Фокусирующие микроскопы

Наблюдая в микроскоп со слабым объективом, фокусируют микроскоп на исследуемый объект. [c.27]

Фокусируют микроскоп на поверхность образца винтами 6 и 7 (фиг. 177) и устанавливают на резкость нити окулярного микрометра, совмещая их перекрестие с нулевым делением. [c.289]

Затем фокусируют микроскоп на испытуемую поверхность путем перемещения перекрестия и двух штрихов винтом и гайкой с шагом, равным 1 мм. Винт имеет на конце барабанчик, разделенный на сто делений, предназначенных для отсчета дробных частей его поворота. [c.293]

Фокусируют микроскоп на поверхность образца винтами 7 и 5 (фиг. 138) и устанавливают на резкость нити окулярного микрометра передвижением глазной линзы при этом перекрестие нитей должно совпадать с делением 4. [c.189]

Для определения толщины покрытия образец помещают на предметный столик, включают осветитель и фокусируют микроскопы на поверхность образца. При правильной фокусировке в объективе микроскопа появляются два изображения световой щели (отраженные от поверхности пленки и от поверхности подложки). Для измерения расстояния между ними нить перекрестия микрометра наводят на четкий край одной щели, записывают показания щкалы барабана, а затем перемещают перекрестие к тому же краю второй щели и тоже записывают показания. Разность полученных показаний, умноженная на 10, представляет собой величину смещения в микрометрах. Толщина покрытия определяется по формуле [c.141]

Включают осветительное устройство и фокусируют микроскоп прибора на окрашенной поверхности образца. Устанавливают скорость вытяжки 0,2 мм/с и включают поршневой двигатель. В процессе вытяжки наблюдают в микроскоп за состоянием лакокрасочного покрытия. При появлении первых трещин процесс вытяжки прекращают и записывают показания часового индикатора. Эластичность характеризуют длиной пути пуансона, выраженной в миллиметрах. Для получения параллельных результатов перемещают образец в матрице так, чтобы расстояние между центрами вытяжки было не менее 50 мм. [c.147]

Фокусируют микроскоп на резкость изображения штрихов и устанавливают шкалу так, чтобы ее нулевой штрих был расположен от края на расстоянии радиуса поля зрения. [c.34]

Вращением накатного кольца I (фиг. 148) окончательно фокусируют микроскоп на тонкую риску, нанесенную на верхней плоскости ножа. Для более точной наводки на резкую видимость риски следует наводку произвести несколько раз, вращая накатное кольцо 1 только в одну сторону и замечая показания нанесенной на нем щкалы, а затем установить щкалу на среднее из этих показаний. [c.178]

Прибор конструкции ВНИИ (рис. 79) для контроля углов разверток на инструментальном микроскопе бесконтактным методом. Измерение переднего угла этим методом производят фокусированием на торец развертки /, которую устанавливают хвостом 6 на стальной призме, а перед торцом развертки, на столе микроскопа 3 укрепляют прямоугольную стеклянную призму 4, проектирующую изображение в объективе 5 микроскопа. При измерении заднего угла стеклянную призму снимают и фокусируют микроскоп непосредственно на развертку. [c.155]

Измерение рекомендуется вести в следующем порядке. Выполняют несколько наводок (обычно десять) на резкое изображение нитей автоколлимационного изображения и производят отсчет но барабану 10 микрометрического винта. Затем выводят призму /7 из поля зрения окуляра и вращением винта машины фокусируют микроскоп на запыленную ликоподием поверхность и выполняют такое же количество отсчетов. Разность между средними арифметическими из двух серий отсчетов (на центр кривизны и на поверхность) дает абсолютную величину радиуса кривизны поверхности. Знак радиуса определяется по внешнему виду поверхности, а в сомнительных случаях по тому признаку, что при фокусировке на выпуклую поверхность микроскоп находится на большем расстоянии от измеряемой поверхности, чем при фокусировке на центр кривизны, а для вогнутых поверхностей наоборот. [c.86]

После первых работ Габора появились и первые результаты по созданию голографических микроскопов, в которых одна или обе ступени увеличения осуществлялись без помощи линз. Увеличение в таком безлинзовом микроскопе достигается путем применения на стадиях получения голограмм и восстановления волнового фронта источников излучения с различными длинами волн или при использовании пучков со сферическими волновыми фронтами, формируемыми с помощью фокусирующей оптики. [c.82]

Вводят в поле зрения микроскопа монохроматора желтые линии и фокусируют их. [c.260]

Фиг. 12. Оптическая схема микрофотометра /—лампочка 12й, 25б/я 2 — сферическое зеркало-рефлектор 3 — двойная линза конденсора 4 —отражательные прямоугольные призмы 5 — объективы микроскопа X 0,30 и X Ю 6 — фокусирующая двойная линза 7 — экран с раздвижной шелью (точность установки и отсчёта щели 0,01 мм, за экраном находится селеновый фотоэлемент диаметром 45 мм) < —фотопластинка Р — щель 10,11, 12 — система вспомогательного освещения 10 — отражательная призма 11 — конден-сорная линза 72 — поворотная призма).

Прошиваемую деталь закрепили гайкой на выходном патрубке баллона со сжатым воздухом и полоснули ее лучом. Раздался щелчок, и сквозь отверстие зашипел воздух. Деталь сняли и положили под микроскоп. Оплавленные стенки отверстия были идеально ровными и гладкими, как стекло. Всем, кто имел дело с лазерами, это казалось невероятным с одной стороны пластинки — исчезающе короткие мгновения, когда давления подскакивают до многих тысяч атмосфер и металл вскипает, как вода, с другой — жалкие пятьдесят атмосфер, обычный холодный воздух. Но факты — упрямая вещь. Отверстия получались отличные, и, хотя физика процесса окончательно еще не ясна, изобретателям выдали авторское свидетельство (№ 189083). Возникла, правда, новая неприятность встречная воздушная струя забрасывала линзу, фокусирующую лазерный луч, распыленным расплавом. Чтобы не менять линзу после каждой вспышки, ее загородили стеклом. Но стекло тоже быстро тускнело. На помощь снова пришел воздух. Небольшая струйка, [c.246]

Держатель тубусов перемещается вдоль колонки посредством гайки 14 и закрепляется в заданном положении винтом 13. Микроскопы фокусируются на образец с помощью маховичка 10 (кремальер) и микрометрическим механизмом 8. [c.110]

Осветительное устройство микроскопа (источник электронов — катод, направляющий электрод, анод, конденсорная линза) направляет на объект узкий пучок одинаково быстрых электронов. Проходя через объект — прозрачную для электронов пленку толщиной до 0,1 мкм — электроны рассеиваются в пространственном угле, который тем больше, чем больше толпщна или плотность пленки в каждой данной точке (рис. 2.2). Рассеянные объектом электроны попадают в поле объективной линзы и фокусируются вблизи фокальной плоскости проекционной линзы, создавая промежуточное изображение объекта на флуоресцирующем экране, увеличенное в 120-150 раз. Контрастность и четкость этого изображения обеспечиваются малостью апертурной диафрагмы, находящейся под объектом и пропускающей лишь те электроны, которые претерпели при прохождении сквозь объект небольшое отклонение. Поэтому изображение сильно рассеивающих мест объекта, формируемое относительно меньшим числом электронов, прошедших через диафрагму, пол) ается менее ярким. Центральная часть этого изображения увеличивается до 200 раз проекционной линзой и наблюдается на флуоресцирующем экране или фиксируется на фотопластинку. [c.32]

Освещение обеспечивалось дуговой лампой с угольными электродами диаметром 7,95 мм, питаемой током 4,5 а и 51 в. Путь светового потока показан на фиг. 1. Свет от лампы поступал через конденсатор в камеру с водой и затем попадал в боковой канал металлографического микроскопа. Пройдя через тубус микроскопа, свет попадал на объектив (Х3,5) с фокусным расстоянием 30 мм, затем проходил через окно кипятильника, испытываемую жидкость в кипятильнике и фокусировался на исследуемом металле. Оптическая ось проходила в направлении, перпендикулярном исследуемой поверхности. Отраженный свет попадал обратно в микроскоп, делал несколько поворотов под углом 90°, проходил через окуляр (X 12,5) второго соединительного канала и попадал в глаз наблюдателя. Три микрометрических приспособления позволяли перемещать кипятильник в любом направлении. Таким образом, наблюдатель имел возможность устанавливать в процессе кипения [c.141]

Конструкция микроскопа (фиг. 13) очень проста. Микроскоп выполнен в виде штатива с неподвижным предметным столиком и кремальерой для фокусирующего движения тубуса. [c.30]

Эксперименты Перрена были весьма трудоемкими и требовали большой тщательности. В микроскоп можно было четко наблюдать уменьшение числа взвешенных частиц с высотой (рис. 13). Фокусируя микроскоп на отдельные слои взвеси, можно было сфотографировать, а затем подсчитать число частиц в каждом слое. Для пяти слоев, отстоящих друг от друга на 5, 35, 65 и 95 мкм, подсчет дал следующие цифры 100, 47, 22, 6 и 12. Теоретически предсказанные значения были 100,46, 23, И и 1 [50]. В нижних слоях взвеси, где число броуновских частиц велико, совпадение теории с экспериментом было полным. Расхождение в числах для верхних слоев объясняется тем, что по законам теории вероятностей именно в области малых чисел отклонения числа частиц от средних значений (флуктуации) в соответствии со статистикой могут быть значительными. Перрен пишет, что он испытал сильное волнение, когда после первых попыток... получил те же числа, к которым кинетическая теория приходила совершенно другим путем. Теперь становится весьма трудшлм отрицать объективную реальность молекул. Атомная теория торжествует . [c.90]

Внутри головки на шпинделе укреплен лимб 8, разделенный на градусы (без цифр), и вспомогательная шкала с пределом измерений Г (разделена на 6 делений), расположенная нониально по отношению к диску. Эти шкалы рассматриваются через микроскоп 6, в функцию которого входит только увеличение изображения шкал. Фокусируют микроскоп с помощью кремальеры. [c.162]

Наблюдаемые частицы освещаются белым сведом от источника S так, чтобы прямые лучи не попадали в глач наблюдателя, фокусирующего микроскоп на точку, в которой ожидается присутствие частицы. Дифрагированные частицей лучи попадают в микроскоп и фиксируются [c.245]

Конструкция центрировочного микроскопа показана на фиг. 206. Са.мым важным элементом, подлежащим проверке в первую очередь, является совпадение визирной линии микроскопа с осью посадочного конуса микроскопа. Делительный стол ставят на стол сверлильного, расточного или вертикально-фрезерного станка. В шпиндель стола вставляют центрировочный микроскоп, а в шпиндель станка — центроискатель. Фокусируют микроскоп так, чтобы визирная линия на его сетке и окружность центроискателя были видны одинаково отчетливо. После этого центрируют делительный стол центрировочным микроскопом относительно неподвижного центроискателя (оси шпинделя станка) и, вращая стол, определяют величину смеще- [c.390]

Для грубой фокусировки кронштейн 10 (см. фиг. 68) с тубусом микроскопа может перемещаться по колонке вверх и вниз при помощи винтов И при отстопоренном зажимном винте, находящемся с правой стороны колонки. Для точной фокусировки служит накатное кольцо 12. Кроме того, колонка микроскопа может быть повернута вправо и влево вокруг горизонтальной оси при помощи винта 13. Ось поворота лежит в горизонтальной плоскости, проходящей через ось центров. Угол поворота отсчитывается по шкале 14. Наклон на угол подъема винтовой линии применяется при измерении резьбыПри измерении цилиндрических гладких или резьбовых объектов, фокусировка микроскопа на осевую плоскость производится предварительно по контрольному валику, укрепляемому в тех же центрах, в которых будет производиться измерение. Валик имеет в своей средней части сквозное отверстие, с расположенным в осевой плоскости лезвием, на которое и фокусируется микроскоп. [c.96]

Микровинтами 7 и (см. фиг. 68) подводят измеряемую деталь так, чтобы одно нз отверстий находилось под объективом. Включают освещение, открывают полностью диафрагму, затем, г.ращая винты 11. фокусируют микроскоп так, чтобы были резко гцдны контуры отверстия. Окончательную фокусировку производят вращением накатного кольца 12. [c.103]

Методика измерения. Контролируемую линзу 3 (фиг. 33) с помощью винтов 4 укрепляют в центрировочном патроне. Вращая центрировочный патрон вокруг оси, центрируют линзу винтами 4 и 5 на глаз. Фокусируют микроскоп при выведенной призме 11, я вращая центрировочный патрон с помощью винта 8, приводят точку поверхности, лежащую на оси вращения патрона, в центр поля зрения микроскопа, затем рычажком включают призму 11 ъ поле зрения и освещают лампой (6,3 в) осветителя. [c.86]

Число питтингов на единицу площади и их диаметр легко определять путем сравнения со стандартными изображениями. Что касается глубины питтингов, то обычно определяют их максимальную глубину. В некоторых случаях под ней подразумевают глубину самого глубокого питтинга, наблюдаемого на исследуемом образце, в других — среднее значение, например для пяти самых глубоких питтингов. Глубину питтингов можно измерить с помощью микроскопа, который сначала фокусируют на дно питтинга, а затем - на поверхность непрокорродировавшего металла. Таким образом, получается разница между двумя уровнями фокусировш. Глубину питтинга можно также измерить с помощью микрометра или, изготовляя поперечный шлиф через питтикг и затем проводя. прямые измерения, возможно, с помощью микроскопа. [c.26]

Определение твёрдости структурных составляющих и тонких слоёв металла может быть произведено методом царапания на приборе Мартенса. Более удобным для измерения твёрдости микроскопических объектов по методу царапания является прибор Бирбаума. Последний представляет собой вертикальный микроскоп с увеличением до 2000, снабжённый приспособлениями для нанесения царапины и измерения её ширины. Алмазное остриё имеет форму куба. Одно ребро его наклонено к испытуемой поверхности под углом 32,5° и является режущей кромкой. Нагрузка на остриё — 3 г. Ширина царапины измеряется с точностью (0,3-н 0,5) Л4к. При измерении микроскоп фокусируется на испытуемую поверхность, а не на царапину. Навалы снимаются (не всегда удачно) плоской палочкой из твёрдого дерева. [c.11]

Схема содержит последовательно расположенные объектив 1 зеркало 2, поляризационную призму Волластона 3, направля ющий объектив 4, зеркало 5, фокусирующий объектив б, прием ный объектив 7, зеркало 8, микроскоп 9, приемную поляриза ционную призму 10 с установленной передней полевой диафраг мой 11, зеркало 12, поворотное зеркало 13, два фотоприеыника 14 15 и дифференциальный усилитель 16. Между объективом 4 и зеркалом 5 помещена диафрагма, ограничивающая рассеянный на частице в обратном направлении свет. Перед диафрагмой расположена четвертьволновая пластинка 18 с азимутом 45° относительно соответствующих ортогональных плоскостей поляризации расщепленных пучков. Между зеркалом 8 и микроскопом 9 помещена полевая диафрагма с экраном, ограничивающим прямые проходящие пучки. Положение зеркала 13 на рисунке соответствует работе схемы на рассеянии вперед. Для получения режима работы схемы на рассеянии назад необходимо повернуть зеркало на 90°, а блок фотоприемников на 45°. [c.295]

Микроскопическая установка с ОКГ Оптин-481 . Установка предназначена для пробивания систем микроотверстий в различ ных материалах. В качестве активного элемента лазера исполь зуется стекло с неодимом. Работает в режиме одиночных и перио дических импульсов. Оптика микроскопа, сочлененного с лазером позволяет фокусировать излучение ОКГ на поверхность мате )иала и контролировать форму и размер полученных отверстий Имеется программное устройство, позволяющее пробивать отвер стия по заданной программе с частотой 2 Гц. Установка универ сальна и может быть использована в различных областях физики микроэлектроники, медицины и т. п. [c.310]

В сканирующей растровой М. а. сфокусированный УЗ-пучок перемещается по объекту, изображение к-рого воссоздаётся по точкам в виде растра. Фокусиров. волна, падая на образец, частично отражается от объекта, частично поглощается и рассеивается в нём, а частично проходит через него. Принимая ту или иную часть излучения, можно судить об акустич. свойствах образца в области, размеры к-рой определяются размерами фокального пятна. В акустич. микроскопе (рис. 2) пучок плоских У 3-волн, излучаемых пьезоэлектрич. преобразователем 1, фокусируется акустич. линзой 2, к-рая представляет собой сферич. углубление на границе раздела звуко-провода 3 и иммерсионной жидкости 4. Образец 5 помещается вблизи фекальной плоскости линзы и перемещается параллельно ей по двум осям с помощью механич. сканирующего устройства 6. УЗ-нзлучепие после взаимодействия с объектом соби- [c.148]

Применение аксиальных и радиальных граданов в фокусирующей оптике с повышенными требованиями к качеству изображения (в объективах фотоаппаратов, микроскопов и др.) позволяет сократить в 2—4 раза или свести к минимуму число оптич. элементов. Граданы используются в качестве фокусирующих элементов лазерных систем видеозаписи. При этом пятно, формируемое и считываемое граданом, имеет размеры порядка длины волны света (0,6 мкм). Блок граданов используется в малогабаритных копировальных аппаратах. [c.425]

Затем луч света шел по тому или другому из двух путей распространения в зависимости от того, требовалось ли освещение в профиль или в плане. В первом случае луч попадал в вертикальное окно на микроскопе, отражался на 90° и проходил сначала через 10-кратный объектив (на нижний конец объектива приклеивали тонкий пластмассовый колпачок для предохранения погруженного конца микроскопа от коррозии), затем через испытываемую жидкость и фокусировался на поверх-ности кэтодз. Оптичбскзя ось проходи.чз псрпсндику" лярно к поверхности электрода. Отраженный свет, попадая обратно в микроскоп, проходил через его тубус и далее через световой канал к высокоскоростной кинокамере. Световой канал представлял собой черную картонную трубку длиной 356 мм и диаметром 50,8 мм. [c.360]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...