Микроскопия поляризационная

Микроскоп поляризационный дорожный МПД-1 [c.96]

Микроскоп поляризационный исследовательский МИН-8 [c.99]

Микроскоп поляризационный стереоскопический МПС-1 [c.121]

Исследование анизотропных свойств кристаллов на поляризационном микроскопе. Поляризационный микроскоп является одним из наиболее распространенных поляризационных устройств. Он предназначен в основном для диагностики минералов, а именно для определения силы двойного лучепреломления Ь = Пе — По, знака кристалла, угла между оптическими осями и т. д. Оптическая схема поляризационного микроскопа предусматривает возможность как ортоскопического, так и коноскопического способов изучения кристаллического объекта.. [c.300]

МИКРОСКОП ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЙ - МИКРОСКОП ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ [c.240]

ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ МИКРОСКОП —ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ СВЕТОФИЛЬТР [c.136]

Микроскопы поляризационные ПОЛАМ. Микроскопы ПОЛАМ являются более совершенными моделями по сравнению с ранее выпускаемыми. [c.376]

Так как изохроматы образуют замкнутые кривые, охватывающие оптическую ось (или оси), то наблюдение интерференционных картин позволяет установить число осей кристалла и определить их положение. Интерференционные картины можно наблюдать в микроскоп, снабженный двумя призмами Николя (поляризационный микроскоп). С помощью такого микроскопа можно измерять угол между оптическими осями двухосного кристалла (необходимо учитывать, что при выходе из кристалла свет преломляется). Указанный способ пригоден для определения положения оптических осей и измерения их наклона даже для очень небольщих кристалликов, попадающихся в тонких слоях минералов. [c.63]

Установка для исследования прочностных п деформационных свойств материалов в агрессивных средах при постоянной нагрузке с электрической регистрационно-измерительной системой показана на рис. 19. Для наблюдения кинетики роста трещин и распределения напряжений в образце на установке монтируют поляризационный микроскоп, для чего металлические стаканы для жидкой среды заменяют специальными кюветами из оптического ненапряженного стекла. Плоские образцы из стеклопластика испытывают при одностороннем воздействии жидкой среды на установке, показанной на рис. 20. [c.56]

Наклонная установка плоской модели в обычном полярископе (или на столике Фёдорова в поляризационном микроскопе). Плоская модель устанавливается не нормально, а под некоторым углом к направлению параллельного пучка лучей полярископа [12]. Наклонная установка модели осуществляется поворотом её на угол 0 у оси лежащей в плоскости модели под углом <р к направлению в рассматриваемой точке наибольшего главного напряжения 01. Наблюдаемый в этой точке порядковый номер Мд полосы связан с величинами О и 02 зависимостью [c.272]

Р и н н е, Б е р е к. Оптические исследования при помоши поляризационного микроскопа, ОН 1И, 1937. [c.275]

Поляризационный микроскоп с поворотным устройством используется для измерений на срезах, вырезанных из замороженной" модели увеличение от 10 до 40, Компенсаторы для измерения малой разности хода [15], [41], [49] применяются для качественной оценки кварцевый или слюдяной клин) или точного измерения ком- [c.522]

МИКРОСКОП ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ — микроскоп для изучения анизотропных объектов в поляризованном свете. Применяется для исследования горных пород, минералов, шлаков, огнеупоров, биологич. препаратов и пр. Проходя через эти объекты, поляризованный свет претерпевает нек-рые и.зменения, по к-рым можно судить об основных оптич. характера-, стиках анизотропных микрообъектов силе двойного лучепреломления, количестве оптич. осей и их ориентировке, вращении плоскости полярязации, п.геох-. [c.240]

ПОЛЯРИМЕТРИЯ — в широком смысле методы исследования структуры, свойств или состояния вещества, в к-рых применяется поляризованный свет наир., спектроскопия молекулярная в поляризованном свете, изучение различных объектов иа основе интерференции поляризованных лучей (с применением микроскопа поляризационного), поляриаа-циопно-оптический метод исследования напряже 1ий и т. д. В узком смысле П. — методы исследования, основанные на измерении величины вращения плоскости поляризации света при прохождении его через оптически-активные вещества, т. е. па измерении их оптической активности. Величина вращения в растворах зависит от их концентрации поэтому П. широко применяется для измерения концентрации оптически-активных веществ (см. Сахариметрия). Измерение вращательной дисперсии — изменения угла вращения для света с ра.зличной длиной волны, — т. н. с п е к т р о II о л я р и м е т-р и я позволяет изучать строение веществ. Измерения производятся поляри.нетрами и спектрополяримет-рамп. [c.165]

В эту товарную позицию входят микроскопы, используемые любителями, преподавателями и т.д., и микроскопы, предназначенные для промышленного применения или для исследовательских лабораторий они остаются в этой товарной позиции, независимо от того, поставляются они со своими оптическими элементами (объективами, окулярами, зеркалами и т.д.) или нет. В товарную позицию включаются универсальные микроскопы поляризационные микроскопы металлургические микроскопы стереоскопические микроскопы фазоконтрастные и интерференционные микроскопы зеркальные микроскопы микроскопы с приспособлениями для черчения специальные микроскопы для осмотра камней в часовых механизмах микроскопы со ступенями нагрева или охлаждения. [c.103]

Авторы [2] при помощи аналогии топологического характера положительно отвечают на фундаментальный вопрос о возможности существования в природе магнитных монополей (полюсов магнита, существующих отдельно друг от друга, или, иными словами, магнитных зарядов). Исключительная важность данного вопроса заключается в том, что обнаружение (или доказательство невозможности существования) монополей позволило бы ответить на многие принципиальные вопросы естествознания. В частности, обнаружение магнитных зарядов было бы первым серьезным подтверждением теорий Великого объединения, единым образом описывающих электромагнитное, слабое и сильное взаимодействия [3] Суть аналогии состоит в создании в слоистых жидких кристаллах нематического и холестерического типов определенной топологии распределения векторов, описывающих ориентацию составляющих кристалл молекул. Данная топология аналогична топологии распределения векгоров магнитного поля вокруг гипотетического монополя Дирака. Таким образом, распределение векгоров ориентации молекул в жидких к-ристаллах можно визуально наблюдать в поляризационный микроскоп. Это позволяет по особенностям поведения жидких кристаллов выдвигать предположения о возможном поведении магнитных монополей и принципиальных методах их экспериментального обнаружения. [c.15]

Исследования кристаллов с помощью поляризационных микроскопов и коно-метров. [c.111]

Интерференционно-поляризационная микроскопия для контроля качества оптически прозрачных сред с фазовыми неоднородностями (метод акад. Лебедева А. А., приборы Интерфакс фирмы Цейс и др.). [c.111]

Решение одной задачи несколькими методами часто практикуется во многих опубликованных работах авторов, в том числе и в настоящей книге. Целесообразность применения нескольких методов можно пояснить на следующих примерах. В моделях из оптически чувствительного материала иногда создаются весьма значительные перемещения (например, при фиксировании деформаций), которые можно довольно точно измерить очень простыми средствами. На фиг. П.1 показаны картины полос (а) и (б) и изменение формы (б) поперечного сечения объемной модели кольца сложной формы из оптически чувствительного материала. Диаметр модели кольца составляет около 200 мм. Изменения геометрических размеров порядка нескольких десятых миллиметра в плоскости кольца вдоль обозначенных линий и перпендикулярно к поверхности можно точно измерить микрометрами и индикаторами. Относительные деформации порядка 10" можно определить с помощью микроскопа. Относительные изменения толщины порядка 10 , возникающие в срезах, также можно легко измерить стандартным компаратором. Эти измерения дополняют и контролируют результаты, получаемые с помощью поляризационнооптических измерений. Для исследования распределения нестационарных напряжений и деформаций удобно поляризационно-оптический метод сочетать с методом полос муара (фиг. П.2 и П.З). [c.14]

К первой четверти XX в. количество и разнообразие точных приборов значительно возросло. Большинство из них относится к различным группам современного приборостроения [29,0.29—37]. Одну из ведущих групп в приборостроении занимают оптико-механические приборы, в которую входят 1. Микроскопы. 2. Астрономические приборы. 3. Геодезические приборы. 4. Астрофизические приборы. 5. Спектрометрические приборы. 6. Спектрографические приборы. 7. Фотометрические приборы. 8. Калориметрические приборы. 9. Поляризационные приборы. 10. Интерференционные приборы. 11. Аэрофотометрические приборы. 12. Фотограмметрические приборы. 13. Фотооптическая регистрирующая аппаратура. 14. Киноаппаратура. 15. Специальные приборы для фотокинопромышленности. 16. Офтальмологические приборы. 17. Электрооптические приборы. 18. Рефрактометрические приборы. 19. Оптико-измерительные приборы. 20. Специальные приборы для оптического производства. 21. Приборы для определения качества поверхностей. [c.361]

Микроскопы, например, после того как в 1872—1873 гг. Э. Аббе разработал теорию образования изображения несамосветящихся объектов 130], получили особенно широкое распространение и в научных исследованиях, и в промышленности. Наряду с биологическими были созданы поляризационные микроскоиы (для исследований в области минералогии, кристаллографии и химии), металлографические (для исследований структуры металлов по их шлифам), универсальные измерительные микроскопы с микрометрами, микроскопы сравнения, проекционные микроскопы. [c.362]

Схема содержит последовательно расположенные объектив 1 зеркало 2, поляризационную призму Волластона 3, направля ющий объектив 4, зеркало 5, фокусирующий объектив б, прием ный объектив 7, зеркало 8, микроскоп 9, приемную поляриза ционную призму 10 с установленной передней полевой диафраг мой 11, зеркало 12, поворотное зеркало 13, два фотоприеыника 14 15 и дифференциальный усилитель 16. Между объективом 4 и зеркалом 5 помещена диафрагма, ограничивающая рассеянный на частице в обратном направлении свет. Перед диафрагмой расположена четвертьволновая пластинка 18 с азимутом 45° относительно соответствующих ортогональных плоскостей поляризации расщепленных пучков. Между зеркалом 8 и микроскопом 9 помещена полевая диафрагма с экраном, ограничивающим прямые проходящие пучки. Положение зеркала 13 на рисунке соответствует работе схемы на рассеянии вперед. Для получения режима работы схемы на рассеянии назад необходимо повернуть зеркало на 90°, а блок фотоприемников на 45°. [c.295]

G А,М-21 i Широкоугольный с креетом нитей посадочный диаметр 30 мм для большой модели поляризационного микроскопа [c.244]

Смотреть страницы где упоминается термин Микроскопия поляризационная : [c.548] [c.632] [c.92] [c.93] [c.95] [c.97] [c.99] [c.101] [c.103] [c.105] [c.107] [c.109] [c.111] [c.113] [c.147] [c.548] [c.240] [c.54] [c.486] [c.134] [c.573] [c.42] [c.105] [c.252]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...