Глубина резкости

При этом способе освещения узкий пучок света при эксцентричном положении апертурной диафрагмы падает (с одной стороны) через объектив под углом на поверхность шлифа. По сравнению со всесторонним косым освещением темного поля свет падает под большим углом к поверхности шлифа и, отражаясь от объекта, еще раз падает на него. При этом дифракционная картина рассечена односторонне, ее асимметрия равна асимметрии рисунка. Поэтому получается впечатление рельефа, который из-за одностороннего освещения создает тени. Этот вид освещения часто применяют при незначительной глубине резкости нетравленых [c.12]

Этот метод быстро внедряется в световую микроскопию (46—59]. Следует коротко сказать о принципе действия и указать на преимущества его применения для металлографических исследований. При методе фазового контраста (МФК), открытого Цернике [60] для просвечивающей микроскопии, необходимо создать разницу хода в /4 длины световой волны, т. е. разницу фаз в 90° преломленного луча по отношению к непреломленному. Это оказалось возможным благодаря применению стеклянной пластины, на которую наносят тонкий, сдвигающий фазу на 90° слой относительно прозрачного вещества. Фазовая пластинка влияет на открывание диафрагмы и изменяет картину дифракции так сильно, что в поле зрения вновь передается разница уровней (глубина резкости) при разной яркости освещения. [c.14]

При выявлении поверхности зерна максимальная глубина резкости больше, чем при выявлении границ зерен. Поверхность зерна вследствие террасы , образующейся при химическом взаимодействии, оказывается шероховатой. При вращении образца, протравленного для выявления поверхности зерна, каждый кристалл с изменением угла падения света к его оси достигает наивысшей или наинизшей степени освещения. Такой вид отражения обозначен Чохральским [4] как периодическое отражение . Это явление зависит в первую очередь от того, в каком направлении кристалл рассечен плоскостью шлифа и является ли положение оси и плоскости кристалла благоприятным для химического взаимодействия с реактивом. [c.28]

При контроле деталей оборудования применяют лупы для общего осмотра поверхности — обзорные, а осмотра малых зон деталей и анализа характера обнаруженных дефектов — складные или телескопические. В качестве обзорных удобно применять бинокулярные налобные лупы типа БЛ с увеличением до 2. С возрастанием увеличения оптических приборов резко сокращаются поле зрения и глубина резкости, падают производительность и достоверность контроля, поэтому для осмотра малых зон применяют складные лупы типа ЛП, ЛА с увеличением не более 16 и телескопические типа ЛПШ, ТЛА с увеличением до 30—40. [c.11]

Существенное преимущество рентгеновского проекционного метода — исключительно большая глубина резкости. Это позволяет получить стереоскопические снимки при любых увеличениях, доступных в данном методе, [c.499]

Объективы 100>< и 200 имеют ирисовую апертурную диафрагму, с помощью которой можно увеличивать глубину резкости изображения. [c.380]

Электронный микроскоп. В электронном микроскопе лучи света заменены потоком электронов, поэтому разрешающая сила его и предельное увеличение ограничиваются не длиной волны, а аберрациями геометрической оптики. Предельные увеличения электронного микроскопа могут достигать сотен тысяч крат. Другими преимуществами электронного микроскопа являются большая глубина резкости (вследствие малых угловых апертур), позволяющая получать стереоснимки и исследовать рельеф поверхности, а также возможность исследовать процессы при повышенных температурах. На фиг. 17 изображён электронный микроскоп с увеличением до 25 000 крат. [c.148]

Наряду с указанными требованиями существенными вопросами голографической интерферометрии являются локализации полос, а также чувствительность метода к изменениям состояния объекта. Детальный анализ процесса образования голографических интерференционных полос показывает, что в общем случае плоскость локализации полос может находиться на произвольном расстоянии от поверхности объекта. В результате полосы на объекте оказываются малоконтрастными, что затрудняет их наблюдение. Данный недостаток может быть преодолен увеличением глубины резкости системы наблюдения путем ограничения ее апертуры [4]. [c.212]

Основное преимущество электронных микроскопов по сравнению с оптическими заключается в сочетании большого увеличения (до 100 ООО у РЭМ и 500 000 у ПЭМ) с большой глубиной резкости (порядка единиц и десятков микрометров). Это позволяет при большом увеличении детали одновременно наблюдать поверхности, находящиеся на разных высотах, и получить наглядное объемное изображение структуры поверхности. [c.112]

Т. о., голография, съём информации увеличивает глубину резкости, а также позволяет увеличить загрузку С. к. в 10—100 раз за счёт равномерного распределения частиц по глубине камеры. Для С. к. высокого давления (13 атм) диаметром 50 мм и толщиной 23 мм, работающей на смеси Не (90%)-(-СН (10%), было получено разрешение 25 мкм, что соответствует диаметру стримера [4]. [c.703]

Методом РЭМ можно исследовать морфологию зерен, их размеры и внутреннее строение, выявлять формы вхождения элементов в состав материалов, их кристаллохимические и термодинамические характеристики. Разрешающая способность РЭМ равна 20—3 нм, что более чем на порядок лучше световых микроскопов, глубина резкости изображения — от 0,5 до 0,8 нм. [c.69]

Из предыдущего раздела следует, что при исключении воздушного зазора между эмульсией и образцом и утонении слоя эмульсии до 0,1—0,2 мкм можно достичь авторадиографического разрешения, лимитируемого лишь величиной зерна эмульсии условиями экспозиции и фотопроцесса. Разрешение остается высоким даже при наличии тонкой рассеивающей пленки между эмульсией и образцом Полученное разрешение может быть полностью реализовано лишь при увеличениях 1500—2000 и более что соответствует предельному полезному увеличению светового микроскопа. Кроме этого, если эмульсионный слой копирует рельеф образца, глубина резкости светового микроскопа недо- [c.472]

Если с помощью микроскопа можно хорошо ознакомиться с основными чертами строения боксита и определить в нем прозрачные минералы фазовым контрастным методом, то из-за ограниченной разрешающей силы микроскопа форму и взаимосвязь сросшихся отдельных кристаллов можно распознать только в редких случаях. Хороший объектив с апертурой 1,0 имеет, например, разрешающую силу 0,3 мкм и такую же глубину резкости. Если, например, необходимо различить шестиугольную форму псевдо-гексагональных кристалликов гидраргиллита или подобные частицы, то в поперечнике они должны быть не меньше 2 мкм и находиться в узкой зоне резкости, перпендикулярной оптической оси микроскопа. [c.26]

Благодаря высокой разрешающей способности и относительно большой глубине резкости электронный микроскоп позволяет изучать тонкую структуру бокситов. На рис. 8 можно видеть псевдогексагональные кристаллы бемита, а на рис. 9 — несколько кристаллов диаспора. Как видно, в среднем кристаллы много меньше микрона. [c.26]

Существенным преимуществом электронного микроскопа является большая глубина резкости изображения, что позволяет наблюдать четкие изображения поверхности с глубоким рельефом, например изломы. Оптическая металлография дала возможность раскрыть типы, расположение и процесс образования структурных составляющих в металле. [c.42]

Следует учитывать, что в практике металлографических исследований иногда приходится в ущерб разрешающей способности заботиться о повышении контрастности изображения и об увеличении глубины резкости, характеризуемой величиной вертикального смещения деталей микроструктуры, которое не приводит к потере фокусировки. [c.23]

Подвижная апертурная диафрагма с отверстием диаметром 10—50 мкм расположена в задней фокальной плоскости объективной линзы она позволяет выбрать из всех рассеянных электронов более или менее узкий пучок и лишь его использовать для формирования изображения, что обеспечивает контраст изображения (как абсорбционный, так и дифракционный). Кроме того, апертурная диафрагма способствует получению большей резкости изображений, уменьшая влияние сферической аберрации. Малая угловая апертура объективной линзы обеспечивает и большую глубину резкости, необходимую для получения резких снимков на фотопластинках, расположенных значительно ниже экрана, на котором фокусируется изображение. Наличие подвижной апертурной диафрагмы позволяет получать темнопольные изображения путем смещения падающего электронного пучка или диафрагмы таким образом, чтобы через нее проходили только рассеянные электроны. Тогда те участки объекта, которые сильнее рассеивают электроны, будут на изображении более светлыми. При исследованиях необходимо выбирать оптимальные размеры апертурной диафрагмы, поскольку с их уменьшением возрастают контрастность и резкость изображения, но падает его яркость. [c.48]

В связи с увеличением размеров оптических приборов существенно сокращаются поле зрения и глубина резкости, а также снижаются производительность и надежность контроля, для осмотра деталей в основном применяют оптические приборы с увеличением не более 20—30 . Дефекты даже относительно больших размеров, невидимые невооруженным глазом из-за малого контраста с фоном, при использовании оптических приборов не обнаруживаются. [c.85]

При жела1и1и его сфотографировать мы должны, так же как и при обычном фотографнроваиин, выбрать соответствующую диафрагму для обеспечения глубины резкости разглядывая ближние и дальние точки предмета, мы должны будем по-разному аккомодировать глаз, меняя положение головы. [c.206]

Пусть объектом служит однолте )ная дифракционная решетка с постоянной d (рис. 6.7 )). Будем считать ее плоской, что приемлемо, гак как и микроскопе исс.]едуются тошсие препараты, а глубина резкости столь сильного объектива мала. Плоская волна проходит сквозь решетку, распространяясь вдоль оптической оси микроскопа перпендикулярно плоскости решетки. В главной фокальной плоскости объектива получается спектр — [c.342]

