Микроскоп двойной

Микроскопы двойные Линника 3 — 201 [c.157]

Микроскопы двойные Линника 718, 719 --измерительные универсальные 690—693 [c.1012]

Оборудование и приборы микроскоп двойной МИС-11 вискозиметр ВЗ-4 (см. работу № 2) весы аналитические 2-го класса секундомер, [c.109]

Микропереключатели для токарных станков 255 Микроскопы двойные 733 -- для измерения параметров цилиндрических резьб 735, 736 --измерительные 726 — Характеристика 727 [c.893]

Из оптических приборов большее применение нашли двойной микроскоп и микроинтерферометр академика В. П. Линника. [c.90]

Двойной микроскоп основан на использовании метода светового сечения с его помощью определяют среднюю высоту микронеровностей в пределах 3—70 мк. [c.91]

В поле зрения окуляра 17 наблюдаются две линии, представляющие изображение щели, одна из которых искривлена в соответствии с неровностью контролируемой поверхности. При этом прибор работает в режиме двойного микроскопа. Включив ци- [c.68]

С помощью косого освещения и интерференционного микроскопа исследованы двойные границы зерен различных сталей, которые появляются в шлифе преимущественно у чистых ферритных сталей [45]. Двойные границы обусловлены выявлением при травлении наклонных плоскостей различных форм. Теоретические разработки Энгеля [9] об образовании границ зерен в зависимости от ориентации соседних зерен позволяют объяснить природу наклонных плоскостей. [c.33]

При стандартизации размерных рядов неровностей поверхности в начале использовали Rq (или Я к) — среднее квадратическое отклонение профиля неровностей от его средней линии (США) и Ra —> среднее арифметическое, точнее, среднее абсолютное отклонение его от той же линии (Англия). Эти параметры измеряли электромеханическими профилометрами возможно потому, что они представляют собой хорошо известные в электротехнике эффективное и среднее значения функций, а также статистические характеристики, подходящие для описания рассеивания случайной ординаты профиля относительно ее среднего значения, за которое в данной ситуации была принята средняя линия. Позднее, повсеместно, а также в международном масштабе, был принят параметр Ra из соображений, приведенных выше. Сохранившийся до настоящего времени параметр Ra используют с начала 40-х годов, т. е. более 30 лет. Для измерений оптическими приборами (двойными микроскопами и микроинтерферометрами) параметр Ra не подходит, так как требует трудоемких вычислений. Поэтому применительно к этой категории средств измерений неровностей принимали различные модификации характеристик общей высоты неровностей, такие, как R max — максимальная на фиксированной длине высота неровностей (ранее обозначавшаяся через Я а с). Яср — средняя высота неровностей и Rz—высота неровностей, определяемая по 10 точкам профиля. Для сопоставимости результатов измерений и однозначности стандартизуемых величин потребовалось выделить шероховатость из общей совокупности неровностей поверхности. Это сделали путем установления стандартного ряда базовых длин, полученного из рядов предпочтительных чисел. Значения параметров определяют на соответствующих базовых длинах. Неровности с шагами, превышающими предписанную базовую длину, в результат измерений шероховатости не входят, и стандартизация шероховатости поверхности на них не распространяется. [c.59]

Световое сечение и двойной микроскоп МИС-11. Метод светового сечения заключается в том, что одним микроскопом (проекционным) на исследуемую поверхность направляется под некоторым углом узкий пучок света, при этом на ней получается граница тени от непрозрачной шторки, введенной в часть светового пучка, падающего на поверхность. Граница света и тени (световое сечение) подобна профилю в сечении поверхности плоскостью, и по ее конфигурации можно судить о расположении, форме и размерах неровностей на испытуемой поверхности. [c.105]

