Микроскопы двойные интерференционные

К количественным относятся 1) профилометр 2) профилограф 3) двойной микроскоп 4) интерференционный микроскоп, — эти приборы определяют неровности в сечении 5) пневматический прибор—для оценки микронеровностей участка поверхности интегральным методом. [c.715]

A. Количественные, определяющие неровности в сечении 1) профилометр 2) профилограф 3) двойной микроскоп 4) интерференционный микроскоп. [c.515]

С помощью косого освещения и интерференционного микроскопа исследованы двойные границы зерен различных сталей, которые появляются в шлифе преимущественно у чистых ферритных сталей [45]. Двойные границы обусловлены выявлением при травлении наклонных плоскостей различных форм. Теоретические разработки Энгеля [9] об образовании границ зерен в зависимости от ориентации соседних зерен позволяют объяснить природу наклонных плоскостей. [c.33]

Двойной микроскоп МИС-11 и интерференционный микроскоп МИИ-1 широко применяются для измерения технических образцов. Исследованиями этих приборов занимались П. Е. Дьяченко,. [c.238]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

При исследовании анизотропных препаратов к обычной схеме микроскопа добавляют перед конденсором— поляризатор, а после объектива — анализатор, находящиеся в скрещенном либо параллельном положении друг относительно друга. Объект может поворачиваться вокруг оси микроскопа. При скрещенных поляризаторе и анализаторе в темном поле зрения микроскопа видны темные, светлые или окрашенные двоякопреломляющие элементы объекта. Вид этих элементов зависит от положения объекта относительно плоскости поляризации и от величины двойного лучепреломления. Более точное определение оптических данных объекта делается с помощью различных компенсаторов (неподвижных кристаллических пластинок, подвижных клиньев и пластинок и др.). Все измерения при наблюдении в поле непосредственно объекта производятся при очень малой апертуре конденсора. Такое наблюдение называется ортоскопическим. При исследованиях с помощью микроскопа в поляризованном свете проводят также и коноскопическое наблюдение, т. е. наблюдение специфических интерференционных фигур в выходном зрачке объектива, для чего в схему микроскопа вводят дополнительную линзу, проектирующую изображение выходного зрачка в поле зрения окуляра. Эта линза носит название линзы Бертрана. [c.16]

Из вышеуказанных бесконтактных приборов двойной микроскоп Линника МИС-11 предназначен для измерения чистоты обработанных поверхностей с 3-го по 9-й класс интерференционные микроскопы МИИ-1, МИИ-4, МИИ-5— для поверхностей с 10-го по 14-й класс. [c.214]

Для измерения чистоты поверхности в настоящее время промышленностью выпускается ряд специальных приборов двойные микроскопы акад. Линника МИС-11, профилографы Левина ИЗП-17М, ИС-18, ИЗП-5, интерференционные микроскопы МИИ-1. [c.397]

Измерение шероховатости поверхности бесконтактным способом производят с помощью оптических приборов акад. В. П. Линника. Одним из основных приборов для количественного определения шероховатости поверхности является двойной микроскоп МИС-11. Он предназначен для измерения шероховатости в пределах 3—9-го классов чистоты по ГОСТу 2789—59. Для оценки шероховатости 10—14-го классов чистоты используют интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-4. [c.81]

Контроль шероховатости с помощью оптических приборов более трудоемок, однако погрешности измерения, возникающие от упругости измерительной среды, при этом сведены к нулю. Двойной микроскоп Линника МИС-11 применяется для измерения параметра Яг В интервале 80—1,6 мкм. Интерференционный микроскоп МИИ-4 контролирует шероховатость поверхностей по параметру Яг В пределах 0,8—0,025 мкм. [c.88]

Для отражения на светочувствительной или специальной диаграммной бумаге микропрофиля поверхности в увеличенном масштабе применяются профилографы. Заводом Калибр выпускается профилограф-профилометр Калибр-ВЭИ , позволяющий оценивать шероховатость 6—14-го классов. Прибор снабжен устройством для записи профилограмм и позволяет определять высоту микронеровностей по Яа, как и в профилометре КВ-7М. Колебания алмазной иглы прибора преобразуются индуктивным методом в изменения напряжения электрического тока. К оптическим приборам для измерения шероховатости поверхности 3—9-го классов в лабораторных условиях относится двойной микроскоп МИС-11 конструкции акад. В. П. Линника. Для оценки шероховатости 10—14-го классов применяются интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-5 и др. Действие приборов основано на интерференции света. Для определения высоты микронеровностей в труднодоступных местах применяют метод слепков, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность наносят пластические материалы (пластмассу, желатин, воск и др.) и по полученному отпечатку судят о степени шероховатости поверхности. Шероховатость поверхности и точность зависят от способов механической обработки, а при одном и том же способе — от режимов обработки (скорость резания и подачи), свойств и структуры обрабатываемого материала, вибрации инструмента и детали в процессе обработки, жесткости системы СПИД и др. Помимо шеро- [c.41]

В поле зрения окуляра 17 наблюдаются две линии, представляющие изображение щели, одна из которых искривлена в соответствии с неровностью контролируемой поверхности. При этом прибор работает в режиме двойного микроскопа. Включив цилиндрическую линзу 16, его можно использовать как интерферометр. При этом в окуляр видны интерференционные полосы, параллельные изображениям щели. О величине неровностей судят по степени изгиба этих полос. [c.498]

Опыт. Когерентность, зеркало Ллойда, двойная щель, обеспечивающая когерентность . Глядя на небо или на матовую лампу через обычную двойную щель, помещенную перед глазом, вы не увидите интерференционных полос. Почему Мы хотим создать двойную щель, которая позволяла бы наблюдать интерференционную картину даже с такими источниками света. Начнем с обычной одиночной щели, способ изготовления которой описан в опыте 9.17. Теперь возьмем второе предметное стекло микроскопа и прислоним его к ребру первого стекла (со щелью) так, чтобы зеркальное изображение щели во втором стекле было параллельно первой щели. Соедините второе стекло с первым комком пластилина или какой-нибудь невысыхающей замазки так, чтобы можно было регулировать относительное положение стекол. Добейтесь такого их положения, чтобы расстояние между щелью и ее изображением было как можно меньше, скажем 0,5 мм. Сделайте это, когда все устройство находится на расстоянии 30 см от глаз, чтобы вы могли сфокусировать глаза на двойной щели, когда вы держите ее около яркого источника. Получив таким образом хорошую двойную щель, поместите ее перед глазом и сфокусируйте глаз на большое расстояние (т. е. на источник света). Заметьте три или четыре черные полосы , параллельные двойной когерентной щели . Это места деструктивной интерференции (нулевая интенсивность) между пучком света от реальной щели и пучком от ее изображения. Изображение щели всегда полностью когерентно реальной щели. (Почему ) Благодаря изменению фазы при отражении потоки от щели и от ее изображения сдвинуты по фазе на 180. [c.467]

К числу бесконтактных приборов, применяемых для определения параметров шероховатости, относятся двойные и интерференционные микроскопы. Сущность работы двойного микроскопа (рис. 22, а) заключается ь следующем пучок лучей от источника света / под углом 45° направляется через узкую щель 2 объектив 3 осветительного микроскопа на контролируемую поверхность 4 в виде тонкой полоски. Так как поверхность шероховатая, полоска будет искривляться по форме неровностей поверхности и, отражаясь под тем же углом объективом 5 визирного микроскопа, будет проектироваться на сетку [c.48]

Контроль шероховатости поверхности. Для количественной оценки шероховатости применяют ш уповые приборы (профилометры, профилографы) и оптические приборы (двойной микроскоп и интерференционный микроскоп), а для качественной — образцы шероховатости и сравнительный микроскоп. [c.514]

