Микроскопы двойные Линник интерференционные Линника

Для измерения чистоты поверхности в настоящее время промышленностью выпускается ряд специальных приборов двойные микроскопы акад. Линника МИС-11, профилографы Левина ИЗП-17М, ИС-18, ИЗП-5, интерференционные микроскопы МИИ-1. [c.397]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Из вышеуказанных бесконтактных приборов двойной микроскоп Линника МИС-11 предназначен для измерения чистоты обработанных поверхностей с 3-го по 9-й класс интерференционные микроскопы МИИ-1, МИИ-4, МИИ-5— для поверхностей с 10-го по 14-й класс. [c.214]

Измерение шероховатости поверхности бесконтактным способом производят с помощью оптических приборов акад. В. П. Линника. Одним из основных приборов для количественного определения шероховатости поверхности является двойной микроскоп МИС-11. Он предназначен для измерения шероховатости в пределах 3—9-го классов чистоты по ГОСТу 2789—59. Для оценки шероховатости 10—14-го классов чистоты используют интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-4. [c.81]

Контроль шероховатости с помощью оптических приборов более трудоемок, однако погрешности измерения, возникающие от упругости измерительной среды, при этом сведены к нулю. Двойной микроскоп Линника МИС-11 применяется для измерения параметра Яг В интервале 80—1,6 мкм. Интерференционный микроскоп МИИ-4 контролирует шероховатость поверхностей по параметру Яг В пределах 0,8—0,025 мкм. [c.88]

Для отражения на светочувствительной или специальной диаграммной бумаге микропрофиля поверхности в увеличенном масштабе применяются профилографы. Заводом Калибр выпускается профилограф-профилометр Калибр-ВЭИ , позволяющий оценивать шероховатость 6—14-го классов. Прибор снабжен устройством для записи профилограмм и позволяет определять высоту микронеровностей по Яа, как и в профилометре КВ-7М. Колебания алмазной иглы прибора преобразуются индуктивным методом в изменения напряжения электрического тока. К оптическим приборам для измерения шероховатости поверхности 3—9-го классов в лабораторных условиях относится двойной микроскоп МИС-11 конструкции акад. В. П. Линника. Для оценки шероховатости 10—14-го классов применяются интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-5 и др. Действие приборов основано на интерференции света. Для определения высоты микронеровностей в труднодоступных местах применяют метод слепков, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность наносят пластические материалы (пластмассу, желатин, воск и др.) и по полученному отпечатку судят о степени шероховатости поверхности. Шероховатость поверхности и точность зависят от способов механической обработки, а при одном и том же способе — от режимов обработки (скорость резания и подачи), свойств и структуры обрабатываемого материала, вибрации инструмента и детали в процессе обработки, жесткости системы СПИД и др. Помимо шеро- [c.41]

Бесконтактные, оценивающие мнкронеровности исследуемой поверхности без соприкосновения с ней. К этой группе относится большинство оптических приборов (интерференционный и двойной микроскопы академика В. П. Линника, микроскопы сравнения и др.). Большинство из указанных приборов применяют в лабораторных условиях и при проведении экспериментальных работ. В производственных условиях, где необходимо быстро определить класс чистоты обработанной поверхности, применяют микроскопы сравнения и наборы эталонов чистоты. С помощью микроскопов сравнения партии деталей контролируют сравнением каждой из них с образцом-эталоном. В поле зрения микроскопа наблюдатель видит увеличенное изображение контролируемой поверхности рядом с увеличенным изображением поверхности эталона (в микроскопе МС-49 увеличение х50). [c.193]

К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. Интерференционные микроскопы, будучи точными средствами измерения, получили распространение при лабораторных исследованиях весьма чистых поверхностей, в то время как в производственных условиях предпочтение отдавалось щуповым приборам. Решающее значение имел в этом отношении профилометр, разработанный в 1933 г. американскими учеными Абботом, Файрстоном, Байским и Вильямсоном. Основной целью, которую ставили перед собой 6 [c.6]

Приборы светового сечения (ПСС) называют двойными микроскопами (МИС-11 системы В.П. Линника). Они позволяют измерять шероховатость поверхности до 2 0,8 мкм.Для измерения более чистых поверхностей с Л2 0,8...0,03 мкм применяют микроинтерферометры (МПИ-4 МИИ-5 МИИ-10 МИИ-12), работающие на принципе интерференции света. Поверхность образца (детали) рассматривается в микроскоп и при этом на ее изображение накладываются интерференционные полосы, по искривленшо которых судят о распределении неровностей. Если бы контролируемая поверхность была идеально плоской, то на ней возникли бы прямые параллельные интерференционные полосы. Микронеровности на поверхности изменяют ход лучей и вызыва- [c.46]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...