Микроскоп телевизионный

Представляют собой комбинацию металлографического микроскопа, телевизионного устройства и малогабаритного компьютера. Принцип действия такого автоматического анализатора строения образца основан на сканировании изображения структуры на экране монитора телевизионными строками развертки, а также подсчете и анализе числа электрических импульсов, произведенных частицами, находящимися в поле видимости [122—126]. [c.283]

Удалось сконструировать так называемый телевизионный лазерный микроскоп, позволяющий достичь увеличения в 3000 раз, [c.389]

К приборам этого класса относятся проекторы различного типа, в том числе телевизионные, обычные и стереоскопические микроскопы, эндоскопы. [c.80]

Количественные телевизионные микроскопы, позволяющие выполнять 282 комплекс разнообразных измерений, включая автоматический счет частиц, [c.282]

На рис. 180 представлена принципиальная схема автоматических анализаторов изображения. Видимое в микроскопе изображение поверхности образца попадает на мишень так называемого видикона передающей телевизионной камеры, где преобразуется в ряд электрических импульсов. Далее сигнал попадает в блок дискриминатора, где происходит выборочный анализ объемов, находящихся в поле зрения микроскопа. Обработанный таким - -г-- ь- [c.283]

Применение количественных телевизионных микроскопов существенно облегчает исследование и расширяет возможности изучения деформационного рельефа. Использованная методика позволяет быстро произвести оценку деформационного рельефа поверхности образца и выбрать наиболее характер-284 ные участки для дальнейшего их фотографирования и детального анализа. [c.284]

Все преимущества описанной методики анализа параметров деформационной структуры наиболее эффективно могут быть реализованы в случае, если телевизионная камера автоматических анализаторов изображения будет соединена с металлографическим микроскопом, которым снабжена установка для тепловой микроскопии. При этом, например, определение основных параметров развивающейся трещины может производиться в процессе испытания автоматически и кроме того, представляется возможность наблюдения за процессом на экране монитора, что значительно облегчает металлографический анализ поверхности. [c.287]

Применение количественных телевизионных микроскопов позволяет быстро и качественно производить эти измерения. Перемещая рамку сканирования по экрану и устанавливая ее против двух отпечатков, как это показано на рис. 187, можно определить фактическое расстояние между отпечатками. [c.287]

Учитывая быстродействие количественного телевизионного микроскопа при измерении диагоналей отпечатков индентора, повышенную точность измерений и сходимость результатов при повторных измерениях, можно сделать вывод о неоспоримых преимуществах метода автоматизированной оценки диагонали отпечатков индентора [76]. [c.289]

Сочетание разработанного нами анализатора изображения (рис. 189) с металлографическим микроскопом типа МВТ, которым снабжены установки типа ИМАШ, позволяет получить ряд преимуществ. Сканирование деформационной картины электронным лучом развертки телевизионной системы обеспечивает возможность подсчета числа электрических импуль- [c.289]

Устройства второго типа, сканирующие структуру или изображение (например, микрофотографию), представляют собой комбинацию оптического микроскопа обычного типа и передающей трубки (телевизионной камеры), которая сканирует изображение структуры, проецируемой на фотокатод передающей трубки. [c.490]

Тела ферромагнитные — Свойства 453 Телевизионные микроскопы — Технические характеристики 345 Телевизионные пентоды — см. Пентоды телевизионные Телеобъективы 335 [c.731]

Приборы для обработки пленки. 10 Компараторы. 20 Микроскопы. 30 Перископы. 50 Дальномеры. 60 Секстанты. 70 Телескопы. 80 Телевизионные камеры [c.95]

ЗОНДЫ для измерения размеров и распределения капель, для выборочного контроля дисперсности, а в сочетании с современной техникой счета частиц используемые телевизионные микроскопы позволяют автоматизировать расчеты. На рис. 2.17,6 приведена конструктивная схема зонда, в котором реализован метод улавливания капель в тонком слое силиконового масла. В цилиндрическом корпусе зонда на скользящей посадке установлена гильза в гильзе размещена штанга, на конце которой эксцентрично расположена улавливающая пластинка размером 2x3 мм (или диаметром 2,5 мм). Гильза может поворачиваться на 90°, открывая или закрывая приемные отверстия. Вентиляция зонда в нерабочем состоянии производится через отверстия 9 и W. Пластинка 4 ориентируется по нормали к приемному отверстию с помощью штифтов. Штанга позволяет быстро вынуть взятую пробу капель. Проба фотографируется через микроскоп, производится счет частиц и строится функция распределения. [c.47]

Телевизионная М. позволяет наблюдать микрообъекты на телеэкране. Микроскопы этого типа могут быть построены на основе схемы с передающей трубкой либо схемы с бегущим лучом, В телевизионных микроскопах с передающей трубкой (рис. 10, а) препарат 3 освещается источником света 1 через конденсор 2. Микрообъектив 4 и окуляр 5 [c.147]

Телевизионные микроскопы позволяют чисто электронным путём менять масштаб, контраст н яркость изображения. Достоинством телевизионной М. является возможность дистанционно наблюдать объекты (напр., радиоактивные). [c.147]

Для наблюдения за структурой и измерения сетки (рис. 6.4) на крышке вакуумной камеры (1) размещен металлографический микроскоп 2 типа МВТ. Измерение сетки осуществляется с помощью микрометрической оптической головки типа МОВ-1-15. Фотографирование структуры или сетки осуществляется с помощью микрофотонасадок МФН-1 (на пластинки 9 X 12 см) и МФН-12 (на фотопленку) при увеличениях до 300 крат при рабочем расстоянии объектива около 80 мм. На рис. 6.5 приведены отдельные моменты развития деформаций в вершине трещины). Для наблюдения за развитием трещины, а также для измерения раскрытия трещины и деформаций в ее вершине при больших увеличениях используется также промышленная телевизионная установка, присоединяемая непосредственно к металлографическому микроскопу (рис. 6.6). Изображение зоны развития трещины подается на телеэкран (рис. 6.7). [c.225]

Для оценки сопротивления сплавов хрупкому разрушению на изломе анализировали область распространения хрупкой трещины (зону плоского отрыва). Для многих полей зрения при увеличении в 1000 и 3000 определяли долю участков вязкого и хрупкого разрушения. Планиметрирование площадей участков проводили непосредственно на телевизионном экране микроскопа со специальной стоклеточной сеткой. [c.193]

Кроме оптического сканирования можно использовать электромагнитное сканирование с применением телевизионной аппаратуры, которая позволяет преодолеть ограниченные возможности микроскопии относительно разрешающей способности и интенсификации процесса счета числа частиц [111]. [c.92]

МИКРОСКОП ТЕЛЕВИЗИОННЫЙ - прибор, состоящий из обычного микроскопа и телевизиониого устройства для передачи изображения на экран телевизионной трубки, М, т, могут быть двух типов либо на основе схемы с передающей трубкой, либо схемы с бегущим ияапом, [c.242]

Свойства зрения. При работе с приборами визуального контроля (микроскопы, проекторы, эндоскопы, телескопы, телевизионные системы и др.) важно правильно использовать свойства зрения оператора. Зрение (виде-иие) является сложным динамическим нелинейным лроцессом, включающим сканирующие, канвергенционные (фо-кусировочные) и адаптационные (измелен не диаметра зрачка) движения глаз и обработку зрительной информации в центральной. нервной системе человека. [c.51]

Технические характеристики некоторых стереомикроскопов приведены в табл. 12. Для коитреля прецизионных изделий типа фотешаблонов СБИС применяют телевизионные (ТВМ) и фотоэлектрические (ФЭМ) микроскопы, имеющие высокое пространственное разрешение (до 0,01 мкм при полях зрения порядка 0,1 мм). Для измерений средней точности используют измерительные микроскопы различных конструкций оптико-механического типа. [c.84]

Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0,1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности ма 1ериала, двигающегося со скоростью свы1не 15 м/с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. Схема с системой сканирующих зеркал отличается большим быстродействием (до 50 кад/с при 200—400 строках разложения телевизионного изображения), однако наличие полевых аберраций оптической системы приводит в этом случае к снижению пространственного разрешения. [c.96]

В общем случае (В. С. Иванова и Л. А. Маслов) в изломе выделяют три основные зоны />—зона чисто усталостного разрушения, характеризующаяся наличием усталостных полос (макро- и микрополос, наблюдаемых в электронном микроскопе) U — зона перехода или зона смешанного разрушения ( ямочное как результат локальных разрушений впереди трещины, хрупкие участки и усталостные полосы) и, наконец, /г — зона долома. Длина усталостного пятна l)=ia+ld. Исчезновение зоны I, свидетельствует о том, что с увеличением напряжения происходит смена напряженного состояния, реализуемого в локальном объеме впереди трещины. Хруп- кое разрушение в условиях плоской деформации сменяется на квазивяз-кое. Для оценки микрорельефа поверхности и профиля излома в институте металлургии им. А. А. Байкова разработано оригинальное телевизионно-аналоговое устройство. [c.45]

Наиболее широкие перспективы применения разработанной методики открываются при использовании телевизионных анализаторов изображения в сочетании с высокотемпературными установками, позволяющими визуально наблюдать за поверхностью образцов в процессе их испытания. С этой целью в Лаборатории высокотемпературной металлографии в содружестве с Проблемной лабораторией металловедения Уральского политехнического института разработан телевизионный анализатор изображения, который может быть использован совместно с любыми металлографическими микроскопами, снабженными фотонасадкой типа МФН-12. В этом приборе световое поле анализируемого объекта преобразуется видиконом в последовательность электрических импульсов, амплитуда которых пропорциональна оптической плотности, а длительность — протяженности частицы, считываемой электронным лучом. Усиленные камерой видеоимпульсы совместно с сигналами частоты строк и полей подаются на дискриминатор, представляющий собой регулируемый фиксатор уровня видеосигнала. Путем регулирования уровня фиксации можно выделить из общей металлографической картины ту часть изображения, которая должна подвергаться анализу. Степень дискриминации воспроизводится видеоконтрольным устройством (монитором). [c.11]

Металлографическое изучение деформации биметаллов целесообразно проводить с использованием комплексной методики экспериментирования, основанной на применении автоматических телевизионных анализаторов изображения. Это позволяет осуществлять количественную оценку накопления пластической деформации по числу полос скольжения в анализируемых участках материала, измерять длину трещин и площадь пластической деформации в их вершинах. Наряду с анализом деформационной структуры методика предусматривает проведение микрорентгеноспектраль-ного анализа и фрактографическое изучение изломов с помощью растровой электронной микроскопии. Ниже приведены примеры исследования процесса накопления пластической деформации в переходных зонах образцов биметалла Ст. 3+Х18Н10Т, подвергнутых циклическому нагружению на установке ИМАШ-10-68. Подсчет числа полос скольжения производится с помощью телевизионного анализатора изображения на площади, заключенной в рамку сканирования (рис. 1). Образец, размещенный на предметном столике автоматического количественного микроскопа РМС , перемещался по заданной программе вдоль выбранной базы измерения, ширина которой была равна высоте, а длина соответствовала ширине рамки сканирования, умноженной на число перемещений столика. [c.90]

Следует отметить, что только одно уже сочетание телевизионной техники с металлографическим микроскопом, как показывает зарубежный опыт, обеспечивает ряд преимуществ, которые, в частности, реализованы на установках для тепловой микроскопии фирмы Юнион Оптикал . [c.282]

Поскольку в видеоконтрольном устройстве этих установок происходят преобразование микроструктурной картины образца в ряд электрических импульсов и повторное их превращение в изображение, видимое на телевизионном экране (экране монитора), то появляется возможность чисто электрическим путем регулировать контрастность, яркость и масштаб изображения. В частности, возможность увеличения контраста позволяет получать изображения структуры, контрастность которых достигает уровня, наблюдаемого в фазовоконтрастном микроскопе. При этом высокая яркость экрана телевизионного монитора дает возможность фотографировать изображение с малыми экспозициями, что особенно важно при исследованиях, связанных с рассмотрением кинетики тех или иных процессов, протекающих в образце. Большой масштаб изображения на экране кинескопа представляет дополнительные удобства при детальном качественном исследовании анализируемой структуры. [c.282]

В результате экспериментов, проведенных на образцах стали и полупроводниковых материалов было, например, показано, что число случаев с одинаковыми величинами диагоналей отпечатков индентора при подсчете их с помощью количественного телевизионного микроскопа, как правило, в два раза больше, чем при измерении на ПТМ-3. Средние значения диагоналей отпечатков индентора, полученные при измерениях на приборах ПТМ-3 и Квантимет-720 , отличаются на небольшую величину, которая для выбранного материала образцов и увеличения объектива является постоянной. Различие в размерах диагоналей отпечатков, получаемое при повторных измерениях с помощ,ью анализатора изображения, не превышает 1,5—2%. [c.288]

В послевоенные годы были разработаны теоретические основы электронной оптики и создан ряд приборов, основанных на фокусировании электронных лучей электрическим или магнитным полем. Здесь прежде всего следует назвать электронно-лучевые трубки, применяемые в катодной осциллографии, различные телевизионные электронно-лучевые приборы, электронные микроскопы, даюш ие увеличение в сотни тысяч раз, электронные преобразователи изображений, преобразуюш,ие невидимые изображения (полученные в инфракрасном свете) в видимые, и т. п. [c.246]

Рис, 1. Схема сканирующего телевизионного микроскопа Квантимет [c.490]

Один из вариантов реализации метода ИК интроскопии заключается в просвечивании объектов исследования ИК излучением и визуализации прошедшего через объект излучения с помощью электронно-оптического преобразователя или телевизионной системы [40, 226]. Примером подобного прибора является микроскоп МИК-1, позволяющий осуществлять видение в таких полупроводниковых материалах, как Si и GaAs, выявлением дефектов в объеме полупроводника. Однако использование в качестве источника излучения широкополосных тепловых излучателей значительно ухудшает качество изображения и затрудняет количественную интерпретацию получаемой информации. [c.181]

Телевизионный микроскоп МТ-1С Индивидуальные исследования и демонстрации группе н аб л ю д ате л е й при больших увеличениях Размер экрана 250 X 250 мм. Размер экрана на пульте 100 X 100 мм Оптическое увеличение 70—2700. Увеличение 70—2700. Увеличение на экране 210—S100 Основной пульт 1200 X 400 X 1500 и экран в ящике 350 X 300 X 450 Удобен в применении для демонстраций груоое ваблюдатслей [c.345]

Описанные экспериментальные результаты получены посредством непрерывных испытаний. На рис. 5.39 показана печь инфракрасного излучения со смотровым окном для наблюдения трещин, использованная в экспериментах. Длина трещины и раскрытие трещины измеряли с помощью специального микроскопа с рабочим расстоянием 5—15 см и увеличением 10—50. В качестве нагревательной печи целесообразно использовать обычную электрическую печь сопротивления со смотровым окном в боковой стенке (используемым также и для источника света). При измерении длины трещины использовали метод электрических потенциалов и телевизионную камеру. Метод электрических потенциалов не применим для материалов с высокой пластичностью, когда образец сужается при распространении трещины, однако этот метод достаточно эффективен в случае материала с пизко й пластичностью и малым раскрытием трещины. [c.165]

Оба способа требуют значительных затрат времени и связаны с большими субъективными ошибками, которые можно частично устранить при использовании так называемого телевизионного микроскопа. С помощью такого микроскопа производится сравнение всех плоскостей, обладагощих определенной яркостью, с эталоном яркости. Для того чтобы ошибки были минимальными, особое внимание обращают иа то, чтобы в результате процесса образования контраста (рельефа травления) не происходило бы резкого оконтуривания, так как в противном случае получаются завышенные значения содерн<ания фаз. [c.28]

Одними из первых и наиболее известными из таких анализаторов являются приборы типа Квантимет фирмы ambridge Instruments (Англия). В этих приборах использован принцип линейного анализа. Получаемое в обычном вертикальном микроскопе с автоматическим перемещением предметного столика изображение структуры с фокальной плоскости окуляра вводится в телевизионную камеру, сигналы с которой подаются одновременно на детектор и экран контрольного телевизора (рис. 1.13). Детектор выделяет и оценивает импульсы, соответствующие оптической отражательной способности исследуемы.х [c.31]

В последние годы в металлографических лабораториях заводов и институтов осваиваются автоматические количественные телевизионные микроскопы (КТМ-360, КТМ-720, Эпиквант), позволяющие производить подсчет включений по группам размеров и определять долю площади (в процентах), занятую включениями. Эти приборы используют пока только для исследовательских работ и накопления данных о загрязненности стали различных марок и способов производства [11—14]. Преимущество этих приборов — повышение объективности и снижение трудоемкости контроля. Однако при небольшой площади, просматриваемой на приборах, не всегда учитываются редко встречающиеся крупные включения. Если важно обнаружить такие включения, то целесообразнее использовать метод оценки шлифов максимальным баллом, который дает больше информации, чем автоматические микроскопы. [c.338]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...