Линника микроинтерферометры микроскопы двойные

Широкое применение имеют приборы акад. Линника, измеряющие Ятах (двойной микроскоп И микроинтерферометр). Двойной микроскоп сконструирован по принципу так называемого светового сечения. Сущность сечения светом заключается в следующем. Пучок лучей направляется под некоторым углом на исследуемую поверхность через узкую щель и объектив в виде световой полоски. [c.429]

Технические данные микроинтерферометров и двойных микроскопов Линника и профилографов Левина см.том 11, гл. VII], табл. 27, стр. 250. [c.54]

Из оптических приборов большее применение нашли двойной микроскоп и микроинтерферометр академика В. П. Линника. [c.90]

Метод позволяет оценивать качество поверхности зубьев зубчатых колес без разборки узла и определять качество поверхности с помощью стандартных оптических приборов (микроинтерферометр, двойной микроскоп Линника и др.). [c.224]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Основными приборами для оценки микрогеометрии по нашему стандарту являются профилометр, двойной микроскоп и микроинтерферометр Линника. [c.428]

Аппаратура для оценки чистоты поверхности Микроинтерферометр Линника Двойной микроскоп Линника [c.1204]

Величина неровностей при обработке на жестких и средних режимах определяется с помощью двойного микроскопа Линника. Для определения шероховатости поверхности, обработанной на мягких режимах, пригодны различные профилометры, а для очень чистых поверхностей — микроинтерферометр. Измерять профилометром шероховатость поверхности, обработанной на жестких и средних режимах, не следует, так как это приводит к выкрашиванию алмазного наконечника прибора. [c.49]

Двойной микроскоп Линника. Приборы акад. Линника, измеряющие Wmax (двойной микроскоп и микроинтерферометр), нашли достаточное применение. [c.24]

Тонкпй слой серебра весьма четко проявляет структуру лежащей под ним поверхности глазури очень наглядно выступают все дефекты поверхности мпкротрещины, посторонние включения, шероховатости, следы разрядов (для высоковольтных фарфоровых изоляторов) и пр. Структура посеребренной поверхности глазури изучается так же, как и структура металлических поверхностей, с помощью двойного микроскопа Линника, поляризационного микроскопа, микроинтерферометра Линника, а также путем измерения коэффициентов отражения на различных рефлексометрах. [c.159]

Метод профилографирования заключается в оценке износа по профилограммам, снятым на определенном участке до и после изнашивания. Его рекомендуется использовать при стандартных испытаниях покрытий на изнашивание при фреттинг-коррозии [167]. Находят расстояние между средними линиями профиля и на основании полученных данных вычисляют интенсивность изнашивания с погрешностью не более 1-10 . Применяются профилограф-профило-метр модели 253 или оптические приборы двойной микроскоп, микроинтерферометр Линника и т. д. Износ методом профилографирования определяется обычно на образцах и деталях несложной формы с достаточно хорошо обработанной поверхностью. [c.98]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Серийно изготовляемые промышленностью приборы (профило-метры модели 240, профилографы-пррфилометры модели 201 завода Калибр , микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-5, МИИ-9, МИИ-10, двойные микроскопы акад. Линника В. П. — МИС-11) позволяют непосредственно измерять шероховатость поверхности или производить ее запись (профилограммы). Подробное описание их дано в специальных работах [11, 19, 32]. [c.47]

Для дополнения картины изменений на поверхности трения следует знать вид и величину микронеровностен этой поверхности. Для этой цели можно использовать специальные приборы, например, двойной микроскоп Линника МИС-11 и микроинтерферометр МИИ-4 или МИИ-5. [c.55]

Профилометр типа Аббота не применяется для оценки грубых поверхностей (расстояние между неровностями более 0,3 мм об) из-за ог-раничениостичастотной характеристики усилителя. Двойной микроскоп Линника непригоден для оценки шлифованных и доведённых поверхностей, так как может измерять высоту неровностей не менее 1—2 Микроинтерферометр Линника способен оценивать лишь тонко обработанные поверхности от 8-го до 14-го класса (см. табл. 17). [c.23]

В настоящее время наряду с щуповыми приборами имеются утвержденные типы оптических приборов (двойной микроскоп Линника МИС-11, микроинтерферометры Линника МИИ-1, МИИ-4 и т. д.), и поэтому вопрос об обеспечении единства измерений шероховатости является весьма актуальным. [c.133]

Для измерения высоты микронеровностей и отнесения обработанной поверхности к тому или иному классу чистоты применяются специальные приборы двойной, микроскоп Линника, микропрофилометры, микроинтерферометры и др.), а также эталоны шероховатости (для оценки поверхности методом сравнения). Измерение шероховатости поверхности должно производиться в направле- [c.71]

Для более точной оценки шероховатости поверхности используют другие приборы. Наиболее распространенными из них являются двойной микроскоп Линника МИС-11, микроинтерферометр МИИ-4, профилограф-про-филометр завода Калибр модели 201, 240, 202. [c.29]

Наиболее распространено определение микрогеометрии или профиля поверхности с помощью различных профилометров, которые разделяются на оптические — микроинтерферометры, двойной микроскоп Линника [9, 12] — и на механические или оптико-механические с ощупывающей иглой. Недостаток оптических приборов заключается в малом поле зрения, что снижает надежность измерений и требует многократных определений микрогеометрии в различных точках [13]. Как показал В. С. Лапатухин [14], определение микрорельефа фосфатных пленок при помощи двойного микроскопа Линника, дало менее точные результаты, чем при использовании оптико-механических профилографов. [c.32]

Наиболее распространенными и имеющими практическое значение методами оценки чистоты, т. е. микрогеометрии поверхности являются а) оптические методы измерения профиля поверхности на двойном микроскопе, микроинтерферометре и микропрофилометре акад. В. П. Линника б) методы ощупывания профиля поверхности иглой с записью профилограммы на профилографах Б. М. Левина, К. Л. Аммона и др. , в) метод ощупывания профиля поверхности иглой с непосредственным получением числовой величины, характеризующей микропрофиль в Нек, на профилометрах В. М. Киселева и др. г) метод сравнения поверхности контролируемой детали с образцами чистоты поверхности д) метод исследования естественных профилограмм е) метод слепков. [c.137]

В качестве примеров на фиг. 75—79 приведены некоторые профилограммы, снятые на профилографе Левина, световые профилограммы, снятые на двойном микроскопе Линника и интерферограмма, полученная на микроинтерферометре Линникa. [c.139]

Приборы светового сечения (ПСС) называют двойными микроскопами (МИС-11 системы В.П. Линника). Они позволяют измерять шероховатость поверхности до 2 0,8 мкм.Для измерения более чистых поверхностей с Л2 0,8...0,03 мкм применяют микроинтерферометры (МПИ-4 МИИ-5 МИИ-10 МИИ-12), работающие на принципе интерференции света. Поверхность образца (детали) рассматривается в микроскоп и при этом на ее изображение накладываются интерференционные полосы, по искривленшо которых судят о распределении неровностей. Если бы контролируемая поверхность была идеально плоской, то на ней возникли бы прямые параллельные интерференционные полосы. Микронеровности на поверхности изменяют ход лучей и вызыва- [c.46]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...