Взаимности принцип электронной микроскопии

В сканирующей электронной микроскопии часто бывает удобным использовать широкоугловой детектор для отбора значительной части рассеянного излучения. На основе принципа взаимности (см. [93—96])2 можно показать, что это эквивалентно использованию очень большого угла падения в обычной просвечивающей электронной микроскопии. Контраст изображения в этом случае дается усреднением по большому интервалу направлений падающего пучка. Этот эффект сильно понижает контраст полос от дефектов упаковки. Общий контраст изображения дислокаций несколько понижается, осциллирующая компонента стремится исчезнуть и изображение дислокации стремится стать однородно темным (на позитиве светлопольного изображения) [29]. [c.407]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...