Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Специальные виды микроскопии

Измерение термо-э. д. с. можно упомянуть в качестве примера использования физического свойства при металлографическом исследовании. Этот метод применяется главным образом для различения фаз в микроструктуре, которые трудно отличать друг от друга с помощью других методов. Оборудование состоит из специально приспособленного микроскопа, объектив которого можно заменять датчиком в виде тонкой проволочки из эталонного материала (например, меди) таким образом, что конец этого датчика попадает точно в небольшую область образца под объективом. Предметный столик микроскопа оборудуется нагревателем,  [c.118]


Необходимость защиты оптической системы микроскопа от воздействия высокой температуры потребовала разработки специальных линзовых, зеркально-линзовых и зеркальных объективов с увеличенным по сравнению с обычными системами рабочим расстоянием [119, 175, 180]. Применение объективов с большим рабочим расстоянием (от 15 до 60 мм) и числовой апертурой 0,2—0,65 позволяет, во-первых, существенно упростить конструктивное выполнение элементов рабочей камеры и захватов нагружающих устройств во-вторых, достаточно свободно разместить в рабочей камере устройство для защиты смотрового кварцевого стекла от осаждения конденсата и, в-третьих, расширить экспериментальные возможности испытательных установок по диапазону рабочих температур, видам нагружения и т. д. [119].  [c.85]

Для наблюдения за рабочей зоной образца в процессе испытания машина УМ-9 снабжена бинокулярной лупой БМ-51-2 и металлографическим микроскопом МВТ, которые жестко смонтированы на крышке рабочей камеры (рис. 3). Бинокулярная лупа установлена в вертикальной плоскости и позволяет видеть горизонтальную поверхность образца, для освещения которой в камере установлена лампочка подсветки с отражателем. Микроскоп МВТ со стробоскопическим освещением и удлиненным тубусом предназначен для исследования боковой поверхности образца. Наблюдение ведется через специальные иллюминаторы с двойными кварцевыми стеклами, пространство между которыми вакуумировано с целью предотвращения оседания влаги или инея на наружном стекле. Размеры иллюминатора обеспечивают обзор всей зоны образца. Кроме визуального контроля с помощью бинокулярной лупы и микроскопа, зарождение и развитие усталостных трещин можно исследовать путем измерения электрического сопротивления рабочей зоны образца. Для этого активный захват машины электрически изолирован от образца, а рабочая камера снабжена необходимыми электрическими вводами.  [c.42]

При съемке образцов с помощью световых металлографических микроскопов, а также специальных установок для исследования структуры металлов при высоких температурах, снабженных микроскопами МВТ с микрофотонасадками, не предусматривающими фиксирования оптической оси микроскопа, необходимо на поверхности пленки или пластинки, на которую производится съемка микроструктуры, нанести четыре отметки в виде острых зубцов, располагаемых во взаимно перпендикулярных направлениях. На рис. 163 представлена схема съемки стереопар.  [c.256]


Для повышения точности оценки класса чистоты данным методом применяются лупы и специальные микроскопы сравнения, позволяющие одновременно видеть контролируемую поверхность и поверхность образца с увеличением 80 .  [c.119]

Опытные образцы с клеевыми соединениями выполняются в виде двух склеенных цилиндрических блоков диаметром 68 и общей длиной 120 мм (рис. 4-6,а), а образцы с клее-механическими соединениями — в форме дисков диаметром 178 мм и толщиной 6—12 мм (рис, 4-6,6). В склеенных образцах первого типа под спаи термопар выполнено по восемь радиальных сверлений диаметром 1,5 мм на глубину радиуса образца. Расстояние между соседними отверстиями составляет 6 мм и от зоны клеевой прослойки 3 мм. Использование такого количества термопар позволяет осуществлять контроль за локальным изменением температурного градиента. Расположение термопар контролируется с помощью микроскопа. В каждый образец второго типа с обеих сторон относительно клеевой прослойки монтируется по четыре термопары, выводы от которых укладываются в специально подготовленные пазы.  [c.108]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света.  [c.21]

Конструктивно микроскоп-МБИ-8м (фиг. 73) выполнен в виде-стационарного лабораторного прибора. Микроскоп установлен на специальном столе, в тумбах которого имеются ящики для хранения комплекта принадлежностей. Устройство штатива микроскопа аналогично штативу микроскопа МБИ-9. Отличительной особенностью является специальный предметный стол. Его сложная конструкция обеспечивает повороты и точные прямолинейные перемещения препарата. Периодический контроль точности прямолинейного перемещения стола осуществляется с помощью специального многолучевого интерференционного устройства. Конструкция стола.  [c.143]

Высокотемпературная микроскопия позволяет изучать кинетику процессов, происходящих при пайке смачивания, растекания припоев, диффузионных процессов, происходящих на поверхности, возникновения или роста фаз при контактном плавлении, рекристаллизации. С использованием высокотемпературной микроскопии можно наблюдать за изменением механических свойств (твердости, пластичности) в зависимости от степени нагрева. Этот вид исследований осуществляется с применением специальных инденторов и приспособлений для деформирования [15, 16].  [c.241]

Для объектов различной высоты используют специальный переходник в виде цилиндра с внутренней резьбой, в который вворачивают ось столика. На столик с осью помещают излом. Благодаря резьбе, можно осуществлять вертикальное перемещение излома и тем самым менять расстояние между плоскостью излома и плоскостью излома и плоскостью стола, объекта держателя микроскопа, в который вставлен цилиндр переходника.  [c.301]

Посмотрим, как велико может быть кинетическое значение настоящих местных элементов, например, в двухфазном сплаве. Г. В. Акимов и А. И. Голубев [20] измеряли электродные потенциалы структурных составляющих на шлифе, расположенном горизонтально в плоской кювете, в которую наливали раствор электролита. Тонкий слой раствора над шлифом не мешал видеть поверхность шлифа в микроскоп. Специальное устройство позволяло перемещать носик сифона (капилляр), связывающего раствор с электродом сравнения, вдоль шлифа, наблюдая это перемещение в микроскоп. Результаты измерений позволили найти разность потенциалов Аф между фазами. Эта разность могла сохраниться вследствие омического сопротивления микроэлемента.  [c.192]


Твердость металлов по этому методу определяют вдавливанием в образец правильной четырехгранной алмазной пирамиды с углом между противоположными гранями 136° и выражают числом твердости, полученным путем деления величины нагрузки Р в килограммах, приложенной в течение определенного времени, на поверхность отпечатка в квадратных миллиметрах. Поверхность отпечатка, имеющего форму пирамиды, вычисляют, исходя из средней величины обеих диагоналей его основания. Диагонали измеряют с помощью микроскопа или специальной масштабной линейкой, если отпечаток проектируется на экране в увеличенном виде.  [c.257]

Инструменты и приборы для абсолютных измерений предназначаются для непосредственного определения всего значения измеряемой величины. Отличительным признаком измерительных средств для абсолютных измерений является наличие у них штриховых мер (линейных или угловых шкал -,-с которыми сравнивается измеряемая линейная или угловая величина. Повышение точности отсчета, связанное с оценкой доли деления шкалы, производится при помощи специальных устройств, называемых нониусами. Точность измерительных средств для абсолютных измерений ограничена точностью изготовления штриховых мер. В лабораторных измерениях для повышения точности результата измерения, учитываются погрешности нанесения штрихов шкал приборов, которые в виде поправок указываются в их аттестатах. Наиболее распространенными измерительными средствами для абсолютных измерений являются штриховые линейки, штангенинструменты, угломеры и различного типа оптические приборы — измерительные микроскопы, длиномеры, измерительные машины, делительные головки.  [c.333]

Угол профиля измеряют путем проектирования пространственной щели на поверхность резьбы. Изображение щели накладывают на изображение профиля контролируемой резьбы. В окуляре микроскопа изображение пространственной щели наблюдается в виде светового треугольника, угол при вершине которого составляет 45—56° для метрической резьбы. Разность углов светового треугольника и профиля резьбы учитывается пересчетом по специальным таблицам.  [c.416]

Планки 2 тензометра прижимаются к исследуемому образцу специальной пружинной струбцинкой 3 и с одной стороны упираются в него ножами О, с другой стороны планки прижимают к образцу призмы /. При изменении длины I испытуемого участка образца поворачиваются призмы 1 и зеркальца 4. Наблюдатель видит в микроскоп новое деление шкалы 5.  [c.352]

Наибольшее распространение для исследования дисперсного состава частиц получил биологический микроскоп МБИ-3. Этот прибор обладает высокой разрешающей способностью, позволяет исследовать препараты любых видов (путем применения специальных приспособлений и устройств), прост по конструкции.  [c.40]

При микроскопическом исследовании структуры металлов используют оптические или электронные микроскопы. Обычно применяют металлографические микроскопы с увеличением 50—3000 раз. Это позволяет определить микроструктуру металла (величину и форму зерен, структурные составляюш,ие, вид и распределение неметаллических включений и др.) на специальных шлифах.  [c.89]

Для рассмотрения в микроскоп строения металла необходимо специально подготовить поверхность стального образца отшлифовать, отполировать и протравить 2—4%-ным раствором азотной кислоты в спирте. При увеличении в 100—500 раз зерна чистого железа видны в виде светлых, отделенных темными линиями участков (рис. 2,а). В стали марки Ст. 2 (содержащей 0,12% углерода), кроме светлых зерен, есть еще небольшое количество темных зерен (рис. 2,6). В других сталях можно наблюдать иное соотношение между количеством светлых и темных зерен, например, стали марок 70 или У7, содержащие в среднем  [c.32]

В этом случае, хотя никаких подробностей увидеть невозможно, однако возможно обнаружить наличие этих деталей по дифракционной картине, так как каждая из них в виде, например, отдельных коллоидных частиц яв.ляется центром дифракционных колец. Последние сравнительно легко могут различаться только на темном фоне поля зрения микроскопа. Для темнопольных наблюдений конструируются специальные конденсоры, так как простое диафрагмирование обычного конденсора Аббе сильно ослабляет освещенность препарата.  [c.64]

Универсальный микроскоп, изображенный на фиг. 69, является распространенным универсальным средством для измерения длин и углов. Измерение может производиться как в прямоугольных, так и в полярных координатах. К прибору могут изготовляться приспособления для различных специальных измерений (например, радиусная окулярная головка и др.). Полное описание устройства прибора может служить темой для специального пособия. В настоящей работе дается описание только основных узлов прибора и наиболее распространенных видов измерений на нем.  [c.98]

Прибор (фиг. 104) выполняется к виде специальной насадки I, навинчиваемой вместо объектива на тубус 2 биологического упрощенного микроскопа МА. Он дает увеличение в 70 или 105 раз (в зависимости от применения Ш- или 15 окуляра). Диаметр контролируемого участка равен соответственно 2 и 1,2 мм.  [c.137]

Стереоскопический эффект в обычном микроскопе может быть получен при помощи специального бинокулярного тубуса. При этом выходной зрачок объектива делится пополам так, чтобы свет от каждой половины попадал только в один из окуляров. Тогда левый и правый глаз будут видеть объект под разными углами, в результате чего и появится стереоскопический эффект.  [c.69]

Камера с вращающимся барабаном была сконструирована таким образом, что в случае необходимости она могла насаживаться на микроскоп с помощью универсальной переходной головки, как это показано на фотографии рис. 52. В последнем случае можно было получить сильно увеличенное изображение катодного пятна, что значительно расширяло возможности исследования его тонкой структуры. Для этих наблюдений была специально сконструирована разрядная трубка в виде неглубокого металлического резервуара для ртутного катода и расположенного близко к нему кольцеобразного анода, заканчивавшаяся сверху плоским шлифом. Ее устройство приведено на рис. 53. Верхней стенкой трубки, через которую производилось фотографирование, служило обычное оптическое стекло, плотно прилегавшее к шлифу. Вследствие незначительного расстояния между стеклом и катодом трубки она допускала фотографирование катодного пятна с помощью короткофокусных объективов, обеспечивавших необходимое увеличение изображения.  [c.157]


Цилиндрические опоры находят широкое применение в оптикомеханических приборах (микроскопах, прицелах, в фото-киноаппаратах и т. д.), в контрольно-измерительных приборах общего и специального назначения, в часах, геодезических приборах и т. д. В зависимости от назначения узлов, в которых применяются цилиндрические опоры, к ним предъявляются различные требования по точности, габаритам, долговечности, потерям на трение. Это определяет обилие различных видов конструкций таких опор (см. п. 15.5). Диаметры цапф цилиндрических опор изменяются в широких пределах, начиная от 0,07 мм.  [c.520]

На рис. И приведен внешний вид микроскопа для наблюдения структуры и фотографирования ее в ультрафиолетовом излучении. Источником излучения 1 является ртутная лампа типа СВД-120, СВДШ-250 или ПРК-4. Из спектра ультрафиолетового излучения специальными фильтрами 2 выделяются лучи с определенными длинами волн. Эти лучи проходят через опак-иллюминатор 4, оптическую систему 5 и падают  [c.157]

Этот метод, предложенный впервые советскими физиками Л. В. Мысовским и А. П. Ждановым, заключается в следующем. Заряженные частицы регистрируются при помощи специальных фотографических пластинок, отличающихся от обычных тем, что эмульсионный слой в них достигает нескольких сот микрон (в обычных пластинках—10 мкм) и обладает гораздо большей чувствительностью. Заряженная частица, прохо дя через пластинку, ионизует кристаллы гиалоидного ef>e6 paV взвешенные в желатине, и создает в них центры скрытого фотографического изображения, т. е. группы атомов серебра столь малых размеров, что их нельзя увидеть в микроскоп. При проявлении в пластинке появляются следы заряженных частиц в виде цепочек черных зерен металлического серебра диаметром около 0,5 мкм и средним расстоянием между ними не больше 5 мкм. Эти следы )сорошо видны, если их рассматривать в микроскоп при увеличении в 500—1000 раз.  [c.126]

Для дополнения картины изменений на поверхности трения следует знать вид и величину микронеровностен этой поверхности. Для этой цели можно использовать специальные приборы, например, двойной микроскоп Линника МИС-11 и микроинтерферометр МИИ-4 или МИИ-5.  [c.55]

Чистое железо — мягкий и пластичный металл и поэтому он чаще используется лишь в качестве исходного материала при производстве специальных сталей. Стали состоят из железа с добавками углерода, который в сочетании с соответствующей термической обработкой, увеличивает пределы текучести и ползучести. Растворенный углерод стабилизирует аустенит — высокотемпературную аллотропическую форму железа — и очень незначительно стабилизирует феррит, находясь в стали преимущественно в виде цементита РезС. Когда температура стали повышается, сталь переходит в аустенитное состояние, а при последующем охлаждении ниже этой температуры сталь претерпевает эвтектоидное превращение, в результате которого выделяется феррит и цементит. Если превращение имеет место при температуре, при которой диффузионные процессы не происходят, образуется мартенсит, представляющий собой пересыщенный твердый заствор углерода в железе и обладающий высокой твердостью. <огда превращение происходит при высокой температуре, образуется перлит, который состоит из пластинок феррита и цементита. Стали бывают либо доэвтектоидные, в которых содержится в основном феррит, либо заэвтектоидные, содержащие свободный цементит. Структура, состоящая из феррита и перлита, мягкая и пластичная, но с увеличением скорости охлаждения, температура превращения понижается и перлитная структура становится более мелкозернистой, а материал более твердым. При промежуточных значениях температуры между мартенситом и перлитом существуют структуры, известные под общим названием бейнит. Мелкие выделения цементита и феррита, наблюдаемые с помощью металлографического микроскопа, меняют структуру от пластинчатой при высокой температуре (верхний бейнит), до перистой при более низкой температуре (нижний бейнит).  [c.48]

Как цементит, так и феррит после травления обычными реактивами (например, растворами азотной или пикриновой кислоты в спирте) кажутся под микроскопом светлыми. Различить и< можно только по внешним очертаниям и рельефу, резкой разнице в твердости, а также по окрашиванию специальным реактивом — пикра-том натрия цементит в этом д лучае приобретает темный цвет (фиг. 72, в). Цементит присутствует в структуре стали и чугуна в различных формах в виде сетки по границам зерен (фиг. 72, б), в виде игл,в форме отдельных светлых выделений и зерен (фиг, 72, е).  [c.118]

Критерии оценки коррозионной стойкости материалов могут быть качественные и количественные. Качественным критерием является оценка изменений, произошедших в ходе коррозионных испытаний с внешним видом испытуемых образцов и коррозионной средой. Оценка изменений внешнего вида образца может быть визуальной или проводиться с применением микроскопов — определяется изменение морфологии поверхности металла и ее окраски. Об изменениях в коррозионной среде судят по нарушению ее цветности и появлению в ней нерастворимых продуктов коррозии. Разновидностью качественных методов являются индикаторные методы, основанные на изменении цвета специально добавляемых в коррозионную среду реактивов под действием продуктов растворения испытуемого материала. В практике испытаний сталей таким реактивом часто является смесь ферро- и феррицианида калия, в результате взаимодействия которой с ионами двухвалентного железа образуется турбулевая синь — ярко окрашенные области синего цвета. Качественным индикатором при исследовании коррозии алюминия и его сплавов является ализарин, окрашивающий зоны преимущественного растворения в красный цвет.  [c.141]

В зависимости от назначения металлографические микроскопы имеют различные пределы увеличения и позволяют использовать те или иные виды освещения, а также некоторые специальные методы металлографического исследования. Микроскопы, предназначенные для металлографического контроля металлопро-  [c.28]

Избсл<ать трудоемких операций по приготовлению микрошлифов, непосредственно на паропроводе можно, применяя метод сколов. Специально заточенным зубилом с поверхности трубы снимают пробу в виде скола толщиной 1,5—2 мм и шириной 3—4 мм. Скол заливают в легкоплавкий силав и исследуют под микроскопом. Этот метод позволяет достаточно надежно оценивать структуру с позиций соотношения структурных составляющих, что обычно необходимо при анализе труб из жаропрочных перлитных сталей. Возникающая при скалывании пробы деформация не влияет на строение структурных составляющих. Высокая производительность метода и возможность исследования структуры с большими увеличениями позволяют широко применять этот метод как при входном, так и при эксплуатационном контроле микроструктуры.  [c.224]

Метод темного поля в проходящем свете (фиг. 7) применяется в биологии, коллоидной химии, минералогии и других областях, главным образом для получения изображений прозрачных, непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле, объектов. Пучок лучей, освещающих препарат, выходит из конденсора специальной конструкции (так называемый конденсор темного поля) в виде полого конуса и непосредственно в объектив не попадает. Изображение создается только светом, который рассеивается мелкоструктурными элементами препарата. В поле зрения микроскопа на темном фоне видны светлые изображения мелких деталей, тогда как у крупных деталей видны только светлые края, которые рассеивают освещающие лучи. По такому изображению нельзя с полной определенностью делать заключения об истинном виде и форме элементов структуры. При этом методе нельзя также по виду изображения определить — прозрачны частицы или непрозрачны, больший или меньший показатель преломления они имеют по сравнению с окружающей средой. Так как конус света, освещающего препарат в методе темного поля, должен иметь большой угол, чтобы даже при высокоапертурных объективах прямой свет не попадал в поле зрения, то между фрон-  [c.14]


Кинетика развития усталостных трещин. Результаты исследования кинетики развития усталостных трещин в цилиндрических образцах при круговом изгибе из сталей 10ГН2МФА, 45 и армко-железа, свойства которых приведены в табл. 38, проанализированы в работе [91]. Исследования проводились в области прямолинейного участка зависимости daldN — й макс соответствующей уравнению (1.88). Трещины инициировались путем нанесения концентратора в виде сверления диаметром 0,4 мм и глубиной 0,3 мм. Размеры трещины измерялись с помощью микроскопа со стробоскопическим освещением по методике, рассмотренной выше. Связь между глубиной трещины а и ее длиной на поверхности I устанавливали на основе специально поставленных экспериментов [132].  [c.316]

Для выявления структуры металла на поверхности элементов конструкций, находящихся в эксплуатации, разработана специальная ячейка. Устройство выполнено в виде накидной шайбы под объектив микроскопа. Внутреннее пространство разделено тонкой стеклянной перегородкой, изолирующей объектив микроскопа от электролита и имеющей два штуцера для прокачивания электролита и уплотняющую прокладку, обеспечиваК)-щую плотное прилегание к поверхности испытуемого узла. Устройство позволяет наблюдать процесс во времени. Для ускорения процесса травления испытуемый узел подключают к положительному полюсу источника постоянного тока.  [c.24]

При металлографических исследованиях контролируется вид излома (образца), макро-и микроструктура сварного соединения. По излому выявляют поры, шлаковые включения, непровары и трещины. Для контроля макроструктуры шва из сварного соединения вырезают образцы, из которых изготавливают специальные макро-шлифы. По макрошлифам определяют трещины, внутренние непровары, скопления серы и фос ра. При проверке микроструктуры сварного соединения пользуются микроскопами с увеличением от 50 до 2000 раз и более. С этой целью из сварных соединений изготавливают так называемые микрошлифы. Микрострукт ура (микроанализ) сварного шва позволяет выявить такие дефекты, как микропоры, непровары, перегрев, пережог и др.  [c.178]

В области измерений твердости разработаны три государственных специальных эталона и три поверочных схемы для трех наиболее распространенных шкал твердости (Бриннеля, Роквелла и Супер-Роквелла, Виккерса). Все три схемы построены одинаково. Во главе их находится государственный специальный эталон в виде одного или двух стационарных приборов непосредственного нагружения с набором специальных гирь, воспроизводящих ряд фиксированных нагрузок. В состав эталонов входят, кроме того, наконечники в форме стальных закаленных шариков, алмазного конуса или правильной алмазной четырехгранной пирамиды, и специальные микроскопы для измерения размеров отпечатков или глубины внедрения наконечников в испытуемый материал.  [c.74]

Разрешающая способность оптических приборов и, в частности, микроскопов ограничивается явлением дифракции. Предельный размер частицы, изображение которой правильно передает ее форму или структуру, соизмерим с длиной волны и составляет величину порядка 0,5 (для видимого света). Изображение частиц меньших размеров будет иметь вид дифракционного кружка, форма которого практически не зависит от формы частиц. При специальном способе наблюдения эти дифракционные картины, однако, могут быть замечены и, следовательно, факт существования частиц, их иоложение и движение могут быть установлены. Вопросы наблюдения и исследования таких малых частиц в коллоидных растворах и аэрозолях и составляют предмет ультрамикроскопии.  [c.733]

При обработке деталей на металлорежущих станках на отработанной поверхности всегда остаются неровности в виде впадин и гребешков. Эти неровности бывают при всех видах обработки, даже при самой тщательной отделке поверхностей. Высота неровностей, оставшихся после резца, зависит от способа обработки после обдирочных работ эти неровности видны на глаз, при очень тщательной отделке поверхности (чистовая обработка, тонкое точение) их можно обнаружить лишь при рассматривании в микроскоп или измерить специальными приборами — про-филометрами, профилографами и др. Высоту микронеровностей измеряют в микронах.  [c.163]

МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЯ ИЗНОСА ПО ЗАДНЕЙ ПОВЕРХНОСТИ. Максимальный линейный износ /ijmax на задней поверхности лезвия постепенно возрастает на протяжении всего времени резания т. Постепенно возрастающий максимальный линейный износ йзтах измеряют, как показано на рис. 9.3, через равные или произвольные промежутки времени Ат. Измерение с достаточной степенью точности производится измерительной лупой Польди с ценой деления шкалы 0,1 мм или микроскопом типа МПБ-2 с ценой деления шкалы 0,05 мм. Иногда целесообразно с помощью фотокамеры, оснащенной насадкой, зафиксировать вид изношенной задней поверхности на фотопленку, а затем, применяя специальную увеличительную аппаратуру, измерить текущую величину /Тзтах На этапе экспериментальных исследований проведение измерений сопровождается протокольными записями, которые затем используются при математической обработке экспериментальных данных.  [c.140]

Затылующая шайба установлена на шпинделе специального приспособления в виде турбинки, приводимой во вращение сжатым воздухом с числом оборотов == 45 ООО об/мин приспособление монтируется на суппорте затыловочного станка и шайбе сообщается вращение. Таким образом, процесс профилирования и затылования характеризуется высокой скоростью резания (и = 30—35 м1сек) и малой круговой подачей детали. Профиль фрезы после этой операции контролируется по проекторному чертежу под микроскопом.  [c.121]

Простейшую микрофотографическую установку можно представить себе именно в таком виде. Несмотря на ряд недостатков, она все же удобна для быстрой съемки через микроскоп, особенно в условиях экспедиции, когда под руками может не оказаться специальной микрофотографи-ческой аппаратуры и принадлежностей.  [c.107]


Смотреть страницы где упоминается термин Специальные виды микроскопии : [c.62]    [c.16]    [c.30]    [c.308]    [c.141]    [c.55]    [c.65]   
Смотреть главы в:

Физическое металловедение Вып II  -> Специальные виды микроскопии



ПОИСК



Микроскоп

Микроскопия

Микроскопия микроскопы

Микроскопы специальные

Специальные виды



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте