Микроскоп интерференционный

Интерференционный метод также позволяет наблюдать неконтрастные объекты, но, в отличие от метода фазового контраста, дает возможность получать цветные изображения и производить количественные измерения. сдвигов - фаз, вносимых микрообъектами (см. Микроскоп интерференционный). [c.236]

МИКРОСКОП ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ-МИКРОСКОП ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ [c.239]

Рассмотрим принцип действия голографического интерференционного микроскопа (рис., М). Луч света от [c.86]

Голографические интерференционные микроскопы нашли применение для исследования самых разнообразных объектов — оптических волокон, оптических линзовых растров, искусственных кристаллов для оптики, пятен масла, биомедицинских объектов, а также для изучения процессов деления клеток, роста кристаллов и т. п. [c.86]

Первым прибором такого типа, выпуск которого был налажен отечественной промышленностью, является голографический интерференционный микроскоп МГИ-1. Прибор предназначен для измерений методом реального времени или методом двух экспозиций, а также для получения голограмм прозрачных подвижных микрообъектов и наблюдения восстановленных изображений. Он может работать с лазером — как с импульсным, так и непрерывного действия. [c.86]

Голографические интерференционные микроскопы МГИ-1 и МГИ-.т являются достаточно универсальными приборами и могут широко применяться для различных целей. [c.87]

Так как изохроматы образуют замкнутые кривые, охватывающие оптическую ось (или оси), то наблюдение интерференционных картин позволяет установить число осей кристалла и определить их положение. Интерференционные картины можно наблюдать в микроскоп, снабженный двумя призмами Николя (поляризационный микроскоп). С помощью такого микроскопа можно измерять угол между оптическими осями двухосного кристалла (необходимо учитывать, что при выходе из кристалла свет преломляется). Указанный способ пригоден для определения положения оптических осей и измерения их наклона даже для очень небольщих кристалликов, попадающихся в тонких слоях минералов. [c.63]

Для оценки изменения рельефа поверхности использовали интерференционный метод. Так как изменение малых пластических деформаций сопряжено с большими трудностями, было произведено определение точности измерений. При проведении экспериментов участки образца с реперными точками фотографировали на пленку с увеличением 300 — 400. Измерение расстояний между реперными точками производили по негативам на инструментальном микроскопе БМИ-1 с увеличением 10. Каждое расстояние между отдельными реперными точками измеряли от 3 до 10 раз. Результаты измерений с учетом оценки относительной ошибки вычисления деформацией при доверительной вероятности 0,9 представлены в табл. 5. [c.21]

Специальный микроскоп, используемый для этой цели, позволяет различать на поверхности металла систему из светлых и темных полос. По форме интерференционных полос можно сделать точное заключение о состоянии поверхности. [c.224]

С помощью косого освещения и интерференционного микроскопа исследованы двойные границы зерен различных сталей, которые появляются в шлифе преимущественно у чистых ферритных сталей [45]. Двойные границы обусловлены выявлением при травлении наклонных плоскостей различных форм. Теоретические разработки Энгеля [9] об образовании границ зерен в зависимости от ориентации соседних зерен позволяют объяснить природу наклонных плоскостей. [c.33]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

Реплика помеш,ается в камеру с иммерсионной жидкостью, т. е. жидкостью с большим показателем преломления (применяемой для усиления разрешающей способности микроскопа), которая должна находиться между рассматриваемой репликой и объективом. Камеру с репликой ставят под объектив микроскопа и наблюдают в монохроматическом зеленом свете интерференционную картину. Цена интерференционной полосы зависит от показателей преломления пленки и жидкости, которые, естественно, должны быть заранее известны. Цену полосы можно изменять в достаточно широких пределах, меняя жидкость, как это следует из формулы (94), которая в данном случае приобретает вид [c.96]

Прибор представляет собой микроскоп для отраженного света с описанным выше интерференционным объективом (см. рис. 23) и спектроскопом, установленным вместо окуляра. Щель спектроскопа вырезает на испытуемой поверхности узкую полосу. [c.100]

Рис. 2. Микрофотографии деформированных кристаллов а — X 50 б — X 500(интерференционная микроскопия), в — X 2000 (кристалл после травления).

