Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Зеркальные и. зеркально-линзовые объективы микроскопов

Установленная формальная аналогия, разумеется, не случайна. Как при голографировании, так и при отображении в линзовой либо зеркальной оптической системе речь идет о преобразовании одной сферической волны (предмета) в другую, также сферическую волну (изображения). Формальный вид закона такого преобразования (линейное преобразование кривизны волновых фронтов) предопределен самой постановкой задачи и никак не связан с конкретным способом его реализации. Любой способ, голографический или линзовый, может только изменить кривизну исходного волнового фронта в определенное число раз и добавить к ней новое слагаемое ), но не более того. Анализ физического явления, призванного осуществить эту процедуру, конкретизирует физический смысл соответствующего множителя и слагаемого и их зависимость от характеристик явления и конструктивных особенностей системы. Последнее оказывается очень существенным при сравнительном рассмотрении разных способов. Как уже упоминалось, применение разных длин волн на первом и втором этапе предоставляет голографии неизмеримо более широкие возможности, чем аналогичный фактор в линзовых и зеркальных системах (различие показателей преломления в пространстве изображений и предметов, иммерсионные объективы микроскопов, см. 97), ибо можно использовать излучение с очень сильно различающимися длинами волн, например, рентгеновское и видимое (когда будет создан рентгеновский лазер).  [c.253]


Объектив высокотемпературного микроскопа не может быть помещен близко к раскаленному образцу поэтому, а также нз-за конструкции вакуумной камеры, между объективом и образцом должно быть сравнительно большое расстояние. Это потребовало разработки специальных зеркальных и зеркально-линзовых объективов, рабочее расстояние которых больше, чем у обычных.  [c.67]

ЗЕРКАЛЬНЫЕ И ЗЕРКАЛЬНО-ЛИНЗОВЫЕ ОБЪЕКТИВЫ МИКРОСКОПОВ  [c.130]

В зависимости от способа исправления аберраций зеркальные и зеркально-линзовые объективы микроскопа могут быть разбиты на следующие три группы  [c.138]

Рассмотрев оптические схемы наиболее интересных по конструкции зеркальных и зеркально-линзовых объективов микроскопа, содержащих сферические поверхности, можно сделать следующие выводы.  [c.146]

Метод исправления аберраций объективов микроскопа при тригонометрических расчетах. Применяя предложенный метод расчета зеркально-линзовых объективов микроскопа с уменьшенной кривизной поверхности изображения и 6 0,3, можно довольно быстро рассчитать различные варианты систем, в основу которых положены зеркальные конструкции типа А и типа В.  [c.257]

Приведем пример расчета проекционного компенсационного окуляра АМК-13 (усложненного типа Гюйгенса), предназначенного для зеркально-линзовых объективов микроскопа ОНЗ-75А (75 X 0,65) и ОНЗ-П5 (П5 X 0,7), используемых при фотографировании в ультрафиолетовых й видимых лучах в промежутке длин волн от 250 до 700 нм на фотопленку с размером кадра 24 X X 36 мм (2/ = 44 мм).  [c.277]

Рассмотрим другой пример о влиянии на качество изображения децентрировки отдельных компонентов в зеркально-линзовых объективах с большим рабочим расстоянием ОР-6 (см. рис. У.97) и ОР-11 (см. рис. У.94). Из практики расчета и исследования зеркально-линзовых объективов микроскопов установлено, что наиболее чувствительными к аберрациям, вызванным децентрировкой, следует отнести зеркальные компоненты и фронтальный мениск. Как следует из рис. Х.4, Х.5, кома на краю поля зрения, возникающая от наклона большого зеркала на угол а = 5 в объективах ОР-6 и ОР-11, составляет соответственно 75 и 64, что совершенно недопустимо. При повороте большого зеркала на угол а = 30" кома на краю поля зрения (2/ = 18 мм) в объективе ОР-6 составляет около 9. Из сравнения рис. Х.6, харак-  [c.401]

Необходимость защиты оптической системы микроскопа от воздействия высокой температуры потребовала разработки специальных линзовых, зеркально-линзовых и зеркальных объективов с увеличенным по сравнению с обычными системами рабочим расстоянием [119, 175, 180]. Применение объективов с большим рабочим расстоянием (от 15 до 60 мм) и числовой апертурой 0,2—0,65 позволяет, во-первых, существенно упростить конструктивное выполнение элементов рабочей камеры и захватов нагружающих устройств во-вторых, достаточно свободно разместить в рабочей камере устройство для защиты смотрового кварцевого стекла от осаждения конденсата и, в-третьих, расширить экспериментальные возможности испытательных установок по диапазону рабочих температур, видам нагружения и т. д. [119].  [c.85]


Недостатком рассмотренного устройства является специфическая для данного зеркального объектива нечеткость передаваемого изображения вследствие технологической сложности выполнения высококачественной поверхности эллиптического зеркала. В последнее время в ЛОМО разработаны новые зеркально-линзовые объективы, позволившие создать весьма совершенные оптические системы, предназначенные для исследований методами тепловой микроскопии. В частности, при использовании объективов с рабочими расстояниями 32 и 17,2 мм и апертурами 0,4 и 0,65 получили оптическую систему, обеспечивающую наблюдение объекта в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста.  [c.99]

Однако в современных объективах микроскопа, как видно из приведенных выше сводок результатов расчета, удается получить значительно лучшие результаты волновые аберрации для основного цвета не превышают нескольких сотых длины волны. Портят картину красные и синие лучи, у которых эта аберрация достигает нескольких десятых для ахроматов в апохроматах волновые аберрации для всего видимого спектра не превышают 0,05 —0,07Х, что следует считать превосходным результатом. При таких волновых аберрациях нет смысла вычислять 4RX она в пределах 1—2% не отличается от 4RX идеальной системы с такой же численной апертурой. Для зеркально-линзовых объективов следует принимать во внимание наличие центрального виньетирования, кроме того, волновые аберрации этих объективов больше, чем в линзовых, и достигают 0,1—0,2Я — контраст может пострадать в результате этих двух причин на 5—10%, что впрочем мало ощутимо. Однако влияние бликов может оказаться значительным. Если бы -не погрешности изготовления и сборки, было бы невозможно изображение отличить от идеального.  [c.421]

На рис. 1.7 показана оптическая схема зеркально-линзового объектива 125 X 1,1 (ОНЗ-125), применяемого в ультрафиолетовых микроскопах МУФ-5М и МУФ-6М для работы в УФ и видимой областях спектра.  [c.18]

Зависимость центрального экранирования зрачка от увеличения зеркальной системы и расстояния между вершинами зеркал типов В и В. Зеркальная система типа В, изображенная на рис. V.58, не может применяться как самостоятельная система в качестве объектива микроскопа, так как она дает очень малое увеличение. Однако ее применение с линзовыми компонентами позволяет разработать объективы микроскопа с исправленной кривизной поля и 0 0,3. Заданная величина 6 в системе типа В обеспечивается следующим соотношением высот (рис. V.58)  [c.198]

На рис. 42 показан зеркально-линзовый объектив Дайсона с числовой апертурой А = 0,5 и увеличением 1. Выходящие из объектива О лучи проходят полупрозрачную защитную пластинку /, которая с помощью зеркала II направляет часть из них в плоскость а—а промежуточного изображения О. После этого изображение О проектируется с помощью обычного объектива III микроскопа в плоскость О", сопряженную с фокальной плоскостью окуляра.  [c.95]

Создание перспективных оптических систем с повышенной разрешающей способностью для тепловой микроскопии и, в частности, разработка объективов с большим рабочим расстоянием непосредственно связаны с развитием зеркальной и зеркально-линзовой оптики. Как известно [23], преимущество зеркально-линзовых объективов перед обычными линзовыми объективами заключается в том, что у них так называемый передний отрезок может более чем в четыре раза превышать фокусное расстояние, что позволяет по-новому решать ряд конструктивных задач проектирования оптических систем для средств высокотемпературной металлографии, для приборов локального микроспектрального анализа и других устройств.  [c.95]

Таким образом, зеркальные (и зеркально-линзовые, в которых лннзы играют лишь роль компенсаторов аберраций) системы имеют по сравнению с линзовыми то преимущество, что в них возможно полное исправление хроматических аберраций при любых фокусных расстояния и апертурах системы. Это преимущество оказалось полезным и для объективов микроскопа с большой апертурой, хотя здесь исправление хроматической аберрации не представляет больших затрудиеиий благодаря тому, что малые размеры линз микроскопа позволяют применять любые стекла и даже кристаллы.  [c.323]


Отметим прежде всего, что за редкими исключениями (объектив Олсона, изготовленный нз одной отражающей эллипсоидальной поверхности для наблюдения за образцами металла, нагретыми до 2000 —3000 , во всех зеркальных н зеркально-Лиизовых объективах свет отражается дважды, что обеспечивает конгруэнтность изображений и удобство расположения объекта и осветительной системы. Если исключить из рассматривания линзовые элементы, можно все известные кЬнсгрукцнн зеркально-линзовых объективов микроскопа разделить на три группы.  [c.409]

Панов В. А. Исследование и методика аберрационной коррекции iep-кальных и зеркально-линзовых объективов микроскопов. Автореф. докг. дисс. МИИГАиК, 1971. 32 с.  [c.425]

В 1950 г. в Государственном оптическом институте (ГОИ) были разработаны специальные зеркально-линзовые насадки к объективам микроскопа, увеличивающие рабочее расстояние. В качестве примера на рис. 43 приведена оптическая система, состоящая из собственно объектива микроскопа с увеличением 40 и апертурой 0,65 (40x0,65) и микронасадки (компоненты / и //) с рабочим расстоянием 30 мм и увеличением 1, дающей промежуточное изображение О. Первая поверхность линзы I выполнена асферической и тщательно просветлена. Чтобы исключать влияние прямой засветки, на центральную часть линзы нанесен непрозрачный экран.  [c.95]

Для наблюдения и фотографирования микроструктуры образца служит вертикальный металлографический микроскоп типа МВТ с объективами ОХ-33 (или ОС-39), ОСФ-16 и ОСФ-22 (допускается также использование зеркально-линзового объектива МИМ-13-С0), фотоокулярами Х7, ХЮи X 17, а также микрофотонасадками МФН-8 и МФН-12. При исследовании микроструктуры получают максимальное полезное увеличение в 420 раз.  [c.115]

По степени исправления аберраций к апохроматам близки зеркально-линзовые объективы (рис. 2.10). Отличительной особенностью их является введение в. оптическую систему выпуклых, вогнутых и плоских зеркал, которые не дают явлений хроматизма. Зеркально-линзовые объективы экранируют центральную часть пучка лучей, что приводит к увеличению разрешающей способности микроскопа, но в то же время понижает контрастность изображения. Чаще всего такие объективы применятся для исследований в ультрафиолетовой области спектра, для которой трудно создавать линзовые объективы из-за недостатка оптических материалов. Их преимуществом перед линзовьШи объективами является также увеличенное, по сравнению с последними, рабочее расстояние (при равных, апертурах и увеличениях).  [c.47]

I к-рые имеют улучшенную хроматич. коррекцию. Для исправления кривизны поля используются планахро-маты и планапохрома-т ы, имеющие плоское поле зрения, что особенно важно для микрофотографии. Кроме того, объективы различа- ются а) но спектр, хар-кам — на объективы для видимой области спектра п для УФ и ИК микроскопии (линзовые и зеркально-линзовые) б) по длине тубуса, на к-рую они рассчитаны (в зависимости от конструкции микроскопа) в) по среде между объективом и препаратом — на сухие и им-  [c.421]

Безъштрстнный объектив 75 X 0,65 (ОР-75ИК) содержит толстый одиночный фронтальный мениск / (рис. У.86), отрицательный мениск 2 с жестко закрепленным на нем выпуклым зеркалом 4 и вогнутое зеркало 3. Оба линзовых компонента выполнены из флюорита. С их помощью достигнута ахроматизация в области спектра = 0,5895,5 мкм, скомпенсированы высшие порядки сферической аберрации зеркальной части объектива и устранена кома. Объектив может устанавливаться на четырехгнездном револьвере биологических микроскопов.  [c.227]

В настоящее время разработано несколько оптических конструкций кардиоидконденсоров. В качестве примера может служить конденсор ОИ-13 с числовой апертурой 1,2, приведенный на рис. VIII. 16. Зеркальный конденсор требует очень точной центрировки относительно оптической оси микроскопа, так как затененная зона между внешней границей апертуры объектива и внутренней границей апертуры конденсора обычно составляет небольшую величину. Если апертура осветительного конуса находится в пределах 1,2—1,33, то для того, чтобы прямой свет не мог попасть в объектив, его числовая апертура должна быть не более 1,05. Объективы с более высокой апертурой следует диафрагмировать. Заметим, что освещение по методу темного поля можно получить с помощью линзового конденсора, если центральную часть осветительного пучка задержать специальной диафрагмой В (см. рис. VIII.7). Такие конденсоры обладают значительными рефлексами и поэтому применяются редко.  [c.364]


Смотреть страницы где упоминается термин Зеркальные и. зеркально-линзовые объективы микроскопов : [c.240]    [c.409]    [c.201]    [c.201]   
Смотреть главы в:

Расчет оптических систем  -> Зеркальные и. зеркально-линзовые объективы микроскопов



ПОИСК



Ахроматы Зеркально-линзовые объективы Кварцевые для микроскопов

Зеркально-линзовые объективы микроскопа, являющиеся развитием зеркальной системы типа

Зеркальные н зеркально-линзовые объективы

Исследование зеркально-линзовых объективов микроскопа на засветку. Светопропускание в ультрафиолетовой области спектра

Краткий обзор некоторых конструкций оптических систем зеркальных и зеркально-линзовых объективов микроскопов

Микроскоп

Микроскопия

Микроскопия микроскопы

Микроскопы Объективы

Объективы зеркально-линзовые

Объективы зеркальные

Объективы линзовые

Ч зеркальный



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте