Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Увеличение микроскопа микроскопа

В 1869 г. И. Б. Листинг предложил новую конструкцию микроскопа, позволяющую, по его мнению, получить увеличение до 32 ООО раз и более. В этой связи Г. Гельмгольц в 1874 г. в статье Теоретическая граница способности микроскопа поставил вопрос о пределах возможности повышения увеличения микроскопа без существенного ущерба для микроскопического изображения. Гельмгольц показал, что яркость изображения, даваемого оптическим инструментом, в самом лучшем случае может быть равна только яркости предмета, видимого невооруженным глазом. По этой причине в микроскопе Листинга при его предполагаемом громадном увеличении яркость изображения сделалась бы настолько ничтожной, что глаз не был бы в состоянии различить что-либо.  [c.368]


Понятие о разрешающей способности микроскопа тесно связано с так называемым полезным увеличением микроскопа. Его не следует смешивать с общим или видимым увеличением микроскопа. Чтобы полностью использовать разрешающую способность микроскопа, необходимо подобрать соответствующее увеличение всей системы микроскопа. Это увеличение должно быть настолько "большим, чтобы наименьшее разрешаемое микроскопом расстояние составляло в пространстве изображений микроскопа угол, не меньший, чем предельный угол разрешающей способности е глаза наблюдателя [17, с. 28]  [c.32]

Глубина резкого изображения прогрессивно снижается с увеличением апертуры объектива и общего увеличения микроскопа ее можно повысить диафрагмированием объектива или уменьшением общего увеличения микроскопа до ниЖнего предела полезного увеличения. Поэтому весьма важно при проведении дисперсионного анализа частиц особенно тщательно подбирать апертуру объектива и общее увеличение микроскопа. Малая глубина резкого изображения частиц может внести существенные искажения в результаты измерений размеров частиц.  [c.34]

Хотя при наилучших условиях освещения и нормальной остроте зрения глаз человека способен различить частицу, видимые размеры которой составляют около 0,1 мм (при этом угол зрения равен всего Г), чтобы измерить частицу, размер ее должен быть не менее 0,5 мм. Поэтому задача выбора полезного увеличения микроскопа заключается в том, чтобы подбором соответствующих объектива и окуляра получить в поле зрения микроскопа изображение частицы с поперечным размером, превышающим 0,5 мм. Из приведенного выше выражения для определения полезного увеличения микроскопа следует, что основную роль играет апертура применяемого объектива. Действительно, используя объектив с апертурой 1,4, можно получить полезное увеличение, нижняя и верхняя границы которого равны  [c.155]

Фотографирование изображений препаратов, увеличенных микроскопом, имеет очень большое значение, так как дает возможность сохранять их во времени. Кроме того, с помощью фотографии можно превращать невидимое изображение в видимое, как это делается, например, в ультрафиолетовых и инфракрасных микроскопах. По этим причинам микрофотография широко применяется везде, где работают с микроскопами. Естественно, что такая потребность привела к созданию не только различных приспособлений  [c.54]

Универсальные микроскопы имеют большие, чем инструментальные, пределы измерения и повышенную точность линейных измерений. Так, универсальный измерительный микроскоп УИМ-21 имеет пределы измерения для линейных размеров в продольном направлении О— 200 мм, в поперечном О—100 мм для угловых размеров О—360° при цене деления угловой головки Г. Увеличение главного микроскопа равно 10><, 15х, 30>< или 50 в зависимости от применяемого объектива. Такие же характеристики имеет проекционный микроскоп УИМ-23 с пределами измерения 200 х 100 мм, на котором главный и отсчетные микроскопы заменены проекционными устройствами, значительно облегчающими работу контролера [19].  [c.143]


Под увеличением микроскопа понимают отношение размера изображения препарата на сетчатке глаза, образованное при наблюдении через микроскоп, к размеру изображения того же препарата, полученному на сетчатке при наблюдении невооруженным глазом с расстояния наилучшего зрения. Это увеличение микроскопа принято называть видимым.  [c.9]

Если использовать коллимированные опорный и восстанавливающий пучки (22=2 =<х)), то микроскоп будет работать с единичным увеличением. При использовании коллимированного пучка только на стадии восстановления (2 )=оо) увеличение микроскопа не зависит от соотношения длин волн при записи и восстановлении и обусловлено только первой стадией процесса. При 2 2=оо увеличение М= [1 + (2 7л/2)712 и достигает  [c.83]

Видимое увеличение микроскопа (лупы, окуляра)  [c.200]

Скоростная киносъемка с увеличением через микроскоп показывает что малые капли растут Очень быстро, затем скорость роста становится незначительной. По мере роста капли непрерывно сливаются, освобождая какую-то часть поверхности стенки. За счет многократного слияния и непрерывно идущего процесса конденсации капли увеличиваются до отрывного размера, при котором они скатываются под действием силы тяжести (или срываются движущимся паром, если скорость последнего велика).  [c.285]

Параметры увеличения высокотемпературного микроскопа  [c.86]

Увеличение микроскопа при окуляре  [c.86]

Фотопластинки пригодны для проецирования и увеличения в микроскопах проходящего света, поскольку сульфид серебра практически не имеет зеренной структуры. На рис. 20 показан увеличенный участок одного такого отпечатка, сфотографированный в проходящих лучах в светлом поле.  [c.59]

Ямки, наблюдаемые при увеличениях оптического микроскопа (см. рис. 5, а), —это крупные углубления с более или менее узкими перемычками между ними. Строение последних, а также глубина ямок характеризуют микропластичность разрушения. Относительно широкие перемычки и наличие на них хрупких кристаллических фасеток свидетельствуют об относительно малой энергоемкости разрушения. С помощью оптического микроскопа методом фокусировки можно измерять глубину ямок и по результатам этого замера сравнительно оценивать пластичность при разрушении (табл. 4).  [c.28]

Расстояние между отдельными сдвигами увеличивается с увеличением уровня переменного напряжения (см. рис. 123) и с увеличением длины усталостной трещины. Часто наблюдается чередование широких и узких сдвиговых полос (рис. 125), что связано, по-видимому, с обычно наблюдаемой при различных видах нагружения периодичностью в развитии разрушения. Из-за нечеткости очертания границ отдельных микроскопических сдвигов, как правило, не представляется возможным измерить расстояние между ними. Однако в ряде случаев возможен подсчет ширины усталостных линий, выявляемых при увеличениях оптического микроскопа между шириной этих полосок, представляющих собой полоски другого (нижнего) порядка, и уровнем действующего напряжения наблюдается определенная зависимость.  [c.154]

Кроме того, искривление изображения щели наблюдают под углом 45° к направлению высоты неровностей, в результате чего только горизонтальное увеличение неровностей определяется оптическим увеличением микроскопа у, а вертикальное увеличе-  [c.108]

УВЕЛИЧЕНИЕ МИКРОСКОПА ПРИ ВИЗУАЛЬНОМ НАБЛЮДЕНИИ И ФОТОГРАФИРОВАНИИ МИКРОСТРУКТУРЫ ОБРАЗЦОВ  [c.93]

На установке ИМАШ-5С-65 внесен ряд изменений в конструкцию некоторых узлов микроскопа МВТ. В частности, объективы крепятся к опак-иллюминатору удлиненной переходной втулкой (увеличивающей примерно на 60 мм оптическую длину тубуса микроскопа). Изменены также рукоятки координатного перемещения столика микроскопа. Оптические характеристики применяемых объективов приведены в табл. 14, а действительные увеличения микроскопа МВТ при наблюдении, фотографировании и киносъемке структуры образцов (для различных сочетаний объективов и окуляров) — в табл. 15.  [c.121]

ДЕЙСТВИТЕЛЬНЫЕ УВЕЛИЧЕНИЯ МИКРОСКОПА МВТ ПРИ НАБЛЮДЕНИИ, ФОТОГРАФИРОВАНИИ И КИНОСЪЕМКЕ СТРУКТУРЫ ОБРАЗЦОВ НА УСТАНОВКЕ ИМАШ-5С-в5 (ДЛЯ РАЗЛИЧНЫХ СОЧЕТАНИЙ ОБЪЕКТИВОВ И ОКУЛЯРОВ)  [c.122]

Уровень информативности получаемых при этом результатов обусловлен предельным увеличением металлографического микроскопа, которым снабжена та или иная установка для тепловой световой микроскопии. 29  [c.291]

Микроскопический метод. Заключается в измерении с помощью микроскопа толщины покрытия на поперечном срезе детали. Увеличение микроскопа применяется от 100 до 500 крат в зависимости от толщины покрытия. При этом срез необходимо делать так, чтобы он был строго перпендикулярен к поверхности покрытия.  [c.105]


Из приборов светового сечения в СССР выпускаются приборы ПСС-2, вместо ранней модели МИС-П. Новая конструкция микроскопа имеет примерно те же технические данные, что и модель МИС-11, но обладает лучшими оптическими характеристиками, позволяющими значительно увеличить точность измерения. Прибор снабжен сменными объективами. Общее увеличение микроскопа 75 , 266 , 337 и 750 . Поле зрения прибора соответственно 3,6 1,2 0,8 0,36 мм (при измерении шероховатости поверхности с помощью оптических приборов длина участка измерения ограничивается полем зрения прибора).  [c.121]

Увеличение микроскопа. Наиболее существенной характеристикой микроскопа является его увеличение. Общее увеличение микроскопа равно произведению увеличения объектива на увеличение окуляра (или проекционного  [c.148]

Обычно полезное увеличение электронного микроскопа составляет величину порядка 5000—20000 раз, т. е. электронный мироскоп дает юлезное увеличение примерно в 10 раз большее, чем оптический.  [c.39]

Микроскоп. Для получения больших увеличений применяются микроскопы. Увеличенное изобрагкение мелких предметов в микроскопе получается с помощью оптической системы, состоящей из объектива и окз ляра. Самый ростой микроскоп — это  [c.275]

Использование когерентного излучения позволило создать принципиально новый метод проекционной микроскопии, основанный на применении квантовых усилителей света. Объект с помощью объектива освещается монохроматическим светом от лазера на парах меди. Отраженный от объекта свет проходит активную среду, усилн-вается и проектируется на экран. Когерентные микроскопы обеспечивают высокое пространственное разрешение (1 мкм при увеличении порядка 1000— 1500 при яркости изображения, недоступного обычным световым микроскопам). Особенностью микроскопа являются возможность фокусировки мощного лазерного излучения на любом элементе объекта и возможность осуществлять его коррекцию (напрн-  [c.96]

Поверхность образца можно наблюдать с помощью оптической системы (фото 2), которая при применении иммерсионной оптики обеспечивает 1400-кратное увеличение. Микроскоп закрепляется на координатном столике. Это позволяет проводить наблюдение и необходимые замеры без снятия образца с установки. Для фотографирования используется фотонасадка. Для испытаний применяются плоские образцы 70x10x3 мм.  [c.36]

Непосредственно перед зоной быстрого, ускоренного роста трещины мезолинии были сформированы в результате столь значительной интенсивности повреждения материала, что они могли быть хорошо выявлены при небольшом увеличении светового микроскопа. На этом этапе развития усталостного разрушения можно считать, что процесс регулярного чередования эксплуатационных нагрузок характеризовали усталостные макролинии.  [c.640]

Средняя продолжительность полетов вертолета в эксплуатации составляет около 30 мин, а частота приложения единичных нагрузок определяется частотой вращения винта лопасти 192 об/мин. В связи с этим окончательно получаем, что длительность роста трещины в лонжероне была не менее 49,5 ч или около 100 полетов. Представленная оценка не противоречит анализу макроскопической морфологии рельефа. На отдельных участках излома можно было наблюдать при небольшом увеличении бинокулярного микроскопа нерезкие усталостные линии. Там, где они наблюдались, было проведено сопоставление оценок числа полетов по усталостным бороздкам и по этим макролиниям. Оказалось, что расхождение в сопоставляемых оценках числа полетов не превышает 10 %.  [c.642]

Схема микроскопа (рис. 28) состоит из объектива 1 (МИМ-13С0), плоскопараллельной пластинки 2, систем отражательных зеркал 3 и 4, монохроматического фильтра 5 и окуляра 6. Система зеркал 3 имеет возможность перемещаться по специальным направляющим, удлиняя или укорачивая длину тубуса микроскопа. Изменение длины тубуса дает возможность плавно менять увеличение микроскопа в довольно широких пределах.  [c.86]

При хрупком внутризеренном разрушении (внутрикристалли-ческий скол), поскольку оно связано с определенными кристаллографическими плоскостями, образуются кристаллические фасетки, которые при рассмотрении глазом или при небольшом увеличении выглядят как очень гладкие блестящие участки (рис. 17,а). Однако уже при увеличениях оптического микроскопа на них обнаруживается определенный рисунок (рельеф). Как  [c.39]

Межзеренное разрушение в общем случае является малопластичным. Наиболее очевидный признак межзеренного разрушения заключается в наличии рельефа, соответствующего огранке зерен. Межзеренное прохождение трещин устанавливают либо при макроанализе (в случае размера зерна 0,05 мм и выше), либо при использовании увеличения оптического микроскопа. В крупнозернистом материале при обычно применяемых увеличениях электронных микроскопов 3 тыс. и более четко установить межзеренный характер разрушения иногда бывает затруднительно. При увеличении оптического микроскопа в межзеренных хрупких изломах наблюдаются гладкие площадки часто с частицами охрупчивающих включений. На этих площадках могут наблюдаться сдвиги в виде складок, четко выявляются границы-зерен. На электронных фрактограммах обнаруживаются менее грубые сдвиги, тонкодисперсные частицы различных выделений (рис. 28). От внутрикристаллического хрупкого скола такие изломы отличаются, как правило, отсутствием ручьистого узора, что, по-видимому, связано с меньшей возможностью дробления трещины при межзеренном прохождении разрушения по сравнению с внутризеренным.  [c.47]

Вторая стадия — стадия ускоренного развития (ускорение заметно увеличивается) соответствует следующей зоне излома, в которой тонкие усталостные микроиолоски превращаются в грубые (рис. 75, в). Это относительно широкие светлые полоски, разделенные темными полосками и расположенные на более крупных плато. Ширина грубых усталостных полосок во второй зоне в алюминиевых сплавах достигает 3,5 мкм в высокопрочных алюминиевых сплавах (типа В95) увеличение ширины. микрополосок происходит более интенсивно, чем в силавах сред-ненрочиых (Д16Т, АК4-1). Начало второй стадии часто совпадает с изменением ориентации поверхности разрушения. При увеличении электронного микроскопа в зоне излома, соответствующей второй стадии, помимо усталостных линий выявляются отдельные разобщенные малые участки с ямочным рельефом. Эти отдельные очаги однократного разрушения возникают у крупных частиц избыточных фаз, неметаллических включений.  [c.103]


Четвертая стадия — стадия циклического проскальзывания или предлавинного развития разрушения. В соответствующей зоне излома не наблюдается усталостных признаков есть относительно плоские сглаженные микроучастки, на поверхности которых при увеличениях электронного микроскопа выявляется ориентированный ямочный рельеф незначительной глубины (рис. 75, д, рис. 77). Такой рельеф возникает вследствие разрушения по типу ямочного разрыва вдоль поверхностей, подготовленных к разрушению действием повторных нагрузок.  [c.104]

Микрофрактографические признаки термоусталостных изломов жаропрочных никелевых сплавов при увеличениях оптического микроскопа проявляются в наличии плоских площадок, по форме напоминающих неглубокие ямки значительной протяженности с плоским дном (рис. 138). Измерение ширины микроуста-лостных полосок непосредственно на поверхности окисленного излома затруднено.  [c.168]

В алюминиемых сплавах наблюдались усталостные микропо-лоски, ширина которых увеличивалась по мере увеличения максимальной температуры цикла (рис. 139), но оставалась практически неизменной по мере развития трещины. При увеличениях электронного микроскопа наблюдались усталостные микрополоски, имеющие меньшую глубину по сравнению с полосками, полученными при механической усталости (рис. 140).  [c.168]

Прибор имеет три сменных объектива Р = 25, А = 0,20 Р = 10, Л = 0,5 и Р = 4, А = 0,85. В соответствии с этим увеличение микроскопа при визуальном наблюдении с винтовым окулярным микрометром составляет х48, ХПО и ХЗОО при визуальном наблюдении на экране Х40, Х90 и Х250, а при фотографировании X18, Х48 и хПО. Поле зрения соответственно 2,5 0,8 и 0,4 мм. Размер кадра на фотопленке 24x36 мм. В комплект прибора входят сменные растры с различным шагом.  [c.118]

В системе наблюдения в микроскопе УВТ-1 применена установленная на салазках галилеевская трубка 13, которая может быть включена в ход лучей при этом общее увеличение микроскопа повышается более чем в два раза.  [c.140]

УВЕЛИЧЕНИЕ МИКРОСКОПА МВТ С ОБЪЕКТИВОМ ОСФ-16 ПРИ НДБЛЮДЕИИИ И ФОТОГРАФИРОВАНИИ СТРУКТУРЫ ОБРАЗЦОВ И РАЗМЕРОВ ОТПЕЧАТКОВ  [c.164]

Прибор ПМТ-3 имеет следующие характеристики увеличение микроскопа 130Х и 487Х параметры линейного поля зрения микроскопа с объективами фокусное расстояние — 23,2 л м, апертура 0,17—1,3, фокусное расстояние 6,2, апертура 0,65—0,3 пределы измерения диагоналей 0,005—0,25 мм нагрузка 0,049 Н (5 гс) — 1,902 Н (200 гс).  [c.267]

При номинальной нагрузке на динамометр деформация, вызванная растяжением стакана 5, складываясь со значительно меньшей деформапией, вызванной сжатием стакана /, приводит к перемещению указателя 4 в поле зрения микроскопа приблизительно на 0,18 мм. Это перемещение измеряют окуляр-микрометром S. Увеличение микроскопа 300 , Номинальной нагрузке соответствует около 500 делений окуляр-микрометра.  [c.538]


Смотреть страницы где упоминается термин Увеличение микроскопа микроскопа : [c.161]    [c.171]    [c.329]    [c.329]    [c.84]    [c.77]    [c.342]    [c.28]    [c.102]    [c.120]   
Общий курс физики Оптика Т 4 (0) -- [ c.160 , c.367 ]



ПОИСК



Микроскоп

Микроскоп полезное увеличение

Микроскоп световой полезное увеличение

Микроскоп электронный просвечивающий увеличение

Микроскопия

Микроскопия микроскопы

Микроскопия световая полезное увеличение

Разрешающая способность и полезное увеличение микроскопа

Увеличение

Увеличение видимое лупы микроскопа

Увеличение микроскопа

Увеличение микроскопа

Увеличение микроскопа s— нормальное

Увеличение микроскопа общее

Увеличение микроскопа телескопа

Электронный микроскоп, калибровка увеличения

Электронный микроскоп, калибровка увеличения отечественные модели

Электронный микроскоп, калибровка увеличения отражательный

Электронный микроскоп, калибровка увеличения принцип действия

Электронный микроскоп, калибровка увеличения просвечивающий

Электронный микроскоп, калибровка увеличения растровый

Электронный микроскоп, калибровка увеличения эмиссионный



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте