Микроскоп тубус

Для устранения этих искажений в проекционных приборах предусмотрены приспособления, позволяющие направить пучок света параллельно винтовой линии резьбы. В микроскопах тубус наклоняют на угол подъема резьбы. Однако это полностью не исключает искажений проекционного изображения профиля резьбы. Для повышения точности необходимо результат измерений разделить на косинус угла подъема резьбы. [c.528]

У современных биологических микроскопов тубус можно удлинить до 200—250 мм. [c.73]

Рис. J6i, Прибор для определения микротвердости / — стоПка. 2 — втулка, 3 — окулярный микрометр, 4 — тубус, 5 — объектив микроскопа, 6 — штемпель, 7 — испытательный столик.

Цену деления круговой шкалы винтового окулярного микрометра MOB определяют с помощью объект-микрометра ОМП , представляющего собой металлическую пластинку со шкалой с делениями через = 0,01 мм. При определении /g окулярный микрометр на визуальном тубусе двойного микроскопа устанавливают так, чтобы перемещение перекрестия происходило вдоль шкалы объект-микрометра (см. рис. 29, г). Затем точку пересечения линий перекрестия совмещают сначала с изображением штриха шкалы объект-микрометра, четко видимым и расположенным на расстоянии Va радиуса поля зрения от края с одной стороны поля зрения (штриховые линии на рис. 29, г), и делают первый отсчет Ni по шкалам MOB. Далее передвигают вращением барабана точку пересечения линий перекрестия на г делений до совмещения с изображением другого штриха шкалы объект-микрометра, четко видимым с другой стороны поля зрения и расположенным приблизительно на расстоянии Vj радиуса поля зрения с другого края (сплошные линии на рис. 29, г), и делают второй отсчет по шкалам MOB, причем сотни делений, т. е. целые обороты барабана, отсчитывают по делениям, имеющимся на неподвижной пластине MOB (8 делений) с интервалом между соседними штрихами, равным 1 мм. С увеличением г точность определения /g повышается. Если бы [c.107]

При измерении на двойном микроскопе МИС-11 высоты неровностей сначала выбирают по приведенной выше таблице подходящую пару объективов в соответствии с ожидаемыми результатами измерения. Осветителем 12 (рис. 29, е) служит электрическая лампочка 8 В, 9 Вт, которая получает питание от сети переменного тока напряжением 127/220 В через трансформатор, прилагаемый к прибору. Контролируемую деталь 3 кладут на координатный предметный стол 2, фиксируемый винтом 1. Микроскопы устанавливают предварительно на нужном расстоянии от детали 3, перемещая кронштейн 9 по стойке с помощью кольца 11. Фиксация кронштейна осуществляется винтом 10 клеммового зажима. Винтом 8 кремальеры и винтом 6 механизма тонкой наводки перемещают по салазкам 7 в вертикальном направлении микроскопы, добиваясь четкого изображения световой щели на поверхности детали. Это изображение искривляется соответственно неровностям, имеющимся на испытуемой поверхности. Винт 14 служит для установки изображения щели в середине поля зрения окуляра, а кольцо 13 — для регулировки его ширины. Поворотом винтового окулярного микрометра 4 вокруг оси визуального тубуса 5 устанавливают горизонтальную линию перекрестия по общему направлению изображения щели. Вращая барабан окулярного микрометра, подводят горизонтальную линию перекрестия до касания ее с вершиной выступа неровности изображения щели (сплошные линии на рис. 29, д). В этом положении делают первый отсчет по окулярному микрометру. Это будет координата линии выступа. Затем смещают ту же линию перекрестия до касания ее с дном впадины (штриховые линии на рис. 27, д). В этом положении делают второй отсчет по окулярному микрометру. Выступ и впадину измеряют, естественно, по одну сторону изображения щели. Разность отсчетов, сделанных по выступу и впадине, дает величину 6 искривления изображения щели в делениях круговой шкалы барабана винтового окулярного микрометра. Для того чтобы высоту неровности поверхности выразить в микрометрах, нужно полученную величину искривления щели А умножить на цену деления /д барабана окулярного микрометра, т. е. определить произведение [c.110]

