Микроскопы, сравнительная характеристика

РЭМ занимает про.межуточное положение между световыми микроскопами (СМ) и просвечивающими электронными микроскопами (ПЭМ). В табл. 3.2 и 3.3 приведена сравнительная характеристика ЭТИ.Х микроскопов по разрешающей способности, глубине фокуса и другим показателям. Не следует рассматривать СМ, РЭМ и ПЭМ как конкурирующие приборы. Скорее они дополняют друг друга и наиболее перспективно комплексное их использование в металловедческих исследованиях. [c.63]

СРАВНИТЕЛЬНАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА МИКРОСКОПОВ РАЗНЫХ ТИПОВ [3] [c.64]

Эти микроскопы относятся к группе оптико-механических приборов на них можно в лабораториях и цехах измерять не только резьбы, но и линейные размеры в прямоугольных координатах, угловые размеры у деталей и у режущих и измерительных инструментов и шаблоны (сложного профиля). Микроскопы типа ИТ и ММИ имеют пределы измерения в продольном направлении 75 мм и в поперечном 25 мм, а микроскоп большой модели типа БМИ в продольном направлении 150 мм и в поперечном 50 мм. Сравнительная характеристика микроскопов по предельным погрешностям измерения элементов наружной резьбы представлена в табл. 22. [c.143]

Установленная формальная аналогия, разумеется, не случайна. Как при голографировании, так и при отображении в линзовой либо зеркальной оптической системе речь идет о преобразовании одной сферической волны (предмета) в другую, также сферическую волну (изображения). Формальный вид закона такого преобразования (линейное преобразование кривизны волновых фронтов) предопределен самой постановкой задачи и никак не связан с конкретным способом его реализации. Любой способ, голографический или линзовый, может только изменить кривизну исходного волнового фронта в определенное число раз и добавить к ней новое слагаемое ), но не более того. Анализ физического явления, призванного осуществить эту процедуру, конкретизирует физический смысл соответствующего множителя и слагаемого и их зависимость от характеристик явления и конструктивных особенностей системы. Последнее оказывается очень существенным при сравнительном рассмотрении разных способов. Как уже упоминалось, применение разных длин волн на первом и втором этапе предоставляет голографии неизмеримо более широкие возможности, чем аналогичный фактор в линзовых и зеркальных системах (различие показателей преломления в пространстве изображений и предметов, иммерсионные объективы микроскопов, см. 97), ибо можно использовать излучение с очень сильно различающимися длинами волн, например, рентгеновское и видимое (когда будет создан рентгеновский лазер). [c.253]

Наиболее часто применяемые на практике (в биноклях, подзорных трубах,, геодезических приборах, микроскопах и т. д.) окуляры состоят из двух сравнительно тонких, разделенных более или менее значительным воздушным промежутком, компонентов. Их угол поля зрения не превышает 40—50°, относительное отверстие 1 4, и при таких характеристиках метод расчета, основанный на подгонке коэффициентов аберраций 3-го порядка в упрощенном виде (в предположении бесконечно тонких компонентов), позволяет получить вполне удовлетворительные результаты без большой затраты труда. [c.128]

Из материала, приведенного в настоящей главе, видно, что для построения границ между фазовыми областями на равновесных диаграммах состояния и исследования строения сплавов можно пользоваться измерениями многочисленных физических свойств. Выбор основного метода исследования зависит от характеристик изучаемой системы. Микроскопический и рентгеновский методы в сочетании с термическим анализом применяются для исследования очень большого круга металлических систем другие методы служат для получения дополнительной информации или иногда в очень трудных случаях заменяют стандартные методы. Однако всегда желательно сочетать по меньшей мере два метода исследования, так как один из методов может оказаться сравнительно нечувствительным к изучаемым эффектам. Так, на результаты исследования диаграмм состояния с помощью рентгеновского метода может оказать влияние необнаруженный распад в процессе закалки, что можно установить при микроскопическом исследовании сплавов. Фазы, с трудом различаемые под микроскопом, обычно легко идентифицируются с помощью рентгеновского метода благодаря разной кристаллической структуре. Выбор основного метода исследования может также определяться дефицитностью или стоимостью исследуемых материалов. [c.129]

Наибольшее распространение в качестве иммерсионной жидкости для микроскопического анализа получило кедровое масло, показатель преломления которого равен показателю преломления стекла. Его часто заменяют искусственным маслом, оптические характеристики которого тождественны кедровому. Глицерин и вода применяются как в обычной, так и ультрафиолетовой микроскопии, вазелин — сравнительно редко в ультрафиолетовой [c.67]

В настоящее время достигнуты значительные успехи в области автоматической коррекции аберраций благодаря применению так называемых универсальных программ, составленных для ЭВМ и основанных на различных итерационных методах [30, 31, 58, 66, 73]. Применение этих программ дает наибольший эффект, т., е. ускоряет процесс расчета, в тех случаях, когда исходная система близка по своим оптическим характеристикам к рассчитываемой и обладает достаточным количеством коррекционных параметров. Эти программы, несмотря на огромное быстродействие современных ЭВМ, сравнительно мало ускоряют процесс расчета в случаях, когда характеристики рассчитываемой системы значительно отличаются от исходной, а также при расчете новых оптических систем. И хотя успехи, достигнутые в этой области, значительны, расчет объективов микроскопа остается весьма трудоемким процессом. [c.96]

Однако, конечно, применение автоматической записи роста трещины для повторного нагружения также весьма желательно, так как это уменьшит субъективность результатов и облегчит наблюдение. Диаграммы разрушения при повторном нагружении являются еще более условными, чем при однократном, так как они зависят, кроме геометрии образца, еще и от уровня напряжения цикла, частоты нагружения и коэффициента асимметрии цикла. Однако повторное нагружение является весьма распространенным, а усталостное и повторно-статическое разрушение является наиболее частым видом разрушения деталей машин и механизмов. Поэтому получение хотя бы сравнительных характеристик разрушения материалов при условиях, близких к экс-плуатационны.м, является весьма важным. На рис. 4.16 приведены диаграммы разрушения алюминиевых сплавов при повторном нагружении максимальным напряжением цикла 10 и 17 кгс/мм , т. е. 0,3 и 0,5 от прочности образца с трещиной. Как показано на диаграмме, перегрузочные режимы повторно-статического нагружения при атах 0,5охр дают диаграммы разрушения, располагающие материалы в ряд, близкий к тому, в который располагаются эти же материалы по диаграммам разрушения при однократном кратковременном испытании (см. рис. 4.13). Для построения физически обоснованной теории разрушения весьма желательно сопровождать изучение кинетики разрушения фрактографическим исследованием с помощью оптического и электронного микроскопов (см. гл. 11). Для записи роста (и возникновения) трещины необходимо применять авто- [c.199]

Оценка качества полученных покрытий производится внешним осмотром и при увеличении под микроскопом. Пористость покрытий определяется так, как описано на стр. 46. Примерная характеристика покрытий может быть следующая осадок светлый, сравнительно мелкокристаллический осадок грубый, крупн окр исталлический Осздок губчатый осадок светлый, но по краям катода имеются дендриты и т. п. [c.158]

При микрофотографировании освещенность изображения часто оказывается сравнительно небольшой. Так как при дисперсионном анализе требуется изготовлять довольно большое число снимков, то чаще всего применяют высокочувствительные материалы, обеспечивающие получение негатива нормальной плотности при кратковременной экспозиции. Продолжительность экспозиции зависит от многих факторов, например размеров и оптических свойств частиц, метода освещения препарата, характеристики источника света. Поэтому определить ее однозначно практически невозможно. Для экспонометри-ческих измерений изображения, видимого в поле зрения микроскопа, отечественная промышленность выпускает [c.85]

Тип в , или двойниковый тип, выделен Фишером как особый переходный тип между типами б и г , так как по сравнению с другими переходными формами он имеет особую характеристику. Тип д наблюдается сравнительно часто. Он характеризуется постоянным расположением кристаллитов, у которых в оптическом микроскопе не различают никаких предпочтительных направлений роста. Строение таких покрытий относительно тонкокристаллическое, отдельные кристаллиты частично едва просматриваются в оптический мирсроскоп. [c.71]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...