Когерентность, степень комплексная при освещении микроскопа

Когерентность, степень комплексная прн освещении микроскопа 480 -454 —, — —, р дчст 466 — 471 —, теория 453, 492—500 [c.715]

Размер освещенной области в плоскости изображения конденсора (плоскость предмета объектива) значительно больше, чем эффективный размер диска Эйри, создаваемого одной точкой источника (в обозначениях, принятых в п. 10.5.1, р /л). Согласно п. 10.5.1 при таких условиях комплексная степень когерентности для любой пары точек в плоскости предмета объектива совпадает со степенью когерентности, обусловленной некогерентным источником, заполняющим конденсор. Кроме того, степень когерентности не зависит от аберраций конденсора. Очевидно, что разрешающая сила микроскопа зависит только от степени когерентности света, падающего на предмет и от свойств объектива. Следовательно, аберрации конденсора совершенно не влияют на разре-шающую силу микроскопа. Этот важный результат, впервые полученный другим способом Цернике [671, показывает ошибочность широко распространенного мнения, согласно которому хорошо скорректированный конденсор обладает преимуществами при получении высокой разрешающей силы. [c.481]

Чтобы оценить предельное разрешение, достигаемое при освещении методом Кёлера, необходимо прежде всего определить комплексную степень когерентности р. для пар точек в плоскости предмета объектива микроскопа. Пусть [c.482]

Эта формула идентична формуле (18) в случае критического освещения. Следовательно, комплексная степень когерентности света, падающего на плоскость предмета микроскопа, одина/сова как при критическом освещении, так и при освеш/гнии по Келеру. Этот результат пока.зывает, что часто употребляемые названия некогерентное для критического освещения и когерентное для освещения по Кёлеру нужно считать неудачными. Как мы видим, формула (20) справедлива для обоих типов освещения, а рис. 10.13 одинаково применим к обоим случаям. [c.484]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...