Микроскоп метод темного поля

Микроскоп 329 —. метод темного поля 362 —, — фазового контраста 362 —, разрешающая способность 330, 348—357 [c.923]

Микроскоп позволяет проводить исследования методом темного поля в отраженном свете и методом фазового контраста. [c.72]

Предположим, что мы записали голограмму наилучшего качества, обработали ее и с нее восстановили изображение. Рассмотрим теперь, каким образом можно исследовать действительное восстановление изображения с помощью стандартных методов микроскопии. Если линза, применявшаяся в процессе регистрации голограммы, при восстановлении изображения снова помещается на то же самое место, что и при записи, то весь свет, не дифрагировавший на объекте, собирается в фокус (рис. 4). Помещая в фокус линзы непрозрачную заслонку, можно получить освещение по методу темного поля. А помещая в фокус линзы фазосдвигающий элемент, можно получить освещение по методу фазового контраста. [c.630]

Один из менее благоприятных случаев, который часто встречается, это восстановление более или менее прямого и резкого края протяженного предмета. Для простоты мы обсудим лишь случай поглощающей полуплоскости, ограниченной прямым краем. Восстановление дает одно резкое изображение, но за ним на расстоянии 2zo появляется изображение- двойник в виде сопряженной плоскости с протяженной системой полос Френеля, которые могут быть настолько контрастными, что маскируют даже изображения немного отступающих от края малых предметов, которые сами по себе могли бы быть весьма подходящими предметами для дифракционной микроскопии. Покажем теперь, что в этом весьма неблагоприятном случае результат может быть значительно улучшен с помощью метода темного поля. Как уже говорилось, в этом методе прямая, или освещающая, волна устраняется после того, как она пройдет голограмму, с помощью малого, предпочтительно размытого черного пятна, наложенного на действительное изображение отверстия источника. Размытие , т. е. распределенное пропускание пятна, приводит к тому, что дифракционные полосы, которые могут возникнуть в случае резко ограниченного пятна, здесь отсутствуют. [c.298]

При дальнейшем смещении апертурной диафрагмы конденсора относительно оси объектива до тех пор, пока световой пучок, направляемый конденсором на препарат, совсем не попадает в объектив, метод косого освещения превращается в метод темного поля в проходящем свете (рис. 2.26). В поле зрения микроскопа на темном фоне получаются светлые изображения частиц препарата за счет рассеянного им света. Метод применим для получения изображений прозрачных, непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле объектов. [c.36]

Рис, 2.3. Построение изображения и ход лучей в оптической системе микроскопа при освещении объекта отраженным светом а — по методу светлого поля I — объект 2 — конденсор 3 — выходной зрачок объектива 4 — пластинка Бека 5 — изображение объекта б — по методу темного поля 1 — объект 2 — объектив 3 — зеркало с асферической повер-х-ностью 4 — плоское кольцевое зеркало 5 — изображение объекта 6 — диафрагма. [c.37]

Для исследования препаратов методом темного поля применяется конденсор темного поля ОИ-13. Оптическая часть этого конденсора состоит из сферического выпуклого зеркала и линзы-кардиоида. С помощью двух регулировочных винтов и пружинного устройства оптическая часть может перемещаться в плоскости, перпендикулярной оптической оси, что обеспечивает центровку конденсора относительно оси микроскопа. Конденсор ОИ-13 применяется для работы с любыми системами объективов, при естественном или искусственном освещении. Апертура конденсора ОИ-13 составляет 1,2. С помощью такого конденсора можно установить наличие частиц, размеры которых лежат за пределами разрешающей способности микроскопа. В темном поле такие частицы имеют вид светящихся точек. [c.56]

Конденсоры. В зависимости от требуемого метода наблюдения в микроскопах применяются конденсоры различных типов конденсор светлого поля конденсор с апертурной диафрагмой, смещающейся перпендикулярно оптической оси для обеспечения косого освещения конденсор темного поля и специальный конденсор для наблюдения по методу фазового контраста. Конденсор представляет собой двух- или трехлинзовую оптическую систему с ирисовой апертурной диафрагмой. Численная апертура конденсоров при условии применения иммерсионной жидкости достигает вели- [c.21]

Микроскоп МББ-1А по конструкции аналогичен микроскопу МББ-1 и отличается от последнего комплектом оптики, позволяющей проводить дополнительно исследования препаратов в темном поле методом фазового контраста и в поляризованном свете. [c.49]

Конструкция микроскопа дает возможность установить на нем фазово-контрастное устройство, конденсор темного поля и другие дополнительные принадлежности. Однако штатив МПД-1 не предназначен для исследований по методу Федорова. [c.97]

Конструкция микроскопа позволяет применять в исследованиях столики Федорова, устройство для наблюдения методом фазового контраста, конденсор темного поля, поляризационный опак-иллюминатор для изучения непрозрачных объектов, микрофотонасадки и другие дополнительные принадлежности. [c.102]

Большое количество разнообразных дополнительных принадлежностей позволяет расширить возможности исследования с микроскопами. Так например, они позволяют применить на обычных. микроскопах методы, повышающие контраст в изображении (конденсоры темного поля, фазово-контрастные устройства), производить измерения (объект-микрометры, окулярные микрометры, интеграторы и др.), применять метод люминесценции (люминесцентные принадлежности), документировать исследования (насадные фотографические камеры, рисовальные аппараты) и т. д. [c.159]

Четвертая система линз совместно с окуляром образует вспомогательный микроскоп, предназначенный для наблюдения выходного зрачка объектива- Применяется этот микроскоп при настройке освещения по методу фазового контраста, темного поля и при коноскопическом исследовании на поляризационных микроскопах. [c.179]

Методы светлого и темного поля в отраженном свете чаще всего применяют для исследования непрозрачных частиц сложного строения. При этом ход лучей в самом микроскопе остается таким же, как при работе с проходящим светом. [c.37]

Кроме бинокулярной насадки АУ-12 (см. разд. 2.2) применяют бинокулярную насадку АУ-26, которая в отличие от АУ-12 имеет три собственных увеличения 1,1 X 1,6X 2,5 X, что достигается введением в оптическую систему насадки трех сменных линзовых систем. Четвертая система линз совместно с окуляром образует вспомогательный микроскоп, предназначенный для наблюдения выходного зрачка объектива она применяется при настройке освещения по методу фазового контраста, темного поля и при коноскопическом исследовании с помощью поляризационных микроскопов. [c.60]

Метод Микроскопии выбирают, исходя из оптических свойств частиц и их строения в соответствии с рекомендациями, рассмотренными выше (см. разд. 2.2). Чаще всего при дисперсионном анализе применяют методы исследования частиц в светлом и темном полях в проходящем и отраженном свете. [c.155]

Центральная часть апертурной диафрагмы 1 зрачным" диском, так что пучок лучей выходит в виде полого конуса и непосредственно в объектив 4 не попадает. Изображение объекта 3 создается только рассеянными (дифрагированными) лучами (штриховые линии). Рассеяние света происходит вследствие того, что элементы структуры отличаются от окружающей среды по показателю преломления. В поле зрения микроскопа на темном фоне получаются светлые изображения мелких деталей. У крупных деталей видны только светлые контуры. Следует отметить, что при этом методе освещения по виду изображения нельзя определить, прозрачны частицы или непрозрачны, больший или меньший показатель преломления они имеют по сравнению с окружающей средой. [c.21]

Большой универсальный исследовательский микроскоп Ну (рис. 41) позволяет изучать объекты в проходящем и отраженном свете, в светлом и темном поле, методом фазового контраста, а также в свете люминесценции. Универсальность конструкции и сменные узлы позволяют применить микроскоп для поляризационных и металлографических работ. Наличие трех источников света (лампа накаливания, ксеноновая и ртутная лампы) дает возможность в больших пределах изменять освещенность объекта, панкратическая система для [c.59]

Универсальной моделью является горизонтальный металлографический микроскоп МИМ-8м (рис. 45). Он предназначен для исследовательских работ в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и методом фазового контраста. Осветитель 1, собственно микроскоп 2 и фотокамера 3 смонтированы на оптической скамье 4, установленной при помощи амортизаторов на специальном столе. Осветитель снабжен лампой накаливания мощностью 170 вт. Фотокамера переменной длины позволяет изменять масштаб изображения в больших пределах при одном и том же объективе и окуляре. Фазово-контрастное устройство (с переносом выходного зрачка объектива) имеет собственный визуальный тубус. [c.65]

Рассмотрим устройство ЛЮМАМ-72-РЗ (рис. 1.28). Этот микроскоп позволяет наблюдать и фотографировать изображения изучаемых объектов в свете люминесценции по методу светлого и темного поля. [c.48]

Одна из наиболее современных моделей — универсальный исследовательский микроскоп МБИ-6 — стационарная установка для наблюдения и микрофотографирования объектов в исследовательских лабораториях. Он позволяет исследовать объекты в проходящем свете в светлом поле при прямом и косом освещениях, в темном поле и методом фазового контраста в отраженном свете — в светлом и темном полях, а также в поляризованном свете. [c.238]

В микроскопии для освещения объектов пользуются методом светлого и темного полей. [c.203]

Микроскопы состоят из унифицированных агрегатных узлов, различные комбинации которых позволяют получить несколько моделей рабочих и исследовательских микроскопов ЛЮМАМ. Эти микроскопы позволяют наблюдать и фотографировать изображения исследуемых объектов в свете люминесценции при освещении возбуждающим светом сверху через опак-иллюминатор н объектив по методу светлого и темного поля. Оптическая [c.373]

На рис. 1.15 представлена принципиальная оптическая схема осветительного устройства металлографического микроскопа по методу светлого (рис. 1.15, а) и темного (рис. 1.15, б) поля. Схема светлого поля обеспечивает нормальное освещение по Келеру. Источник света 1 изображается коллектором 2 на апертурной диафрагме 5, которая находится в переднем фокусе линзы 6. Линзы 6 я 8 действуют как оборачивающая система и проецируют апертурную диафрагму в выходной зрачок объектива 10, совпадающий с его задним фокусом fee- Объектив 10 рассчитан на тубус бесконечность и работает совместно с ахроматическим объективом 11. Линзы 4 6 действуют аналогично оборачивающей системе и изображают оправу 3 коллектора 2 в плоскости полевой диафрагмы 7. Эта диафрагма установлена в фокусе линзы 8 и проецируется ею и объективом 10 в плоскость предмета 0. [c.23]

Метод темного поля в проходящем свете (фиг. 7) применяется в биологии, коллоидной химии, минералогии и других областях, главным образом для получения изображений прозрачных, непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле, объектов. Пучок лучей, освещающих препарат, выходит из конденсора специальной конструкции (так называемый конденсор темного поля) в виде полого конуса и непосредственно в объектив не попадает. Изображение создается только светом, который рассеивается мелкоструктурными элементами препарата. В поле зрения микроскопа на темном фоне видны светлые изображения мелких деталей, тогда как у крупных деталей видны только светлые края, которые рассеивают освещающие лучи. По такому изображению нельзя с полной определенностью делать заключения об истинном виде и форме элементов структуры. При этом методе нельзя также по виду изображения определить — прозрачны частицы или непрозрачны, больший или меньший показатель преломления они имеют по сравнению с окружающей средой. Так как конус света, освещающего препарат в методе темного поля, должен иметь большой угол, чтобы даже при высокоапертурных объективах прямой свет не попадал в поле зрения, то между фрон- [c.14]

ЧИНЫ 1,4. Конденсор темного поля — более сложная оптическая система, обеспечивающая освещение препарата полым конусом света с большим углом. Конденсор для освещения препарата при работе методом темного поля в отраженном свете представляет собой кольцеобразную зеркальную или зеркально-линзовую систему, в середину которой помещается объектив. Такой конденсор называется эппконденсором. В особую группу можно выделить зеркально-линзовые и линзовые конденсоры, прозрачные для ультрафиолетовых лучей и применяющиеся в ультрафиолетовых микроскопах. [c.22]

Конструкция микроскопа показана на фиг. 34. В основании 1 установлена стойка 2, на которой винтом 3 закреплен корпус 4 с оптической головкой 5. Снизу головки на салазках вставлен эпиобъектив 6. Центрирующийся патрон 7 с лампой помещен в патрубке 8 осветительной системы. В передвижной колодке 9 смонтированы сменные диафрагмы для светлого и темного поля. Рукоятка 10 служит для выключения полупрозрачной пластинки при переходе к освещению по методу темного поля. [c.76]

Конденсор ОИ-Ю — универсальный конденсор с увеличенным рабочим расстоянием, предназначенный для освещения препаратов как по методу светлого поля, так и по методу темного поля. Однако, он рассчитан для работы с объективами, апертура которых не больше 0,7. Конденсор применяется при работе, главным образом, с рабочими биологическими микроскопами. Расстояние от конденсора до препарата равно 10 мм, благодаря чему можно вести не только наблюдения, но и препарировальные работы с живыми объектами, находящимися в камерах и микрокюветах. Конденсор ОИ-10 устанавливается на микроскопе вместо обычного конденсора. [c.168]

Всем перечисленным требованиям удовлетворяет люминесцентный микроскоп МЛ-2 (рис. 42). В основание 2 и тубусодержатель 3 вмонтированы осветительные системы для проходящего и 14адающего света. Револьвер 4 увеличенных размеров позволяет устанавливать эпиобъективы. Они применяются здесь не только для наблюдения по методу темного поля в отраженном свете, но и для увеличения [c.60]

Для освещения объектов по методу темного поля необходимо использовать конденсор, числовая апертура которого больше, чем апертура микрообъектива (Ак > Аоб). Наблюдение по методу темного поля можно осуществить при одностороннем или круговом освещении. На рис. 165 приведена схема конденсора темного поля. В конденсоре используется кольцевая диафрагма 4 такого размера, чтобы средний диск диафрагмы перекрывал световой пучок, соответствующий апертуре микрообъектива. Если в предметной плоскости 2 отсутствует объект, то наблюдатель видит в окуляр микроскопа темное поле, так как лучи, вышедшие из конденсора 5, не попадают в микрообъентив 1. При наличии в предметной плоскости объекта его мелкие детали диффузно рассеивают свет и кажутся светлыми на темном поле. [c.204]

В осветительном устройстве для падающего света в случае освещения объектов по методу светлого поля объектив микроскопа выполняет роль конденсора при освещении по методу темного поля применяются так называемые эпизеркальные конденсоры (см. рис. IX, поз. 11), с помощью которых освещение объектов осуществляется лучами, идущими вне объектива [38]. [c.348]

В настоящее время разработано несколько оптических конструкций кардиоидконденсоров. В качестве примера может служить конденсор ОИ-13 с числовой апертурой 1,2, приведенный на рис. VIII. 16. Зеркальный конденсор требует очень точной центрировки относительно оптической оси микроскопа, так как затененная зона между внешней границей апертуры объектива и внутренней границей апертуры конденсора обычно составляет небольшую величину. Если апертура осветительного конуса находится в пределах 1,2—1,33, то для того, чтобы прямой свет не мог попасть в объектив, его числовая апертура должна быть не более 1,05. Объективы с более высокой апертурой следует диафрагмировать. Заметим, что освещение по методу темного поля можно получить с помощью линзового конденсора, если центральную часть осветительного пучка задержать специальной диафрагмой В (см. рис. VIII.7). Такие конденсоры обладают значительными рефлексами и поэтому применяются редко. [c.364]

Брандт и Фройнд изучили подробности процесса оседания частиц микрофотографированием при освещении по методу темного поля. Использованная ими установка изображена на фиг. 548. В нижней части трубки, составленной из трех частей—Л, В и С,—расположена камера для наблюдения К - Освещение производится по методу темного поля М—конденсор микроскопа, Е—круглая центральная диафрагма и О—передняя линза объектива микроскопа. Ультразвуковые волны возбуждаются в верхней части трубки и могут быть диафрагмированы заслонкой 5. Маленькая камера /С, со смотровым окошком О служит для оценки времени падения оседающих частиц. В этом случае направление освещения перпендикулярно к направлению наблюдения. [c.488]

При прямом освещении в микроскопе видны пылинки размером 0,4 мкм и более, а при косом освещении — 0,2 мкм. Предел видимости в темном поле — до 0,06 мкм [ 60]. Подсчет пылинок методом фазового контраста в счетчиках Оуэнса позволяет фиксировать частицы размером до 0,02 мкм. Особо высоким разрешением обладают электронные микроскопы. Поскольку линейные измерения связаны с идентификацией положения и расстояния точек поверхностей, то допускаемую объемную загрязненность воздуха твердыми частицами можно, в частности, определять через нормы запыленности измеряемой поверхности. При контактных измерениях положение точек измерения оценивается с разрешением порядка 1. .. 2 мм (кроме специальных задач), откуда допускаемое число частиц пыли Nan нормируемых размеров а [c.97]

Микроскоп ММР 4 (рис. 1.8), Рабочий металлографический микроскоп ММР-4 предназначен для наблюдения и фотографирования микроструктуры металлов в светлом поле при прямо.м и косом освещении, темном поле, по-,тяризованном свете и методом фазового контраста. [c.29]

Микроскоп МБИ-6 — универсальный исследовательский прибор, предназначенный для проведения всевозможных работ как с прозрачными, так и с непрозрачными препаратами. Микроскоп позволяет изучать микропрепараты различными современными методами исследования визуальное наблюдение и фотографирование в проходящем свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете, с фазовым контрастом, а в отраженном свете — в светлом и темном полях. Такое многообразие методов наблюдения позволяет всесторонне изучить препарат, а также проводить быстрое и удобное фотографирование. Фотографирование может производиться с помощью пленочной фотокамеры либо на фотопластинку. Источником света служит лампа накаливания мощностью 170 вт. [c.54]

Для наблюдения на темном поле иногда еще и сейчас применяют метод Зидентопфа и Жигмонди. Этот метод, как показано на рис. 43, заключается в том, что в качестве микроконденсора применяют такой же микрообъектив, как и для наблюдения, но установленный к нему под углом в 90°. Однако светосила такой установки значительно уступает светосиле кардиоид-конденсора. Он удобен в тех случаях, когда необходимо одностороннее освещение, как, например, в случае исследования коллоидных растворов, протекающих через кювету значительных размеров. Такую кювету невозможно, конечно, установить на предметном столике микроскопа между конденсором и объективом. [c.65]

Фотомикроскопы — сложные приборы, предназначенные для фотографирования объектов, исследуемых самыми различными методами. Так, например, фотомикроскоп Ультрафот П (рис. 39) позволяет работать в проходящем и отраженном свете методом светлого поля, темного поля, фазового контраста и в поляризованном свете. На микроскопе могут быть установлены три осветителя с различными источниками света. Система для визуального наблюдения расположена в оптической головке, а фотокамера — в корпусе прибора. Микроскоп снабжен автоматическим фотоэкспонометром, который определяет требуемую выдержку в процессе съемки и управляет затвором. [c.56]

Лабораторные и исследовательские модели микроскопов Комплектуются объективами-апохроматами и объективами-план-апохроматами со специально рассчитанными для них компенсационными окулярами с увеличенным полем зрения, фотографическими и проекционными системами, различными насадками для спектрофотометрических, микроспектрофотометрических измерений и другими оптическими устройствами, обеспечивающими современные методы исследования. Осветительные оптические устройства в этих микроскопах выполняются встроенными и освещение производится по принципу Кёлера. Для фотографирования, спектрофотометрирования, исследования в свете люминесценции и при реализации других методов исследования используются источники большой яркости (ДРШ-250, ДРШ-100 и т. д.). Коллекторы и конденсоры применяются с апланатической и ахроматической коррекцией. Некоторые конструкции микроскопов снабжаются универсальными панкратическими конденсорами, позволяющими производить освещение объектов по методам светлого и темного поля, фазового контраста с плавным изменением числовой апертуры и величины освещаемого поля. Одной из основных задач при разработке унифицированных моделей микроскопов, с одной стороны, является достижение определенного экономического эффекта, с другой, — сокращения номенклатуры узлов и деталей, широкой взаимозаменяемости последних, а также повышение технологического уровня и долговечности и. надежности прибора в целом. [c.371]

Методами интерференционной и оптической микроскопии при косом освещении параллельным пучком лучей детально исследовано поведение отдельных следов скольжения в крупных зернах медных образцов,, т. е. микротопография поверхности в следующих один за другим полуциклах знакопеременного деформирования с постоянной амплитудой. Экспериментально отчетливо выявлено возвратно-поступательное перемещение в следах скольжения. На рис. 13 в качестве примера показано одно и то же поле образца, полученное на интерферометре (а) и микроскопе при косом освещении (б), после растяжения (I) и последующего сжатия (II). Смещение интерференционных полос на ступеньках, которые возникли на поверхности образца в результате скольжения в одном направлении, соответствует темной линии при косом освещении. При сжатии образца изменилось как направление смещения интерференционных полос, так и освещенность следов скольжения. Наблюдаемые изменения свидетельствуют о последовательном образовании на поверхности образцов впадин и выступов. По изменению смещения интерференционных полос проведена количественная оценка смещения одной части кристаллита относительно другой в следах скольжения. Изменение величины смещения по следам скольжения особенно сильно проявляется при первых знакопеременных циклах деформирования, а потом затухает. [c.20]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...