Предел р п микроскопа

Двойной микроскоп основан на использовании метода светового сечения с его помощью определяют среднюю высоту микронеровностей в пределах 3—70 мк. [c.91]

Первоначально под микроскопом на предварительно полированных и деформированных образцах можно наблюдать следы скольжения в виде прямых линий, которые одинаково ориентированы в пределах отдельных зерен. [c.47]

Оптико-механические измерительные приборы. Эти приборы находят широкое применение в промышленности, поскольку позволяют выполнять измерения различных изделий с высокой точностью. По сравнению с механическими головками они имеют значительно большие пределы измерений, могут иметь табло с цифровым отсчетом. При необходимости их можно использовать для автоматического управления производственными процессами. Оптико-механические приборы бывают контактные (оптиметры, длиномеры, измерительные машины) и бесконтактные (микроскопы и проекторы). [c.120]

Условие (63.1), полученное с помощью качественных соображений, мало отличается от результатов строгого рассмотрения разрешающей способности микроскопа (см. 97). Этого и следовало ожидать, так как специфические черты голографирования, такие, как наличие опорной волны, ее геометрия, просвечивание и т. п., совершенно не существенны в вопросе о дифракционном пределе разрешения. [c.257]

В отличие от фотопластинки, где на большой длине могут быть просмотрены только горизонтальные следы , а все наклонные выходят за пределы эмульсионного слоя, в эмульсионной камере наклонные следы, выйдя из данного слоя, продолжаются в соседнем, затем в следующем и т. д., пока частица не остановится или не выйдет за пределы эмульсионной камеры. Для того чтобы можно было быстро находить продолжения следов в соседних эмульсионных слоях, на все слои перед разборкой эмульсионной камеры наносится (при помощи рентгеновских лучей или оптическим методом) единая координатная прямоугольная сетка с расстояниями между линиями в несколько миллиметров. Таким образом, поиск продолжения следа в соседнем слое производится в определенном квадрате, расстояния от сторон которого могут быть измерены при помощи окулярной шкалы микроскопа. Если сопоставление следов в соседних слоях сделано правильно, то координаты конца следа в одном слое должны совпадать с координатами начала следа в соседнем слое. [c.591]

При считывании с растрового электронного микроскопа (РЭМ) в ЭВМ строки изображения перпендикулярно гребенчатой структуре излома фиксируется профиль сигнала, имеющего соответствующую периодичность. Предположим, шаг усталостных бороздок однороден в пределах рассматриваемой фасетки излома, его величина меняется пренебрежимо мало и сигнал от рассматриваемой периодической структуры близок к синусоидальному. В этом случае преобразование Фурье от строки изображения с таким сигналом будет умещаться в строку изображения. Если, например, в пределах рассматриваемой фасетки излома получены 20 полных периодов структуры излома, то в спектре Фурье будет присутствовать только двадцатая компонента (гармоника). Таким образом, по преобладающим гармоникам в спектре Фурье можно сделать вывод о преобладающем размере периодических структур на исследуемом участке. Если на изучаемой фасетке излома имеют место две периодические структуры в виде усталостных бороздок с двумя разными величинами, то в спектре Фурье с такой фасетки будут выявлены два пика. Причем важно подчеркнуть, что совершенно не важно, как расположены бороздки одного и того же шага в пределах фасетки излома и как они чередуются сначала могут идти структуры одного размера, потом другого. Шаг бороздок или период регулярной структуры может распределяться в произвольных комбинациях. Таким образом, Фурье-анализ позволяет проводить интегральное метрологическое исследование периодических структур без измерения каждого отдельного шага усталостных бороздок. В такой ситуации в первую очередь исключается субъективное влияние измерителя на получение конечного размера параметра рельефа поверхности, которым в коли- [c.207]

На рис. 72 показаны направление световой полосы и направление наблюдения профиля. Для наблюдений удобнее всего использовать микроскоп. Специальная аппаратура позволяет направить плоский тонкий пучок света наклонно по отношению к исследуемой поверхности и рассматривать линию профиля под определенным углом. При использовании специального объектива можно достаточно точно определять глубину коррозионных язвин и питтингов (в пределах 0,5-2 мкм). [c.224]