Микроструктурные особенности деформационного старения образцов при различных временах изотермической выдержки в полуциклах растяжения и сжатия исследовали методами световой, электронной и интерференционной микроскопии, а также измерением микротвердости. При каждом режиме испытания образцы подвергали 1 3 5 7 и 10 циклам нагружения (продолжительность каждого цикла составляла 7 мин). [c.216]

Микроинтерферометр применяется для контроля. микрогеометрии очень чисто обработанных блестящих поверхностей (притирка, полирование). Более совершенным интерференционным прибором является интерференционный микроскоп МИИ-1 (фиг. 95). [c.293]

Двойной микроскоп МИС-11 и интерференционный микроскоп МИИ-1 широко применяются для измерения технических образцов. Исследованиями этих приборов занимались П. Е. Дьяченко,. [c.238]

На рис. 47 приведена оптическая схема интерференционного микроскопа МИИ-4. От источника белого света световой пучок, пройдя конденсор 4, попадает на зеркало 3, от которого через диафрагму 6 и объектив 7 направляется на разделяющую призму //, склеенную из двух [c.117]

Рис, 47. Оптическая схема интерференционного микроскопа МИИ-4. [c.117]

К количественным относятся 1) профилометр 2) профилограф 3) двойной микроскоп 4) интерференционный микроскоп, — эти приборы определяют неровности в сечении 5) пневматический прибор—для оценки микронеровностей участка поверхности интегральным методом. [c.715]

Интерференционный микроскоп конструкции Линника мод. МИИ-1, МИИ-4 а) Измерение д б) Фотографирование интерференционной картины 9-14 [c.152]

Интерференционный микроскоп МИИ-1 также выпускается серийно и имеет широкое распространение в промышленности. Прибор основан на принципе интерференции, возникающей при наложении когерентных световых лучей, идущих от одного источника света. [c.155]

Освещая объект параллельным пучком и наблюдая в окуляр микроскопа интерференционную картину, легко отличить оптически изотропный кристалл от анизотропного. Чаще всего исследования ведутся при скрещенных поляризаторах. Тогда, как ясно из предыдущего, оптически изотропные кристаллы при повороте столика микроскопа, т. е. при вращении препарата, будут оставаться невидимыми. Наоборот, одноосные кристаллы при прочих равных условиях приобретают определенную интерференционную окраску и только в некоторых определенных положениях могут быть невиди- [c.247]

МИКРОСКОП ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ — микроскоп, применяемый для изучения микрорельефа поверхностей обработанных металлич. деталей (см. Микроинтерферометр) и для изучения биологич. объектов. Существует ряд схем биологич. М. и., основанных на двухлучевой или многолучевой интерференции и на интерференции поляризованных лучей. Принцип действия любого биологич. М. и. состоит в том, что каждый луч, входящий в микроскоп, раздваивается, причем один из пих проходит сквозь наблюдаемую частицу, а второй — мимо препарата по особой, второй ветви микроскопа или совместно с первым лучем, но через иную точку препарата, не содержащую наблюдаемой частицы. В окулярной части М. и. оба луча вновь соединяются и интерферируют между собой. Результат интерференции зависит от разности хода б, к-рая выражается ф-лой б = Ш.— = ( о — ш) Л, где Ио, п,п — показатели преломления частицы и окружающей среды, (1 — толщина частицы, N — порядок интерфереиции, Я — длнна волны свота. [c.239]

Для более точной оценки шероховатости поверхностей применяют микроскопы сравнения, а для определения величины шероховатости в микро.метрах — различные микроскопы (интерференционный, двойной) и контактные щуповые приборы. [c.137]

Принцип действия интерферометров основан на использовании явле+1ия интерференции света, отраженного от образцовой и исследуемой поверхностей. Форма образующихся интерференционных полос зависит от вида и высоты (до 1 мкм) неровностей контролируемой поверхности. Принцип действия растровых микроскопов основан на явлении образования муаровых полос при наложении ]130бражений элементов двух периодических структур (направленных следов обработки и д.чфракцнонной решетки). При наличии неровностей муаровые полосы искривляются. Высоту микронеровностей определяют по степени искривления муаровых полсс. [c.201]

