Лучи электронные 279, XII

Вследствие малой длины волны рентгеновские лучи не отражаются от поверхности, а проникают внутрь вещества. Под действием электромагнитного поля этих лучей электроны атомов приводятся в колебательное движение. [c.36]

Электронный луч. Электронный луч — поток электронов, испускаемых одним источником и движущихся по близким траекториям в определенном направлении. Сущность процесса сварки электронным лучом в вакууме состоит в использовании кинетической энергии электронов. [c.15]

То обстоятельство, что все легкие атомы ведут себя одинаково, позволяет предполагать, что процесс рассеяния сводится к столкновению фотонов с электронами. Действительно, в легких атомах связь электронов с ядром атома слаба, и под действием рентгеновских лучей электроны легко отделяются от атома. Поэтому можно [c.654]

Движение электронов, получивших заметные скорости в результате рассеяния рентгеновских лучей, удается наблюдать непосредственно на опыте. Для этой цели были произведены исследования с помощью камеры Вильсона, которая позволяет судить и о направлении рассеянных лучей и о направлении движения электронов, выбитых при рассеянии рентгеновских лучей (электроны отдачи ). И на пути электронов, и на пути рассеянного рентгеновского света появляются ионы, на которых конденсируется водяной пар, что делает видимым эти пути. [c.656]

Рассеяния рентгеновских лучей электронами. Пусть на электрон, находящийся в точке О (рис. 1.39), падает плоская монохроматическая волна рентгеновского излучения интенсивности Jo- [c.42]

Описанные особенности эффекта Комптона легко объяснить, если считать, что рентгеновское излучение имеет чисто квантовую природу, т. е. представляет собой поток фотонов. Тот факт, что все легкие атомы ведут себя одинаково, позволяет предполагать, что процесс рассеяния сводится к столкновению фотонов с электронами. Действительно, в таких атомах связь электронов с ядром слаба и под действием рентгеновских лучей электроны легко отделяются от атома. Поэтому эффект Комптона можно в первом приближении рассматривать как рассеяние рентгеновских лучей свободными электронами. [c.180]

Бета-излучение (нрк. бета-лучи) — электронное излучение, возникающее при бета-распаде ядер или нестабильных частиц. [c.242]

К корпускулярным излучениям относятся быстрые и медленные нейтроны, осколки ядер, а-частицы, -лучи-электроны, к в о л н о в ы AJ излучения м относятся Y-лучи, л есткое и мягкое рентгеновское излучение. [c.45]

Полиимиды выдерживают без существенных изменений облучение у-лучами, электронами и нейтронами в дозах от 10 —10 рад (стирол — рад). [c.91]

Используя системы синхронизации (перемещения светового луча, электронного луча, ножа фототелеграфного аппарата и т. п.) и подавая сигнал от детектора на модулирующее устройство, получают изображение исследуемого объекта в соответствующем масштабе. [c.238]

Сформированное в миллиметровом диапазоне изображение сканируется по спирали с большой скоростью датчиком, сигнал с которого после усиления модулирует по интенсивности электронный луч электронно-лучевой трубки, вращающейся синхронно с датчиком. [c.242]

К корпускулярным излучениям относятся быстрые и медленные нейтроны, осколки ядер, а-частицы и Р-лучи (электроны различных скоростей) [c.86]

В настоящее время программное управление находит все большее применение в новых видах обработки материалов. Одним из них является обработка материалов электронным лучом. Электронный луч применяется для сварки, вырезания контуров сложной конфигурации, прожигания отверстий в деталях радиоэлектронной аппаратуры. Поскольку эти детали имеют малые размеры, а весь процесс обработки происходит в камере с глубоким вакуумом, то автоматическое управление процессом движения электронного луча в данном случае просто необходимо. [c.165]

Лучи электронные — Регулирование — Схемы 240 [c.444]

Благодаря распределению основной настройки и расстройки на выходную и входные цепочки четырехполюсника эти операции становятся независимыми и установленный один раз фазовый сдвиг сохраняется во всем диапазоне настройки усилителя. В каналах развертки расстройка устанавливается 45° в каждом усилителе или 90° между выходными напряжениями усилителей, что при равных амплитудах дает круговую траекторию луча электронно-лучевой трубки. На эту траекторию накладываются две фазовые метки двух составляющих неуравновешенности путем подачи фазовых импульсов на центральный электрод электронно- [c.524]

Рентгеновские лучи, электроны, нейтроны [c.95]

Именно эти три вида излучения — рентгеновские лучи, электроны и нейтроны — сегодня используются для анализа структуры кристаллов. С одной стороны, все они ведут себя схоже — как электромагнитные волны определенной длины. Для всех них выполняется закон Вульфа —- Брэгга. Тем не менее число различий между ними очень велико. Даже их беглый анализ выходит далеко за рамки этой книги. Поэтому мы очень кратко остановимся лишь на нескольких пунктах. [c.98]

На этом мы заканчиваем рассказ о том, как лучами исследуют кристаллы. Мы постарались ответить на главный вопрос главы можно ли установить конкретное расположение атомов в веществе Расшифровывая дифракционные картины, полученные с помощью рентгеновских лучей, электронов или нейтронов, удается определить кристаллическую решетку, которую имеет интересующая нас фаза. В частности, кривую охлаждения железа, с которой мы начали эту главу, теперь вполне можно дополнить данными дифракционных экспериментов а- и б-железо (см. рис. 12) имеют ОЦК решетку, а у-железо — ГЦК. [c.101]

Экспериментально структуры аморфных сплавов изучают с использованием "прямых" (дифракция рентгеновских лучей, электронов и нейтронов) и косвенных (ядерный магнитный резонанс, ядерный у-резонанс и [c.280]

Видение ночью в инфракрасных лучах (электронные телескопы) [c.380]

Аморфное состояние твердого тела — наименее изученная область современного структурного металловедения. При этом главная трудность состоит в описании структуры этого состояния, поскольку нельзя использовать трансляционные элементы симметрии и понятие элементарной ячейки, а методы, основанные на взаимодействии твердого тела с электромагнитным излучением (нейтроны, рентгеновские лучи, электроны), мало э4)фективны. Аморфное состояние твердого тела по структуре в значительной степени соответствует жидкости, поэтому в основе описания структуры этого состояния лежат флуктуационные параметры плотности, локального окружения и химического состава, что вносит в описание вероятностный и статистический характер. [c.160]

Среди тех многих явлений, которые позволяют осуществить голографическую запись, назовем фотохромизм, т. е. уменьшение под действием света полос поглощения, образование которых происходит при облучении коротковолновым излучением, рентгеновскими лучами, электронными пучками и т. п. К материалам такого типа принадлежат фотохромные стекла, кристаллы с примесями, органические красители и др. В последующих параграфах будут более подробно рассмотрены различные регистрирующие среды. [c.140]

Из источников нагрева наибольшее распространение получили электрическая дуга (дуговая и плазменная сварка) тлеющий разряд джоулева теплота, вьщеляемая при прохождении электрического тока через расплав шлака (электрошлаковая сварка) или металл свариваемых деталей (контактная сварка) электронный луч (электронно-лучевая сварка) луч лазера и др. Управление ими осуществляется регулированием электрических параметров, степенью сжатия дуги, фокусировкой электронного или лазерного луча [ 1 ]. [c.13]

Оборудование для электронно-лучевого нанесения покрытий. Основными его элементами являются тигель с испаряемым материалом и генератор электронного луча — электронно-лучевая пушка (рис. 1.6) [13, 17]. [c.430]

Схема установки для электронно-лучевой обработки (электронная пушка) показана на рис. 7.14. В вакуумной камере 1 установки вольфрамовый катод И, питаемый от исючкика тока, обеспечивает эмиссию свободных электронов. Электроны формируются в пучок специальным электродом и под действием электрического поля, создаваемого высокой разностью потенциалов между катодом И анодом 10, ускоряются в осевом направлении. Луч электронов проходит систему юстировки 9, диафрагму 8, корректор изображения 7 и систему магнитных линз 6, которые окончательно [c.413]

В телевизионном приемнике— телевизоре — имеется электровакуумная трубка, называемая ки нескопом. В кинескопе электронная пушка создает электронный луч. Электроны под действием электрического поля движутся внутри трубки к экрану, покрытому кристаллами, способными светиться под ударами быстро-движущихся электроЕюв. На пути к экралу электроны пролетают через магнитные поля двух пар катушек, расположенных снаружи трубки. [c.257]

Условие дистракции Вульфа-Брэгга. Рассмотрим геометрическое условие дифракции на кристалле диафрагмированного монохроматического пучка излучения. Это условие (закон Вульфа—Брэгга) применимо для дифракции рентгеновских лучей, электронов, нейтронов. [c.55]

Основным методом изучения структуры аморфных материалов является метод дифракции рентгеноваких х лучей, электронов и нейтронов [67]. В главе 7 при рассмотрении вопросов дифракции излучения на кристаллах указывалось, что при рассеянии на неограниченном кристалле возникают узкие дифракционные максимумы, положение которых определяется в соответствии с формулой Вульфа -— Брэгга межплоскостными расстояниями, а ширина — размером кристалла,. В весьма грубой модели картину дифракции на аморфных материалах можно рассматривать как происходящую на совокупности ультрамалых беспорядочно ориентированных кристаллитов (см. рис. 12.2, а), и поэтому узкие дифракционные максимумы при переходе к рассеянию аморфными материалами должны трансформироваться в широкие диффузные гало. Такой подход позволяет качественно объяснить характер дифракционной картины от аморфных веществ, однако даже при исследовании структуры аморфных материалов с помощью наиболее высокоразрешающего метода — дифракции электронов — узкие дифракционные максимумы обнаружить не удалось. По этой причине модель аморфных материалов как ультрамикрокристал-лических веществ далеко не всегда считается справедливой. В качестве более корректной модели сейчас все чаще принимается модель непрерывного распределения сферических частиц, характеризующихся почти плотной упаковкой (иначе — случайной сеткой [c.277]

Радиоактивные изотопы пока дороги, дают ничтожное количество энергии, но длительное время (до 30 лет и более), непрерывно и равномерно. Это кобальт-60, строииий-90, цезий-137 и др. они излучают альфа-лучи (ядра гелия), бета-лучи (электроны) и гамма-лучи (фотоны). [c.141]

Подобному же исследованию было подвергнуто расположение молекул в тонких смазочных пленках, нанесенных на метал у ля этой цели также было применено наблюдение расЙеяния рентгеновских лучей, а также изучение отражения от подобных пленок потока электронов — мельчайших отрицательно заряженных частиц. Этот последний метод оказался еще удобнее и полезнее для исследования тонких пленок, чем метод, основанный на нрименении рентгеновских лучей электронные лучи проникают в вещество на значительно меньшую глубину. [c.203]

Ведутся научные исследования по использованию электронноионной технологии в промышленности — применению лазерного луча, электронного луча, ультразвука, фотоэффекта, искровой обработки, магнитного поля, катафореза, электрического осаждения и др. [c.33]

В методах с мсханич. сканированием часто используется синхронное перемещение прнёмника звука и точечного источника света (лампочки или луча электронно-лучевой трубки), яркость к-рого управляется электрич. сигналом, полученным от приёмника звука. Регистрация распределения яркости осуш сствляется обычно на фотопластинке, к-рая после экспо-зиции и хим. обработки и является эквивалентной оптич. амплитудной голограммой. [c.513]

И В случае др. волновых полей, следует из принципа Гюйгенса — Фроиеля н, и этом смысле, аналогично описанию дифракции света, рсатг. лучей, электронов и др. микрочастиц (см. Дифракция волн). Согласно этому [c.669]

ЛАЗЕРЫ НА ЦЕНТРАХ ОКРАСКИ (ЛЦО) - лазеры, в к-рых активной средой служат ионные кристаллы с центрами окраски. Под воздействием ионизирующих излучений 7-лучей, электронов высокой энергии, рентг. лучей, нейтронов) либо при нагреве в парах щелочных или щелочноземельных металлов в оптически прозрачных, бесцветных кристаллах возникают вакансии, локализующие на себе за счёт кулоповского притяжения [c.566]

Центр, проблемой М. является изучение атомной структуры металлов и сплавов и её эволюции при изменении темп-ры, давления, магн. поля и др. Теория позволяет лишь в простейших случаях рассчитать характер кристаллич. структуры исходя из электронного строения атомов, и практически вся информация о кристаллич. решётках получена экспериментально (дифракция ренгг. лучей, электронов, нейтронов, алектроллая микроскопия высокого разрешения, мёссбауэровская спектроскопия). [c.112]

Радиацией или ионизирующим излучением называют коротковолновое электромагнитное излучение — рентгеновские и Y-лучи, электроны, протоны, нейтроны, а-частицы и ядра отдачи, а также быстрые нейтроны. Источником излучения является радиактивный °Со, распад которого сопровождается выбросом р-частиц с энергией 0,3 МэВ и двух -квантов с энергией 1,17 и 1,33 МэВ с выходом 100%. Средняя энергия -квантов равна 1,25 МэВ. Благодаря самопоглощению р-частиц °Со дает практически чистое у излучение. Его проникающая способность очень высока. Слой воды толщиной 15 см не полностью поглощает излучение. Период полураспада °Со 5,3 года, время использования в промышленной установке обычно достигает 10 лет. [c.670]

Электронный пучок получить намного легче, чем нейтронный. Для этого часто используется явление термоэлектронной эмиссии (хотя есть и другие способы), когда разогретая до высокой температуры вольфрамовая нить испускает электроны со своей поверхности. В отличие от нейтронов и рентгеновских лучей электроны имеют заряд и поэтому намного сильнее взаимодействуют с веществом. В частности, они обладают низкой проникающей способностью, и эксперименты приходится проводить в вакууме. Вакуумиро-вание всегда существенно осложняет работы и является (при прочих равных условиях) нежелательной операцией. Другой минус электронной техники — необходимость тщательной подготовки образцов. [c.99]

Кстати, внешне аморфный металл ничем не отличается от кристаллического. Но из-за беспорядочного расположения атомов стекло не является дифракционной решеткой для излучения, и на дифрактограмме отсутствуют резкие брэгговские пики (рис. 137). Облучая закаленные из жидко-сти образцы сплавов рентгеновскими лучами, электронами или нейтронами, можно определить, успешно ли прошла аморфизация. [c.234]

На светлопольных фотографиях, полученных в первичном луче электронов, когда в отражающем положении находится только одно зерно, водородные пузырьки вследствие деформационного контраста выявляются в виде темных дуг, обращенных выпуклостью в сторону отражающего зерна рис. 6.031 6.032). С ростом положительного отклонения А0 их размер уменьшается и, наконец, левее линии 2—2 они исчезают рис. 6.032). Остаются только изображения зернограничных выделений. На темнопольных фотографиях, получаемых в отраженном электронном луче, вследствие опять же деформационного контраста при Д0 О, водородные пузырьки выявляются в виде светлых дуг, обращенных выпуклостью в сторону зерна, в котором формируется отраженный луч рис. 6.033, 6.034). Как на светло-, так и темнопольных фотографиях, дуги, отображающие единичный пузырек, могут быть одно- (см. рис. 6.032, 6.033) или многоконтурными рис. 6.031, 6.034, 6.035). Подробности изображений водородных пузырьков, связанных с визуализацией полей деформаций вокруг них, представлены в работе [6.22]. Детали изображений в интервале 17— 127 °С и при относительной влажности 50—-100 %, как показывает анализ результатов работ [6.20, 6.24—6.27] и др. (подробная библиография по вопросу имеется в статье [6.22 ]) от конкретных значений указанных параметров не зависят. В связи с этим на рис. 6.032—6.035 различные изображения водородных пузырьков представлены полученными на фотографиях тонких фолы сплавов, выдержанных в лабораторном воздухе при нормальной температуре. [c.244]

Наиболее перспективными с этой точки зрения являются фото-хромные материалы. Существуют такие вещества, в которых под действием света, рентгеновских лучей, электронов либо под воздействием температурной обработки образуются полосы поглощения в видимой области спектра. При воздействии света видимого диапазона, который имеет длину волны вблизи полосы поглощения, эта полоса поглощения уменьшается. В первом случае говорят о потемнении или окрашивании вещества, тогда как во втором случае процесс называется оптическим обесцвечиванием или отбеливанием. [c.149]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...