Изучение внешнего вида отпечатка на алюминии под микроскопом показало, что индентор без повреждений и отпечаток имеет правильную форму. Аналогичные испытания, проведенные на силициде тантала, имеющем микротвердость 15 000 МН/м, указывают на то, что в результате повреждения индентора величина микротвердости по сравнению с контрольными замерами алмазной пирамидой отличалась на 5—10% с увеличением количества уколов. Исходя из полученных данных, можно считать, что сапфировый четырехгранный индентор может быть использован для испытания материала с твердостью в 2,5 2,7 раза меньшей, чем твердость сапфира. Указанное соотношение, очевидно, можно использовать при высокотемпературных испытаниях, причем температурный предел испытания будет определяться прежде всего этим условием. [c.54]

С помощью оптического микроскопа изучался характер изломов на единичных волокнах, заключенных в прозрачные отливки из эпоксидных смол [31]. Наиболее распространенной формой излома оказались двухконусные трещины или отдельные нормальные плоскости излома в смоле, исходящие из точки повреждения волокна. Было показано, что если матрица достаточно пластична и способна на начальной стадии сопротивляться растрескиванию, то разрыв адгезионной связи происходит по поверхности раздела. Зная предел прочности матрицы при растяжении, можно сравнить его с адгезионной прочностью, и, таким образом, установить, какой механизм преобладает в нагруженном образце. [c.22]

Реплика помеш,ается в камеру с иммерсионной жидкостью, т. е. жидкостью с большим показателем преломления (применяемой для усиления разрешающей способности микроскопа), которая должна находиться между рассматриваемой репликой и объективом. Камеру с репликой ставят под объектив микроскопа и наблюдают в монохроматическом зеленом свете интерференционную картину. Цена интерференционной полосы зависит от показателей преломления пленки и жидкости, которые, естественно, должны быть заранее известны. Цену полосы можно изменять в достаточно широких пределах, меняя жидкость, как это следует из формулы (94), которая в данном случае приобретает вид [c.96]

Механизм подъема 13 при помощи маховика 14 перемещает корпус тубуса в вертикальном направлении. Рукоятка 15 фиксирует нужное положение тубуса. Для точной фокусировки микроскопа на поверхность испытуемого объекта служит микрометрический механизм с барабаном 1 с ценой деления шкалы 0,003 мм. В основании вмонтирован механизм, с помощью которого можно изменять наклон плоскости предметного столика вокруг горизонтальной оси. Для этой цели с левой стороны основания имеется диск. Столик имеет также механизмы 18 перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, которые позволяют перемещать исследуемый образец вместе со столиком в пределах й 25 мм в каждом направлении. Столик может быть повернут вокруг вертикальной оси на угол 55°. Фиксация столика в определенном положении осуществляется рукояткой 17. [c.118]

Настоящая монография охватывает ряд основных вопросов проблемы развития тепловой микроскопии, включая методические основы низко- и высокотемпературной металлографии, анализ конструктивного выполнения основных систем и узлов установок, разработанных под руководством автора. В книге рассмотрены также технические характеристики современной отечественной, главным образом серийной, и зарубежной аппаратуры, определены тенденции и рациональные пределы совершенствования средств тепловой микроскопии. Кроме того, монография содержит ряд экспериментальных результатов, полученных методами тепловой микроскопии и иллюстрирующих эффективность их использования для исследования строения и свойств широкого класса материалов (чистых металлов, промышленных сплавов, композиционных и полупроводниковых материалов). При этом в качестве примеров, как правило, приведены такие исследования, постановка которых оказалась возможной благодаря применению методов и аппаратуры для низко- и высокотемпературной металлографии и результаты которых ассоциируются с существенно новыми представлениями. [c.8]

В установках тепловой микроскопии для измерения остаточных давлений в пределах 10 —10 мм рт. ст. широкое распространение получили электрические термопарные вакуумметры, действие которых основано на 55 [c.55]

Известно, что если выполнить кольцевое зеркало, внутренняя отражающая поверхность которого будет иметь форму эллипсоида вращения, то изображение поверхности, помещенной, например, в фокусе f i, будет передаваться во второй фокус эллипса При относительно небольших диаметрах кольцевого зеркала (порядка нескольких сот миллиметров) расстояние между фокусами и F может составлять порядка 1—1,5 м. Это позволяет создавать установки для тепловой микроскопии, в которых кольцевое зеркало, являющееся объективом, размещается непосредственно внутри рабочей камеры, а второй фокус располагается за ее пределами, что дает возможность рассматривать изображение поверхности образца. [c.97]

На массивном чугунном основании 15 в двух взаимпоперпендику-лярных направлениях на шариковых направляющих перемещается измерительный стол 2. Перемещение стола осуществляется двумя микрометрическими винтами I с ценой деления 0,005 мм и пределами измерения 0—2.5 мм. Пределы измерения микроскопа можно значительно расширить за счет установкн концевых. мер длины соответствующего размера, кратного 25 мм, между микровиптом и измерительным упором на столе микроскопа. Таким образом, пределы измерения увеличивают в продольном направлении до 75 мм у микроскопа ММИ и до 150 мм у микроскопа БМИ. Для отсчета перемещении на гильзе, скрепленной с микрометрической гайкой, имеется миллиметровая шкала / (рис. 10.17, н), а на барабане, связанном с микрометрическим винтом, круговая шкала П с 200 делениями. Так как шаг винта равен 1 мм, то цена деления шкалы барабана составит 1/200 — 0,005 мм (например, на рис. 10.17, в показание микрометра равно 24,025 мм). [c.130]

Таким образом, для каждого класса точности и вида измерительных средств устанавливают определенный комплекс метрологических характеристик и их норм, достаточный для оценки соответствующей части результатов измерений. Так, для концевых плоскопараллельных мер длины устанавливают пределы допускаемых отклонений срединной длины от номинальной, отклонений от плоскоиарал-лельностн, характеристики притираемости. Пределы Д абсолютных допускаемых погрещностей для координатно-измерительных приборов, длиномеров, компараторов, измерительных микроскопов устанавливают в соответствии с формулой [c.135]

Итак, условия освещения объекта определяются раскрытием 201 объектива осветителя, а разрешение зависит от угла раскрытия 202 объектива микроскопа. Обычно для этих углов справедливо соотношение 2 i < 202, и, если исследование ведется вблизи предела разрешения, можно считать, что любой несамосветя-щийся объект освещен когерентно. [c.340]

С использованием методов растровой электронной микроскопии, метода скользящего пучка рентгеновских лучей и измерения микротвердости исследованы процессы самоорганизации дислокационной и субаереиной структуры в приповерхностных слоях и внутренних объемах технически чистого рекристаллизованного Мо при статическом растяжении и влияние магнетроиного покрытия Мо-45, 8Re-0,017 на особенности протекания этих процессов вблизи поверхности. Исследования проводили на образцах, растянутых до деформаций, соответствующих пределу пропорциональности, нижнему пределу текучести н пределу прочности. [c.185]

НАБЛЮДЕНИЕ ЛИНИИ ДЕКОРИРОВАННЫХ ДИСЛОКАЦИИ В СВЕТОВОМ МИКРОСКОПЕ. Метод декорирования дислокаций в прозрачных кристаллах заключается в том, что в кристалл при его выращивании или диффузионным путем вводят примесь, атомы которой притягиваются к дислокациям. При соответствующей термической обработке область вокруг линии дислокации оказывается пересыщенной примесью, которая выделяется в виде мельчайших частиц вдоль линии дислокации. Эти непрозрачные частицы, рассеивающие свет, делают видимой линию дислокации, хотя диаметр ее ядра находится за пределами разрещающей способности обычного микроскопа. Таким способом наблюдали дислокации в хлористом натрии, хлористом калии, галоидных соедине- [c.100]

Убеднвинхь, что границы закаленного слоя, глубина и твердость у образна близки к заданным, можно перейти к изготовлению макро- н микрошлифов, исследованию микроструктуры, распределения твердости по глубине слоя в различных сечениях, наиболее ответственных местах (на участках с галтелью, пазами, отверстиями, вырезами и тому подобными осложнениями геометрии поверхности). Только на основе микроскопического анализа можно получить объективное заключение о величине зерна и однородности структуры закаленного слоя, глубине переходного слоя, дать правильные рекомендации ио корректировке режима закалки. Твердость закаленного слоя, особенно в пределах, задаваемых техническими условиями, является слишком грубым показателем качества закалки при отработке режима. Это показатель производственного иериодического контроля проведения процесса закалки по установленному режиму. При отработке режима кроме установленных пределов твердости необходимо оценивать микроструктуру закаленного слоя, хотя бы по какой-то факультативной шкале структур. При отработке режимов закалки крупногабаритных деталей их микроструктуру исследуют с помощью переносного микроскопа на микрошлифе лыски, отполированной вручную шлифовальной машинкой, т. е. без разрушения детали. Для деталей, подверженных деформации, производится обмер партии, определяется необходимость введения операции правки и поле допуска на последующую механическую обработку 62 [c.62]

На основе этих композиций были получены стеклокерамические покрытия толщиной 15—20 мкм на подложках из нтхкеля, нержавеющей стали и ситалла СТ-50 кратковременным обжигом при температуре 780—800 С в течение 2 мин. Микроскопическил исследованием образцов при ПО.МОЩИ микроскопа МИМ-7 с увеличением Х240 было выявлено, что покрытия, содержащие наполнитель в пределах 60— 80 мае. %, имеют прочное сцепление с подложкой, получаются гладкими и сплошными, не имеют сколов и трещин. Покрытия, содержащие более 80 мас.% наполнителя, плохо сцепляются с подложкой, образуют трещины и сколы, а покрытия с 50 мас.% (и менее) наполнителя имеют микропоры, и распределение наполнителя в них менее равномерно. [c.106]

Шероховатость поверхности измеряется также профилографическим методом. Поверхность детали вдоль определенной линии точка за точкой прощупывается очень тонким штифтом (радиус 2-10 мкм) при незначительном давлении. Щуп прослеживает все неровности ис- следуемой поверхности, и путь его движения передается механикооптической и электрической системой в виде пропорционально увеличенного сечения профиля. Имеются также профилографы со световым указателем неровностей поверхности. При измерении щуп от датчика импульсов приводится в колебательное движение, которое заставляет его быстро перескакивать с одной точки измерения на другую. Пределы измерения при этом способе составляют 0,1-125 мкм. Измерение и исследования микронеровностей поверхности образцов могут также проводиться с помощью электронного микроскопа. [c.225]

Комплексное исследование материалов в микрообъемах предполагает также наряду с определением микротвердости изучение его структуры при температуре испытания. Кроме того, исходя из разделения на агрегатную и монокристал-лическую твердость, характеризующие различные свойства материалов и определяемые методом микротвердости, необходимо прицельное внедрение индентора в выбранную зону под микроскопом. При определении монокристалли-ческой твердости отпечаток согласно методике эксперимента должен не выходить за пределы исследуемого микрообъекта, а при определении агрегатной твердости — охватывать определенное количество структурных составляющих материала. При исследовании неоднородных материалов необходим выбор зоны внедрения. [c.69]

Схема микроскопа (рис. 28) состоит из объектива 1 (МИМ-13С0), плоскопараллельной пластинки 2, систем отражательных зеркал 3 и 4, монохроматического фильтра 5 и окуляра 6. Система зеркал 3 имеет возможность перемещаться по специальным направляющим, удлиняя или укорачивая длину тубуса микроскопа. Изменение длины тубуса дает возможность плавно менять увеличение микроскопа в довольно широких пределах. [c.86]

Хьюз и Резерфорд [38], а также Резерфорд [70], исследуя характеристики микродеформации для оценки параметров пластической деформации при растяжении системы медь—вольфрам, ус-тановцли, что пределы микротекучести и текучести линейно зависят от объемной доли упрочнителя — вольфрамовой проволоки (рис. 15). Кроме того, было показано, что значения предела текучести и сопротивления движению дислокаций увеличиваются с ростом предварительной деформации и качественно согласуются с дислокационной моделью для медной матрицы [38]. Исследование микродеформаций в сочетании с трансмиссионной электронной микроскопией является особенно ценным, поскольку таким способом может быть получена информация о роли поверхности раздела как барьера для движения дислокаций либо как источника или стока дислокаций. [c.247]

Микроморфология разрущения в зоне магистральной трещины носит двойственный характер. В основном разрущение идет по границам зерен за счет образования клиновидных трещин. С другой стороны, в зоне клиновидных трещин впереди фронта магистральной трещины и рядом с ней имеется значительное количество пор ползучести. В металле диска далее по периметру вне зоны видимой трещины и микротрещин имеются зародыщи пор, выявляемые методами оптической и электронной микроскопии. Следовательно, в зоне концентрации напряжений идет процесс порообразования. При периодических перегрузках, которые могут иметь место в пусковой период работы ротора, в металле, пораженном порами, происходит образование клиновидных межзеренных трещин в пределах зерна. В устье трещины за счет ускорения процессов диффузий в поле повышенных напряжений и межзеренного проскальзывания происходит образование крупных карбидов и снижается трещиностойкость стали. В дальнейшем процесс разрушения идет с ускорением и завершается смешанным разрушением. [c.47]

Пароперегревательные трубы из аустенитной стали в процессе эксплуатации во многих случаях повреждаются межкристал-литной коррозией. На рисунке приведены данные разрушения труб вследствие ползучести, на которых обнаружено поверхностное повреждение межкристаллитной коррозией в пределах 1—2 зерен. С помощью просвечивающей электронной микроскопии в металле этих труб обнаружены водородные поры. Видно, что эти точки располагаются ниже среднемарочной параметрической кривой (линия /), но в пределах полосы разброса. [c.114]

Исследование никелевой фольги провел Вилсдорф [85] после облучения интегральным потоком 1-10 нейтрон/см . Радиационные дефекты изучали при помош и электронного микроскопа с использованием трансмиссионной методики. Изучение облученной фольги при высоких увеличениях (X 20 ООО -f- 65 ООО) показало, что предел текучести повышается не вследствие образования вакансий или их сконления, а вследствие закрепления дислокаций на петлях и узлах (ступеньках), которые образуются на вакансиях. Он наблюдал, что, как только начинается скольжение вдоль некоторых плоскостей, большинство вакансий удаляется из промежутка между этими плоскостями и деформация может произойти значительно легче. [c.261]

Аф—потенциал микроэлектрода относительно условного нуля отсчета х — расстояние вдоль направления перемещения микроэлектрода вдоль оси образца вертикальные линии на оси аб< сднсс — границы зерен, штриховка — видимое иотемнение зерен в поле микроскопа пунктирные линии — мнкроэлектро-химическая гетерогенность в пределах одного зерна [c.174]

Рис. 70. Микроэлектрохнмическая гетерогенность структуры Армко-железа а, б — электроннолучевой переплав в — обычная выплавка Дф — потенциал микроэлектрода относительно условного нуля отсчета х — расстояние вдоль направления перемещения микроэлектрода вдоль оси образца вертикальные линии на оси абсцисс — границы зерен, заштрихованные участки — видимое потемнение зерен в поле микроскопа пунктирные линии — ми кроэлектрохимпческая гетерогенность в пределах одного зерна. На поз. б — перемещение электрода перпендикулярно оси образца

Кроме интенсификации и повышения степени очистки проявление пластифицирующего эффекта благоприятно сказывалось на микрорельефе и коррозионной стойкости обработанной поверхности под пленкой защитного покрытия. Возможность внедрения инструмента, например проволочек щетки, в пластифицированный слой обеспечивала более регулярный микрорельеф, по сравнению с механической обработкой как это следует из профилограмм (рис. 118). Существенная разница наблюдалась и на снимках (рис. 119) субмикрорельефа поверхности, полученных методом реплик на электронном микроскопе ЭММА-2. Субмикрорельеф поверхности, обработанной щеткой без ХАС, имел следы пластического течения металла в виде бороздок в направлении движения проволочки. В пределах диаметра проволочки (0,4 мм) число бороздок было различным и зависело от степени износа режущей кромки. [c.257]

Для измерений оптическими приборами, о которых будет сказано в дальнейшем (двойными микроскопами, микроинтерферометрами и приборами теневого сечения), параметры Ra и Rq не подходят, так как требуют трудоемких операций. Поэтому применительно к этой категории средств измерений неровностей применяли различные модификации параметров общей высоты неровностей Rmiix. К последним относится, прежде всего стандартизированная в СССР высота неровностей профиля по десяти точкам Rz, представляющая собой сумму средних арифметических абсолютных отклонений точек пяти наибольших минимумов и пяти наибольших максимумов в пределах базовой длины [c.35]

Фирма Оптон (ФРГ) выпускает малогабаритный Двоййой микроскоп Ыс1118сЬпШ—МПггозкор, имеющий 5 пар сменных объективов, устанавливаемых в револьверной головке. Увеличение объективов от 200 до 400. Пределы измерения высот неровностей от 3,5 до 100 мкм. [c.113]

ОРИМ-1. Этот микроскоп предназначен для измерения высоты неровностей наружных поверхностей со следами обработки, имеющими определенное преимущественное направление в пределах от 0,4 до 40 мкм. [c.116]

Установка для наблюдения за микроструктурой на поверхности нагретого образца в процессе его растяжения, созданная в 1965 г. Казеном с соавторами [38], состоит из нагревательного микроскопа, снабженного гидравлической системой для растяжения образца с постоянной скоростью (изменяющейся в пределах от 2,5 10 до 2,5 10 мм/с), а также устройствами для контроля и регистрации температуры и программирования режима нагрева, регистрации нагрузки и удлинения образца. Во время опыта можно осуществлять прямое наблюдение, фотографирование и кинематографирование поверхности образца. [c.111]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...