Микроскоп проекционный

Световое сечение и двойной микроскоп МИС-11. Метод светового сечения заключается в том, что одним микроскопом (проекционным) на исследуемую поверхность направляется под некоторым углом узкий пучок света, при этом на ней получается граница тени от непрозрачной шторки, введенной в часть светового пучка, падающего на поверхность. Граница света и тени (световое сечение) подобна профилю в сечении поверхности плоскостью, и по ее конфигурации можно судить о расположении, форме и размерах неровностей на испытуемой поверхности. [c.105]

Диафрагма микроскопа должна быть установлена так, чтобы диаметр шарика, измеренный на микроскопе проекционным методом, отличался не более чем на 0,002 мм от размера, полученного при измерении контактным методом. [c.525]

К оптическим приборам относятся оптиметры, микроскопы, проекционные компараторы. [c.96]

В основном используют оптиметры, инструментальные микроскопы, проекционные аппараты, интерферометры, измерительные машины. [c.143]

К группе оптических приборов относятся оптиметры, измерительные машины, микроскопы, проекционные аппараты и приборы для измерения методом интерференции света. [c.55]

Измерительные стенды для больших деталей, резьбовых калибров, модульных фрез, валов с резьбой для токарных станков, поперечин и т.д. Они содержат раму и стол, смотровой микроскоп, два микрометрических микроскопа, проекционный аппарат. [c.173]

Для проектирования микроскопических объектов применяют микроскоп, окуляр которого заменяют специальным проекционным устройством впрочем, можно получить действительное изображение на экране и с обычным окуляром, смещенным соответствуют,им образом, или даже совсем без окуляра. [c.337]

На рис. 2 показана схема стробоскопического микроскопа СМ-8 для осуществления импульсной голографической микроскопии непосредственно во время испытаний на усталость. Свет лазера 5 делится светоделителем 3 на предметный пучок 2 и референтный 6, после расширения которого фотопленка 8 фиксирует взаимодействие референтного волнового поля 7 с предметным полем 9, сформированным проекционным микроскопом 10. После обработки фотопленки голограмма восстанавливается посредством ее освещения референтным волновым полем 7 для получения изображения исследуемого объекта 1. [c.304]

Проекционные микроскопы (табл. 7) состоят из микрофокусной рентгенов- [c.499]

Для дуговых проекционных ламп, микроскопов. осциллографов, спектрографов, медицинских приборов и другой аппаратуры, работающей на постоянном и переменном токе В дуговых лампах кинопроекторов разных типов только для постоянного тока [c.379]

Измерение детали на проекционных приборах. Измерение шероховатости обработанной поверхности на двойном микроскопе ПСС-2 [c.24]

В рассматриваемых измерительных оптических приборах воспринимающим элементом является объектив, показывающими элементами являются шкала в окуляре (оптико-механические приборы, например измерительные микроскопы), а также экран со шкалами или масштабным чертежом (проекционные измерительные приборы-проекторы). Наличие в оптико-механических приборах дополнительно проекционной насадки (например, у универсального микроскопа), превращает последние (как и проекторы) в оптико-механические проекционные измерительные приборы. [c.377]

Оптической промышленностью в 1957 г. выпущен хлопковый проекционный микроскоп МХП для измерения волокон хлопка, растительных и искусственных волокон, а также металлических проволочек и отверстий в часовых камнях. Прибор сочетает в себе микропроектор и микроскоп. Для исследования и определения зрелости волокон хлопка прибор снабжен поляроидами и кристалличе- [c.385]

В последние годы в Советском Союзе и за рубежом широко применяются проекционные насадки в оптико-механических измерительных приборах (у микроскопов — для проектирования изображения детали, у оптиметров — для проектирования измерительной шкалы). [c.386]

В качестве примера можно указать на проекционную насадку ПН-7 к универсальному микроскопу УИМ-21. В зависимости от применяемых объективов на экране насадки диаметром 210 мм получают изображения увеличением от 10> до 50 . [c.386]

Увеличение микроскопа. Наиболее существенной характеристикой микроскопа является его увеличение. Общее увеличение микроскопа равно произведению увеличения объектива на увеличение окуляра (или проекционного [c.148]

I Микроскоп универсальный УИМ-21 O. OI мм Угловой шкалы I мин. Продольной шкалы—200.л/jf, поперечной шкалы—юо мм У] лы 0—360 градусов Продольное напра-вление 0—2-0 мм поперечное направление 0—100 мм поле зрения б мм. Увеличения зо> 50 15 , i Л в % Измерение а) элементов профиля наружной резьбы б) конусов в) углов г) шаблонов с рисками д) сложных шаблонов с закруглениями е) метчиков с нечётным числом канавок ж) элементов червячных фрез 1. Ножи прямые и резьбовые 1 2. Приспособление. для поверки метчиков 1 с нечётным числом канавок 3 Круглый поворот- ный стол со шкалой 4. Высокие центры 5. Сменные объективы 6. Проекционное устройство 7. Фотокамера 1 Типы Цейсса и СИП [c.656]

Проекционный метод измерений среднего диаметра наружной резьбы осуществляется на универсальном или инструментальном микроскопах с помощью особых ножей или шарового наконечника контролируемый объект устанавливают на предметном столике прибора в центрах или призмах. [c.523]

Половины углов профиля измеряют в осевом сечении резьбы большей частью проекционным методом, при котором используются инструментальный и универсальный микроскопы и проекторы. [c.528]

Для устранения этих искажений в проекционных приборах предусмотрены приспособления, позволяющие направить пучок света параллельно винтовой линии резьбы. В микроскопах тубус наклоняют на угол подъема резьбы. Однако это полностью не исключает искажений проекционного изображения профиля резьбы. Для повышения точности необходимо результат измерений разделить на косинус угла подъема резьбы. [c.528]

При проекционном методе измерений шага резьбы используют проекторы, инструментальные и универсальные микроскопы (с ножами [c.532]

По требованиям изготовляются специальные приспособления к этому микроскопу стол СИ-2 с высокими центрами, круглый поворотный стол СТ-3, измерительная бабка ИБ-21 с отсчетом угла поворота центра, проекционная насадка ПН-7 и др. [c.690]

ЛАЗЕРНЫЙ МИКРОПРОЁКТОР (лазерный ироек ционный микроскоп) — проекционный микроскоп, в к-ро.ч для увеличения яркости получаемых изображений используется усилитель яркости (УЯ), действующий на основе стимулированного (вынужденного) излучения. Стимулированное излучение повторяет все свойства вынуждающего, в т. ч. фазу, поляризацию, поэтому У Я на его основе, пе включающий никаких преобразований световых полей, можно ставить в любое место оптич. системы на пути распространяющихся в ней пучков света. При этом возникает только один неустранимый источник помех собственные шумы квантового усилителя. [c.559]

При визуальных наблюдениях (рис., 1) окуляр М. используется как лупа, т. е. изображение P Q, со-зданное объективом, расположено за передним фокусом окуляра /qi, и окончательное изображение P Q" получается мнимым. Если перефокусировать М. так, чтобы изображение P Q получилось в плоскости, расположенной до переднего фокуса окуляра /o ,, то окуляр будет работать как проекционная система и может проектировать увеличенное, действительное изображение объекта на экран (см. Микроскоп проекционный) или фотопластинку. Такая схема проекции применяется также в нек-рых телевизионных М. (см. M-UKpv Kon телевйдионный). В этих случаях увеличе- [c.236]

МИКРОСКОП ПРОЕКЦИОННЫЙ — микроскоп д.ля проектирования на экран нзображони ми1 роско-пич. нренаратов. Источник света Л (рис. 1) нроектн-руется коллектором Кл в п.лоскость апертурной диафрагмы йЬ полевая диафрагма Дп проектируется кон-9 Ф. Э. С. т. 3 [c.241]

Формулы (VIII,4) н (VIII.5) применимы для любой оптической системы как при бесконечно удаленном объекте (фотообъективы, астрономические объективы и т. п.), так н прн объекте, расположенном на конечном расстоянии от системы (объективы микроскопа, проекционные объективы и т. п.). [c.486]

Примером контактного метода измерений является измерение размера вала И1тангенциркулем, а бесконтактного — измерение того же вала на проекционных приборах (например, под микроскопо.м). [c.111]

Использование когерентного излучения позволило создать принципиально новый метод проекционной микроскопии, основанный на применении квантовых усилителей света. Объект с помощью объектива освещается монохроматическим светом от лазера на парах меди. Отраженный от объекта свет проходит активную среду, усилн-вается и проектируется на экран. Когерентные микроскопы обеспечивают высокое пространственное разрешение (1 мкм при увеличении порядка 1000— 1500 при яркости изображения, недоступного обычным световым микроскопам). Особенностью микроскопа являются возможность фокусировки мощного лазерного излучения на любом элементе объекта и возможность осуществлять его коррекцию (напрн- [c.96]

Объектив О2, ось которого наклонена к исследуемой поверхности (так же, как и ось проекционного микроскопа) на 45°, создает в плоскости сетки М окулярного винтового микрометра К изображения Si и S2 щели, отраженные от исследуемой поверхности. В поле зрения окуляра эти изображения наблюдают в виде двух узких участков поверхности участка Р , на котором располагается изображение S щели, и участка Ра, на котором располагается изображение S2. Расстояние Ь между этими изображениягущ измеряют с помощью винтового окулярного микрометра.. [c.105]

Оптическая схема прибора представлена на рис. 33, а. Микроскоп ОРИМ-1 выполнен по схеме однообъективного прибора, в котором роль объективов проекционного и наблюдательного тубусов выполняет один объектив. Нить лампы накаливания 23 расположена в фокусе коллектора 22. Параллельный пучок света, отразившись от зеркала 2], поступает через светофильтр /7 [c.116]

Наблюдательный микроскоп, состоящий из левой части объектива 4 и линзы 8, создает изображение исследуемой поверхности и спроектированного на нее изображения исходного растра 16 в плоскости штрихов растра сравнения 15, где возникает картина муаровых полос. Эта картина переносится с помощью системы, состоящей из линзы /4, объектива 20 и зеркал 19, 13, 10 и 2, либо в плоскость сетки // окулярного микрометра 12, либо (при отключенном зеркале /б) с помощью проекционного окуляра 7 на экран 1. При выключенном зеркале 19 изображение муаровой картины с помощью фотоокуляра 18 создается в плоскости фотопленки 24. [c.117]

Проекционно-измерительная система состоит из измерительной головки (от микроскопа МПВ- ), перехо.цника, рамки с илоскоиараллельной пластинкой, объектива, конуса и осветителя. [c.256]

Рентгеновский абсорбционный микроанализ. Для решения ряда практических задач может быть использован метод рентгеновского абсорбционного микроанализа (РАМА). При этом методе, который является составной частью рентгеновской проекционной микроскопии (РПМ), не требуется сложная дорогостоящая аппаратура. Метод РПМ основан на получении увеличенной теневой проекции объекта в расходящемся пучке рентгеновского излучения, испускаемого точечным источником. Разрешение ироекцион-ного метода, лимитируемое размерами источника (величиной полутени) и френелевской дифракцией, достигает [c.498]

Проверка качества полированной поверхности кернов производится под микроскопом с 50-кратным увеличением при освещении кернов рассеянным светом. Контроль угла конуса и радиуса сферы керна осуществляется в специальной проекционной аппаратуре с помощью шаблонов при 500-кратном увеличении или с применением монукулярного микроскопа с насадкой при 100-кратном увеличении. [c.183]

В НИИБВ разработан проекционный микроскоп для наблюдения за изменением размера изделия в процессе точения. Микроскоп устанавливается на суппорт станка так, чтобы линия образующей поверхности обрабатываемого изделия при заданном его размере совмещалась с риской на экране прибора исходная установка на размер производится путем совмещения линий контура точного изделия с риской. [c.383]

Микроскопы, например, после того как в 1872—1873 гг. Э. Аббе разработал теорию образования изображения несамосветящихся объектов 130], получили особенно широкое распространение и в научных исследованиях, и в промышленности. Наряду с биологическими были созданы поляризационные микроскоиы (для исследований в области минералогии, кристаллографии и химии), металлографические (для исследований структуры металлов по их шлифам), универсальные измерительные микроскопы с микрометрами, микроскопы сравнения, проекционные микроскопы. [c.362]

Для исследования микроструктуры непрозрачных для видимого света объектов миниатюрного приборостроения и машиностроения при контроле конструктивных элементов и сборки деталей малых размеров в последнее время нашли широкое применение рентгеновские микроскопы. В ИМАШ АН СССР при сотрудничестве с ЛНПО Буревестник разработан новый тип рентгеновского микроскопа МИР-3 с разрешением 2 мкм и увеличением 200 крат, который обеспечивает возможность работы как в режиме проекционного рентгеновского микроскопа, так и в режиме рентгеновского микроденситометра, что дает возможность автоматизировать обработку результатов эксперимента (рис. 10). [c.31]

При выполнении указанных рекомендаций суммарная погрешность проекционного метода измерений (без ножей) половин угла профиля шлифованной резьбы на универсальном и инструментальном микроскопах при0,5 жж равна 3 + л ин, апри/>0,5л<ж равна [c.529]

Измерительные микроскопы предназначены для измерения высокоточных деталей бескентактным проекционным (теневым) методом и контактным методом осевого сечения с помощью ножей путем наблюдения и сравнения увеличенного изображения измеряемого размера с точными шкалами или чертежом. [c.174]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...