Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Рентгеновская микроскопия и микроанализ

Существуют различные экспериментальные методы рентгеновской микроскопии и микроанализа они перечислены ниже в порядке возрастания их сложности.  [c.385]

Для испытания материалов на локальные виды коррозии существует две основные группы методов исследования - химические и электрохимические. В отдельную подгруппу можно выделить физические методы исследования поверхности металла, применяемые обычно в сочетании с химическими или электрохимическими (оптическая и растровая электронная микроскопия, рентгеноспектральный микроанализ, Оже-электронная и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и др.).  [c.143]


Микроанализ, непрерывно развиваясь и совершенствуясь, стал одним из основных методов исследования металлических сплавов и технического контроля металла в промышленности, начиная с отливки металла и кончая проверкой качества и свойств готовых дет алей после окончательной обработки. Ценность микроанализа в полной мере сохранилась и при развитии рентгеновского анализа, а за последнее время также и электронной микроскопии и электронографии.  [c.52]

В настоящем обзоре делается попытка всесторонне осветить современное состояние вопроса о роли поверхности раздела в упругопластическом поведении композитов с металлической матрицей. Волокнистые композиты и композиты, изготовленные направленной кристаллизацией, рассматриваются с точки зрения очевидных различий в структуре и стабильности их поверхностей раздела. Особое внимание уделено структуре и стабильности поверхности раздела и ее роли при различных видах нагружения, т. е. растяжении, сжатии, ползучести и усталости. Как будет показано ниже, детали поведения поверхности раздела и ее роль стали проясняться с началом применения сканирующей электронной микроскопии, а также в результате эффективного использования электронной микроскопии на просвет и оптической металлографии совместно с рентгеновским микроанализом.  [c.233]

Что касается приведенной диаграммы (рис. 117), применение рентгеновского метода с использованием опилок может сократить время отжига при 200° до 6 недель по сравнению с 12 неделями при работе методом микроанализа. Разница в 6 недель определяется временем, необходимым для роста выделившихся частиц до размера, который может быть надежно определен под микроскопом. Даже если исследователь непосредственно и не интересуется кристаллической структурой или размерами решетки, рекомендуется снять несколько рентгенограмм для подтверждения результатов, полученных методом термического или микроанализа. На какой стадии работы это должно быть сделано, решает сам исследователь. Предположим, что к тому времени, как рассматриваемая равновесная диаграмма приняла вид, показанный на рис. 117, были сняты рентгенограммы 7- и 8-фаз и некоторого количества  [c.218]

Более тонкие особенности структуры могут быть выявлены при помощи электронного микроскопа, который позволяет обнаружить элементы структуры, имеющие величину, слишком малую для микроанализа и часто слишком большую для рентгеновского анализа.  [c.10]

Область применения. Многие фазы в металлических сплавах и в большинстве случаев также и зерна (кристаллиты) имеют размеры 10 - — 10 см и обнаруживаются при тех увеличениях, которые создает современный металлографический микроскоп. В таких случаях рентгеновский анализ дает, как уже указывалось выше, необходимые сведения о природе (атомном строении) соответствующих фаз, но не указывает характер распределения этих фаз в металле. Более того, микроанализ даже при применении во многих подобных случаях очень больших увеличений выявляет отдельные детали строения фаз, но не дает общего представления о структуре сплава.  [c.53]


Многослойники, создаваемые для использования в оптике, должны иметь высокое оптическое качество. Это означает, например, что поверхности зеркал не вносят вариаций интенсивности в отраженный пучок либо, в других случаях, что параллельный пучок после прохождения оптической системы остается параллельным. Среди таких применений следует назвать двухзеркальные монохроматоры, рентгеновские микроскопы и телескопы, рентгеновский микроанализ, зеркала для управления пучками синхротронного излучения, а также любые применения, где требуется фокусировка.  [c.446]

В шестой главе, имеющей обзорный характер, описываются основные методы современной металлографии световая, электронная, рентгеновская микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ, а также теория травления шлифов, которая, как дравило, в учебниках металлографии отсутствует.  [c.7]

Область применения рентгеновского мето-д а. Как было указано в главе 23, в настояш,ее время нет об-uiero мнения относительно стадии, на которой должны быть применены рентгеновские методы при построении диаграмм состояния. Всегда желательно, чтобы рентгенограммы были сняты с каждой фазы системы и с достаточного числа промежуточных сплавов, чтобы убедиться, что не пропуш ены какие-либо другие фазы. При нахождении положения кривых растворимости в твердом состоянии рентгеновский метод ценен особенно в тех случаях, когда область твердого раствора уменьшается с понижением температуры и очень мелкие выделившиеся частицы могут быть не замечены при исследовании сплавов под микроскопом. В литературе есть немало примеров, когда в результате применения рентгеновских методов определения периода решетки удавалось установить, что область твердого раствора при низких температурах оказывается более ограниченной, чем показало предварительное исследование микроструктуры. В некоторых случаях метод микроисследования приводил к ошибке скорее вследствие применения неправильного режима при отжиге, чем из-за недостатка метода микроанализа однако несомненно, что рентгеновский метод определения периода решетки, примененный со всеми предосторожностями, оказывается, обычно лучшим методом дл)я исследования при пониженных температурах. В об1ласти более высоких температур лучше сначала провести предварительные исследования системы методами термического и микроанализа, использовать их возможно полнее для построения диаграммы, а затем применить рентгеновский метод для решения вопросов, для которых классические методы оказываются непригодными. Микроскопическое исследование разрешает установить много факторов, как ликвацию в слитке или распад при закалке, а подобные данные экономят много времени при последующем рентгеновском исследовании.  [c.256]

Предлагаемый читателю первый том справочника Металловедение и термическая обработка стали посвящен изложению методик изучения тонкого строения и структуры сталей и определению их разнообразных свойств (механических, физических, эксплуатационных). Такое построение многотомного справочника представляется правильным, если иметь в виду преимущественно экспериментальный характер науки о металлах. В этом томе, наряду с традиционными методами изучения структуры и свойств (макро- и микроанализ, рентгеновская дифракто-метрия, электронная микроскопия, определение механических свойств при растяжении, ударе, циклическом нагружении и т.п.), рассмотрены развитые в последние годы тонкие методы структурых исследований (спектроскопические, резонансные, микроспектральные и др.) и методы определения сопротивления разрушению в различных условиях нагружения (параметры вязкости разрушения, кавитационное разрушение, износостойкость, сопротивление газовой коррозии) в сочетании с подробным изложением методик фрактографического анализа. Все эти новые разделы отличают настоящее издание от предыдущих.  [c.8]

Перечисленные свойства многослойных зеркал, доступность и универсальность технологии их производства, а также удачные результаты испытаний образцов, полученные за последние годы во многих лабораториях, привлекли внимание к применению многослойных зеркал во многих научных и технических задачах. Это прежде всего рентгеновская диагностика плазмы и коротковолновые лазеры приборы для рентгеноспектрального, рентгеноэлектронного и рентгенофлюоресцентного микроанализа сканирующие и передающие изображение рентгеновские микроскопы нормального падения двойные монохроматоры делительные пластинки фильтры и интерферометры для рентгеновского излучения рентгеновские телескопы рентгеновская литография в микроэлектронике, а также медицинские приложения маммография  [c.78]


Одной из немногих работ, в которых упоминается об экспериментальном обнаружении зернограничных фаз, содержащих фосфор и другие примеси, явл 1ется исследование [298]. В нем с помощью Оже-спектроскопии, растровой электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского микроанализа показано, что наряду с зернограничной сегрегацией фосфора в твердом растворе при развитии отпускной хрупкости в Сг — Ni — Мо - V и Сг - N1 сталях на поверхностях раздела крупных зернограничных карбидов с матрицей могут образовываться выделения, имеющие ОЦК-решетку и содержащие фосфор, кремний и молибден, /странение охрупчивания при повторном нагреве до 650 0 сопровождается, по данным [298], растворением этих вы елений. Однако авторы [298] не установили, имеет ли непосредственное отношение к межзеренному охрупчиванию наблюдаемое образование и растворение зернограничных фаз.  [c.45]

Микроанализ не позволяет также характеризовать структуру неравновесного сплава в тех случаях, когда избыточные фазы еще не отделились от основной фазы (т. е. их кристаллические решетки остаются сопряженными или когерентносвязанньши) или когда выделения избыточной фазы являются чрезвычайно мелкими (суб-микроскопическими), т. е. не могут быть обнаружены при данной разрешающей способности микроскопа. В частности, это относится к процессам, происходящим при старении или низком отпуске закаленного сплава. Данные о структуре таких сплавов дает электронная микроскопия и рентгеновский анализ.  [c.32]

Во многих случаях неметаллические включения в сталях, а особенно сульфиды, в частности Мп5, являются зародышами питтингов. Это было показано методом электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа для нержавеющих сталей в работе 3. Смиаловской с сотр. [67, 68].  [c.90]

Рентгеновский абсорбционный микроанализ. Для решения ряда практических задач может быть использован метод рентгеновского абсорбционного микроанализа (РАМА). При этом методе, который является составной частью рентгеновской проекционной микроскопии (РПМ), не требуется сложная дорогостоящая аппаратура. Метод РПМ основан на получении увеличенной теневой проекции объекта в расходящемся пучке рентгеновского излучения, испускаемого точечным источником. Разрешение ироекцион-ного метода, лимитируемое размерами источника (величиной полутени) и френелевской дифракцией, достигает  [c.498]

Микродифракция и рентгеновский микроанализ давно применяются в электронной микроскопии, но в последнее время развиваются тонкие методы так называемой аналитической электронной микроскопии, например регистрация и анализ энергетических потерь электронов первичного прощедшего пучка (спектроскопия электронов, потерявших энергию). За счет уменьшения диаметра пучка и повышения чувствительности детекторов удается добиться пространственного разрешения порядка 0,5 нм с пределом детекции около 100 атомов. Это открывает новые перспективы анализа сегрегаций на межкристаллитных границах в наноматериалах.  [c.184]

Одновременно развивалась традиционная оптика скользящего падения. Возникли новые оптические элементы нормального падения многослойные зеркала, а также прозрачные дифракционные элементы — френелевские пластинки и пропускающие решетки. Производство их основывается на последних достижениях технологии электронной и оптической промышленности создании и обработке сверхгладких и асферических поверхностей (алмазное точение, глубокое полирование, методы репликации), микролитографии и технике нанесения тонкопленочных многослойных покрытий. Наиболее активно и успешно новые оптические элементы МР-диапазона начали применяться в космической физике, микроскопии, диагностике плазмы, микроанализе. Фундаментальные проблемы этих направлений останутся, по-видимому, в ближайшее время главными стимулами развития оптики мягкого рентгеновского диапазона.  [c.5]

Взаимодействие припоя с основным металлом изучалось методами рентгеновского микроанализа и электронной микроскопии яа установках МАР-2 и РЭМ. Диаметр зонда МАР-2 составлял около 5 мкм. Разрешающая способность РЭМ - 500 К. Исследуемые образцы имели Biw параллелепипедов со шлифованной поверхностью одной из его зт)аяей. В отдельных случаях исследуемая поверхность образцов подвергалась травлению.  [c.25]

Особое место в изучении природы металлов начинают занимать исследования с помощью электронного микроскопа, являющегося достижением последних лет. Электронный микроскоп позволяет обнаружить-элементы структуры, имеющие величину, слишком малую для микроанализа и слишком большую для рентгеновского аналиэя.  [c.15]

При низких температурах отпуска (до 200—250°) структура стали, наблюдаемая при микроанализе, мало изменяется по сравнению с структурой закаленной стали заметно лишь более интеноивное травление игольчатой структуры, в результате чего иглы мартенсита кажутся под микроскопом более темными. Однако, как показали работы Г. В. Курдюмова, рентгеновский анализ обнаруживает происходящее в результате отпуска резкое уменьшение концентрации углерода в мартенсите и выделение карбидов весьма значительной измельченности, не различимых поэтому при микроанализе. Одновременно уменьшается те-трагональность мартенсита.  [c.256]


Смотреть страницы где упоминается термин Рентгеновская микроскопия и микроанализ : [c.481]    [c.98]    [c.249]    [c.161]    [c.318]    [c.84]   
Смотреть главы в:

Физическое металловедение Вып II  -> Рентгеновская микроскопия и микроанализ


Физическое металловедение Вып II (1968) -- [ c.0 ]



ПОИСК



Микроскоп

Микроскопия

Микроскопия микроскопы

Рентгеновская микроскопия и микроанализ контактная микрорентгенография

Рентгеновская микроскопия и микроанализ отражательная

Рентгеновская микроскопия и микроанализ проекционная

Рентгеновская микроскопия и микроанализ сканирующая микроскопия



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте