Столик предметный

ГОСТ 8211—56. Микроскопы биологические. Столики предметные. Размеры и расположение отверстий под приспособления. [c.243]

Из таблицы видно, что с уменьшением толщины образца нагрузку и диаметр шарика следует брать меньшими. Толщина образца должна быть не менее 10-кратной глубины отпечатка. В противном случае на глубину отпечатка повлияет не только твердость испытываемого материала, но и твердость предметного столика, на котором лежит образец. [c.116]

Образец устанавливают на предметный столик и подводят до соприкосновения с шариком путем вращения маховика, затем дают предварительную нагрузку и включают электромотор. Нагрузка на образец возрастает постепенно и, когда достигает полного значения, на приборе загорается лампочка. Продолжительность горения лампочки соответствует выдержке. Затем образец разгружается и электромотор автоматически выключается.. После этого отводят предметный столик и снимают образец. [c.119]

В соответствии с данными таблицы 7 и вида образца (детали) производится установка грузов и предметного столика, выбирается наконечник. [c.123]

Образец с тщательно отшлифованным участком поверхности помещается на предметный столик и проверяется плот- [c.123]

Сделав отсчет, отводят предметный столик от наконечника и, передвинув образец, повторяют испытание еще два раза. Центры отпечатков должны быть на расстоянии не менее 2,5 мм друг от друга при вдавливании конусом и около 4 мм при вдавливании шариком. Расстояния от центров отпечатков до краев детали должны быть в тех же пределах. Испытания считаются недействительными, если на опо.рной пове,рхности образца появились какие-либо признаки действия нагрузки. [c.124]

Перед началом испытания осматривают образец, помещают его на предметный столик и дают предварительную нагрузку, после чего стрелка индикатора устанавливается в нулевое положение. Затем осущестЕ. ляется вдавливание нагрузкой 750 или 2250 н. Выбор нагрузки зависит от величины деформации, которая должна быть в пределах 0,2—0,6 мм. Нарастание нагрузки от предварительной до полной должно идти плавно в течение 30 сек. Измерение глубины отпечатка к производят при действии полной нагрузки через 65 сек после ее приложения. Затем нагрузка снимается. [c.163]

В качестве индентора для скрайбирования использован алмазный конус с углом при вершине 120° (рис. 4.18). Индентор закреплен в специальной оправке 7, которая может перемещаться вертикально механизмами макро- и микроподач 7. Цена деления нониуса микроподачи составляет 2 мкм. Образец (или небольшая деталь) 4 с покрытием 3 крепится винтами 6 на предметном столике 5 микроскопа 2, который имеет механизм взаимно перпендикулярного перемещения в, горизонтальной плоскости с ценой деления нониуса 0,1 мм. Перед нанесением царапины проверяется поверхность покрытия она должна быть плоской и очищенной от загрязнения. Шероховатость поверхности не ниже Еа = 0,63 мкм по ГОСТу 2789—73. Образец с покрытием устанавливается на предметном столике прибора так, чтобы в процессе испытаний исключался прогиб и смещение, а поверхность была перпендикулярной к оси царапающего наконечника. Прибор должен обеспечивать плавное возрастание нагрузки при погружении наконечника в покрытие и сохранять постоянство приложенной нагрузки в течение процесса царапания. [c.74]

Рис. 4.18. Схема установки для определения прочности соединения покрытия с основным металлом склерометрическим методом. 1 —механизм подачи индентора 2 — микроскоп 3 — покрытие 4 — .образец 5 — предметный столик 6 — кре-, нежный винт 7 — оправка.

Для исследования под оптическим микроскопом изготовляются одноступенчатые пластиковые или угольные реплики по методике, применяемой в электронной фрактографии. Пластиковые реплики, снятые с излома, оттеняются каким-либо металлом (хром, серебро) и могут быть установлены, так же как и угольные, для исследования на оптическом микроскопе. Для удобства при помещении на предметный столик микроскопа реплика может укладываться на сетку или отверстие безопасной бритвы. В случае необходимости исследовать включения, имеющиеся на поверхности излома, их форму, размер, количество, эффективно изготовление одноступенчатых экстракционных угольных реплик. [c.188]

При измерениях микроинтерферометр МИИ-4 устанавливают вдали от источников вибраций на основании 24 (рис. 22, б) с демпфирующей подкладкой. Контролируемую деталь 18 кладут на координатный предметный столик 29 измеряемой поверхностью вниз. Установку объектива 6 (см. рис. 22, а) против нужного участка измеряемой поверхности можно выполнять либо перемещением детали на столике 29 (см. рис. 22, б), либо сообщением тому же столику продольного и поперечного перемещений посредством микрометрических отсчетных устройств 19, имеющих цену деления / круговых шкал барабанов, равную 0,005 мм, и диапазоны перемещений от 0 до 10 мм. Осветитель 28 включается в сеть переменного тока через трансформатор (127—220 В)/8 В. Мощность лампы 9 Вт. [c.93]

Сменную иммерсионную камеру с вложенной в нее репликой помещают на предметном столике с микрометрическими отсчет-ными устройствами 19 (см. рис. 22, в) с ценой деления круговой [c.96]

Конструктивно прибор выполнен следующим образом (рис. 27, б). Корпус 12 несет на себе предметный столик 11, визуальный тубус 5, осветительное устройство 13 и спектральную насадку 2. Прибор питается от устройства 16. [c.102]

Предметный столик поворачивается вокруг вертикальной оси и стопорится винтом 9. Для перемещения столика в горизонтальной плоскости в пределах 10 мм служат микрометрические винты 10. Цена деления шкал этих винтов 0,005 мм. Столик можно наклонять в пределах 7° относительно горизонтальной оси для изменения ширины интерференционных полос вращением барабана 8. [c.102]

Измеряемый объект устанавливают на предметный столик испытуемой поверхностью к объективу. Обычным для микроинтерферометров способом настраивают освещение (при снятой спер -тральной насадке). Надевают на визуальный тубус спектральную насадку и фокусируют окуляр на резкое изображение щели перемещением глазных линз окуляра при отключении спектральной призмы. Винтами 14 и 15 центрируют осветитель. [c.102]

Для достижения большей точности рекомендуется производить измерения Я при четырех положениях предметного столика (при установке его на деления 0 , 30 , 60 , 90 лимба на четырех участках испытуемой поверхности). За измеренное значение высоты Я принимают наибольшее значение. [c.103]

На рис. 28 представлен общий вид прибора. На массивном Основании 18 корпуса прибора смонтирована стойка 3, в которой собрана оптическая схема прибора и предметный столик 15. Для перемещения предметного столика в двух взаимно перпендикулярных направлениях служат микровинты 1. Для фиксации положения предметного столика предусмотрена рукоятка 17. Грубую фокусировку на исследуемый объект можно осуществить перемещением столика по вертикали с помощью винта 2, а точную фокусировку — с помощью механизма 16. На стойке 3 смонтированы головка микроскопа 9 и осветительное устройство, содержащее источник света 6, конденсор 7 с полевой и апертурной 5 диафрагмами и фильтр монохроматического света 8. [c.104]

При измерении на приборе ПСС-2 высоты неровностей контролируемую деталь кладут на предметный столик 5, фиксируемый винтом 3. При отвернутом винте 3 столик можно повернуть вокруг вертикальной оси. Перемещение столика в двух взаимно перпендикулярных направлениях в пределах до 10 мм можно осуществить с помощью микрометрических винтов 4, имеющих цену деления барабанчика 0,01 мм. При вращении кольца 2 предметный столик можно наклонять вокруг горизонтальной оси на 3°. [c.111]

Механизм подъема 13 при помощи маховика 14 перемещает корпус тубуса в вертикальном направлении. Рукоятка 15 фиксирует нужное положение тубуса. Для точной фокусировки микроскопа на поверхность испытуемого объекта служит микрометрический механизм с барабаном 1 с ценой деления шкалы 0,003 мм. В основании вмонтирован механизм, с помощью которого можно изменять наклон плоскости предметного столика вокруг горизонтальной оси. Для этой цели с левой стороны основания имеется диск. Столик имеет также механизмы 18 перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, которые позволяют перемещать исследуемый образец вместе со столиком в пределах й 25 мм в каждом направлении. Столик может быть повернут вокруг вертикальной оси на угол 55°. Фиксация столика в определенном положении осуществляется рукояткой 17. [c.118]

Затем производят проверку настройки ощупывающей головки, установив в паз предметного столика примерно посередине приложенную к прибору цилиндрическую меру так, чтобы она была направлена вниз. Осторожно приводят меру в соприкосновение с иглой. Установочный кронштейн с головкой перемещают вертикально маховиком 10. Грубую настройку головки выполняют маховиком 13, а точную винтом 11. При этом стрелка контрольного прибора 2 из правого положения должна перемещаться влево. Перемещая изделие винтом 16 и вращая симметрирующий потенциометр 5 установки нуля, устанавливают стрелку контрольного [c.145]

Рабочая камера 11 типа сосуда Дьюара, выполненная из кварцевого стекла с нанесенным на внутреннюю поверхность металлизационным слоем 12, снабжена плоскопараллельным смотровым стеклом 13, расположенным в дне рабочей камеры. С помощью вакуумного уплотнения 14, размещенного между шлифованной кромкой рабочей камеры и основанием 15, устанавливаемом на предметный столик 16 металлографического микроскопа, рабочая камера связана через штуцер 17 с трубопроводом 18 откачивающей системы. Объектив 19 может свободно перемещаться в вертикальном направлении с помощью резинового вакуумного уплотнения 20, герметизирующего зону расположения объектива в основании рабочей камеры. В специальной втулке 21, установленной на опорном кольце 22 микроскопа и служащей для размещения объектива 19, расположено герметизированное плоскопараллельное стекло 23. Это стекло с уплотнениями 14 и 20 обеспечивает вакуум между стенками рабочей камеры, вполне достаточный для того, чтобы предотвратить выделение конденсата влаги на смотровом стекле 13. В результате оказалось возможным прямое наблюдение и фотографирование нижней горизонтальной полированной поверхности образца 1 через слой заливаемого в рабочую камеру хладагента 24, в качестве которого используются, как уже отмечалось, сжиженные газы или любые прозрачные охлаждающие смеси. [c.197]

Схема датчика представлена на рис. 9, Датчик-электромагнит выполнен переносным, что обеспечивает измерение толщины покрытий как на мелких, так и на крупногабаритных деталях. Измерение покрытий на мелких деталях проводится датчиком, закрепленным над предметным столиком. Датчик состоит из подвижного сердечника 2, катушки электромагнита 4, имеющей конусную намотку Н. Конусная намотка катушки датчика позволяет спрямить шкалу прибора в диапазоне [c.16]

Представим себе, что в наших руках оказался фантастической силы микроскоп, сквозь который можно видеть даже элементарные частицы. Положим на его предметный столик атом урана. Всмотритесь в ядро — переплетение нейтронов и протонов, связанных внутриядерными силами. Ядро окружено туманными облачками, создаваемыми стремительно движущимися электронами. [c.167]

Прибор ПМТ-3 представляет собой микроскоп, снабженный специальным предметным столиком и механизмом нагружения, в котором закрепляют алмазные наконечники. [c.267]

Прибор имеет массивное чугунное основание, на котором установлены стойка и предметный столик. По стойке перемещается микроскоп с окулярным микрометром, объективом, осветителем и механизмом нагружения, На стойке имеется ленточная резьба для перемещения в вертикальном направлении кронштейна с тубусом микроскопа. В кронштейне имеются механизмы грубого и микро.метрического движения тубуса микроскопа. Цена деления [c.267]

Для определения цены деления сетки и окуляр-линейки на предметный столик микроскопа установить объект-микрометр шкалой вниз и, наблюдая в окуляр, добиться перемещением глаз-72 [c.72]

Проведение анализа заключается в выполнении следующих операций анализируемую пробу масла в течение 3—5 мин энергично встряхивать, затем быстро залить в кювету до отметки, соответствующей (10 =t 1) см кювету закрыть чистым предметным стеклом, поставить под стеклянный колпак или кристаллизатор, где держать не менее —10 ч (до полного оседания частиц размером более 5 мкм) после полного оседания частиц кювету с пробой осторожно поместить на предметный столик микроскопа частицы классифицируют в зависимости от размера (5—10 10—25 25—50 50—100 100—200 мкм волокна). [c.73]

Предметный столик инструментального микроскопа установлен на салазках, передвигающихся относительно основания прибора на шариковых опорах в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Передвижение стола до 25 мм. производится с помощью двух микрометрических винтов 4 и 20. Помимо этого, столик-микроскопа в продольном направлении можно передвинуть вместе с микрометрическим винтом еще на 50 мм. Для этого стол отодвигают влево за рукоятку 5 и между упорами основания прибора и стола укладывают концевую меру длины. [c.234]

Испытание по методу Виккерса производится на твердомере типа ТП (см. 11). На приборе устанавливают определенную по таблице (12) нагрузку и регулируют выдержку. Подготовленный образец кладут на столик прибора и вращением маховика доводят до соприкосновения с алмазом. Отпечаток получается при автоматическом нагружении образца. Измерение диагоналей отпечатка производится с помощью специального мик-роско1па, который размещается у предметного столика. В поле зрения микро1Скопа находятся два щтриха. Неподвижный щтрих устанавливается против угла отпечатка, подвижный—перемещается с помощью микрометрического винта. Испытание повторяют 2—3 раза. [c.127]

Установка для определения микропластической деформации образцов с покрытиями (фото 4) работает следующим образом образец 11 (рис. 3.10) с закрепленным на концах удлинителем 5 и контргрузиком 5 помещается на опорные призмы 6 предметного столика 12. Предметный столик жестко соединен со стаканом 8, который одет на вал 20 и застопорен винтами 7. Вертикальное перемещение вала 20 для поднятия столика с образцом осуществляется вращением ходовой гайки 9, опирающейся на неподвижную опору 10 станины 22. [c.40]

Прибор устроен следующим образом (рис. 33, б). На массивном основании крепятся предметный столик 2, корпус 4 тубуса и. механизм подъема 13 корпуса тубуса. В корпусе тубуса помещена оптическая система прибора, укреплены объектив 16, элек- [c.117]

Измерение высоты неровностей на микроскопе ОРИМ-1 можно производить тремя способами с помощью окулярного микрометра, по отпечаткам с фотопленки и приближенно на экране. Все они сводятся к относительному измерению величины искривления муаровой полосы в долях расстояния между двумя соседними муаровыми полосами. При подготовке прибора к измерению нужно подключить осветитель и электромагнитный вибратор к блоку питания, установить по шкале амперметра вращением находящейся под ним массивной рукоятки силу тока в цепи накала осветительной лампы 6А, поместить на предметный столик исследуемый образец. Рукояткой, находящейся с левой стороны [c.118]

Для кристаллов тимола и дифениламина плоскость (ПО), (001) соответственно, имеющих низкие температуры плавления (49 и 53° С соответственно), процесс поверхностного плавления наблюдали непосредственно в динамике под микроскопом. В этом случае исследование проводили на естественных зеркальногладких гранях, только что выращенных из расплава монокристаллов. Кристалл со сфокусированной гранью помещали на предметный столик микроскопа в специальное нагревательное устройство. Затем включали нагрев и проводили непосредственное наблюдение и фотографирование разных стадий процесса плавления. [c.46]

Для определения масштаба увеличения на видеоконтрольном устройстве на предметный столик микроскопа помещается стандартный объект-микрометр. Увеличение подсчитывается по формуле Мал = вку/ об, где Мал — оптическов и электронное увеличение Z/аку — расстояние между делениями на экране видеокон-трольного устройства Lq6 — расстояние между делениями на объект-микрометре. [c.12]

Металлографическое изучение деформации биметаллов целесообразно проводить с использованием комплексной методики экспериментирования, основанной на применении автоматических телевизионных анализаторов изображения. Это позволяет осуществлять количественную оценку накопления пластической деформации по числу полос скольжения в анализируемых участках материала, измерять длину трещин и площадь пластической деформации в их вершинах. Наряду с анализом деформационной структуры методика предусматривает проведение микрорентгеноспектраль-ного анализа и фрактографическое изучение изломов с помощью растровой электронной микроскопии. Ниже приведены примеры исследования процесса накопления пластической деформации в переходных зонах образцов биметалла Ст. 3+Х18Н10Т, подвергнутых циклическому нагружению на установке ИМАШ-10-68. Подсчет числа полос скольжения производится с помощью телевизионного анализатора изображения на площади, заключенной в рамку сканирования (рис. 1). Образец, размещенный на предметном столике автоматического количественного микроскопа РМС , перемещался по заданной программе вдоль выбранной базы измерения, ширина которой была равна высоте, а длина соответствовала ширине рамки сканирования, умноженной на число перемещений столика. [c.90]

Камера Вакутерм фирмы Рейхерт (Австрия). Эта приставка помещена на предметном столике металлографического микроскопа MeF-2 (рис. 49). Через один патрубок она соединена с вакуумной системой, состоящей из включенных последовательно диффузионного и ротационного насосов [c.104]

Образцы для испытания на твердость по Роквеллу должны иметь в месте испытания плоскую сухую и чистую поверхность. Допускаются образцы с радиусом не меньше 5 мм. Образцы должны плотно (без зазора) прилегать к предметному столику прибора. [c.339]

Машины для определения параметров контактно-фрикционной усталости материалов. Типичное испытательное устройство такого типа показано на рис. 11, На предметном столике 1 закрепляют плоский образец2. С образцом 2 контактирует индентор 3 — шарик или конус, закрепленный в держателе 4. Держатель 4 соединен с устройствами нагружения и измерения сил трения. Устройство иагруже-ння представляет собой рычаг 5 с грузами 8 и противовесом 9. Грузы 8, рамка с рычагом 5, упругая балка в соединены в центре с держателем 4 ипдептора и составляют устройство измерения сил трения. На плечи [c.228]

В приборе для исследования малоцикловой фрикционной усталости (рис. 12) применяют циклометр и держатель индептора 4. Предметный столик представляет собой эксцентрик или кулачок 1, отклоняющий при вращении подпружиненный держатель [c.228]

Аппаратура для количественной металлогра-ф и и. Количественные металлографические исследования проводят на обычных металлографических микроскопах, оснащенных стандартной оптикой и приспособлениями. Предметный столик микроскопа должен обеспечивать плавное перемещение шлифа в плоскости столика в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Величину перемещения шлифа следует измерять возможно более точно. Этому требованию наилучшим образом отвечает предметный столик прибора для определения микротвердости ПМТ-3, в котором перемещение столика осуществляется микрометрическими винтами с точностью до 0,01 мм и величиной перемещения 12—15 мм. Менее удобны предметные столики металлографических микроскопов МИМ-7 и МИМ-8. [c.490]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...