Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Апертура микроскопа

Угол раскрытия объектива микроскопа должен обеспечить возможность взаимодействия хотя бы двух пучков света. Следовательно, апертура микроскопа и должна превышать ф1 — угол дифракции, соответствующий максимуму первого порядка  [c.343]

ВОВ на основании точных теоретических вычислений. В этой связи ему пришлось решать ряд вопросов, связанных со значением величины апертуры микроскопа и увеличением его разрешаюш ей способности. Здесь теория тесно переплеталась с практикой.  [c.369]


Рис. 40. Способ вертикального освеш е-ния препаратов при большой апертуре микроскопа. Рис. 40. Способ вертикального освеш е-ния препаратов при большой апертуре микроскопа.
Так как отношение г/х представляет собой выходную апертуру микроскопа Л , которая связана со входной соотношением Л = Л Р, то освещенность изображения в конечном счете равна  [c.26]

Изображение источника света должно полностью заполнять входное отверстие конденсора. Только в таком случае апертура микроскопа будет использована. наиболее рационально.  [c.137]

Поскольку апертура объектива является величиной заданной, то регулировка и изменение апертуры микроскопа в целом осуществляются ирисовой диафрагмой конденсора.  [c.141]

При обычной работе с микроскопом часто пренебрегают фокусировкой конденсора и не используют диафрагму коллектора. Размер освещенного поля регулируют передвижением конденсора. Это приводит к тому, что обе диафрагмы перестают действовать по своему назначению. При передвижении конденсора одновременно изменяется и диаметр освещенного поля и апертура микроскопа. С увеличением диаметра освещенного поля происходит вынужденное уменьшение апертуры. Такие приемы работы не применимы в микрофотографии.  [c.142]

Фокусировка конденсора необходима для того, чтобы иметь возможность раздельно управлять величиной освещенного поля и апертурой микроскопа. Регулировка освещенного поля должна производиться независимо от регулировки апертуры.  [c.142]

Единственный способ уменьшить аберраций — уменьшение апертуры микроскопа, так как аберрации пропорциональны тем или  [c.94]

Величина же апертурного угла также определя.ю-щая числовую апертуру микроскопа, зависит от конструкции объектива и в сухих объективах ограничивается  [c.328]

Из формулы (324) следует, что для повышения разрешающей способности микроскопа нужно уменьшать длину волны света и увеличивать числовую апертуру микроскопа. Первая возможность реализуется путем фотографирования исследуемых предметов в ультрафиолетовом излучении.  [c.195]

Апертура микроскопа определяется по формуле А = п sin Од где sin Од < 1. Значение апертурного угла современных высоко качественных микрообъективов доведено практически до предела  [c.195]

Разрешающая сила микроскопа. Явление дифракции на апертуре объектива ограничивает возможности микроскопа. Как и в других оптических приборах, для количественной характеристики способности микроскопа вводится понятие его разрешающей силы.  [c.199]


Таким образом, разрешающая сила микроскопа тем больше, чем больше значение п sin и. Эта последняя величина получила название числовой апертуры объектива и обычно обозначается через Л.  [c.350]

Таким образом, как для освещенных, так и для самосветящихся объектов разрешающая сила микроскопа зависит от числовой апертуры А.  [c.354]

В объективах современных микроскопов числовая апертура достигает значительных величин. Для сухих систем п = 1 и sin и практически доходит до 0,95, так что возможно разрешение деталей, имеющих размеры около половины длины световой волны. С иммерсионными системами достигается разрешение в полтора раза большее.  [c.354]

Так как числовую апертуру нельзя значительно повысить, то единственный способ увеличения разрешающей способности микроскопа состоит в переходе к более коротким волнам.  [c.357]

Необходимость защиты оптической системы микроскопа от воздействия высокой температуры потребовала разработки специальных линзовых, зеркально-линзовых и зеркальных объективов с увеличенным по сравнению с обычными системами рабочим расстоянием [119, 175, 180]. Применение объективов с большим рабочим расстоянием (от 15 до 60 мм) и числовой апертурой 0,2—0,65 позволяет, во-первых, существенно упростить конструктивное выполнение элементов рабочей камеры и захватов нагружающих устройств во-вторых, достаточно свободно разместить в рабочей камере устройство для защиты смотрового кварцевого стекла от осаждения конденсата и, в-третьих, расширить экспериментальные возможности испытательных установок по диапазону рабочих температур, видам нагружения и т. д. [119].  [c.85]

