Большой горизонтальный микроскоп МИМ

На фиг. 16 изображён современный большой горизонтальный микроскоп. [c.148]

Большой горизонтальный микроскоп МИМ-3 является наиболее усовершенствованным из выпускаемых в настоящее время металло-микроскопов. Он снабжен высококачественной оптикой и дает увеличение до 1300 при визуальном наблюдении и до 2000 при фотографировании. Микроскоп МИМ-3 предназначен для выполнения сложных и точных металлографических работ и находит применение только в больших лабораториях. [c.277]

БОЛЬШОЙ ГОРИЗОНТАЛЬНЫЙ МИКРОСКОП мим-8 [c.47]

Измерения смещений берегов трещины (рис. 7.4) выполнялись специальным оптическим горизонтальным микроскопом 7 (типа МГ) с увеличением 120. Микроскоп снабжен специальной оптической головкой 2 с подсвечивающей лампочкой и микрометром 3 с ценой деления 1 мкм. Края надреза предварительно сбивались таким образом, чтобы зазор между ними составлял 0,25...0,3 мм. В этой зоне поверхность образца полировалась и на нее наносились риски шириной 2...3 мкм и шагом 0,05 мм на большом инструментальном микроскопе БМИ-1, имеющем специальное приспособление (головку с алмазной пирамидкой от прибора ПМТ-3). [c.186]

К наиболее употребительным оптическим измерительным приборам относятся оптиметры вертикальный и горизонтальный, микроскопы инструментальные малой и большой модели, универсальный микроскоп и проектор. [c.652]

В отличие от фотопластинки, где на большой длине могут быть просмотрены только горизонтальные следы , а все наклонные выходят за пределы эмульсионного слоя, в эмульсионной камере наклонные следы, выйдя из данного слоя, продолжаются в соседнем, затем в следующем и т. д., пока частица не остановится или не выйдет за пределы эмульсионной камеры. Для того чтобы можно было быстро находить продолжения следов в соседних эмульсионных слоях, на все слои перед разборкой эмульсионной камеры наносится (при помощи рентгеновских лучей или оптическим методом) единая координатная прямоугольная сетка с расстояниями между линиями в несколько миллиметров. Таким образом, поиск продолжения следа в соседнем слое производится в определенном квадрате, расстояния от сторон которого могут быть измерены при помощи окулярной шкалы микроскопа. Если сопоставление следов в соседних слоях сделано правильно, то координаты конца следа в одном слое должны совпадать с координатами начала следа в соседнем слое. [c.591]

Наконечник 2 закрепляют на коробчатом коромысле на конце которого расположены шкала и осветитель. Против шкалы на неподвижном кронштейне установлен отсчетный микроскоп. Перемещение наконечника и преобразованное рычагом в два раза большее перемещение шкалы измеряют с помощью окулярного микрометра микроскопа. Предварительная нагрузка создается силой тяжести коромысла и может быть отрегулирована передвижным грузом 3. Повороты коромысла с наконечником и шкалой вокруг горизонтальной оси, необходимые для вдавливания наконечника и его освобождения, производятся малым гидравлическим подъемником. [c.256]

Если биение диска больше указанного, центрируют диск двумя винтами, находящимися на его периферии. Предварительно освобождают на торце диска две гайки. После центрирования диск надежно закрепляют этими гайками и снова проверяют его биение. Затем на плиту устанавливают стойку с отсчетным микроскопом 4 со спиральным окулярным микрометром так, чтобы ось его находилась в плоскости, перпендикулярной к основанию головки и проходящей через ось шпинделя. Надлежащая установка микроскопа достигается перемещением его в вертикальной плоскости по стойке при помощи головки с накаткой. Наблюдая в окуляр, прекращают перемещение микроскопа в момент, когда резкость изображения штриха градусного диска будет наилучшей. После этого фокусируют штрихи диска перемещением микроскопа в горизонтальной плоскости. [c.359]

Универсальной моделью является горизонтальный металлографический микроскоп МИМ-8м (рис. 45). Он предназначен для исследовательских работ в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и методом фазового контраста. Осветитель 1, собственно микроскоп 2 и фотокамера 3 смонтированы на оптической скамье 4, установленной при помощи амортизаторов на специальном столе. Осветитель снабжен лампой накаливания мощностью 170 вт. Фотокамера переменной длины позволяет изменять масштаб изображения в больших пределах при одном и том же объективе и окуляре. Фазово-контрастное устройство (с переносом выходного зрачка объектива) имеет собственный визуальный тубус. [c.65]

Наблюдения при помощи микроскопа показали, что в течение пассивных периодов анод был довольно блестящий однако, когда после соответствующего перерыва ток был снова пущен, замечен был ряд горизонтальных темных полос, проходящих по поверхности и образовавшихся вследствие сморщивания тонкой поверхностной пленки. Эта пленка должна была уже присутствовать в оптическом контакте с металлом во время пассивной стадии однако она стала видимой, когда. металл, находившийся непосредственно под ней, растворился. Поочередное включение и выключение тока (с изменением э. д. с. в пределах требуемых 4—6 V) способствовало отделению прозрачной пленки от электрода в неповрежденном состоянии с довольно большой площади. Периоды без тока служили для образования местного прорыва в оболочке, необходимого для начала подкопа . После этого применялся ток как для растворения металла, лежащего под оболочкой, так и. для того, чтобы помешать разрушению пленки вследствие восстановления до закиси железа в результате действия местной цепи [c.92]

Универсальные измерительные микроскопы отличаются от инструментальных большим диапазоном измерений и повышенной точностью. На машиностроительных заводах наиболее распространен универсальный микроскоп УИМ-21 (рис. 6.19, а). Он имеет жесткую литую станину 13 с каретками 2 и 11, которые могут перемещаться соответственно в продольном и поперечном направлениях. Продольная каретка 2 имеет цилиндрический направляющий желоб, в котором устанавливают центровые бабки 3. Опорные поверхности этой каретки служат также для установки предметного стола и различных приспособлений. На поперечной каретке 11 снизу смонтирована осветительная система, а сверху стойка 7 с визирным микроскопом S. Как и в инструмент льном микроскопе, стойку 7 с микроскопом можно наклонять вокруг горизонтальной оси маховичком 9. Ось вращения стойки пересекается с линией центров бабок продольной каретки. На обеих каретках установлены стеклянные шкалы с делением 1 мм, освещаемые проходящим светом. Над шкалами смонтированы отсчетные микроскопы 4 и 5 со спиральными нониусами, имеющими цену деления [c.105]

Большой горизонтальный микроскоп МИМ-3 является наиболее усовершенствованным из выпускаемых в настоящее время метал-ломикроскопов. Он снабже11 высококачественной оптикой и дает [c.360]

Испытание профилографов показало, что все епце существует большое измерительное давление и конструкция ощупывающей головки требует некоторого изменения. В ряде случаев вертикальное увеличение оказывалось недостаточным, хотя габариты прибора были весьма значительны. Инженер М. Цукерман (ВММИ) предложил при осуществлении щупового метода использовать столик горизонтального микроскопа с приделанной к нему неподвижной стойкой. На стойке посредством лезвия от безопасной бритвы укреплялась игла. Образец приводился в движение от микрометрического винта и находился в постоянном контакте с иглой. Относительное перемещение иглы рассматривалось в микроскоп. Профилограмма поверхности строилась по точкам, соответствующим отсчетам перемещения иглы. Будучи очень простым, приспособление М. Цукермана имело, однако, ряд недостатков и г.давный из 78 [c.78]

Для проведения микроскопических исследований можно ис-, пользовать вертикаль 1ый или горизонтальный металлмикроскоп. Последний особенно удобен для фотографирования при сравнительно большом увеличении [И]. Вертикальные микроскопы типа МИМ-б с сухими объективами увеличивают в 63—600 раз. Примерно в таком же интервале эти микроскопы дают увеличение при фотографировании. Горизонтальный микроскоп МИМ-3 позволяет наблюдать исследуемую поверхность при увеличении до 1300 раз, а фотографировать при увеличении до 2000 раз, обеспечивая высокую четкость изображения. В тех случаях, когда необходимо установить более точную картину, показывающую связь между характером коррозии и структурой, применяют электронный микроскоп. Основным преимуществом его перед оптическими микроскопами является высокая разрешающая способность. [c.19]

В горизонтальном микроскопе Неофот-2 (К. Цейсс, ГДР) можно изучать в отраженном свете строение любых непрозрачных объектов при увеличении до 2000 раз (рис. 39). Для наблюдения структуры в светлом и темном поле имеются два осветителя — для малых увеличений (10—50 раз) и для больших увеличений (50—2000 раз) в темном поле и в поляризованном свете и при использовании приспособлений для фазового контраста. Кроме того, имеется осветитель для специальных поляризационных наблюдений. В качестве источников света используют лампу накаливания 12 ВхЮО Вт или ксеноновую лампу сверхвысокого давления ХВО-100. Объект для изучения устанавливают на прецизионном предметном столике, который связан с рычажным приспособлением для быстрого подъема столика с целью смены объективов. Объективы — планахроматы с увеличением от 1,25 до 100 раз (при числовой апертуре от 0,025 до 1,30), планапохроматы с увеличением от 10 до 100 раз (числовая апертура 0,25—1,35) и планахроматы для специальной поляризации с увеличением от 6,3 до 100. Объективы согласованы между [c.70]

Оптические измерительные приборы вертикальный и горизонтальный оптиметр с приспособлением для внутренних измерений, оптический длиномер Аббе, малый и большей инструментальный микроскопы, универсальный микроскоп, координатный измерительный прибор, головка для измерения профилей, оптические измерительные приборы для калибров отверстий, измерительная машина для измерения длии, оптическая делительная головка, оптический круглый стол, большой и малый проектор, прибор для проверки угловых шагов. [c.799]

МИИ-10 МИИ-11 Микропрофилометр МИИ-12-1 Микроскоп отсчетный МИР-2 Микроскоп горизонтальный МГ Микроскоп измерительный МИ-1 Микроскоп малый инструментальный ММИ-2 Микроскоп большой инструментальный БМИ-1 Микроскоп инструментальный с цифровым отсчетом БМИ-1Ц Микроскоп измерительный универсальный [c.353]

Помимо этих двух основных микроскопов с увеличением около 40 ) имеется третий, вспомогательный, микроскоп с малым увеличением — около 8 , служащих для чтения показаний больших делений — градусов и их подразделений. Этот микроскоп направлен на нижний конец вертикального диаметра лимба и укреплен на специальной горизонтальной перемычке, связывающей две противоположные стороны передней рамы станины. Все три микроскопа снабжены лампочками, освещающими лимб. В передне раме станины закреплена оправа для алидадного уровня, служащего для контроля неизменности положения микроскоподержате-лей. [c.319]

При исследованиях металлов необходимо весьма сильное освещение, так как в большинстве случаев поиходится работать с очень большими увеличениями. Исследуемый образец (травленный шлиф) кладется на горизонтальный стол, на. одящийся сверху перпендикулярно поставленного объектива. Источник света, микроскоп (с изломанным ходом лучей) н фотографическая камера с большим расстоянием часто монтируются на оптической скамье. Микроскоп снабжен подъемным окуляром. [c.530]

При рассматривании интерференционной картины отмечается различное искривление интерференционных полос [22]. Горизонтальные полосы искривлены больше, чем вертикальные. Это явление наблюдается только в двухобъективных интерференционных микроскопах и происходит вследствие наклона компенсационной пластины относительно разделительной пластины (рис. 123, а). Разность хода, создаваемая разделительной пластиной 7 (см. рис. 122), равна [c.188]

Оптические делительные столы (рис. 22). Горизонтальные поворотные столы с оптическим отсчетно-измерительным устройством имекэт преимущество против столов с механическим отсчетао-измерительным устройством. Оно состоит в том, что отсчетно-измерительное устройство, не являясь червячной парой, не подвергаеггся износу в процессе работы, а наличие в нем отсчетного микроскопа позволяет с большой точностью производить отсчет угловых величин. [c.138]

Заточку сверл удобно контролировать на инструментальном ми- кроскопе при помощи специального приспособления конструкции ВНИИ (рис. 92), закрепляемого на столе 2 микроскопа. На основании 1 находятся большая и малые установочные призмы 3, служащие для базирования сверла, а также упор 4. Перед измерением приспособление при помощи цилиндрической оправки устанавливают так, чтобы плоскость симметрии призм совпала с горизонтальной визирной линией в окуляре микроскопа. [c.185]

Метод стереометрического определения удельной поверхности порошков и изделий под м и к р о с к о и о м основан на закономерностях геометрической вероятности и не содержит никаких произвольных допущений [72]. Лпшлиф изделия рассматривают под металлографическим микроскопом с окуляром, имеющим стандартную квадратную сетку и возможно большее увеличение (> 400). С помощью пушинтег-ратора или другого счетного устройства считают количество точек пересечения границ пор с горизонтальными и вертикальными линиями окулярной сетки. Число этих точек (рис. 9), отнесенное к единице поверхности изделия, определяет поверхность пор [c.38]

Для контроля больших длин вместо линейки применяется тонкая стальная проволока, натянутая прн помощи грузов (фиг. 51-4). Проволока наблюдается сверху в микроскоп, который перемещается вдоль нее по направляющей. С помощью окуляр-микрометра микроскопа в нужных местах определяется положение плоскости относительно проволоки. Способ хорош только при вертикальном расположении микроскопа и проволоки. При расположении. микроскопа и проволоки в горизонтальной плоскости следует прини.мать во внимание прогиб проволоки под действием собственного веса. Проволока не должна иметь никаких надломов и трещин. Погрешность измерения при этом способе зависит в основном от микроскопа и составляет приблизительно 10 мк. [c.552]

Помимо вертикальных, существуют горизонтальные металлографические микроскопы. Оптику микроскопов изготовляют для увеличения до х2500 большее увеличение светового микро- [c.36]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...