Считается, что приборы (двойные микроскопы, приборы светового сечения), в которых реализуется метод светового сечения, позволяют измерять неровности поверхности высотой от 0,8 до 63 мм с допустимыми погрешностями показаний по норме порядка 24 и 7,5% соответственно при наличии четырех пар сменных объективов ОС-39, ОС-40, ОС-41 и ОС-42. Следует заметить, что при этом неровности поверхности кромок шторок, прикрывающих диафрагмированную щель (иначе говоря, щелевую диафрагму), должны [c.106]

Цену деления круговой шкалы винтового окулярного микрометра MOB определяют с помощью объект-микрометра ОМП , представляющего собой металлическую пластинку со шкалой с делениями через = 0,01 мм. При определении /g окулярный микрометр на визуальном тубусе двойного микроскопа устанавливают так, чтобы перемещение перекрестия происходило вдоль шкалы объект-микрометра (см. рис. 29, г). Затем точку пересечения линий перекрестия совмещают сначала с изображением штриха шкалы объект-микрометра, четко видимым и расположенным на расстоянии Va радиуса поля зрения от края с одной стороны поля зрения (штриховые линии на рис. 29, г), и делают первый отсчет Ni по шкалам MOB. Далее передвигают вращением барабана точку пересечения линий перекрестия на г делений до совмещения с изображением другого штриха шкалы объект-микрометра, четко видимым с другой стороны поля зрения и расположенным приблизительно на расстоянии Vj радиуса поля зрения с другого края (сплошные линии на рис. 29, г), и делают второй отсчет по шкалам MOB, причем сотни делений, т. е. целые обороты барабана, отсчитывают по делениям, имеющимся на неподвижной пластине MOB (8 делений) с интервалом между соседними штрихами, равным 1 мм. С увеличением г точность определения /g повышается. Если бы [c.107]

Пример 12. при определении цены деления j барабана винтового окулярного микрометра МОВ-1-15 по рис. 29, г при объективах ОС-39 для измерения высоты неровностей на двойном микроскопе по рис. 29, д точку пересечения линий перекрестия сначала совмещают с нулевым, а потом с пятидесятым делением шкалы объект-микрометра ОМП. При этом отсчеты по круговой шкале барабана окулярного микрометра с косым крестом составили = 61,5 деления и iVj = = 351,8 деления. [c.108]

В приводимой ниже табл. 7 для справок даны интервалы, в которых обычно лежат цены делений барабанов окулярных микрометров МОВ-1-15 встречающихся на практике приборов светового сечения (двойных микроскопов МИС-11). [c.109]

При измерении на двойном микроскопе МИС-11 высоты неровностей сначала выбирают по приведенной выше таблице подходящую пару объективов в соответствии с ожидаемыми результатами измерения. Осветителем 12 (рис. 29, е) служит электрическая лампочка 8 В, 9 Вт, которая получает питание от сети переменного тока напряжением 127/220 В через трансформатор, прилагаемый к прибору. Контролируемую деталь 3 кладут на координатный предметный стол 2, фиксируемый винтом 1. Микроскопы устанавливают предварительно на нужном расстоянии от детали 3, перемещая кронштейн 9 по стойке с помощью кольца 11. Фиксация кронштейна осуществляется винтом 10 клеммового зажима. Винтом 8 кремальеры и винтом 6 механизма тонкой наводки перемещают по салазкам 7 в вертикальном направлении микроскопы, добиваясь четкого изображения световой щели на поверхности детали. Это изображение искривляется соответственно неровностям, имеющимся на испытуемой поверхности. Винт 14 служит для установки изображения щели в середине поля зрения окуляра, а кольцо 13 — для регулировки его ширины. Поворотом винтового окулярного микрометра 4 вокруг оси визуального тубуса 5 устанавливают горизонтальную линию перекрестия по общему направлению изображения щели. Вращая барабан окулярного микрометра, подводят горизонтальную линию перекрестия до касания ее с вершиной выступа неровности изображения щели (сплошные линии на рис. 29, д). В этом положении делают первый отсчет по окулярному микрометру. Это будет координата линии выступа. Затем смещают ту же линию перекрестия до касания ее с дном впадины (штриховые линии на рис. 27, д). В этом положении делают второй отсчет по окулярному микрометру. Выступ и впадину измеряют, естественно, по одну сторону изображения щели. Разность отсчетов, сделанных по выступу и впадине, дает величину 6 искривления изображения щели в делениях круговой шкалы барабана винтового окулярного микрометра. Для того чтобы высоту неровности поверхности выразить в микрометрах, нужно полученную величину искривления щели А умножить на цену деления /д барабана окулярного микрометра, т. е. определить произведение [c.110]

Двойной микроскоп (прибор светового сечения) ПСС-2, Этот микроскоп отличается от двойного микроскопа МИС-И тем, что 1) объективы проектирующего и наблюдательного микроскопов закреплены в одной съемной обойме / (рис. 30, а) 2) использованы [c.110]

Рис. 30. Прибор светового сечения (двойной микроскоп) ПСС-2 а — общий вид б — поле зрения окулярного микрометра МОВ-4-15

Испытуемую поверхность предварительно смачивают мыльной водой, накладывают нагретую смесь, и через 10—20 мин она затвердевает и довольно хорошо отделяется, воспроизводя рельеф испытуемой поверхности. Измерение слепка выполняют сразу же после снятия с помощью двойного микроскопа, поскольку через некоторое время вершины гребешков оплывают . [c.121]

Воспроизведение профиля неровностей поверхности при использовании оптических приборов — микроинтерферометров, двойных микроскопов и т. д. сопряжено с фотографированием, которое не только требует затраты дополнительного времени, но и отделяет момент испытания поверхности и момент изучения ее воспроизведенного профиля между этими моментами лежит период обработки негатива и изготовления позитива. Поэтому за последние десятилетия не прекращаются поиски возможности непосредственной записи профиля световым лучом, который к тому же не деформирует неровности поверхности. [c.122]

Определение параметра Определение этого параметра, как и остальных физически обоснованных параметров, опирается на воспроизведение профилей в виде записи на профилографах и кругломерах или фотографий, выполненных на микроинтерферометрах, растровых и двойных микроскопах. [c.197]

Для наблюдения за рабочей зоной образца в процессе испытания машина УМ-9 снабжена бинокулярной лупой БМ-51-2 и металлографическим микроскопом МВТ, которые жестко смонтированы на крышке рабочей камеры (рис. 3). Бинокулярная лупа установлена в вертикальной плоскости и позволяет видеть горизонтальную поверхность образца, для освещения которой в камере установлена лампочка подсветки с отражателем. Микроскоп МВТ со стробоскопическим освещением и удлиненным тубусом предназначен для исследования боковой поверхности образца. Наблюдение ведется через специальные иллюминаторы с двойными кварцевыми стеклами, пространство между которыми вакуумировано с целью предотвращения оседания влаги или инея на наружном стекле. Размеры иллюминатора обеспечивают обзор всей зоны образца. Кроме визуального контроля с помощью бинокулярной лупы и микроскопа, зарождение и развитие усталостных трещин можно исследовать путем измерения электрического сопротивления рабочей зоны образца. Для этого активный захват машины электрически изолирован от образца, а рабочая камера снабжена необходимыми электрическими вводами. [c.42]

Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких (до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. Можно также изучать картину электронной дифракции с небольших участков поверхности (около 0,25 мкм). [c.223]

Для измерения глубины коррозии используют различные приборы. Наиболее точные измерения получают при применении оптических приборов. Глубина коррозионного поражения может быть определена с помощью обычного микроскопа методом фокусирования оптической схемы сначала на плоскость, совпадающую с верхним очагом поражения, а затем — на плоскость дна очага. По разности отсчетов на микроскопическом винте судят о глубине коррозии.. Для определения глубины коррозии может применяться также двойной микроскоп Линника или оптико-механические профилографы, например профилограф типа ИЗП-18. Преимуществами профилографа являются возможность измерения очага коррозии и получение в увеличенном масштабе фотографической записи микрогеометрии поверхности образца. По профилограмме можно судить не только о глубине, но и форме образующихся коррозионных поражений. [c.22]

Измерение толщины покрытий при этом производится двойным микроскопом МИС-11 серийного производства (рис. 81), который предполагается заменить моделью ПСС-2 (прибор светового сечения — рис. 82) поэтому ниже приводятся данные для последнего. [c.89]

В поле зрения микроскопа (рис. 10.16, г) видны штрихи миллн-метрогюй шкалыМШ (4,5, 46, 47), один из которых находится в зоне линейной шкалы 2, часть круговой шкалы 4 и дуги витков двойной спи- [c.128]

Аустенит V или Ре (С)] — это твердый раствор внедрения С в Fef. На диаграмме состояния область аустенита NJESG. Аустенит обладает решеткой К12 под микроскопом (рис. 5.2,г) он имеет вид светлых зерен с двойными линиями. Твердость его 220НВ. Аустенит парамагнитен. [c.61]

Я перенес главу, посвященную основным фотометрическим понятиям, во введение, желая использовать правильную терминологию уже при описании явлений интерференции и оставив в отделе лучевой оптики лишь вопросы, связанные с ролью оптических инструментов при преобразовании светового потока. Заново написаны многие страницы, посвященные интерференции, в изложении которой и во втором переработанном издании осталось много неудовлетворительного. Я постарался сгруппировать вопросы кристаллооптики в отделе VIII, хотя и не счел возможным полностью отказаться от изложения некоторых вопросов поляризации при двойном лучепреломлении в отделе VI, ибо основные фактические сведения по поляризации мне были необходимы при изложении вопросов прохождения света через границу двух сред, с которых мне казалось естественным начать ту часть курса, где проблема взаимодействия света и вещества начинает выдвигаться на первый план. Я переработал изложение астрономических методов определения скорости света и добавил некоторые новые сведения о последних лабораторных определениях этой величины. Гораздо больше внимания уделено аберрации света. Рассмотрены рефлекторы и менисковые системы Д. Д. Максутова. Значительным изменениям подверглось изложение вопроса о разрешающей способности микроскопа я постарался отчетливее представить проблему о самосветя-щихся и освещенных объектах. Точно так же значительно подробнее разъяснен вопрос о фазовой микроскопии, приобретший значительную актуальность за последние годы. [c.11]

Для измерения толщины лакокрасочных покрытий на немагнитных металлах и сплавах (алюминий, свинец, медь и др.) приходится прибегать к мето-дал разрушающего контроля, снятию пленок с подложки. В научных лабораториях применяют более сложный и точный оптический метод с помощью двойного микроскопа МИС-11. [c.117]

Для определения поверхности с параметрами шероховатости Rz = 3,2- - 80 мкм применяют оптический про-филометр Ю. В. Коломийцева, представляющий собой сочетание микро-интерферометра с двойным микроскопом. Его оптическая схема показана на рис. 10. [c.68]

Для измерения неровностей поверхности до 40 мкм разработан растровый-микроскоп ОРИМ-1. Принцип его действия заключается в образовании муаровых полос при взаимном смещении или развороте двух растров, например, в виде решеток. Оптическая схема прибора аналогична схеме двойного микроскопа. При этом вместо щели на поверхность изделия проектируется изображение растра, наблюдаемое с помощью второй ветви оптической системы микроскопа. [c.73]

Метод профилографирования заключается в оценке износа по профилограммам, снятым на определенном участке до и после изнашивания. Его рекомендуется использовать при стандартных испытаниях покрытий на изнашивание при фреттинг-коррозии [167]. Находят расстояние между средними линиями профиля и на основании полученных данных вычисляют интенсивность изнашивания с погрешностью не более 1-10 . Применяются профилограф-профило-метр модели 253 или оптические приборы двойной микроскоп, микроинтерферометр Линника и т. д. Износ методом профилографирования определяется обычно на образцах и деталях несложной формы с достаточно хорошо обработанной поверхностью. [c.98]

Для измерений оптическими приборами, о которых будет сказано в дальнейшем (двойными микроскопами, микроинтерферометрами и приборами теневого сечения), параметры Ra и Rq не подходят, так как требуют трудоемких операций. Поэтому применительно к этой категории средств измерений неровностей применяли различные модификации параметров общей высоты неровностей Rmiix. К последним относится, прежде всего стандартизированная в СССР высота неровностей профиля по десяти точкам Rz, представляющая собой сумму средних арифметических абсолютных отклонений точек пяти наибольших минимумов и пяти наибольших максимумов в пределах базовой длины [c.35]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Наблюдаемое смещение Ь измеряют с помощью винтового окулярного микрометра—такого же, как при измерениях неровностей на микроинтерферометре. С2ущественное отличие измерений на двойных микроскопах МИС-11 и ПСС-2 по сравнению с измерениями на микроинтерферометрах МИИ-4 и др. заключается в необходимости предварительного определения цены деления круговой шкалы MOB при каждой паре сменных объективов в отдельности. Такая необходимость возникает в связи с тем, что увеличение у любого микроскопа зависит от оптической длины А его тубуса, что следует из формулы [c.107]

Методика упрощенной обработки профилограмм и фотографий оптических изображений профиля. Объектом обработки воспроизведения профиля на бумаге могут быть профилограммы, полученные на щуповом профилографе, или фотографии профиля, полученные на двойном микроскопе (приборе светового сечения), микроинтерферометре или растровом микроскопе. [c.162]

При фотографировании на микроинтерферометре или двойном микроскопе используют высокочувствительную пленку и нужную длину профиля получают, снимая соседние участки поверхности образца, перемещаемого микрометром предметного стола. На двойном микроскопе для определения масштаба предварительно фотографируют щкалу объект-микрометра. Полученные фотографии интерференционной картины или светового сечения устанавливают на проекторе с увеличением 10 или 20 и вычерчивают профилограмму на миллиметровой кальке. Для определения масштаба профилограммы, полученной на микроинтерферометре, на одном из участков вычерчивают контур двух соседних полос. Вычерченные профилограммы обрабатывают теми же способами, что и профилограммы, записанные на щуповом профилографе. [c.162]

При измерении радиуса кривизны р п Дна впадины приходится считаться с неодинаковостью вертикального и горизонтального увеличений. При профилографировании коэффициент горизонтального сжатия йщ, пр = выбирает исполнитель, при фотографировании он составляет на двойном микроскопе д = [c.198]

На крышке 6 рабочей камеры (см. рис. 1) смонтированы оптическая система 8 от микротвердомера ПМТ-3, вторично-электронный умножитель 11 и катодный повторитель 12. Печь 10 служит для прогрева умножителя перед началом измерений. В тубусе микроскопа установлено уплотнение 9 из нейтрального стекла. Наличие зеркала 7 светлопольного и темнопольного изображения в микроскопе позволяет работать без специальной кварцевой оптики. Источником света служат газоразрядные лампы ПРК-7 и ДКСШ-1000, площадь освещаемого участка составляет 0,3 мм . Светофильтры вставляются в корпус лампы. При спектральных исследованиях между микроскопом и лампой устанавливается двойной монохроматор ДМР-4. [c.33]

Серийно изготовляемые промышленностью приборы (профило-метры модели 240, профилографы-пррфилометры модели 201 завода Калибр , микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-5, МИИ-9, МИИ-10, двойные микроскопы акад. Линника В. П. — МИС-11) позволяют непосредственно измерять шероховатость поверхности или производить ее запись (профилограммы). Подробное описание их дано в специальных работах [11, 19, 32]. [c.47]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...