Распространение указанных выводов на самосветящиеся объекты (отсутствие когерентности) особенно важно потому, что и при осве-пщнном объекте далеко не всегда имеет место полная когерентность. Точки освещенного объекта посылают вполне когерентный свет только в том случае, если угловые размеры источника настолько малы, что угол, под которым он виден из места расположения предмета, мал по сравнению с Я/с(, где X — длина световой волны, а — расстояние между освещаемыми точками объекта. Действительно, в этом случае волны, доходящие от разных точек источника до освещаемых точек, имеют различие в фазах, малое по сравнению с 2я (см. упражнение 129), так что интерференция волн, рассеиваемых нашими точками, даст практически один и тот же эффект, от какой бы точки источника ни пришла освещающая волна (когерентность). Наоборот, когда угловые размеры источника велики по сравнению с Х1с1, то свет, приходящий к освещаемым точкам от разных точек источника, будет иметь всевозможные разности фаз от нуля до 2я, и, следовательно, рассеянные нашими точками волны могут давать самые разнообразные интерференционные картины (некогерентность). При промежуточных размерах источника когерентность будет осуществляться в большей или меньшей мере. В реальных условиях освещение объекта в микроскопе производится широкими пучками лучей, и полная когерентность, как правило, не имеет места. [c.355]

Если на место одного из точечных источников излучения (см. рис. 1) поместить предмет, размеры которого настолько малы, что в первом приближении он может считат1>ся точечным, то, очевидно, структура интерференционных поверхностей не изменится, изменится лишь контрастность интерференционной картины. Действительно, точечный объект рассеивает свет равномерно во всех направлениях, так, что е1 о можно рассматривать как вторичный источник сферической волны. Если рассматривать голограмму точечного объекта под микроскопом, то можно обнаружить, что она состоит из множества параллельных полос. При замене точечного объекта предметом более сложной формы. эти полосы претерпевают изменения, которые тем значительнее, чем сложнее форма предмета. [c.16]

Продолжительность экспозиции фотопластинки определяется ее чувствительностью и мощностью лазера. Облучением фотографической пластинки процесс регистрации заканчивается. Записанное на ее поверхности изображение и есть голограмма. Она представляет собой.чрезвычайно сложную картину, состоящую из множества тонких причудливых линий, в которых невозможно усмотреть никакого сходства с реальным предметом. При дневном свете она покажется однородно серой обнаружить хоть малей-щие намеки на изображение, закодированное в ее структуре, не представляется возможным. С первого взгляда голограмму можно принять за обычный, покрытый вуалью фотонегатив. Более пристальное изучение голограммы под микроскопом открывает нашему взору запутанную картину изогнутых темных линий — интерференционных по лос. [c.19]

В этом методе необходимо проводить дополнительные измерения толщины снимаемого слоя Л. Их проводят с помощью интерференционного микроскопа МИИ-4 для непрозрачных покрытий и методом злипсометрии для прозрачных покрытий. [c.118]

Прерывистый характер процесса ползучести при макросдвиге дает основание предполагать, что процесс макродвижения по границам зерен осуществляется вследствие двух процессов сдвига по островкам хорошего соответствия и самодиффузии, упорядочивающей области больших нарушений. Межзеренное проскальзывание можно наблюдать по рельефу на поверхности шлифа деформированного металла. По границам зерна образуются каемки, свидетельствующие о наличии выступов и впадин. Происходящее вертикальное смещение (перемещение зерна) по отношению к поверхности шлифа позволяет с помощью интерференционного микроскопа определять величину пластической деформации, вызванной межзеренным смещением. Результаты измерений (рис. 100) дают основание считать, что доля скольжения по границам зерен мала и составляет приблизительно 10% от полной деформации (егр/е л 0,1). Эта величина зависит от угла разориентации 0, температуры, скорости деформации, приложенного напряжения, величины зерна. Например, величина смещения, а следовательно, и erp/8j увеличивается с уменьшением величины зерна и возрастанием напряжения при данной температуре (рис. 101,а). С повышением температуры отношение 8rp/ej благодаря диффузионным процессам возрастает до 0,3 (рис. 101,6). Д, Мак Лин теоретически доказал, что вклад в общую деформацию от межзеренных смещений не может быть выше 33% от общей деформации. Только в том случае, если процесс деформирования сопровождается миграцией границ, доля зернограничной [c.173]

Рассмотрим еще один тип интерференционного прибора для контроля шероховатости поверхности — микроскоп сравнения (компаратор) конструкции В. И. Саркина (рис. 12). [c.69]

Интерференционно-поляризационная микроскопия для контроля качества оптически прозрачных сред с фазовыми неоднородностями (метод акад. Лебедева А. А., приборы Интерфакс фирмы Цейс и др.). [c.111]

МОЩЬЮ фотоулругих ИЛИ медных покрытий в) нанесением муаровой решетки или меток г) с помощью травящих реактивов д) с помощью узконаправленного пучка рентгеновских лучей е) интерференционным методом ж) с помощью косых лучей з) с помощью микроскопа и) голографическим весьма точным методом определения деформации. Если интерференционный метод объединить с непосредственным наблюдением деформации с помощью микроскопа, что осуществляется в микроинтерферометре, значительно увеличивается точность получаемых результатов по сравнению с методом косых лучей. [c.40]

При фотографировании на микроинтерферометре или двойном микроскопе используют высокочувствительную пленку и нужную длину профиля получают, снимая соседние участки поверхности образца, перемещаемого микрометром предметного стола. На двойном микроскопе для определения масштаба предварительно фотографируют щкалу объект-микрометра. Полученные фотографии интерференционной картины или светового сечения устанавливают на проекторе с увеличением 10 или 20 и вычерчивают профилограмму на миллиметровой кальке. Для определения масштаба профилограммы, полученной на микроинтерферометре, на одном из участков вычерчивают контур двух соседних полос. Вычерченные профилограммы обрабатывают теми же способами, что и профилограммы, записанные на щуповом профилографе. [c.162]

Иитерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного светового луча, составляет толщину покрытия. [c.140]

Межзеренное проскальзывание. Анализ процесса межзерен-ного проскальзывания в условиях испытания на термическую усталость с помощью интерференционного микроскопа позволил установить следующее. [c.48]

Для предотвращения окисления поверхности при сварке предварительно полированные пластины проплавлялись в среде аргона. Определение межзеренного проскальзывания на образцах, вырезованных из сварных соединений, производилось на высокотемпературной установке типа ИМАШ-5С-65 и с использованием интерференционной микроскопии. Исследовались сварные соединения стали 1Х18Н9Т, сплава ЭИ 893 и технического никеля Н2. [c.98]

К первой четверти XX в. количество и разнообразие точных приборов значительно возросло. Большинство из них относится к различным группам современного приборостроения [29,0.29—37]. Одну из ведущих групп в приборостроении занимают оптико-механические приборы, в которую входят 1. Микроскопы. 2. Астрономические приборы. 3. Геодезические приборы. 4. Астрофизические приборы. 5. Спектрометрические приборы. 6. Спектрографические приборы. 7. Фотометрические приборы. 8. Калориметрические приборы. 9. Поляризационные приборы. 10. Интерференционные приборы. 11. Аэрофотометрические приборы. 12. Фотограмметрические приборы. 13. Фотооптическая регистрирующая аппаратура. 14. Киноаппаратура. 15. Специальные приборы для фотокинопромышленности. 16. Офтальмологические приборы. 17. Электрооптические приборы. 18. Рефрактометрические приборы. 19. Оптико-измерительные приборы. 20. Специальные приборы для оптического производства. 21. Приборы для определения качества поверхностей. [c.361]

Интерференционный микроскоп МИИ-4 В. П. Линника предназначен для лабораторного контроля тонкообработанных поверхностей. Определяемый показатель шероховатости поверхности R . [c.719]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...