Микроскопы 432 — Техническая двойные 517 — Оптическая

Показания проверяемого прибора на этих поверхностях сравниваются с показаниями изученного (образцового) щупового прибора. При испытании новой конструкции профилометра или профилографа также производятся измерения на технических поверхностях,- аттестованных оптическим методом, с целью выявления расхождений показаний исследуемого щупового прибора с данными, полученными на микроинтерферометре и двойном микроскопе. [c.133]

Следует иметь в виду, что двойное лучепреломление может возникать и в изотропных средах в искусственных условиях, например в стеклах или кристаллах кубической сингонии, вследствие возникновения в них различного рода натяжений. Поэтому рассматриваемый прием наблюдених в скрещенных поляризаторах часто применяют при техническом контроле в стекольной промышленности или при выращивании монокристаллов, в частности щелочпо-га.лоидных солей, предназначенных для изготовления деталей тех или иных оптических систем. Анизотропные монокристаллы при повороте столика микроскопа будут всегда светлеть или погасать одновременно в равной степени по всему объему, тогда как поликристаллы, вследствие того что отдельные его части состоят из различно ориентированных микрокристалликов, погасать равномерно не будут.Таким образом, данный способ позволяет наблюдать структуру поликристаллических или мозаичных образцов. Этим же приемом легко различать двойниковое строение кристаллов, часто встречающееся в природных условиях. [c.799]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...