Микроскопы специальные

На рис. 72 показаны направление световой полосы и направление наблюдения профиля. Для наблюдений удобнее всего использовать микроскоп. Специальная аппаратура позволяет направить плоский тонкий пучок света наклонно по отношению к исследуемой поверхности и рассматривать линию профиля под определенным углом. При использовании специального объектива можно достаточно точно определять глубину коррозионных язвин и питтингов (в пределах 0,5-2 мкм). [c.224]

Важную информацию о строении металла дают наблюдения с помощью оптических и электронных микроскопов специально приготовленных (отполированных и протравленных) шлифов. [c.71]

Объективы микроскопа специально рассчитаны для работы с толстослойными фотоэмульсиями. [c.144]

Поверхности сравнивают невооруженным глазом, с помощью увеличительной лупы, сравнительным микроскопом, специальными средствами осмотра внутренних поверхностей, комбинацией перечисленных способов с ощупыванием поверхностей пальцем, ногтем, тонкой металлической пластиной и т.п. [c.703]

Посмотрим, как велико может быть кинетическое значение настоящих местных элементов, например, в двухфазном сплаве. Г. В. Акимов и А. И. Голубев [20] измеряли электродные потенциалы структурных составляющих на шлифе, расположенном горизонтально в плоской кювете, в которую наливали раствор электролита. Тонкий слой раствора над шлифом не мешал видеть поверхность шлифа в микроскоп. Специальное устройство позволяло перемещать носик сифона (капилляр), связывающего раствор с электродом сравнения, вдоль шлифа, наблюдая это перемещение в микроскоп. Результаты измерений позволили найти разность потенциалов Аф между фазами. Эта разность могла сохраниться вследствие омического сопротивления микроэлемента. [c.192]

Биологические микроскопы, работающие в проходящем свете, являются самыми ранними по выпуску приборами. Гораздо позднее их появились микроскопы специального назначения — металлографические, минералогические, поляризационные, ультрафиолетовые и др. [c.78]

К микроскопам специального назначения относятся [c.103]

Примечание. Если наружного света недостаточно для хорошей освещенности шкалы,. можно закрепить на тубусе большого инструментального микроскопа специальный осветитель и включить его в осветительную сеть через трансформатор. [c.122]

Оптико-механические приборы. В одних приборах этого типа (измерительных машинах, длиномерах, измерительных микроскопах, проекторах) повышение точности отсчета и точности измерений достигается благодаря значительному оптическому увеличению измеряемых объектов (или шкал) в других (оптиметрах, ультраоптиметрах) — сочетанием механических передаточных механизмов с оптическим автоколлимационным устройством. Все эти приборы широко применяют в измерительных лабораториях и в цехах. Они могут быть как контактными (оптиметры, длиномеры, измерительные машины), так и бесконтактными (микроскопы, проекторы) и позволяют измерять детали по одной (оптиметры, длиномеры), двум (микроскопы, проекторы) или трем (универсальные измерительные микроскопы, специальные измерительные машины) координатам. [c.92]

Ограничения, накладываемые на источники света, привели к необходимости использования в микроскопии специальных осветительных систем, Наилучшей из них является система Келера, показанная иа рис. 199, а. Источник света 1 при помощи линзы (или системы линз) 2, называемой коллектором, изображается в плоскости ирисовой апертурной диафрагмы 5 конденсора 6. Эта дна- фрагма устанавливается в передней фокальной плоскости конденсора и может изменять его числовую апертуру. Ирисовая диафрагма 3, расположенная вблизи коллектора 2, является полевой диафрагмой, сопряженной с пло- [c.335]

Для измерения параметров внутренней резьбы с шагом от 0,25 до 2 мм и средним диаметром от 18 до 98 мм используют специальный резьбовой микроскоп ИЗК-59, который выпускается в качестве приспособления к универсальным микроскопам (УИМ-21, УИМ-23). Погрешности измерения не превышают по шагу + 0,002 мм, по половинам угла профиля + 10 и но среднему диаметру 0,003 мм. [c.180]

Для проектирования микроскопических объектов применяют микроскоп, окуляр которого заменяют специальным проекционным устройством впрочем, можно получить действительное изображение на экране и с обычным окуляром, смещенным соответствуют,им образом, или даже совсем без окуляра. [c.337]