При фотографировании на микроинтерферометре или двойном микроскопе используют высокочувствительную пленку и нужную длину профиля получают, снимая соседние участки поверхности образца, перемещаемого микрометром предметного стола. На двойном микроскопе для определения масштаба предварительно фотографируют щкалу объект-микрометра. Полученные фотографии интерференционной картины или светового сечения устанавливают на проекторе с увеличением 10 или 20 и вычерчивают профилограмму на миллиметровой кальке. Для определения масштаба профилограммы, полученной на микроинтерферометре, на одном из участков вычерчивают контур двух соседних полос. Вычерченные профилограммы обрабатывают теми же способами, что и профилограммы, записанные на щуповом профилографе. [c.162]

При количественном методе оценки высоту неровностей определяют непосредственно в RaH гприпомощи приборов. Для количественной оценки наиболее широко применяются щуповые и оптические приборы профило-метр КВ-7, двойной микроскоп МИС-11, интерференционный микроскоп МИСС-1 и профилограф ИЗП-17. [c.141]

К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. Интерференционные микроскопы, будучи точными средствами измерения, получили распространение при лабораторных исследованиях весьма чистых поверхностей, в то время как в производственных условиях предпочтение отдавалось щуповым приборам. Решающее значение имел в этом отношении профилометр, разработанный в 1933 г. американскими учеными Абботом, Файрстоном, Байским и Вильямсоном. Основной целью, которую ставили перед собой 6 [c.6]

Отсечка шага , как упоминалось выше, составляет для профилометров примененных типов приблизительно 0,3 мм с мотоприводом и 0,75—0,8 мм при перемещении датчика с соответствующей скоростью от руки. Шаг наибольших неровностей для оптических приборов прежде всего определяется величиной линейного поля зрения. Он также может несколько измениться в зависимости от методики последующей обработки профилограмм. Наконец следует иметь в виду, что расхождение в данных, получаемых с помощью профилометров и оптических приборов, может увеличиваться в силу систематических погрешностей, присущих некоторым двойным и интерференционным микроскопам и приводящих к завышенной оценке шероховатости исследуемых поверхностей. [c.116]

Компенсатор КПК выполнен по типу компенсатора Берека и его пластинка изготовлена из пластинки исландского шпата, вырезанной перпендикулярно оптической оси. Если пластинка установлена так, что ее оптическая ось параллельна оси микроскопа, то двойное лучепреломление равно нулю, и в поле зрения микроскопа при скрещенных поляризаторе и анализаторе виден черный крест. По мере поворота пластинка будет вносить все большую разность хода и давать больший порядок интерференционной окраски. При максимальном угле поворота на 30° пластинка вносит разность хода до 2100 ммк, т. е. до четвертого порядка интерференции. Точность отсчета угла поворота пластинки равна б. [c.203]

Из всей совокупности погрешностей поверхности наиболее важной для обрабатываемости металлов и сплавов методом ЭХО является щероховатость. При анализе состояния шероховатости после ЭХО необходимо исходить из деления шероховатости на наследственную, являющуюся результатом сглаживания ранее полученного микрорельефа, и стабильную, обусловленную только режимом ЭХО и свойствами обрабатываемого материала. Для шероховатости после ЭХО (стабильной) характерно отсутствие направленности следов обработки. Нерегулярный характер интерференционной картины после ЭХО и отсутствие направленности следов обработки не позволяют пользоваться микроинтерферометром и двойным микроскопом МИС-11. Измерение шероховатости после ЭХО производят щуповыми приборами, в частности профилометром-профилографом модели 201. [c.39]

Для оценки исходной шероховатости поверхности катода и поверхности электролитических осадков применяют профилографы, про-филометры, интерференционные и двойные микроскопы. Распределение осадка изучают также с помощью микроскопического исследования поперечных шлифов образцов, на которые нанесены покрытия. Обзор основных экспериментальных методов приведен в работе [46]. [c.85]

При макроскопическом электрофорезе методом подвижной границы разделяющую среду стабилизируют, повышая ее вязкость с помощью сахарозы, желатины или крахмала. Часто в конструкцию электрофоретических камер вводят охладительные змеевики и водяные рубашки . При микроэлектрофорезе методом массопереноса и препаративных разновидностях свободного электрофореза наряду с платиной — универсальным электродным материалом для изготовления анодов — используют цинк, свинец, серебро, молибден, титан, покрытый двуокисью марганца, для изготовления катодов — цинк, титан, железо, никель. Конструктивно разнообразные электрофоретические ячейки отличаются прецизионным исполнением в основном лишь в тех случаях, когда они входят в качестве составного узла в измерительный преобразователь более сложного типа, использующий двойной эффект электрохимический и оптический. Это имеет место при реализации метода подвижной границы (У-образные стеклянные ячейки в сочетании с оптическими теневыми, масштабными или интерференционными измерительными системами) и методов микроэлектрофореза (замкнутые ячейки круглого и прямоугольного сечения, двухтрубные ячейки, открытые ячейки цилиндрические и прямоугольного сечения в сочетании с микроскопом). Устройство микроэлектрофоретических ячеек основных типов схематически представлено на рис. 25, б—г. [c.231]

Для количественной оценки шероховатости применяют щупо-вые профилометры и профилографы, оптические приборы, например двойной и интерференционный микроскопы, а также пневматические приборы. [c.170]

Бесконтактные, оценивающие мнкронеровности исследуемой поверхности без соприкосновения с ней. К этой группе относится большинство оптических приборов (интерференционный и двойной микроскопы академика В. П. Линника, микроскопы сравнения и др.). Большинство из указанных приборов применяют в лабораторных условиях и при проведении экспериментальных работ. В производственных условиях, где необходимо быстро определить класс чистоты обработанной поверхности, применяют микроскопы сравнения и наборы эталонов чистоты. С помощью микроскопов сравнения партии деталей контролируют сравнением каждой из них с образцом-эталоном. В поле зрения микроскопа наблюдатель видит увеличенное изображение контролируемой поверхности рядом с увеличенным изображением поверхности эталона (в микроскопе МС-49 увеличение х50). [c.193]

Для более точной оценки шероховатости поверхностей применяют микроскопы сравнения, а для определения величины шероховатости в микро.метрах — различные микроскопы (интерференционный, двойной) и контактные щуповые приборы. [c.137]

Шероховатость поверхностей оценивают при контроле и приемке деталей, а также при исследованиях в лабораторных условиях. Применяемые методы оценки можно разделить на прямые и косвенные. Для прямой оценки шероховатости применяют щуповые (профило-метры и профилографы) и оптические (двойной и интерференционный микроскопы) приборы. Для косвенной оценки используют эталоны шероховатости и интегральные методы. [c.131]

Приборы светового сечения (ПСС) называют двойными микроскопами (МИС-11 системы В.П. Линника). Они позволяют измерять шероховатость поверхности до 2 0,8 мкм.Для измерения более чистых поверхностей с Л2 0,8...0,03 мкм применяют микроинтерферометры (МПИ-4 МИИ-5 МИИ-10 МИИ-12), работающие на принципе интерференции света. Поверхность образца (детали) рассматривается в микроскоп и при этом на ее изображение накладываются интерференционные полосы, по искривленшо которых судят о распределении неровностей. Если бы контролируемая поверхность была идеально плоской, то на ней возникли бы прямые параллельные интерференционные полосы. Микронеровности на поверхности изменяют ход лучей и вызыва- [c.46]

Опыт. Зажим для бумаг и зеркало Ллойда. (См. опыт 9.21.) Зажим для бумаг, освещенный лампой, является узким линейным источником света. Поместите параллельно щели предметное стекло микроскопа, используя его как зеркало (см. опыт. 9.21). Получив хорошую когерентную двойную щель с расстоянием между щелями 0,5 мм, поднесите ее к глазу и постарайтесь рассмотреть темные интерференционные полосы, о которых говорилось в опыте 9.21. Эгот опыт требует больших усилий, чем опыт 9.21. Падение света на зеркало должно быть возможно более скользящим, а источник света не должен ослеплять. [c.467]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...