Метод просвечивающей растровой электронной микроскопии

Устойчивое формирование усталостных бороздок по всему фронту трещины происходит после достижения шага около 45 нм (4,5-10 м или 0,045 мкм), что характерно для алюминиевых сплавов. В сталях могут быть обнаружены бороздки с шагом около 30 нм, в титановых сплавах устойчивое формирование бороздок имеет место после достижения их шага около 25 нм. Все указанные величины обнаружены с помощью методов высокоразрешающей просвечивающей и растровой электронной микроскопии. Они соответствуют нижней границе размеров мезоскопического масштабного уровня применительно к размерам субструктурных элементов и характеризуют определенный процесс нарушения сплошности материала в цикле приложения нагрузки и с этой точки зрения характеризуются определенным профилем или геометрией усталостной бороздки. Поскольку формирование усталостных бороздок происходит под действием двух полуциклов нагружения-растяжения (восходящая ветвь нагрузки) и снижения нагрузки, то форма профиля усталостной бороздки в значительной степени зависит от того, какой процесс доминирует в каждом из полуциклов [123, 132-134]. [c.164]

Эффективными методами анализа структуры аморфных сплавов являются просвечивающая и растровая электронная микроскопия, хотя отсутствие кристаллического строения затрудняет использование богатого арсенала этих методов. Тем не менее име- [c.163]

С целью изучения влияния природы волокнистого наполнителя на структуру полиэфирного армированного пластика в нашей работе был применен метод электронной микроскопии с использованием растрового электронного микроскопа (РЭМ), который позволяет получать почти трехмерное изображение исследуемой поверхности и исключает трудоемкий метод приготовления реплик с поверхности цри использовании электронного микроскопа просвечивающего типа. [c.100]

Развитие аналитических методов в электронной микроскопии. Современный электронный микроскоп все более становится аналитическим прибором благодаря разработке и применению различных приставок и прежде всего приставок для локального химического анализа. Наиболее распространена приставка для анализа характеристического спектра рентгеновских лучей, возникающих при взаимодействии быстрых электронов с исследуемым образцом. Трудности количественного определения содержания того или иного элемента связаны с необходимостью эталонирования экспериментальных спектров (для эталонирования необходимо точно знать толщину фольги, объемную долю исследуемой фазы и т. д.). В приборах новейших конструкций локальность определения химического состава, ограниченная размерами падающего на образец электронного пучка, достигает десятков ангстремов. Поэтому весьма перспективны растровые (сканирующие) электронные микроскопы просвечивающего типа, снабженные такой приставкой наличие интенсивного электронного зонда малого [c.61]

Принципиально возможны два способа сте-реоЛогической реконструкции — непосредственная и статистическая. Непосредственная реконструкция методом последовательных сечений — построение пространственной. модели структуры на основании изображений ее на последовательных по глубине сечениях — шлифах в металлографическом световом микроскопе (СМ), эмиссионном (ЭМ) или растровом (РЭМ) электронном микроскопе или на репликах в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ). Последовательные сечения с минимальным шагом получают строго параллельным последовательным механическим или электролитическим полированием образца. Некоторые характеристики пространственной структуры определяют непосредственно на модели, другие — на представляющем ее графе. Непосредственную реконструкцию. методом стереопар проводят в основном для поверхностей разрушения в РЭМ или ПЭМ и частиц, порошковой пробы в РЭМ, На изображениях одного и того же участка структуры, полученных с одинаковым увеличением при двух, различных углах наклона объекта относительно пучка электронов, измеряют горизонтальный параллакс (разность координат идентичных точек на двух изображениях) и на его-основе рассчитывают соответствующие высоты. [c.73]

Непосредственное изучение таких поверхностей возможно лишь в отражательном, эмиссионном или растровом микроскопах, наблюдение объектов в которых может быть отнесено также к прямым методам исследования. Однако наибольшее распространение имеют электронные микроскопы просвечивающего типа, обладающие наибольшим разрешением из всех перечисленных типов, и потому для изучения структур поверхностей непрозрачных тел были разработаны и успешно применяются косвенные методы. [c.41]

Широкое распространение для количественной оценки топографии нашли методы, основанные на обработке стереопар, полученных как на просвечивающем (ПЭМ), так и на растровом электронном (РЭМ) микроскопах. Сущность метода заключается в определении высот неровностей по параллаксу одноименных точек на изображениях, наблюдаемых в разных ракурсах. Высоту неровности можно определить из выражения [c.176]

Оптическая металлография позволяет на ранних стадиях оценить строение металла и определить его структурные составляющие, их качество, морфологию и распределение частиц, дефектность строения и природу ее появления, химическую неоднородность, размеры и ориентацию зерен и т.д., а также выявить участки для дальнейшего более глубокого исследования с привлечением тонких методов, в том числе просвечивающей электронной микроскопии (растровые, эмиссионные, отражательные), стереологии (количественная металлография, рентгеноструктурный анализ, рентгеноспектральный анализ и т.д.). Электронные микроскопы используются для решения метал- [c.484]

Фрактография как наука о формировании определенного рельефа поверхности при росте трещины начиналась с представлений о контаетном взаимодействии берегов трещины, определяющем вид поверхности излома. Предложена модель формирования сигналов акустической эмиссии [188], согласно которой основная роль отводится процессам трения берегов трещины у ее вершины в полуцикле разгрузки- образца. Однако развитие методов электронной просвечивающей и особенно растровой электронной микроскопии показало [189], что формирование микрорельефа излома [c.171]

В работах [277—278 и др.] было проведено систематическое исследование закономерности появления различных величин шага усталостных бороздок на образцах и деталях из алюминиевых сплавов, разрушенных при различных условиях нагружения. С целью сопоставления результатов измерений шага бороздок использовали метод реплик при анализе изломов на просвечивающем электронном микроскопе с предельным разрешением Ю"" м, растровом электронном микроскопе КВИК-ЮО с разрешением 9 10 м и микроскопе S-800 с разрешением 2 10 м. Помимо этого анализировали результаты измерений шага усталостных бороздок на растровом электронном микроскопе ISM-35 с гарантированным разрешением 5 10 м, относящиеся к исследованию закономерности формирования рельефа излома при отрицательной асимметрии цикла нагружения. [c.217]

Возможность одновременного исследования структуры и элементного состава поверхности представляет особый интерес при изучении адсорбции, ее влияния на структуру поверхности взаимодействующих материалов при трении в активных смазочных средах. Для одновременного исследования структуры, состава и топографии роверхности комбинируют различные методы, а соответствующие приборы снабжают специальными пристав- ками. Широкое распространение получили просвечивающие и растровые электронные микроскопы с дифракционными приставками, растровый электронный микроскоп со спектрометром (рентгеновским микроанализатором) и др. [c.87]

Полную информацию о КМ можно получить, применяя для исследования образцов толщиной в несколько микрометров, кроме метода ПЭМ также метод просвечивающей растровой или сканирующей электронной микроскопии (ПРЭМ). Образцы при этих испытаниях готовят механическим утонением (расщепление, срез), ионным травлением, химическим или электрохимическим полированием или нанесением тонких слоев. Для приготовления тонких срезов любых материалов рекомендовано использовать алмазный резец. Указанные способы полирования из-за гетерогенности фаз КМ позволяют в первую очередь выявить фазы, но при этом, однако, во многих случаях не достигается равномерное утонение слоя материала. [c.71]

Приведены новейшие данные по оптической, световой, электронной, просвечивающей, растровой, дифракционной, фотоэмиссиоиной и автоионной микроскопии. Описан метод дифрактометрии в медленных электронах и при использовании электронов с высокими энергиями. Рассмотрен микроанализ с помощью электронного зонда, Оже-спектроскопии и др. Изложены сведения о сварных соединениях. С позиций металлографии классифицированы различные способы сварки, исследованы основные изменения структуры прн сварке с растрескиванием в твердом состоянии, прослежено влияние температурного поля на структурные изменения при различных способах сварки. [c.28]

Для получения всесторонней информации о природе процессов, протекающих в электроосажденных /.еталлах и сплавах при отжиге, привлечен комплекс методов исследования, включающий классические (металлографические, рентгеновские и механические), локальные (электронная просвечивающая и растровая микроскопия, оже- и фотоэлектронная спектроскопия) и сверхтонкие (ядерный гамма-резонанс и электронно-позитронная аннигиляция) методы, которые были адаптированы к электролитическим покрытиям [2-4]. [c.5]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...