МЕТОД ЯМОК ТРАВЛЕНИЯ. Этот метод основан на том. что при воздействии специально подобранного травителя на полированную поверхность шлифа в местах выхода дислокаций на эту поверхность появляются ямки травления. Их появление в. местах выхода дислокаций обусловлено тем, что в ядре дислокации свободная энергия повышена и растворение идет быстрее, чем вдали от дислокации. Ядро дислокации действует как центр растворения. Под микроскопом ямка травления становится видна тогда, когда [c.101]

Точно так же при измерении некоторой массы М мы устанавливаем, во сколько раз эта измеряемая масса превосходит массу эталонного образца в один килограмм. Разумеется, практически никогда не пользуются сравнением измеряемых величин с основными эталонами, которые хранятся в специальных государственных метрологических учреждениях. (В СССР таким является Всесоюзный научно-исследовательский институт метрологии - ВНИИМ). Вместо этого пользуются измерительными приборами, тем или иным способом сверенными с эталонами. Это относится как к приборам, с помощью которых измеряют длину, - различного рода линейкам, микрометру, измерительному микроскопу, -так и к определяющим время (часы), массу (весы), а также электроизмерительным, оптическим и другим приборам. [c.6]

Применение микропроекционных установок ограничивается главным образом учебными целями, однако, принцип микропроекции применен в некоторых микроскопах специального назначения (см. следующую группу приборов). [c.125]

Специальные масштабные сетки применяют для оценки линейных размеров или площади частиц методом сравнения изображений ее и эталонной фигуры сетки в поле зрения микроскопа. Специальные масштабные сетки нанесены на круглые стеклянные пластинки, помещаемые в фокальную плоскость окуляра. Из этих сеток наибольшее распространение получили дисковый компаратор, сетки для оценки площади окулярных фигур, Счетно-измерительная сетка системы Вигдорчик и счетчик пыли (рис. 4.9). [c.170]

На установке может производиться растяжение образцов сечением не более 1 мм при температуре (20—160°) со скоростью 0,0015—0,75 м1сек. Предельные шкалы усилий 0—4500 г, максимальный ход 80 мм. В комплект установки входят поляризованный микроскоп, специальные осветители, монохроматор и другие приборы. [c.49]

Несколько более сложно методически выглядит люминесцентная микроскопия непрозрачных объектов. В этом случае для наблюдений необходим микроскоп специальной конструкции типа металл микроскопа, который, правда, в настоящее время уже сравнительно широко распространен в заводских металлографичон-них [c.578]

Совершенным способом определения состава бумаги ло роду волокон служит исследование под микроскопом специально приготовленного препарата испытуемой бумаги, для чего несколько кусочков бумаги превращают в кашицу, раздергивают па волокна и окрашивают их под микроскопол каплей специального реактива — хлор-1Цинк-йода, при этогм волокна окрашиваются-, лен, пенька, хлопок—в красноватый цвет, целлюлоза—в фиолетовый цвет, древесная масса — в желтый цвет (ГОСТ 7500-55). [c.83]

Так как все металлы — вещества непрозрачные (для видимого света), то форму кристаллов, а также их размер и взаимное расположение изучают на специально изготавливаемых микрошлифах. В этом случае делают разрез металла в плоскости, интересующей исследователя. Затем полученную плоскость шлифуют и полируют до зеркального состояния Чтобы выявить структуру, следует создать рельеф или окрасить в разные цвета структурные составляющие, что достигается обычно химическим травлением. При травлении кислота в первую очередь воздействует на границы зерна, как места, имеющие наиболее дефектное строение и которые в травленом шлифе станут углублениями свет, падая на них, будет рассеиваться (рис. 18), и в поле зрения микроскопа они будут казаться темными, а тело зерна - светлым отражения or илос (рис. 1У). кости зерна и от его границ [c.37]

Для рассмотрения микрощлифов при исследовании микроструктуры металлов применяют специальные микроскопы, в которых луч от источника света, отражаясь от шлифа проходит через объектив и окуляр, давая соответствующее увеличение. [c.37]

Металлографический метод, т. е. микроскопическое исследование шлифов по сечению пленки, позволяет обнаруживать слоистое строение пленки, определять типы соединений, образующих пленку и отдельные ее слои, размеры и форму зерен, их распределение и расположение в пленке и т. д. Специальная микропечь конструкции Н. И. Тугаринова (рис. 318) дает возможность наблюдать под микроскопом и фотографировать кинетику изменения микроструктуры окалины в процессе окисления металлов. [c.435]

Метод М2 заключается в определении глубины обезуглерожен-ного слоя по структуре под микроскопом на поперечных травленых шлифах, изготовленных на образцах, подвергнутых специальной термообработке. Для исследования по методу Ml образцы подвергают специальной термообработке и окрашивающему травлению. [c.443]

Средний диаметр наружной резьбы контрол1фуют с помощью универсальны.х средств без дополнительных приспособлений или с пспользованнем резьбовых вставок, ножей, проволочек, роликов, а для внутренней резьбы — еще и шариков или оттисков. При измерении среднего диаметра наружной резьбы с помощью микроскопа перекрестпе визирной трубки вначале наводят на верхний профиль резьбы, а затем на нижний (рис. 12.13, а). За результат измерения принимают полусумму результатов измерений среднего диаметра по правой и по левой сторонам профиля. При этом в значительной мере уменьшается влияние погрешности шага. Однако теневое изображение профиля резьбы в этом случае из-за влияния угла подъема резьбы является искаженным, поэтому для контроля среднего диаметра часто используют приспособления с ножами, проволочками или вставками (рис. 12.14). При использовании ножей (рис. 12.14, а) их лезвия подводят с помощью специальных приспособлений и кареток к боковым сторонам выступов до плотного соприкосновения (без просветов). Так как кромка лезвия ножа из-за подъема витка резьбы не видна, отсчет положения ножа проводят по рискам, на- [c.297]

Шаг резьбы измеряют с помощью универсальных или специальных средств. Из универсальных средств используют главным образом микроскопы, перекрестия которых последовательно наводят на правые и левые стороны профиля резьбы. Чтобы исключить погреи1иость от перекоса оси резьбы относительно линии измерения в горизонтальной и вертикально 1 л0ск0стях, шаг необходимо измерять по правым и по левым сторонам профиля (см. рис. 12.13, б) и с обеих его сторон (рис. 12.13, в). Тогда действительный размер шага можно найти по четырем измерепиям [c.299]

Формула, определяющая разре/шающую способность микроскопа, показывает предельный размер частицы, которую можно увидеть или сфотографировать при помощи микроскопа, т. е. частицу, изображение которой передает без искажения ее действительные очертания. Правильные изображения частиц меньших размеров получить нельзя. Однако само существование таких малых, ульт-рамикроскопических частиц, их положение и движение можно установить при помощи микроскопа при специальном способе наблю- [c.361]

Этот метод, предложенный впервые советскими физиками Л. В. Мысовским и А. П. Ждановым, заключается в следующем. Заряженные частицы регистрируются при помощи специальных фотографических пластинок, отличающихся от обычных тем, что эмульсионный слой в них достигает нескольких сот микрон (в обычных пластинках—10 мкм) и обладает гораздо большей чувствительностью. Заряженная частица, прохо дя через пластинку, ионизует кристаллы гиалоидного ef>e6 paV взвешенные в желатине, и создает в них центры скрытого фотографического изображения, т. е. группы атомов серебра столь малых размеров, что их нельзя увидеть в микроскоп. При проявлении в пластинке появляются следы заряженных частиц в виде цепочек черных зерен металлического серебра диаметром около 0,5 мкм и средним расстоянием между ними не больше 5 мкм. Эти следы )сорошо видны, если их рассматривать в микроскоп при увеличении в 500—1000 раз. [c.126]

Измерение производят с помощью специального приспособления или микроскопа. Одно из таких приспособлений представляет собой прозрачную пластинку с нанесенными на ней непараллельными линиями, на которых имеются деления, обозначающие диаметр отпечатка d, а иногда для определенных условий испытания числа твердости Яд и даже временное сопротивление ад (рис. 27). Накладывая пластинку на отпечаток так, чтобы линии касались его очертания, получаем в тхзчке касания диаметр отпечатка в миллиметрах, а для некоторых случаев — непосредственно число твердости и временное сопротивление. Такое приспособление дает возможность быстро измерить диаметр отпечатка с точностью до 0,1 мм. Более точное измерение производится при помощи лупы или микроскопа с нанесенными на окуляре шкалами. Обычно они дают увеличение от 10 до 50. При измерении микроскопом точность достигает [c.48]

Смотреть страницы где упоминается термин Микроскопы специальные : [c.139] [c.139] [c.141] [c.143] [c.145] [c.147] [c.149] [c.151] [c.153] [c.155] [c.157] [c.735] [c.477] [c.76] [c.161] [c.60] [c.342] [c.318] [c.330] [c.153] [c.76] [c.257]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...