Приборы для контроля и измерения поверхностных дефектов и микрогео-метрнн. Благодаря малой глубине резкости микрообъективов обычные микроскопы можно использовать в качестве эффективного и достаточно простого средства измерения глубины поверхностных дефектов. Измерение осуществляется последовательной фокусировкой микроскопа на дно риски или царапины и ее верхний край и регистрацией перемещения тубуса микро- [c.74]

При макроскопических исследованиях изучают натуральную структуру шлифа или увеличенную с помощью сильной лупы (20—30-кратной). Эти незначительные увеличения позволяют получать большую глубину резкости (различие по высоте между структурными составляющими сильно растворяющимися и нерастворя-ющимися) и применять агрессивные травители — макротравители. Исследования при небольших увеличениях позволяют оценить свойства структуры и различать физические и химические свойства по всей поверхности шлифа, поэтому говорят об обзоре структуры. Макротравление выявляет текстуру литья, прокатки, ковки и ликвацию. Макроструктура позволяет выяснить до известной степени историю материала. [c.26]

Макротравитель необязательно должен выявлять структуру настолько контрастно, чтобы ее можно было изучить только макроскопически. В большинстве случаев способы травления позволяют исследовать материал макро-и микроскопически. Даже если картина структуры показывает макроконтраст, глубина резкости пропорциональна большим увеличениям. Поэтому грубая структура и грубое выявление структуры означают два различных понятия. Грубая структура может быть выявлена с помощью микроисследования. Грубое выявление структуры относится к применению сильного травнтеля. [c.26]

Тонкую структуру выявляют с помощью микротравителей. Исследования микроструктуры проводят при 50—1500-кратных оптических увеличениях. Основной задачей микротравления является расчленение структуры для каждого выбранного типа выявления, например для выявления границ зерен и тонких выделений (сегрегации), которое возможно при правильном соотношении выбранного увеличения к глубине резкости при одновременном хорошем просмотре структуры. Микротравление может применяться для выявления всех видов структуры а также в тех случаях, когда должна быть выявлена только общая структура (зеренная, литая) или распределение какого-либо сопутствующего или легирующего элемента. Микротравление позволяет использовать шлиф без дополнительной обработки при фотографировании макро- и микроструктуры. [c.27]

Выявление границ зерен зависит от величины угла их границ. Граница зерна представляет сечение плоскости шлифа плоскостью разграничения кристаллов. Можно наблюдать, что граница на одной стороне зерна выявляется плохо вследствие приблизительно одинаковой ориентации соседнего кристалла и обнаруживается на другой стороне зерна в результате большой разницы в ориентации. С увеличением продолжительности травления границы зерен утолщаются вследствие увеличения глубины резкости и распространения плоскости границ зерен в третьем измерении (образуется большой уступ). Лакомбе и Яннаквис [1] на [c.27]

Вследствие известной ограниченности световой микроскопии (недостаточные глубина резкости и разрешающая способность) при изучении физических основ прочности материалов все чаще применяются методы прямого наблюдения за поведением дислокаций и образованием полос скольжения с помощью высоковольтного и растрового электронных микроскопов в широком диапазоне температур Эти методы тепловой электронной микроскопии, позволяющие осуществлять, например, исследование динамических свойств дислокаций in situ, вносят существенный вклад в изучение субми-кроскопических особенностей деформирования и разрушения материалов в условиях высоких и низких температур. [c.292]

Такое сочетание приборов в единой системе значительно расширило аналитические возможности как микроанализаторов, так и растровых электронных микроскопов. В методе РСМА обеспечена возможность просмотра с большой глубиной резкости всей поверхности исследуемого образца, выбора методически оправданных зон анализа и высокой прицельности. Информация о рельефе и структурных компонентах поверхности объектов, полученная по методу РЭМ, дополняется сведениями о распределении элементов в поверхностном слое. Эти данные часто являются определяющими при решении ряда практических задач. [c.497]

Микроанализаторы. На рис. 4 показана принципиальная схема рентгеновского микроанализатора МР-6. Он позволяет исследовать распределения химических элементов по поверхности образца и наблюдать с большой глубиной резкости морфологию поверхности образца во вторичных, упруго-отраженных и поглощенных электронах. Мцкроанализатор МР-6 — прибор универсального назначения. Он рассчитан для использования в материаловедении, металлургии, а также биологии и других областях науки и техники. [c.497]

Микроскоп. Микроскоп снабжен длиннофокусным объективом с 20-кратным увеличением типа М.1487 фирмы Виккерс инстр -ментс ЛТД. . Числовая апертура объектива равна 0,65, фокусное расстояние — 12,2 мм, глубина резкости — 4 мк. Последняя особенность объектива позволила применить метод оптических сечений, с помощью которого можно получать фотографии треков частиц в пленке с разрешающей способностью но глубине около + 8 л/к. Используется окуляр фирмы Хьюдженайн с 6-кратным увеличением. Микроскоп прочно закрепляют на рабочем участке, чтобы свести к минимуму относительную вибрацию. Перемещение рычагов управления фокусировкой микроскопа усиливается стрелочным прибором, с помощью которого перемещение фокуса микроскопа может быть измерено с точностью 0,3 мк. [c.192]

Важно отдштить, что точность измерений скорости в пленке все еще является неопределенной по следующим причинам. Перед измерением расстояния между двумя изображениями частицы на фотографии с помощью теории авторов производилась грубая оценка ожидаемых результатов измерений. В опытах наблюдался целый ряд расстояний между двумя изображениями частиц, обусловленный конечным значением глубины резкости изображения (и, возможно, наличием переходного течения при больших значениях толщины). В соответствии с мнением наблюдателя о степени резкости некоторые парные изображения частиц отбрасывались, а для оставшихся изображений прн вычислении скорости производилось осреднение. Поэтому вполне возможно, что если наблюдатель знал величину приблин енной оценки, то это ставило под сомнение надежность такого метода измерения расстояния между двумя положениями нзобран ений частицы па фотографии. Кроме того, измерения проводились для очень небольшого числа парных изображений, а при пересечении верхней границы пленки фотографирование велось для совершенно недостаточного числа фиксированных положений поля зрения объектива. [c.196]

Благодаря малой длине волны к ренТг. излучения методы Р. л. обладают высокой разрешающей способностью ( 10 нм). По сравнению с электроне- и ионо-литографией в Р. л. малы радиац. повреждения формируемых структур и высока производительность благодаря возможности одноврем. обработки больших площадей образца. Р. л. отличается большой глубиной резкости и малым влиянием материала подложки и её топографии на разрешающую способность. [c.344]

Недостаток С. к. высокого давления с высоким разрешением — малая глубина резкости. Для обычной оптпч. системы глубина резкости D и разрешение R связаны соотношением R = 0,6 / О, где X — длина световой волны. При разрешении объектов размером 20 Мкм 0 = 2 мм. Для голография, съёма информации глубина голографирования ( А)VI2, где d — [c.703]

Весьма важным для технологического применения является обеспечиваемая фокусирующей системой глубина резкости пучка, т. е. размер перетяжки пучка в направлении его распространения. Как видно из приведенных на рис. 2.6 типичных экспериментальных данных, профиль лазерного пучка вблизи фокальной плоскости линзы существенно зависит от наличия аберрационных эффектов. При F Fofi, когда аберрацией можно пренебречь, перетяжка симметрична (кривая 1) и под ее длиной можно подразумевать длину бл , в пределе которой размер геометрически сходящегося пучка остается меньше его реального размера в фокальной плоскости, т.е. [c.72]

Благодаря хорощей глубине резкости изображения РЭМ позволяет изучать любые массивные образцы без предварительной подготовки в диапазоне увеличений от 20 до 150 ООО. Образцы для анализа могут бьггь монолитными, плотными и рыхлыми, пористыми и вязкими. [c.70]

У электронного микроскопа соотношение между разрешающей способностью и глубиной резкости лучшее. Для препаратов обычной толщины у большинства микроскопов достижимая разрешающая сила больше 5 нм (50 А). В противоположность светооптическому изображению при максимальном увеличении электронного микроскопа глубина резкости кратна разрешению например, при разрешающей способности 5 нм (50 А) глубина резкости равна примерно 1000 нм (10000 А) = 1 мкм (1 микрону). [c.26]

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп (рис. 1.422). Зондирование образца производится с помощью острофо-кусированного электронного луча (диаметр 10 мм). Контрастность образуется за счет различия во вторичной электронной эмиссии. Большая глубина резкости (см. 1.11.4.6). [c.159]

Большая глубина резкости изображения в РЭМ может быть использована для выявления формы и тонкого строения включений в металлической матрице, которую равномерно стравлршают до глубины 10—20 мкм. Применяя данную методику для изучения фор.м роста графита в чугуне, удалось показать [7], что включения шаровидного графита в заэвтекти-ческом чугуне образованы перекрывающими друг друга чешуйками, а пластинчатые включения также состоят из аналогичных чешуек, смыкающихся в ветви, исходящие из центров, сходных по строению с включениями шаровидного графита. Весьма перспективно применение для исследования металлов в РЭМ селективно действующих травителей. В реактивах, применяемых при травлении микрошлифов для исследования в РЭМ, содержание кислот, как правило, увеличено. [c.69]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...