Микроскоп фазового контраста

Применение ультрафиолетовых и инфракрасных лучей в микроскопии открывает большие возможности для исследования клеточных структур живых организмов, позволяет получить количественную информацию об изучаемом объекте и отдельных элементах его структуры. С появлением новейших методов исследования в микроскопии (фазового контраста, интерференционного контраста, люминесцентного экспресс-анализа и др.) совершенствуются и сами микроскопы, создаются новые их типы с высококачественной оптикой, используются новейшие источники излучения (лазеры и др.), приемники. ФЭУ, ЭОП и другая аппаратура. Некоторые современные микроскопы представляют собой весьма сложные установки, снабженные электроникой, регистрирующими и электронными вычислительными устройствами, автоматикой и т. д. [c.3]

Микроскоп 329 —. метод темного поля 362 —, — фазового контраста 362 —, разрешающая способность 330, 348—357 [c.923]

Этот метод быстро внедряется в световую микроскопию (46—59]. Следует коротко сказать о принципе действия и указать на преимущества его применения для металлографических исследований. При методе фазового контраста (МФК), открытого Цернике [60] для просвечивающей микроскопии, необходимо создать разницу хода в /4 длины световой волны, т. е. разницу фаз в 90° преломленного луча по отношению к непреломленному. Это оказалось возможным благодаря применению стеклянной пластины, на которую наносят тонкий, сдвигающий фазу на 90° слой относительно прозрачного вещества. Фазовая пластинка влияет на открывание диафрагмы и изменяет картину дифракции так сильно, что в поле зрения вновь передается разница уровней (глубина резкости) при разной яркости освещения. [c.14]

Современные достижения в области физических исследований металлов свидетельствуют о перспективности использования не только световой, но и электронной тепловой микроскопии, когда контраст изображения обусловлен не геометрическим профилем поверхности образца, а определенными характеристиками исследуемого материала, например, работой выхода электрона при термоэлектронной или фотоэмиссии кроме того, в качестве такой характеристики может быть использован коэффициент вторичной электронной эмиссии при бомбардировке первичными электронами. Эти характеристики существенно зависят от состава, фазового состояния, ориентации и температуры изучаемого объекта, поэтому, например, эмиссионная высокотемпературная микроскопия вследствие более высокой разрешающей способности обеспечивает получение большего объема информации по сравнению со световой тепловой микроскопией. При микроструктурном изучении процессов деформирования и разрушения принципиально новые результаты могут быть получены при использовании эффекта экзоэлектронной эмиссии, позволяющего количественно характеризовать определенное энергетическое состояние локальных участков исследуемого образца, что является весьма ценным дополнением к наблюдаемым в металлографический микроскоп качественным структурным изменениям, связанным с накоплением дефектов в поверхностных слоях материала. [c.6]

Недостатком рассмотренного устройства является специфическая для данного зеркального объектива нечеткость передаваемого изображения вследствие технологической сложности выполнения высококачественной поверхности эллиптического зеркала. В последнее время в ЛОМО разработаны новые зеркально-линзовые объективы, позволившие создать весьма совершенные оптические системы, предназначенные для исследований методами тепловой микроскопии. В частности, при использовании объективов с рабочими расстояниями 32 и 17,2 мм и апертурами 0,4 и 0,65 получили оптическую систему, обеспечивающую наблюдение объекта в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.99]

Более мелкие дефекты на внутренней поверхности ИМС могут быть обнаружены с помощью специальных оптических средств, например, микроскопов с фазовым контрастом, современные образцы которых позволяют различать при определенных условиях детали до 1 0,5 мкм, и микроскопы для наблюдения в темном поле при освещении под такими углами, когда свет не может проникнуть в объектив микроскопа. [c.463]

Метод фазового контраста имеет большое практическое значение, так как дает возможность получать контрастные изображения прозрачных и бесцветных объектов, почти невидимых при обычных методах микроскопии. К числу таких объектов относятся, например, неокрашенные биологические препараты (живые или фиксированные), нетравленые шлифы металлов и минералогические объекты. Темные и светлые места в фазово-контрастном изображении соответствуют различным показателям преломления [c.16]

Конденсоры. В зависимости от требуемого метода наблюдения в микроскопах применяются конденсоры различных типов конденсор светлого поля конденсор с апертурной диафрагмой, смещающейся перпендикулярно оптической оси для обеспечения косого освещения конденсор темного поля и специальный конденсор для наблюдения по методу фазового контраста. Конденсор представляет собой двух- или трехлинзовую оптическую систему с ирисовой апертурной диафрагмой. Численная апертура конденсоров при условии применения иммерсионной жидкости достигает вели- [c.21]

Вспомогательный микроскоп, применяемый для настройки освещения по методу фазового контраста, полезно использовать и при настройке всех других методов освещения, так как он облегчает наблюдение выходного зрачка объектива. [c.28]

Микроскоп МББ-1А по конструкции аналогичен микроскопу МББ-1 и отличается от последнего комплектом оптики, позволяющей проводить дополнительно исследования препаратов в темном поле методом фазового контраста и в поляризованном свете. [c.49]

В комплект микроскопа, кроме перечисленных объективов и окуляров, входят конденсоры для темного поля и фазового контраста, поляризатор и анализатор в оправах и другие принадлежности. [c.50]

Микроскоп позволяет проводить исследования методом темного поля в отраженном свете и методом фазового контраста. [c.72]

Существенным отличием микроскопа МЛ-2 является возможность работы комбинированным методом, т. е. одновременное наблюдение люминесценции при освещении препарата сверху и эффекта фазового контраста в проходящем свете. [c.72]

Конструкция микроскопа позволяет применять в исследованиях столики Федорова, устройство для наблюдения методом фазового контраста, конденсор темного поля, поляризационный опак-иллюминатор для изучения непрозрачных объектов, микрофотонасадки и другие дополнительные принадлежности. [c.102]

Конденсоры служат для осуществления различных методов освещения препарата, исследуемого под микроскопом, проходящим светом. Конденсоры применяются с рабочими, лабораторными и дорожными моделями биологических и поляризационных микроскопов, а также и с некоторыми другими. Конденсор для наблюдения по методу фазового контраста входит в фазово-контрастное устройство, которое описано в отдельной группе.. [c.166]

Четвертая система линз совместно с окуляром образует вспомогательный микроскоп, предназначенный для наблюдения выходного зрачка объектива- Применяется этот микроскоп при настройке освещения по методу фазового контраста, темного поля и при коноскопическом исследовании на поляризационных микроскопах. [c.179]

Фазовые объективы отличаются от обычных тем, что в их оптической системе имеется фазовое кольцо. В револьвере 2 конденсора помещены кольцевые диафрагмы, изображение которых проектируется при работе на фазовое кольцо объектива. Для каждого объектива предназначена своя диафрагма. Фазовое кольцо совместно с кольцевой диафрагмой дает эффект фазового контраста в изображении. Винты 3 служат для центрирования изображения кольцевой диафрагмы относительно фазового кольца. При правильной настройке устройства изображение кольцевой диафрагмы должно совпадать с фазовым кольцом (т. е. кольцо должно перекрывать изображение диафрагмы по всей окружности). Для наблюдения за плоскостью фазового кольца во время настройки предусмотрен вспомогательный микроскоп 5, который вставляется в тубус микроскопа вместо окуляра. [c.193]

Приспособление КФ-3 предназначено как дополнительное устройство к горизонтальному металлографическому микроскопу МИМ-8м и служит для исследования в отраженном свете малоконтрастных структур шлифов методом фазового контраста. [c.195]

Оптическая система КФ-3 позволяет получать эффект фазового контраста со всеми объективами, входящими в комплект микроскопа. [c.196]

Предположим, что мы записали голограмму наилучшего качества, обработали ее и с нее восстановили изображение. Рассмотрим теперь, каким образом можно исследовать действительное восстановление изображения с помощью стандартных методов микроскопии. Если линза, применявшаяся в процессе регистрации голограммы, при восстановлении изображения снова помещается на то же самое место, что и при записи, то весь свет, не дифрагировавший на объекте, собирается в фокус (рис. 4). Помещая в фокус линзы непрозрачную заслонку, можно получить освещение по методу темного поля. А помещая в фокус линзы фазосдвигающий элемент, можно получить освещение по методу фазового контраста. [c.630]

Аналогичным образом может быть изучен случай микроскопа с фазовым контрастом. Если предположить конденсор кольцевым при очень небольшой ширине кольца, изображение которого образуется на фазовой пластинке, то прл фактическом наличии фазовой плас- [c.281]

Понятия двойной дифракции позволяют просто объяснить метод фазового контраста, используемый в микроскопии с целью преобразования невидимого слабого фазового контраста в хорошо видимый контраст интенсивности. [c.98]

Значение предложенного Аббе метода оценки разрешающей силы микроскопа заключается также в том, что он открывает дополнительную возможность его применения любой волнистый рельеф можно рассматривать как некоторую фа.ювую решетку. Для наблюдения ее изображения нужно превратить такую фазовую решетку з амплитудную, т.е п систему светлых и темных полос. В теории фазовой решетки доказывается, что это можно сделать, если уменьшить или увеличить на п/2 разность фаз между волнами, ответственными за нулевой спектр и спектры высших порядков. Цернике указал, что для этого достаточно внести тонкую стеклянную пластинку в фокальную плоскость объектива микроскопа. На область в центре такой пластинки, где локализован максимум нулевого порядка, наносится тонкий прозрачный слой, который изменяет на п/2 фазу волны, распространяющейся в направлении только этого спектра. Для осуществления такого изменения фазы глой вещества с показателем преломления п должен иметь толщину ./4(п — 1). Этот метод, получивший название фазового контраста, позволяет исследовать очень нечеткие структуры и играет большую роль в различных приложениях. [c.344]

Описанный метод улучшения контрастности изображения прозрачных объектов получил название метода фазового /(онтраспш (Цернике, 1935 г.). Микроскопы, использующие метод фазового контраста, выпускаются промышленностью и широко применяются в биологических исследованиях. [c.366]

Микроскопические методы обычно применимы для исследования состояния поверхности металла. С этой целью используется бинокулярный микроскоп, воспроизводящий объемную картину поверхности. При этом применяются светло-, темно- и косопольное освещение, фазовый контраст, а также поляризованный свет и ультрафиолетовые лучи. [c.223]

Перед каждым актом микротомирования при положении II (см. рис. 2, а) образца (5) на его торец наносят 0,02—0,03 мл дважды перегнанной воды. После микротомирования каплю с частицами снятого слоя переносят на предметное стекло и после испарения воды определяют показатель преломления частиц под микроскопом иммерсионным методом или с помощью фазового контраста [10]. Откладывая определяемое таким образом значение показателя преломления против координаты средней точки слоя, получают график зависимости оптической плотности п диффузионной среды от расстояния X до контактной поверхности, который удовлетворительно коррелирует с результатами исследования другими методами физико-химического анализа. [c.214]

Современные достижения в области физических исследований металлов свидетельствуют о перспективности использования не только световой, но и электронной тепловой микроскопии, когда контраст изображения обус-словлен не геометрическим профилем поверхности образца, а определенными характеристиками материала, например работой выхода электрона при термоэлектронной эмиссии или фотоэмиссии кроме того, в качестве такой характеристики может быть использован коэффициент вторичной электронной эмиссии при бомбардировке первичными электронами. Эти характеристики существенно зависят от состава, фазового состояния, ориентации и темпера-10 туры изучаемого объекта, поэтому, например, эмиссионная высокотемпера- [c.10]

При прямом освещении в микроскопе видны пылинки размером 0,4 мкм и более, а при косом освещении — 0,2 мкм. Предел видимости в темном поле — до 0,06 мкм [ 60]. Подсчет пылинок методом фазового контраста в счетчиках Оуэнса позволяет фиксировать частицы размером до 0,02 мкм. Особо высоким разрешением обладают электронные микроскопы. Поскольку линейные измерения связаны с идентификацией положения и расстояния точек поверхностей, то допускаемую объемную загрязненность воздуха твердыми частицами можно, в частности, определять через нормы запыленности измеряемой поверхности. При контактных измерениях положение точек измерения оценивается с разрешением порядка 1. .. 2 мм (кроме специальных задач), откуда допускаемое число частиц пыли Nan нормируемых размеров а [c.97]

При записи оптич. информации в двухслойной структуре воздействие светового сигнала приводит к стеканию части поверхностного заряда на подложку (тем большему, чем больше освеп1ённостъ данного микроучастка поверхности) в трёхслойной структуре, напротив, заряд противоположного знака переходит с подложки на граничащую с запоминающим слоем поверхность фотополупроводника. В обоих типах структур м.-статич. силы притяжения разноимённых зарядов деформируют поверхность мягкого запоминающего слоя (либо сразу, либо после его нагревания—т, п, теплового проявления), образуя рельеф, в к-ром распределение глубины соответствует распределению потока излучения по поверхности, т. е. в получаемом рельефе кодируется оптич. информация. При считывании записанной информации различия толщины рельефа вызывают разл. изменения фазы считывающей световой волны. Фазовые различия не воспринимаются глазом и др. приёмниками оптич. излучения. Поэтому их преобразуют в изменения амплитуды световой волны (т. е. интенсивности считывающего пучка), к-рые регистрируются приёмниками излучения (включая глаз). Такое преобразование осуществляют гл. обр. теневым методом, но в принципе его можно сделать по аналогии е методом фазового контраста в микроскопии. [c.266]

Большие возможности в изучении структуры аморфных сплавов открывает метод просвечивающей микроскопии в режиме формирования фазового контраста. В этом случае можно наблюдать отдельные кристаллографические плоскости и даже отдельные атомы, если использовать объекты толщиной порядка 1—5 нм. Такие исследования проведены в [455] на сплавах Fe-B в режиме прямого разрешения. Авторы интерпретировали наблюдаемую структуру как микрокристаллическую (радиус этих микрокристаллов изменялся от 0,7 до 1,1 нм по мере снижения содержания бора от 5 до 15 ат.%). Вывод о микро исталлической природе аморфных сплавов сделан в авторами других электронно-микроско-пических исследований [456—458]. Однако при анализе субкристалли-ческнх структур (при структурной единице размером порядка 1 нм) трудно отличить "микрокрисгалл" от "кластера". Поэтому считают, что электронно-микроскопические исследования подтверждают в равной мере как микрокристаллическую, так и кластерную природу аморфных сплавов. [c.283]

Метод фазового контраста. Контрастность изображения рельефных структур может быть дополнительно повышена при использовании системы фазового контраста, имеющейся в некоторых металломикроскопах, или отдельной фазовоконтрастной приставки к микроскопу. Неровности поверхности шлифа создают разность фаз отраженных световых лучей, которая усиливается системой, состоящей из кольцевой диафрагмы 1 и фазовой пластинки 2 (рис. 1.6). Кольцевую диафрагму устанавли- [c.27]

Микроскоп ММР 4 (рис. 1.8), Рабочий металлографический микроскоп ММР-4 предназначен для наблюдения и фотографирования микроструктуры металлов в светлом поле при прямо.м и косом освещении, темном поле, по-,тяризованном свете и методом фазового контраста. [c.29]

Рис, 5,17, Примф фазоконтрастной микроскопии. Оптические микрофотографии чешуйчатых клеток из слизистой рта (размер поля зрения примерно 100 мкм), а-фазовый контраст б-обычный случай яркого поля (с разрешения д-ра М. Стюарда, Манчестерский университет). [c.115]

Микроскоп МБИ-6 — универсальный исследовательский прибор, предназначенный для проведения всевозможных работ как с прозрачными, так и с непрозрачными препаратами. Микроскоп позволяет изучать микропрепараты различными современными методами исследования визуальное наблюдение и фотографирование в проходящем свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете, с фазовым контрастом, а в отраженном свете — в светлом и темном полях. Такое многообразие методов наблюдения позволяет всесторонне изучить препарат, а также проводить быстрое и удобное фотографирование. Фотографирование может производиться с помощью пленочной фотокамеры либо на фотопластинку. Источником света служит лампа накаливания мощностью 170 вт. [c.54]

Для исследований методом фазового контраста между микроскопом и фотокамерой вместо фототубуса устанавливается фазово-контрастное устройство, как это показано на фиг. 41. Фазовая пластинка устройства (одна для всех объективов) центрируется винтами 2. Визуальное наблюдение в этом случае производится через окуляр 3, который при настройке освещения заменяется вспомогательным микроскопом. Работа с фазово-контрастным устройством не требует применения специальных объективов. Фотографирование производится с помощью пленочной фотокамеры, которая укреплена на корпусе 1. [c.85]

Для получения правильного эффекта фазового контраста особенно важно строго наладить в микроскопе освещение по Кёлеру. Наиболее хороший контраст можно наблюдать, используя зеленый светофильтр, вкладываемый в оправу под конденсором. [c.194]

Все приведенные выше рассуждения справедливы только для объектов, элементы которых излучают колебания, некогерентные между собой. Если же использовать, как, например, в микроскопе, соответствующий вспомогатеяь-ный источник освещения, то можно получить колебания, абсолютно когерентные между собой. Известно, что эта возможность используется главным образом для визуального измерения незначительных изменений оптической плотности препаратов в методе фазового контраста. Этому вопросу будет посвящена особая глава. [c.13]

В качестве второго примера рассмотрим предмет с чисто фазовым контрастом, но со случайным распределением фазовых сдвигов. Мы должны определять это условием, которое должно быть удовлетворено в случае каждого применения теории Френеля — Кирхгофа между точками, отстоящими друг от друга меньше чем на длину волны, фаза не должна заметно изменяться. Другими словами, если предмет резко сфокусирован, он должен казаться однородным и прозрачным. В обычной микроскопии этому условию будут удовлетворять покрытый морщинами лист целлулоида или даже покрытая сеткой желатина. Однако слой Коллоидной дисперсии на молочном стекле этому условию не удовлетворяет. Помня это ограничение, мы можем применить теперь уравнение (29). Можно показать, что значение Лэфф снова равно единице. В случае чисто фазового контраста конец комплексного вектора пропускания t= —А движется по единичной окружности, причем все ориентации / равновероятны. Следовательно, i=0, что дает Л = 1 и [c.242]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...