Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Электронная микроскопия полупрямой метод

Электронная микроскопия метод позитивных слепков 122 ---полупрямого исследования 122  [c.1204]

Микроскопия электронная просвечивающая диффузионное рассеяние электронов 58 изучение дислокационной структуры 59 косвенный метод 50 кристаллографический анализ 54 микродифракционный фазовый анализ 54 полупрямой метод 50 приготовление образцов 51 прямой метод 51  [c.349]


Появление электронного микроскопа, имеющего разрешающую способность, в десятки раз большую, чем световой микроскоп, позволило подробно изучить такие важные элементы структуры, как выделения второй фазы при старении пересыщенных твердых растворов и, в частности, при отпуске закаленной стали, одно до-менные ферромагнитные включения в высококоэрцитивных сплавах, структуру межкристаллитных 2 прослоек и т. д. Однако следует учитывать, что при исследовании объектов косвенными методами электронный микроскоп не дает возможности проводить фазовый анализ. Последний должен, ак правило, сопро- 4 вождать исследование структуры металла. При исследовании прямым или полупрямым методами фазовый анализ возможен непосредст-веннсУ в электронном микроскопе, настраиваемом для этого на диф-фракционную съемку в этом случае микроскоп играет роль электроно-графа. 8  [c.119]


Смотреть страницы где упоминается термин Электронная микроскопия полупрямой метод : [c.208]    [c.31]    [c.457]   
Металловедение и термическая обработка стали Том 1, 2 Издание 2 (1961) -- [ c.174 , c.175 ]



ПОИСК



Микроскоп

Микроскоп электронный

Микроскопия

Микроскопия микроскопы

Микроскопия электронная

Микроскопия электронная просвечивающая полупрямой метод

Полупрямой метод

Электронная микроскопия метод позитивных слепков полупрямого исследования

Электронных пар метод

Электронных пар метод Электроны



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте