лупы и кончая сложными металлографическими микроскопами. Для макроанализа служат простые и сложные лупы, дающие увеличение до 30 крат. Микроанализ проводится на металлографических микроскопах при увеличениях до 2500 крат (после объектива). Металлографические микроскопы работают на отражённом свете по схеме, показанной на фиг. 15. [c.148]

В более сложных случаях при наличии в стали нескольких легирующих элементов вопрос об отнесении стали к тому или другому классу может быть решён только исследованием стали под микроскопом в отожжённом состоянии. [c.360]

I Микроскоп универсальный УИМ-21 O. OI мм Угловой шкалы I мин. Продольной шкалы—200.л/jf, поперечной шкалы—юо мм У] лы 0—360 градусов Продольное напра-вление 0—2-0 мм поперечное направление 0—100 мм поле зрения б мм. Увеличения зо> 50 15 , i Л в % Измерение а) элементов профиля наружной резьбы б) конусов в) углов г) шаблонов с рисками д) сложных шаблонов с закруглениями е) метчиков с нечётным числом канавок ж) элементов червячных фрез 1. Ножи прямые и резьбовые 1 2. Приспособление. для поверки метчиков 1 с нечётным числом канавок 3 Круглый поворот- ный стол со шкалой 4. Высокие центры 5. Сменные объективы 6. Проекционное устройство 7. Фотокамера 1 Типы Цейсса и СИП [c.656]

Универсальный измерительный микроскоп УИМ-21 (фиг 57) позволяет производить наиболее точные и сложные измерения длин, [c.101]

Измерительные микроскопы (табл. 6) применяют для точных измерений длин и углов различных изделий, имеющих сложный профиль (резьб, шаблонов, кулачков, фасонных режущих инструментов, некоторых злементов червячных и зубчатых передач), а ташке для измерения радиусов, расстояний между осями отверстий и т. п. [c.508]

Проникновение в микромир, познание его законов показали необычайную мощь фундаментальной науки, как основы принципиально новых производств. Открытие материальных носителей электричества — электронов и закономерностей их движения в вакууме, в твердом теле положило начало новой области науки — электронике. Только благодаря успехам электроники удалось создать радиолокацию, радиотехнику сверхвысоких частот, электронно-вычислительные машины, электронную биомедицинскую аппаратуру, электронные микроскопы и многое другое. Открытие возможности управления электрическими свойствами полупроводниковых и диэлектрических кристаллов ряда веществ, глубокие познания законов и механизмов электропроводности, поляризация твердого вещества вызвали новую революцию в радиотехнике, электронике и вычислительной технике. Электронные вакуумные лампы заменяются ничтожными по размерам кристаллами. Компактные полупроводниковые силовые вентили высокой надежности с успехом заменяют сложные установки в энергетических устройствах. Прочно вошли в практику транзисторные радиоприемники. Недавно открытое явление сверхпроводимости второго рода дало возможность приступить к изготовлению мощных электромагнитов. На основе квантовой теории созданы квантовые генераторы света и радиоволн (лазеры и мазеры), открывающие огромные перспективы для различных областей техники. Наиболее значительным достижением абстрактной науки о ядерных реакциях стало производство атомной энергии. [c.31]

Наконец, на фиг. 212, в показано, какой вид имеет под микроскопом сложная структура, встречающаяся почти во всех чугунах (и сталях). Она состоит из очень Ю11ких пластинок цементита, чередующихся с промежутками из чистого мягкого железа (феррита). Такая сложная пластинчатая структура называется перлитом. [c.200]

Работа с электронным микроскопом сложнее, чем с оптическим параметры электрической цепи, определяющие оптику микроскопа, должны выдерживаться строго постоянными, что контролируется электроизмерительными приборами. Обычно исследования с помощью электронного микроскопа проводят следующим образом. В специальную камеру устанавливают объект и затем, проверив герметичность сочленения всех элементов микроскопа, включают вакуумные насосы и по достижении необходимого разрежения включают накал вольфрамовой спирали электронной пушки. После этого подают высокое напряжение, создающее электрическое поле для повышения скорости электронов, затем подмагничиваюш ий ток, питающий электромагнитные линзы, и, постепенно передвигая изучаемый предмет, рассматривают его участки, наиболее интересующие наблюдателя, и, если необходимо, фотографируют. В микроскопах многих конструкций можно изолировать камеру объекта и фотокамеру от остальной части микроскопа и наполнить воздухом только эту часть микроскопа, а затем заменить предмет исследования и фотопластинку. В микроскопах других конструкций заполняется воздухом вся система это менее удобно, так как требуется большая затрата времени на последующую откачку воздуха. [c.78]

Цементит (Ц или F gG) обладает сложной ромбической решеткой. Под микроскопом эта структурная составляющая имеет вид пластинок или зерен различной величины. Цементит тверд (800 НВ) и хрупок, пластичность его близка к нулю. Различают цементит, выделяющийся при первичной кристаллизации из жидкого сплава (первичный цементит или Ц — область DF), и цементит, выделяющийся из твердого раствора у-аустенита (вторичный цементит или Ци—область правее SE). Кроме того, при распаде твердого раствора а (область правее PQ) выделяется третичный цементит или Ци. Все формы цементита имеют одинаковое кристаллическое строение и свойства, но различную величину частиц — пластинок или зерен. Наиболее крупными являются частицы Ц , а наиболее мелкими— частицы Цп - До 217° С (точка Кюри) цементит ферромагнитен, а при более высоких температурах — парамагнитен. [c.60]

Если на место одного из точечных источников излучения (см. рис. 1) поместить предмет, размеры которого настолько малы, что в первом приближении он может считат1>ся точечным, то, очевидно, структура интерференционных поверхностей не изменится, изменится лишь контрастность интерференционной картины. Действительно, точечный объект рассеивает свет равномерно во всех направлениях, так, что е1 о можно рассматривать как вторичный источник сферической волны. Если рассматривать голограмму точечного объекта под микроскопом, то можно обнаружить, что она состоит из множества параллельных полос. При замене точечного объекта предметом более сложной формы. эти полосы претерпевают изменения, которые тем значительнее, чем сложнее форма предмета. [c.16]

Продолжительность экспозиции фотопластинки определяется ее чувствительностью и мощностью лазера. Облучением фотографической пластинки процесс регистрации заканчивается. Записанное на ее поверхности изображение и есть голограмма. Она представляет собой.чрезвычайно сложную картину, состоящую из множества тонких причудливых линий, в которых невозможно усмотреть никакого сходства с реальным предметом. При дневном свете она покажется однородно серой обнаружить хоть малей-щие намеки на изображение, закодированное в ее структуре, не представляется возможным. С первого взгляда голограмму можно принять за обычный, покрытый вуалью фотонегатив. Более пристальное изучение голограммы под микроскопом открывает нашему взору запутанную картину изогнутых темных линий — интерференционных по лос. [c.19]

Для измерения толщины лакокрасочных покрытий на немагнитных металлах и сплавах (алюминий, свинец, медь и др.) приходится прибегать к мето-дал разрушающего контроля, снятию пленок с подложки. В научных лабораториях применяют более сложный и точный оптический метод с помощью двойного микроскопа МИС-11. [c.117]

Наиболее сложным является механизм адгезионного взаимодействия полимерных тел с металлическими. Так, Д, Бакли [17] при исследовании контактного взаимодействия атомарно-чистых поверхностей вольфрама и фторопласта-4 с помощью автоионного микроскопа установил наличие интенсивного адгезионного взаимодействия, при котором молекулы фторопласта-4 на поверхности твердого тела представляют собой кластеры из трех атомов. Считается, что при адгезии фторопласта-4 в контакт с поверхностью металла входят атомы, расположенные на торце молекулы, т.е. происходит образование связи между поверхностью вольфрама и фуппой СРт, сюэтому перенос идет кластерами из трех атомов. Вспомним, что макромолекулы фторопласта-4 представляют собой винтообразные цепи, состоящие из 26 групп СРт, которые могут кристаллизоваться с образованием гексагональной рететки. [c.66]

Свойства зрения. При работе с приборами визуального контроля (микроскопы, проекторы, эндоскопы, телескопы, телевизионные системы и др.) важно правильно использовать свойства зрения оператора. Зрение (виде-иие) является сложным динамическим нелинейным лроцессом, включающим сканирующие, канвергенционные (фо-кусировочные) и адаптационные (измелен не диаметра зрачка) движения глаз и обработку зрительной информации в центральной. нервной системе человека. [c.51]

Настоящее рассмотрение имеет отношение и к нанокристаллам, полученным деформационным компактированием порошков. В процессе компактирования при высоких давлениях в границы зерен материала также вводятся дислокации и дисклинации [219]. Эти дефекты трудно обнаружить методом высокоразрешающей электронной микроскопии вследствие сложного дифракционного контраста, однако вызванные ими искажения решетки могут быть замечены [108, 109]. Мощность дисклинаций, появляющихся в процессе компактирования, оценивается следующим образом. Давление, необходимое. Чтобы закрыть полый клин с углом 0 в месте контакта двух частиц, равно Р = 2G . Следовательно, дискли- [c.112]

Характер разрушения в сплаве Т11,5А11Мп очень сложный, что затрудняет оценку ве. шчииы пластической зоны в вершине трещины. Размер этой зоны можно просто определить на оптическо.л микроскопе, хотя результаты этих измерений не совпадают с расчетами по указанным выше гипотезам. [c.194]

Все реальные тела неоднородны. В одних случаях это очевидно, например, в бетоне отчетливо различимы включения крупного заполнителя и цементный камень, связывающий его куски в некоторых видах горных пород легко обнаруживаются отдельные компоненты — минералы, образующие породу, например, в граните полевой шпат, кварц, слюда. В других случаях для выявления неоднородности приходится прибегать к микроскопу, при помощи которого видна, например, неоднородная кристаллоидная (зернистая) структура стали или других сплавов. Экспериментально доказано неоднородное, дискретное строение материи. Все реальные, в том числе твердые, тела образованы из отдельных частиц — молекул, состоящих из атомов, которые имеют сложную структуру. Атом состоит из ядра и электронной оболочки. В свою очередь структура ядра атома также сложна, и нет предела для дальнейшего познания неоднородности материи. Вместе с тем все перечисленные тела, начиная от стали и кончая бетоном, в некотором смысле и при некоторых условиях, ограничивающих общность, можно рассматривать как однородные. Речь идет об однородности в среднем, обнаруживаемой в том случае, когда объем рассматривае-люго элемента тела намного превосходит объем структурных единиц, его составляющих. [c.21]

Решение одной задачи несколькими методами часто практикуется во многих опубликованных работах авторов, в том числе и в настоящей книге. Целесообразность применения нескольких методов можно пояснить на следующих примерах. В моделях из оптически чувствительного материала иногда создаются весьма значительные перемещения (например, при фиксировании деформаций), которые можно довольно точно измерить очень простыми средствами. На фиг. П.1 показаны картины полос (а) и (б) и изменение формы (б) поперечного сечения объемной модели кольца сложной формы из оптически чувствительного материала. Диаметр модели кольца составляет около 200 мм. Изменения геометрических размеров порядка нескольких десятых миллиметра в плоскости кольца вдоль обозначенных линий и перпендикулярно к поверхности можно точно измерить микрометрами и индикаторами. Относительные деформации порядка 10" можно определить с помощью микроскопа. Относительные изменения толщины порядка 10 , возникающие в срезах, также можно легко измерить стандартным компаратором. Эти измерения дополняют и контролируют результаты, получаемые с помощью поляризационнооптических измерений. Для исследования распределения нестационарных напряжений и деформаций удобно поляризационно-оптический метод сочетать с методом полос муара (фиг. П.2 и П.З). [c.14]

Рентгеновский абсорбционный микроанализ. Для решения ряда практических задач может быть использован метод рентгеновского абсорбционного микроанализа (РАМА). При этом методе, который является составной частью рентгеновской проекционной микроскопии (РПМ), не требуется сложная дорогостоящая аппаратура. Метод РПМ основан на получении увеличенной теневой проекции объекта в расходящемся пучке рентгеновского излучения, испускаемого точечным источником. Разрешение ироекцион-ного метода, лимитируемое размерами источника (величиной полутени) и френелевской дифракцией, достигает [c.498]

Информация о влиянии увеличения исходной плотности дислокаций (холодной деформации) на длительность инкубационного периода в сталях и чистых металлах неоднозначна [58, 99, 114]. Холодная деформация на 10—20% увеличивает дозу до порообразования в сталях 304, 316, 1. 4970 1. 4981 [59, 991 в меди же с предварительной деформацией на 5% доза до порообразования снижается от 1,4 до 0,6 с/а в случае облучения в высоковольтном микроскопе при 250° С [114]. Это, вероятно, обусловлено различием исходной плотности дислокаций в чистых металлах и сложных спласах. [c.146]

На оплавившихся зернах основного металла, так же как и в ванне жидкого металла перлитной стали, в процессе затвердевания разрастаются дендриты. На одном зерне основного металла вырастает несколько дендритов с параллельными осями первого порядка. Переплетаясь, они образуют как бы один кристаллит. Сложное строение этого кристаллита можно обнаружить при помощи электронного микроскопа. Оси первого порядка растут очень быстро вследствие интенсивного отвода тепла. Оси второго порядка не успевают развиться, так как дендриты взаимно мешают росту. Чем крупнее зерна основного металла, тем крупнее дендриты в металле шва. В металле шва наблюдается микроскопическая межзеренная и внутризеренная ликвация. Чем больше скорость охлаж- [c.179]

Среди сложных П. п. с визуальной регистрацией наиб, взвестен поля риза ц и о в н ы й микроскоп, широко применяемый для определения величины и характера анизотропии крпсталлич. сред и жидких кристаллов. Для изучения механич. напряжений в конструкциях используется полярпзац.-оптич. метод исследования напряжений. [c.61]

Dz — Du, Dy = Dx = Dl ). В случае более сложной симметрии вклад в (1) могут давать более высокие степени спиновых (дипольных) операторов, а также кввд-рупольные и др. тензорные операторы, что особенно важно для больших значений S в высокой симметрии внутрикристаллич. поля. Микроскопия , расчёт g g и Я сложен, и они обычно задаются в С. г. феноменологически. [c.642]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...