Механизм подъема 13 при помощи маховика 14 перемещает корпус тубуса в вертикальном направлении. Рукоятка 15 фиксирует нужное положение тубуса. Для точной фокусировки микроскопа на поверхность испытуемого объекта служит микрометрический механизм с барабаном 1 с ценой деления шкалы 0,003 мм. В основании вмонтирован механизм, с помощью которого можно изменять наклон плоскости предметного столика вокруг горизонтальной оси. Для этой цели с левой стороны основания имеется диск. Столик имеет также механизмы 18 перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, которые позволяют перемещать исследуемый образец вместе со столиком в пределах й 25 мм в каждом направлении. Столик может быть повернут вокруг вертикальной оси на угол 55°. Фиксация столика в определенном положении осуществляется рукояткой 17. [c.118]

Для наблюдения за рабочей зоной образца в процессе испытания машина УМ-9 снабжена бинокулярной лупой БМ-51-2 и металлографическим микроскопом МВТ, которые жестко смонтированы на крышке рабочей камеры (рис. 3). Бинокулярная лупа установлена в вертикальной плоскости и позволяет видеть горизонтальную поверхность образца, для освещения которой в камере установлена лампочка подсветки с отражателем. Микроскоп МВТ со стробоскопическим освещением и удлиненным тубусом предназначен для исследования боковой поверхности образца. Наблюдение ведется через специальные иллюминаторы с двойными кварцевыми стеклами, пространство между которыми вакуумировано с целью предотвращения оседания влаги или инея на наружном стекле. Размеры иллюминатора обеспечивают обзор всей зоны образца. Кроме визуального контроля с помощью бинокулярной лупы и микроскопа, зарождение и развитие усталостных трещин можно исследовать путем измерения электрического сопротивления рабочей зоны образца. Для этого активный захват машины электрически изолирован от образца, а рабочая камера снабжена необходимыми электрическими вводами. [c.42]

Как уже отмечалось, микроскоп позволяет наблюдать микроструктуру образца в светлом поле, при прямом и косом освещении. В светлом поле при прямом освещении нить лампы источника света 1 проектируется коллектором 2 и осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 4. Диафрагма 5 коллектора 2 проектируется осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 6. Апертурная диафрагма 4 проектируется осветительной линзой 7 в плоскость выходного зрачка объективов 8 или 9. Полевая диафрагма проектируется осветительной линзой 7 в бесконечность. Так как объективы 8 и 9 рассчитаны на длину тубуса бесконечность , то изображение полевой диафрагмы проектируется объективами в плоскость предмета. [c.93]

На установке ИМАШ-5С-65 внесен ряд изменений в конструкцию некоторых узлов микроскопа МВТ. В частности, объективы крепятся к опак-иллюминатору удлиненной переходной втулкой (увеличивающей примерно на 60 мм оптическую длину тубуса микроскопа). Изменены также рукоятки координатного перемещения столика микроскопа. Оптические характеристики применяемых объективов приведены в табл. 14, а действительные увеличения микроскопа МВТ при наблюдении, фотографировании и киносъемке структуры образцов (для различных сочетаний объективов и окуляров) — в табл. 15. [c.121]

В крышке камеры имеется смотровое плоскопараллельное стекло 29 диаметром 50 и толщиной 1,5 мм. Для фотографирования микроструктуры используется микрофотонасадка типа МФН-8 для съемки на фотопластинки размером 9 X 12 см или МФН-12 для съемки на кинопленку шириной 35 мм. Оптическая система микроскопа разделена на две части. Вне рабочей камеры установки находятся тубус, осветительная система и окуляр, жестко соединенные с вертикальным валом 30, проходящим через систему подвижного [c.164]

Сильфон расположен внутри стакана 33, установленного на координатном столе 34 с одной стороны сильфон припаян к гайке 35, а с другой — к фланцу рабочей камеры. Наводка микроскопа на резкость выполняется с помощью червячной кремальеры, вертикально перемещающей гайку 35 вместе с уплотненным в ней валом 30, с которым жестко связаны тубус и объектив. При этом сильфон работает на растяжение или сжатие. Микроскоп передвигается в горизонтальной плоскости вдоль и поперек оси образца в пределах 6 мм с помощью координатного стола при этом сильфон подвергается изгибу. [c.165]

С помощью рукоятки 46 вал 30 микроскопа МВТ поворачивается в пределах угла около 50°, ограничиваемого юстировочными упорными винтами. Таким образом, над рабочей частью образца располагается либо оптическая система микроскопа (объектив, тубус с осветителем и окуляр), либо при повороте рукоятки и вала 30 в другое крайнее положение над точкой пересечения поверхности образца оптической осью микроскопа оказывается вершина смонтированного на секторе 31 индентора. Соответствие двух указанных точек достигается при юстировании прибора поворотом объектива микроскопа в эксцентриковой втулке, снабженной специальной контргайкой. [c.166]

За микроструктурой образца в процессе опыта наблюдают с помощью объектива 22, установленного в тубусе металлографического микроскопа, через смотровые стекла 23 и 24, герметизированные в крышке камеры 3. [c.195]

ДЛЯ УСТАНОВКИ ТУБУСА МИКРОСКОПА [c.451]

Червяк 1, вращающийся вокруг неподвижной оси А, входит в зацепление с червячным колесом 2, вращающимся вокруг неподвижной оси В, С колесом 2 жестко соединен пространственный кулачок 3, сообщающий возвратнопоступательное движение ролику а тубуса 4 микроскопа. Пружина 5 выбирает зазоры в механизме. [c.451]

Прибор имеет массивное чугунное основание, на котором установлены стойка и предметный столик. По стойке перемещается микроскоп с окулярным микрометром, объективом, осветителем и механизмом нагружения, На стойке имеется ленточная резьба для перемещения в вертикальном направлении кронштейна с тубусом микроскопа. В кронштейне имеются механизмы грубого и микро.метрического движения тубуса микроскопа. Цена деления [c.267]

Малая модель инструментального микроскопа (рис. 93) состоит из основания 1, на передней части которого смонтирован предметный стол 2, на задней — колонка 16, поддерживающая тубус микроскопа 7 и осветительную часть 17. [c.234]

При измерении резьбовых деталей пользуются специальным центровым столиком 6, устанавливаемым на предметный стол микроскопа. Теневое изображение детали, освещаемой снизу, проектируется объективом на штриховую окулярную пластинку. Окуляром 12 изображение детали совместно со штрихами рассматривается глазом. Интенсивность освещения рассматриваемого изображения детали регулируется ирисовой диафрагмой 18. При грубой установке тубус микроскопа 7 вместе с кронштейном 13 перемещается по направляющим колонны 16. Закрепляется кронштейн винтом 15. [c.234]

Вылет тубуса микроскопа в мм 80 167 -, - [c.236]

Для тонкой наводки на фокус тубус перемещается при помощи рейки и шестерни маховичком 14. При измерении резьбы для установки оси микроскопа по направлению винтовой линии резьбы, тубус вместе с колонкой и осветителем можно наклонять при помощи винта 19. Величина наклона колонки отсчитывается по шкале на втулке. [c.237]

Установить контролируемую резьбу в центры столика 6 и сфокусировать тубус микроскопа на эту резьбу вращением маховичка 14 При этом диаметр отверстия диафрагмы должен быть выбран в зависимости от размеров контролируемой резьбы таким, чтобы рассматриваемое изображение было бы резким и достаточно освещенным. [c.238]

Наклонить головку микроскопа с тубусом на угол подъема [c.238]

В зависимости от расположения тубуса с окуляром различают микроскопы вертикальные и горизонтальные. [c.148]

Нормальные объективы рассчитаны на длину тубуса 160 мм (длиной тубуса называется расстояние между задним фокусом объектива и передним фокусом окуляра микроскопа.) Для работы в отраженном свете с объектами, не покрытыми покровными стеклами, служат специально корригированные объективы, рассчитанные на длину тубуса 190 мм или на бесконечность". [c.242]

С)бъектмв 3 с тубусом 5 установлен на кронштейне 9, который перемещается в вертикальном направлении по стойке //. Стойка // при помощи маховика И может наклоняться вокруг оси 13 на 12,5° в обе стороны для установки микроскопа под углом подъема измеряемой резьбы. Маховик /0, перемещающий кронштейн 9, служит для фокусировки винтом /2. Для точного фокусирования микроскопа вращают рпфлеппое кольцо 4, при этом тубус смен ается по цилиндрическим [c.130]

В инструментальном микроскопе (рис. 5.15) с бинокулярным тубусом 3 измеряемую деталь устанавливают на стеклянном столе 2, положение которого определяют с помощью продольной (150 мм) и поперечной (75 мм) Н1кал. Изображения этнх шкал вместе с нониусом проецируется на экраны II и 15. Деталь в нужное положение (в поле зрения тубуса) устанавливают грубым (свободным), а затем точным (с помощью меха1П змов микронодач 1 и 10) перемещениями стола. Тубус 3 устанавливают в вертикальное положение с помощью соосных маховичков 7 (грубое и точное перемещения), измеряя перемещения но шкале 5 с нониусом, цена деления которого 0,1 мм. Поворачивая маховик 12, стойку 9 можно наклонить на угол ( 15°), измеряемый через окпо 13. При вертикальном положении стойки загорается лампочка 14. Поворотом рукоятки 6 изображение детали можно спроецировать на экран 4. С помощью сменных рамок 8 на изображение детали можно наложить изображения сеток с контролируемыми профилями резьбы, радиусами закруглений, углами и т. п. [c.128]

Приборы для контроля и измерения поверхностных дефектов и микрогео-метрнн. Благодаря малой глубине резкости микрообъективов обычные микроскопы можно использовать в качестве эффективного и достаточно простого средства измерения глубины поверхностных дефектов. Измерение осуществляется последовательной фокусировкой микроскопа на дно риски или царапины и ее верхний край и регистрацией перемещения тубуса микро- [c.74]

Сверху на тубус насажен наклонный окулярный микрометр 3 для измерения отпечатков, а снизу прикреплен кронштейн, на котором смонтирован штемпель 6 с нагрузочным устройством и центрирующий объектив микроскопа 5 со специальным осветителем. Штемпель 6 заканчивается алмазной пирамидой с квадратным основанием и с углом в 136° между противоположными гранями. Под тубусом на станине размещен испытательный столик 7, который при помощи микрометрических в1штов можно перемещать вместе с образцом в двух направлениях горизонтальной плоскости, что необходимо для точной установки образца. [c.235]

Кроме того, в процессе эксперимента может возникнуть необходимость измерения отпечатков непосредственно при температуре опыта. Для выполнения перечисленных задач оптическая система в приборе выполнена следующим образом. Станина оптической системы 30 посажена на выведенную из камеры ось наружной рамки и поворачивается вместе с ней вокруг оси /—I. Тубус с оптикой размещается над смотровым окном в крышке камеры. Для наблюдения за объектом исследования применяется микроскоп МВТ с длинофокусным объективом типа МИМ-13-С0 с рабочим расстоянием 59,5 мм. [c.69]

Схема микроскопа (рис. 28) состоит из объектива 1 (МИМ-13С0), плоскопараллельной пластинки 2, систем отражательных зеркал 3 и 4, монохроматического фильтра 5 и окуляра 6. Система зеркал 3 имеет возможность перемещаться по специальным направляющим, удлиняя или укорачивая длину тубуса микроскопа. Изменение длины тубуса дает возможность плавно менять увеличение микроскопа в довольно широких пределах. [c.86]

Наблюдаемое смещение Ь измеряют с помощью винтового окулярного микрометра—такого же, как при измерениях неровностей на микроинтерферометре. С2ущественное отличие измерений на двойных микроскопах МИС-11 и ПСС-2 по сравнению с измерениями на микроинтерферометрах МИИ-4 и др. заключается в необходимости предварительного определения цены деления круговой шкалы MOB при каждой паре сменных объективов в отдельности. Такая необходимость возникает в связи с тем, что увеличение у любого микроскопа зависит от оптической длины А его тубуса, что следует из формулы [c.107]

Оптическая схема прибора представлена на рис. 33, а. Микроскоп ОРИМ-1 выполнен по схеме однообъективного прибора, в котором роль объективов проекционного и наблюдательного тубусов выполняет один объектив. Нить лампы накаливания 23 расположена в фокусе коллектора 22. Параллельный пучок света, отразившись от зеркала 2], поступает через светофильтр /7 [c.116]

Для фотографирования следует установить на прибор фотокамеру, вдвинуть рукоятку 7 до упора и рукояткой, находящейся на корпусе тубуса слева, включить светофильтр. К микроскопам ОРИМ-1 приложен винтовой окулярный микрометр, имеющий увеличение Хб. Устройство его отличается от описанного выше окулярного микрометра МОВ-1-15Х тем, что барабан микрометрического винта не имеет шкалы.В поле зрения окуляра одновременно видны перекрестие с би-штрихом, миллиметровая шкала (0—8 мм), деления шкалы лимба с ценой 0,01 мм (100 делений) и две окружности, соответствующие базовым длинам 0,25 и 0,8 мм. Таким образом, отсчет показаний окулярного микрометра можно производить сразу же, не отрывая глаз от окуляра, что, конечно, представляет большое удобство для наблюдателя. [c.119]

Устройство для наблюдения за микроструктурой образца. Для наблюдения и фотографирования микростроения образца во время проводимых в установке ИМАШ-22-71 испытаний используется металлографический микроскоп МВТ-1. Для фотографирования поверхности образца используются микрофотонасадки МФН-8 или МФН-12 (для съемки на пластинки или пленку соответственно). Вместо микрофотонасадки на тубус микроскопа может устанавливаться киносъемочная камера типа Конвас , снабженная цейтра-ферным устройством для замедленной покадровой съемки микроструктуры образца в процессе опыта. [c.24]

На крышке 6 рабочей камеры (см. рис. 1) смонтированы оптическая система 8 от микротвердомера ПМТ-3, вторично-электронный умножитель 11 и катодный повторитель 12. Печь 10 служит для прогрева умножителя перед началом измерений. В тубусе микроскопа установлено уплотнение 9 из нейтрального стекла. Наличие зеркала 7 светлопольного и темнопольного изображения в микроскопе позволяет работать без специальной кварцевой оптики. Источником света служат газоразрядные лампы ПРК-7 и ДКСШ-1000, площадь освещаемого участка составляет 0,3 мм . Светофильтры вставляются в корпус лампы. При спектральных исследованиях между микроскопом и лампой устанавливается двойной монохроматор ДМР-4. [c.33]

Микрофотонасадка используется для наблюдения, а также (с помощью камеры) позволяет фотографировать структуру образца. Вместо микрофотонасадки на тубусе микроскопа может быть укреплена киносъемочная камера, например Конвас марки КСР-1, снабженная цейтраферным устройством для замедленной съемки. [c.143]

Устройство для наблюдения за микроструктурой образца. Для наблюдения и фотографирования микростроения образца во время проводимых в установке ИМАШ-22-71 испытаний используется металлографический микроскоп МВТ. В крышке рабочей камеры имеется смотровое плоскопараллельное термостойкое стекло диаметром 50 и толщиной 1,5 мм. Для фотографирования поверхности образца служат микрофотонасадки МФН-8 или МФН-12 (для съемки на пластинки или пленку соответственно). Так же, как и в установках типов ИМАШ-5С-65 и ИМАШ-5С-69 Киргизстан , вместо микрофотонасадки на тубус микроскопа может быть установлена киносъемочная камера типа Конвас , снабженная цейтраферным устройством для замедленной покадровой съемки микроструктуры образца в процессе опыта. [c.158]

Тубус микроскопа, имеющий тридцатикратное увеличение, снабжен сменными окулярными головками штриховой, профильной и радиусной. Наиболее универсальной является штриховая головка. В эту головку вмонтирована штриховая пластинка с угловым лимбом. Угол поворота лимба определяется с помощью микроскопа 10 с точностью до 1 мин. [c.234]

Вращая винт 19, установить колонку 16 с тубусом микроскопа перпендикулярно столу 2 (нулевую риску на винте 19 следует совместить с риской на штырке). [c.238]

На фиг. 14 представлена схема прибора Института машиноведения Академии наук СССР [12]. На тубусе вертикального микроскопа закреплён держатель 1, в который вмонтирован опак-иллюминатор и корпус приспособления для вдавливания наконечника. После выбора места для отпечатка образец О подводится под наконечник с алмазной пирамидой Виккерса поворотом ручки 2 (фиг. 14). После вдавливания пирамиды образец снова подводится под объектив 3 и окуляр-микромегром [c.11]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...