Использование описанных выше устройств облегчает изучение структуры нагретых образцов с помощью высокотемпературных микроскопов, снабженных специальными объективами с большим рабочим расстоянием (от 15 до 60 мм) и числовой апертурой 0,2—0,65. Применение объективов с большим рабочим расстоянием позволяет, во-первых, существенно упростить конструктивное выполнение элементов рабочей камеры и захватов нагру-90 жающего устройства во-вторых, достаточно свободно разместить в рабочей  [c.90]

На рис. 42 показан зеркально-линзовый объектив Дайсона с числовой апертурой А = 0,5 и увеличением 1. Выходящие из объектива О лучи проходят полупрозрачную защитную пластинку /, которая с помощью зеркала II направляет часть из них в плоскость а—а промежуточного изображения О. После этого изображение О проектируется с помощью обычного объектива III микроскопа в плоскость О", сопряженную с фокальной плоскостью окуляра.  [c.95]

Недостатком рассмотренного устройства является специфическая для данного зеркального объектива нечеткость передаваемого изображения вследствие технологической сложности выполнения высококачественной поверхности эллиптического зеркала. В последнее время в ЛОМО разработаны новые зеркально-линзовые объективы, позволившие создать весьма совершенные оптические системы, предназначенные для исследований методами тепловой микроскопии. В частности, при использовании объективов с рабочими расстояниями 32 и 17,2 мм и апертурами 0,4 и 0,65 получили оптическую систему, обеспечивающую наблюдение объекта в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста.  [c.99]

Так как собственное увеличение объектива ОМ-144 составляет лишь 3,9,, в микроскопе применяется вспомогательный объектив с апертурой 0,2 и собственным увеличением 9. Этот вспомогательный объектив должен быть, сфокусирован на изображение, полученное с помощью объектива ОМ-144  [c.142]

Электронный микроскоп. В электронном микроскопе лучи света заменены потоком электронов, поэтому разрешающая сила его и предельное увеличение ограничиваются не длиной волны, а аберрациями геометрической оптики. Предельные увеличения электронного микроскопа могут достигать сотен тысяч крат. Другими преимуществами электронного микроскопа являются большая глубина резкости (вследствие малых угловых апертур), позволяющая получать стереоснимки и исследовать рельеф поверхности, а также возможность исследовать процессы при повышенных температурах. На фиг. 17 изображён электронный микроскоп с увеличением до 25 000 крат.  [c.148]


Величина nsinu называется числовой апертурой микроскопа. Она равна примерно 1,5 и, значит, d = 0,4Х, т. е. для видимой  [c.341]

Числовая апертура микроскопа Шварцшильда, при которой еще возможно достижение дифракционного разрешения, может быть достаточно большой до Л = 0,3-ь0,4, при этом от 30 до 50 % площади в центре выпуклого зеркала не используется. При ра-  [c.209]

Рис. 34. Два принципиально отличных способа освещения микропрепаратов при больших апертурах микроскопа. Рис. 34. Два принципиально отличных способа освещения микропрепаратов при больших апертурах микроскопа.
Рис. 39. Простейший способ освеш ения непрозрачных микропрепаратов при малой апертуре микроскопа. Рис. 39. <a href="/info/301792">Простейший способ</a> освеш ения непрозрачных микропрепаратов при малой апертуре микроскопа.
Основной оптической частью установок для микроспектрофото-метрирования и микроспектрографирования является микроскоп, который создает увеличенное изображение объекта, позволяя визуально изучать микроструктуру препарата и выбирать отдельные элементы структуры для измерения. Кроме того, благодаря своей большой апертуре микроскоп создает высокую концентрацию света на объекте.  [c.72]

Для простоты Аббе в качестве объекта рассматривает решетку (фиг. 31), освещенную когерентным пучком, созданным, например, малым источником света 5, помещенным в фокусе коллиматора С. Согласно описанию свойств решетки (стр. 54) в фокальной плоскости объектива микроскопа создаются диффракционные спектры 5 , 52, 5з... эти спектры играют роль вторичных когерентных источников, интерферирующих между собой в результате этой интерференции создается перед окуляром картина / , которая воспринимается, как изображение решетки R. Вычисления П окавывают, что изображение тем лучше, чем больше имеется спектров в фшалъной плоскости объектива число спектров обратно пропорционально расстоянию между штрихами, м тем больше, чем больше численная апертура микроскопа. Необходимо наличие не менее двух спектров, чтобы была видна структура изображе -гия, позволяющая считать число штрихов. При одном спектре получается серый фон микроскоп не разрешает решетки. Согласно этой теории, при освещении, перпендикулярном плоскости решетки, наименьшее разрешаемое расстоятше равно  [c.61]

К этой же категории относится предложение одного советского автора (журнал Растениеводство за 1932 г.) задиафрагмировать фокальную плоскость объектива, оставляя лишь треть площадки выходного зрачка, с тем, чтобы увеличить резкость получаемых снимков. Этот прием уменьшаег апертуру микроскопа, а следовательно, при любой структуре предмета уменьшается разрешающая сила объектива, и число различимых подробностей убывает. Вероятно, автор пользовался объективом, обладающим большими остаточными аберрациями, И и зображения после диафрагмирования стали более резкими , т. е. освободились от фона и ореолов, создавая ложное впечатление резкости такой прием допустим только, если структура наблюдаемого предмета очень груба.  [c.69]

Следовательно, при иекогереитиом освеп1,е11ии самосветящегося объекта разрешающая сила микроскопа тем больше, чем больше числовая апертура и чем меныне длина волны света.  [c.201]

Увеличение разрешающей силы микроскопа. Из выражения разрешающей силы микроскопа видно, что суш,ествуют два пути ее увеличения а) увеличение числовой апертуры б) уменьшение длины волны света, в котором рассматривается объект. Числовую апертуру можно увеличить как увеличением угла апертуры, так и увеличением показателя преломления окружаюш,ей объект среды. Увеличення п можно добшъся, погружая объект в прозрачную жидкую Среду с возможно большим показателем преломления (со-ответствуюш,ие микроскопы называются иммерсионными). Однако, как известно, для оптически более плотных прозрачных жидкостей /г лг 1, 6, что не приводит к существенному увеличению разрешающей силы. Увеличение разрешающей силы за счет увеличения апертуры также ограничено, так как в предельном случае sin и = = 1. В реальных случаях можно добиться значения sin и = 0,95 при /г = 1. Это означает, что возможно разрешение деталей объекта размером порядка половины длины световой волны.  [c.203]

Мы нашли выражение для разрешающей силы микроскопа, исходя из предположения, что точки объекта посылают некогерентные волны (объект самосветящийся), так что ди()зракционные картины просто накладываются одна на другую. Однако обычно в микроскоп рассматривают объекты освещенные, а не самосветящиеся. Это значит, что отдельные точки объекта рассеивают падающие на них волны, исходящие из одной и той же точки источника, и, следовательно, свет, идущий из разных точек объекта, оказывается когерентным. К такому случаю, гораздо более распространенному, наш вывод разрешающей силы микроскопа непосредственно неприложим (см. упражнение 120). Аббе указал весьма интересный прием определения разрешающей силы для случая освещенных объектов и нашел, что и в данном случае разрешающая сила также определяется числовой апертурой объектива. Метод рассмотрения Аббе состоит в следующем.  [c.350]

Из изложенного ясно, что для получения правильного изображения надо, чтобы через объектив микроскопа и далее проникали дифракционные пучки всех направлений. Обычно внутри микроскопа не ставится препятствий, так что опасность представляет лишь входной зрачок, которым служит оправа объектива, ограничизаю-ищя его рабочее отверстие ). Чем меньше предмет или его деталь d, тем большие углы дифракции он обусловливает и тем шире должно быть отверстие объектива. Отверстие объектива определяется углом 2и между крайними лучами, идущими от объекта (расположенного у фокуса) к краям объектива. Половина этого угла носит название апертуры. Если апертура меньше pi — угла дифракции, соответствующего спектрам первого порядка, т. е. sin и < sin tpi = = Ao/d, то в микроскоп проникнут только лучи от центрального максимума и мы не увидим изображения, соответствующего деталям, определяемым величиной d, т. е. в случае нашей решетки будем иметь равномерное освещение. Таким образом, условр езш и У - XJd есть условие, необходимое для разрешения деталей d. В крайнем случае (sin и = %old) мы жертвуем максимумами высших порядков, т. е. как сказано, несколько ухудшаем качество изображения. Чем больше sin и по сравнению с kjd, тем больше спектров высших порядков участвует в построении изображения, т. е. тем точнее передается наблюдаемый объект.  [c.353]


Вначале наши установки снабжались металлографическим микроскопом МВТ с линзовыми объективами с рабочим расстоянием 14,5 мм. Однако эти оптические средства не позволяли достигать рабочих температур выше 1200° С. Поэтому были использованы более совершенные линзовые объективы МИМ-13С0 конструкции Ленинградского оптико-механического объединения, имеющие рабочее расстояние 59,22 мм и апертуру 0,27 (Х270). Большое рабочее  [c.85]

Более совершенным является линзовый объектив типа МИМ-13СО конструкции Ленинградского оптико-механического объединения (ЛОМО), имеющий рабочее расстояние около 60 мм и апертуру 0,27. Этот объектив предназначен для опытного горизонтального высокотемпературного микроскопа типа УВТ-1 и, как показала практика, его удовлетворительно использовали в микроскопе МВТ-1.  [c.91]

В 1950 г. в Государственном оптическом институте (ГОИ) были разработаны специальные зеркально-линзовые насадки к объективам микроскопа, увеличивающие рабочее расстояние. В качестве примера на рис. 43 приведена оптическая система, состоящая из собственно объектива микроскопа с увеличением 40 и апертурой 0,65 (40x0,65) и микронасадки (компоненты / и //) с рабочим расстоянием 30 мм и увеличением 1, дающей промежуточное изображение О. Первая поверхность линзы I выполнена асферической и тщательно просветлена. Чтобы исключать влияние прямой засветки, на центральную часть линзы нанесен непрозрачный экран.  [c.95]

Промышленностью выпускается мало аппаратуры для измерения твердости нагретых образцов [36, с. 370]. В Японии, например, фирма Ниппон Когаку К. К- изготавливает твердомер Никон , с помощью которого можно исследовать различные материалы в вакууме или в инертных средах (аргоне, гелии, азоте), измеряя под микроскопом диагонали отпечатков алмазного или сапфирового индентора Виккерса непосредственно после их нанесения на нагретый образец. Микроскоп снабжен объективом с рабочим расстоянием 18 мм и апертурой 0,3. Оптическая система микроскопа обеспечивает увеличение при визуальном наблюдении поверхности образца в 100 раз и при измерении диагоналей отпечатка в 300 раз. Диаметр поля зрения в первом случае составляет 1,6 мм, во втором 0,53 мм.  [c.114]

Устройство для изучения микроструктуры исследуемого образца. Для наблюдения и фотографирования микроструктуры образцов непосредственно в процессе испытания на усталость применен металлографический микроскоп 4 (см. рис. 80) типа МВТ с объективом МИМ-13-С0, имеющим рабочее расстояние 59,22 мм и апертуру 0,27. В крушке камеры находится смотровое плоскопараллельное стекло 19 диаметром 50 мм и толщиной 2 мм. Для фотографирования микроструктуры используются микрофотонасадки МФН-8 или МФН-12, а для киносъемки предназначена кинокамера типа КСР-1М. Для защиты смотрового стекла 19 от перегрева в моменты, когда не производится наблюдения за микроструктурой образца, предусмотрена подвижная шторка, управление которой осуществляется через рычажное устройство электромагнитным толкателем. От осаждения конденсата испаряющихся с поверхности образца частиц смотровое стекло 19 защищено плоскопараллельными кварцевыми стеклами, перемещаемыми по лотку, в котором имеется смотровое отверстие. Стекла  [c.149]

Прибор ПМТ-3 имеет следующие характеристики увеличение микроскопа 130Х и 487Х параметры линейного поля зрения микроскопа с объективами фокусное расстояние — 23,2 л м, апертура 0,17—1,3, фокусное расстояние 6,2, апертура 0,65—0,3 пределы измерения диагоналей 0,005—0,25 мм нагрузка 0,049 Н (5 гс) — 1,902 Н (200 гс).  [c.267]


Смотреть страницы где упоминается термин Апертура микроскопа : [c.342]    [c.497]    [c.54]    [c.817]    [c.53]    [c.60]    [c.194]    [c.195]    [c.441]    [c.340]    [c.360]   
Теория оптических систем (1992) -- [ c.194 ]



ПОИСК



Апертура

Микроскоп

Микроскоп числовая апертура

Микроскопия

Микроскопия микроскопы

Способы освещения микрообъективов при апертуре микроскопа

Способы освещения микрообъективов при апертуре микроскопа большой

Способы освещения микрообъективов при апертуре микроскопа малой

Способы освещения микрообъективов при апертуре микроскопа межуточные катоды фотоумножителей



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте