Принцип действия электронного микроскопа

Перед началом работы преподаватель знакомит всю группу студентов с принципом действия электронного микроскопа, с его устройством, методикой работы с ним и способом приготовления отпечатков (слепков) для исследования структуры металлов на электронном микроскопе. [c.57]

ПРИНЦИП ДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА [c.119]

Изображение это можно сфотографировать (если электроны попадают на фотопластинку) или наблюдать непосредственно глазом (если электроны падают на флуоресцирующий экран, светящийся под действием их ударов). На этом принципе построены многочисленные электронно-оптические системы, играющие важную роль в современной технике. Одной из таких систем является электронный микроскоп, схематически изображенный на рис. 15.6. Как мы видим, электронный микроскоп состоит из элементов, вполне эквивалентных элементам, составляющим обычный оптический микроскоп. Объект может быть самосветящимся — сам служить источником электронов (накаленный катод или освещаемый фотокатод), или освещенным , представляя собой препарат, на который падает поток электронов (обычно от накаленного катода) конечно, препарат должен быть достаточно тонким, а электроны достаточно быстрыми, чтобы они проходили сквозь препарат и проникали в оптическую систему. Впрочем, подобное же требование прозрачности мы предъявляем и к препаратам, рассматриваемым в обычном оптическом микроскопе. [c.359]

ИОННЫЙ МИКРОСКОП, электронно-оптич. прибор, в к-ром для получения изображений применяется ионный пучок, создаваемый термоионным или газоразрядным ионным источником. По принципу действия И. м. аналогичен электронному микроскопу. Проходя через объект и испытывая в различных его участках рассеяние и поглощение, ионный пучок фокусируется системой электростатич. или магн. линз и создаёт нд экране или фотослое увеличенное изображение объекта. [c.232]

На рис. 50, а приведена блок-схема прибора, действующего на этом принципе. Элементы 1—8 представляют собой микроскоп со стандартным телевизионным каналом. Импульсы для счета частиц подаются из телевизионного канала 7 через электронную систему 9 к счетчику 10. [c.80]

Например, в течение текущего столетия физика обогатилась такими областями науки, как специальная и общая теория относительности, квантовая механика, квантовая радиофизика, ядерная физика, физика элементарных частиц. В основе этих областей наук лежат теоретические представления, отличные от классической физики. К ним относятся корпускулярно-волновой дуализм вещества и поля, дискретность физических величин и другие. Однако эти принципы новой физики до последнего времени органически не входили особенно в школьный курс физики, а представляли собой приложение к классическому курсу. Между тем, уровень развития современной науки и техники требует, чтобы как в старших классах средней школы, так и в особенности в вузах курс физики был построен на базе современных физических идей, принципов и теорий. Закономерности классической физики должны являться начальной ступенью к современному пониманию вопросов и рассматриваться как частные случаи более общих законов и теорий. Повышение научного курса физики в духе современных физических идей открывает значительные перспективы перевода его политехнического содержания на качественно более высокую ступень. Например, изучение квантовых эффектов при взаимодействии электромагнитных волн с вепдеством, явления индуцированного излучения позволяет поставить вопрос о включении в программу изучения квантового генератора и усилителя, зонная теория твердого тела позволяет ввести обоснованные приложения в виде полупроводниковых приборов и техники идеи кориускулярно-волнового дуализма делают доступным понимание устройства и действия электронного микроскопа элементы теории относительности позволяют глубже познакомиться с принципами действия ряда технических установок для физики (ускорители элементарных частиц, счетчики Черенкова и т. п.). [c.200]

ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ. Для прямого анализа расположения атомов вокруг линии дислокации необходимо очень высокое разрешение. В настоящее время такое разрешение дает только ионный микроскоп (ионный проектор), принцип действия которого состоит в следующем. С поверхности образца, представляющего собой иглу с очень малым радиусом закругления острия (менее 10 см), находящуюся под действием поля высокого напряжения, срываются электроны. За счет эффекта поляризации на игле осаждаются молекулы нейтральнм о газа. После соприкосновения с ио-верхностью металла молекулы газа диффундируют к острию иглы. Когда такая молекула попадает в область местного усиления поля высокого напряжения, происходит ее ионизация и ион летит под действием ускоряющего высокого напряжения к флуоресцирующему экрану прибора. Этот метод, имеющий наибольшее разрешение из всех известных в настоящее время прямых методов исследования структуры материалов, позволяет различать отдельные атомы в кристаллах. Увеличение прибора определяется соотношением между радиусом кривизны острия и расстоянием от объекта до экрана и может достигать нескольких миллионов. [c.94]

Ход лучей может быть описан также с помощью нек-рых вариац. методов (см. Наименьшего действия принцип), В этом обнаруживается аналогия между поведением полей и частиц, стимулировавшая в своё время развитие квантовой (волновой) механики.. Лучи в неоднородных средах ведут себя как траектории частиц в соответствующих силовых полях отсюда проистекает, в частности, сходство принципов действия оптических и электронных микроскопов, а также, в более широком смысле, сходство обычной оптики с электронной или оптикой любых др. частиц. [c.321]

В противоположность пр1 атическим и сидячим дислокационным петлям геликоидальные дислокации и источники переползания явд ются дислокационными дефектами, которые образуются при неоднородном выделении вакансий. Появление геликоидальных дислокаций или источников зависит главным образом от свойств исходной дислокации, которая может действовать как сток для вакансий. В принципе первоначальная дислокация, необходимая для образования геликоидальной дислокз ции или источника переползания, может быть создана призматическим выдавливанием . Однако некоторые из наблюдаемых геликоидальных конфигураций указывают на присутствие дополнительно наложенных сдвиговых на пряжений. Целью этой статьи является обсуждение зарождения, роста и кристаллографии различных дислокационных дефектов, найденных в сплавах на основе алюминия после закалки и старения. Особое внимание было уделено прямому наблюдению дефектов с помощью электронной микроскопии на просвет и в особенности разнообразным дефектам, образующимся при аннигиляции сверхравновесных вакансий. [c.274]

Кроме обычного просвечивающего электронного микроскопа с фиксированным пучком электронов для получения в основном таких же данных используется также сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (СПЭМ). Принцип его действия показан на фиг. 13.2. Здесь короткофокусную линзу типа объективной используют для получения электронно-лучевого зонда малого [c.289]

Широкое использование методов микроскопии жидких сред или их отпечатков на подложках, разработка методов автоматического и полуавтоматического измерения абсорбционных и геометрических характеристик отдельных фрагментов и деталей изображений, формируемых оптическими микроскопами, привели к появлению приборов и измерительных комплексов, в которых в качестве фотоэлектрических преобразователей стали применяться передаюи ие телевизионные трубки. В таких системах ОЭИП представляют собой оптический микроскоп, сопряженный с передающей телевизионной камерой. Как правило, в этих приборах используются прикладные телевизионные установки (ПТУ), передающие камеры которых построены на видиконах. Их основной функцией является преобразование потока лучистой энергии, формирующего изображение, в электрический сигнал, которое осуществляется одновременно с электронным сканированием (разверткой) изображения. Устройству, принципам действия [c.206]

Приборы для поляризационно-оп-тич. исследований отличает чрезвычайное разнообразие сфер применения, конструктивного оформления и принципов действия. Их используют для фотометрич. и пирометрич. измерений, кристаллооптич. исследований, изучения механич. напряжений в конструкциях (см. Поляризационно-оптический метод исследования напряжений), в микроскопии, в поляриметрии и сахариметрии, в скоростной фото- и киносъёмке, геодезич. устройствах, в системах оптической локации и оптической связи, в схемах управления лазеров, для физ. исследований электронной структуры атомов, молекул и тв. тел и мн др. [c.574]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...