Микропрофиль поверхности

Профилографы предназначаются для лабораторного исследования шероховатости поверхностей. Они дают увеличенную профилограмму микропрофиля поверхности. Из профилограммы определяют Ra или высоту неровностей R . [c.717]

Для получения точных размеров особенно велика роль шероховатости поверхности, подготовленной под обкатывание. Кроме собственно высоты микронеровностей R , на изменение размера оказывает влияние и способ обработки под обкатывание. Это связано, по-видимому, с особенностями микропрофиля поверхностей после различных способов обработки резанием. [c.143]

При определенном задании условий однозначности в число критериев подобия дополнительно могут войти размеры твердого тела Lii (i=l, 2. ..) — в том числе размеры микропрофиля поверхности стенки. [c.161]

У деталей, обработанных электромеханическим способом, улучшается микропрофиль поверхностей, в связи [c.236]

Измерение микропрофиля поверхности на шлифах [c.502]

Метод измерения микропрофиля поверхности на шлифах, приготовленных из вырезанной части отливки, трудоемок и поэтому применяется в основном для экспертной оценки и исследовательских работ. [c.503]

Результаты математической обработки профилограмм и расчета фрактальных размерностей копий первых восьми полей сенситометрической шкалы СПШ —К сведены в табл. 7.4. Как показывает анализ табл. 7.4, с увеличением оптической плотности поля шкалы СПШ —К фрактальная размерность микропрофиля поверхности поля печатной формы уменьшается. [c.260]

Деформации могут быть следующих видов объемные (растяжения, сжатия, сдвига, изгиба, кручения), контактные и деформации в слоях смазки. При неблагоприятных условиях все они могут оказывать заметное влияние на точность механизмов. Объемные деформации определяются достаточно точно обычными методами сопротивления материалов. Наибольшее влияние из них оказывают деформации поперечного изгиба и кручения. Расчет контактных деформаций производится с помощью формул Герца и всегда является приближенным, так как эти формулы не учитывают микропрофиль поверхностей достаточно надежным расчет можно считать при чистоте поверхностей не ниже 8-го класса. Расчет деформаций в слоях смазки обычно не производится ввиду отсутствия методов и данных возможные смещения принимаются равными слою смазки. [c.435]

Теоретическое описание микропрофиля поверхности связано с рядом сложностей, заключающихся в трудности учета всех влияющих факторов и их математического описания. Рассмотрим оба возможных пути исследования шероховатости поверхности. [c.47]

Если исходить из того, что снижение прочности при механической обработке объясняется появлением концентрации напряжений на впадинах микропрофиля поверхности, то, естественно, вид концентраторов напряжения, например Яг/Я, т. е. отнощение высоты микронеровностей к радиусу их впадины, будет влиять на коэффициент концентрации, а в конечном итоге и на напряжение. [c.66]

Следовательно, для получения оптимального с точки зрения максимума прочности микропрофиля поверхности необходимо учитывать ряд [c.66]

Оценка шероховатости поверхности только по усредненным значениям высоты микронеровностей иногда оказывается недостаточной, поэтому ГОСТ 2789-59 учитывает также базовую длину, позволяющую получить представление о спектре микропрофиля поверхности. [c.14]

При определенных условиях в ходе роста кристаллов осадка происходит выравнивание микропрофиля поверхности. В присутствии специальных выравнивающих [c.146]

Для определения выравнивающей способности на катодах с нерегулярным микропрофилем поверхности применяют обычно формулы, аналогичные формуле (11,37) [c.86]

Радиус закругления. из.мерительной алмазной иголки прибора 12,7 мк. Иголка, перемещаемая ло поверхности образца с помощью электродвигателя, воздействует на кристалл из пьезоэлектрика. Под действием неровностей различной высоты в пьезоэлектрике возникает ток, по величине связанный с. микропрофилем поверхности. [c.132]

Для очистки внутренней поверхности от ржавчины и окалины в промышленности в зависимости от размеров изделия используются дисковые, концевые и торцовые вращающиеся щетки (рис. 2). Отдельные проволочки щеток, проникая во впадины микропрофиля поверхности, надежно очищают ее от всяких загрязнений. [c.13]

Поэтому прежде чем придавать смещение зайчику , следует перевести его на нуль вращением винта 4, затем перевести с помощью винта 3 на требуемое число делений и снова винтом 4 вернуть его в нулевое положение, так как неизвестно, находится ли острие иглы в данный момент на вершине или во впадине микропрофиля поверхности. [c.145]

Профилографы применяют для записи микропрофиля поверхности 3—14-го классов в виде профилограмм. При последующей обработке снятой профилограммы могут быть получены значения и Для данной поверхности. Профилографы предназначены для лабораторных исследований и не пригодны для цехового контроля деталей. [c.175]

Шероховатость (высота и шаг неровностей микропрофиля) поверхности зависит от способа резания, подачи, скорости резания, геометрии заточки инструмента, СОЖ. материала заготовки и других факторов. [c.34]

Подача при обкатывании определяет высоту неровностей вновь образующегося микропрофиля поверхности и рассчитывается по формуле [c.982]

Представление о величине режущей площади поверхности абразивных зерен можно получить путем изучения и обработки профилограмм шероховатости рабочей поверхности инструмента. На рис. 24 показаны профилограммы микропрофиля поверхности электрокорундовых кругов различной зернистости на керамической связке твердостью СМ2. [c.63]

Фиг. 11.3.— Нормальный вид микропрофиля поверхностей.

Для отражения на светочувствительной или специальной диаграммной бумаге микропрофиля поверхности в увеличенном масштабе применяются профилографы. Заводом Калибр выпускается профилограф-профилометр Калибр-ВЭИ , позволяющий оценивать шероховатость 6—14-го классов. Прибор снабжен устройством для записи профилограмм и позволяет определять высоту микронеровностей по Яа, как и в профилометре КВ-7М. Колебания алмазной иглы прибора преобразуются индуктивным методом в изменения напряжения электрического тока. К оптическим приборам для измерения шероховатости поверхности 3—9-го классов в лабораторных условиях относится двойной микроскоп МИС-11 конструкции акад. В. П. Линника. Для оценки шероховатости 10—14-го классов применяются интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-5 и др. Действие приборов основано на интерференции света. Для определения высоты микронеровностей в труднодоступных местах применяют метод слепков, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность наносят пластические материалы (пластмассу, желатин, воск и др.) и по полученному отпечатку судят о степени шероховатости поверхности. Шероховатость поверхности и точность зависят от способов механической обработки, а при одном и том же способе — от режимов обработки (скорость резания и подачи), свойств и структуры обрабатываемого материала, вибрации инструмента и детали в процессе обработки, жесткости системы СПИД и др. Помимо шеро- [c.41]

Зона / графика соответствует начальной стадии износа, в которой происходит интенсивное смятие гребешков микропрофиля поверхности детали. При этом несущая поверхность детали резко увеличивается (в первый момент она составляет около 0,001 от общей опорной геометрической площади). Удельные давления в этот период огромны. Предварительный износ А/ р поверхностей происходит при сборке и пробных испытаниях прибора он составляет 20—60% от вы- [c.171]

Например, для плоскощлифованной поверхности стальной детали фактическое значение Хф по микрокарте составляет 27,8, а по профилям — 75,3, т. е. значение уточнилось более чем в 2 раза, хотя в обоих случаях гипотеза нормальности была опровергнута с уровнем значимости 0,1%. Без оценки точности экстраполирования профильной информации о микропрофилях поверхности на Пространственную систему любые суждения о микрорельефе поверхности будут не вполне оправданными. [c.221]

Упрочнение шариком уменьшает износ на 35% обкатывание роликом тц уменьшает износ на 30%, а упрочнение ЗМО уменьшает износ на 80%. Столь значительная эффективность ЭМО объясняется не только высокой сте- дд зависимость долго-пенью упрочняемости, особой структу- вечности образцов нз старой И дисперсностью поверхностного ли 45 в условиях фреттннг-слоя, но и совокупностью благоприят- коррозии от силы тока при ных фнзико-механических свойств это- ботке го слоя. При этом существенное значение имеют особенности микропрофиля поверхности, связанные с увеличением радиусов закругления микровыступов и впадин, а также увеличение опорной поверхности, что приводит к уменьшению контактного давления сопрягаемых деталей. [c.77]

Оценка бесконтактным методом 501— 503 измерением контактными способами 501, 502 методом измерения микропрофиля поверхности 502, 503 при визуальном осмотре и сравнении с эталонной отливкой 501, 502 в зависимости от способов литья и изготовления форм 19, 20 Шихта для выплавки бронз 166, 167 ь- металлическая 166, 167 Шихта. Расчет состава — Необходимые исходные данные 156 — Расчетный состав 160 — Примеры расчетов 160—163 аналитический 163, 166 — арифметический 166 Шлакосборники 69 Шоу-процесс 394 Штыри центрирующие 265 [c.527]

Приведенные выражения используются на практике при решении вопросов, связанных с рациональным конструированием и испытанием про-филометров и профилографов. Для определения искажений, имеющих место в каждом конкретном случае измерения технической поверхности, при пользовании формулами требуется некоторая дополнительная информация о поверхности, получить которую не всегда представляется возможным. В этих случаях приобретают особое значение эмпирические способы определения ошибок. Одним из возможных способов нахождения значения действительной высоты микропрофиля поверхности, базирующимся на опытных данных, является способ пространственной диаграммы. Характер зависимости =f г,Р) для данного объекта измерений можно представить графически в виде пространственной диаграммы, по осям которой отложены значения г, Р м Н . Производя изгмерения шупом, имеющим радиус кривизны r при измерительных усилиях Pi, Р>, P s, . мы получим, как это представлено на фиг, 43, ряд точек нь а,, а.) и т, д, но [c.60]

Упрочнение поверхностных слоев ЭМО повышает их коррозионнную стойкость (особенно в кислой среде), в частности, фреттинго-стойкость. Это объясняется не только высокой степенью упрочняемости, особой структурой и дисперсностью поверхностного слоя, но и совокупностью благоприятных физико-механических свойств этого слоя. При этом существенное значение имеют особенности микропрофиля поверхности, связанные с увеличением радиусов закругления микровыступов и впадин, а также увеличением опорной поверхности, что приводит к уменьшению контактных давлений. Влияние плотности тока на фреттинго-стойкость имеет экстремальный характер, что можно объяснить развитием усталостных трещин в связи с увеличением шероховатости при значительных значениях плотности тока. [c.561]

Отделочная обработка режущего инструмента с одновременным формированием заданного микропрофиля поверхности. Обработка внутренних труднодоступ-ных участков в деталях [c.644]

При обработке ВКПМ образуется такой микропрофиль поверхности, который зависит от структуры самого материала и от применяемых режимов резания. Микропрофиль является геометрическим показателем качества поверхности и определяет такие эксплуатационные показатели изделий, как прочность, износостойкость, водопоглощение и т. п. Поэтому выявление закономерностей формирования микропрофиля поверхности, а также установление связей между параметрами микропрофиля и эксплуатационными показателями изделий из ВКПМ имеет большое практическое значение. [c.46]

Качество поверхности. Изменение параметров шероховатости поверхности при обработке стекло-, и углепластиков зависит от ряда факторов, к числу которых относятся скорость резания, подача, глубина резания, степень затупления резца, геометрические параметры резца и в какой-то мере схема армирования материала. Влияние каждого из перечисленных факторов далеко не однозначно. Если учесть, что обработку должны производить резцами оптимальной геометрии, а схему армирования следует учитывать, как это было показано выше, случайной составляющей микропрофиля поверхности, то основными влияющими факторами будут режимы резания. При заданном обрабатываемом материале и оптимальном резце ббеспечение требуемых параметров микропрофиля поверхности достигается подбором соответствующих режимов резания, поэтому расчеты для всех стандартных параметров шероховатости осуществлены именно в зависимости от режимов резания. [c.79]

По мнению многих исследователей, образование блестящих осадков на катоде объясняется адсорбцией блескообразующих добавок и замедлением роста кристаллов в направлении, неблагоприятном для сглаживания поверхности. При определенных условиях в ходе роста кристаллов осадка происходит выравнивание микропрофиля поверхности. В присутствии специальных выравнивающих агентов, адсорбирующихся на катоде, наблюдается такое перераспределение тока на микрошероховатой поверхности, при котором осаждение металла на микровыступах тормозится в большей степени, чем в микровпадинах. Рис. 25 иллюстрирует эффект выравнивающего действия при электроосаждении. Выравнивающую способность можно оценить по отношению значений толщины осадка на различных участках микропрофиля 63/62 и 62/61. Чем больше отношение 63/62 и 62/61, тем лучше выравнивающая способность электролита. Непременным условием выравнивающего действия органических добавок является расход их в процессе электроосаждения путем включения в осадок, в ходе химического или электрохимического превращения и т. д. [c.121]

Микропрофиль поверхности 128 Микрораспределение металла 128 [c.205]

Оценка шероховатости обработанной поверхности количественным методом производится с помощью специальных приборов. Существующие приборы для контроля шероховатости поверхности можно разделить на контактные (щуповые) и бесконтактные (оптические). Контактные приборы работают на принципе ощупывания проверяемой поверхности иглой 1. Относительное колебание этой иглы по высоте, вызванное неровностью контролируемой поверхности, фиксируется самописцем, записывающим увеличенный микропрофиль поверхности в виде профилограммы. В этом случае прибор называется профилографом. Если же колебание ощупывающей иглы прибора передается в увеличенном виде системой рычагов на шкалу прибора, по которой определяется величина шероховатости, прибор носит название профилометра. [c.213]

При многократном нагружении кристаллов А1, Си, Ag l и других Р. В. К- Хоникомб [1, с. 18] обнаружил характерные изменения микропрофиля поверхности [c.200]

Добавление к раствору селенита натрия (0,002 г/л) совместно с триоксиглутаровой кислотой (- 7 г/л) позволяет [84] получать блестящие осадки меди. Одновременное присутствие в электролите селенита натрия, одной из выравнивающих добавок (бутиндиал, кумарин, хинальдин) и ионов никеля увеличивает степень сглаживания микропрофиля поверхности [84]. [c.262]

На рис. 41 представлена схема профилографа. Алмазная игла /, с которой связано зеркальце 2, перемещается по контролируемой поверхности. На зеркальце падает луч света от лампочки 9, направляемый через диафрагму 8 и линзу 6. Колебание иглы, ощупывающей поверхность, изменяет направление отраженного луча света от зеркальца, и через систему зеркалец 3—5 луч отбрасывается на вращающийся барабан 7 со светочувствительной бумагой. После проявления бумаги на ней остается след отраженного зеркальцами луча света, очерчивающего в увеличенном масштабе (фотозапись луча) микропрофиль поверхности при ощупывании его алмазной иглой (профилограмма). [c.79]

Для контроля шероховатости от 9 до 14 классов находят применение интерференционные микроскопы. Микроскоп МИИ-1 (рис. 230) устроен следующим образом. От источника света 3 через диафрагму и линзы пучок света направляется на разделительную призму 5, состоящую из двух склеенных между собой по диагональной плоскости призм. Эта плоскость полупосеребрена, в результате чего часть лучей проходит прямо сквозь призму и падает на эталонное зеркало 6, а другая часть лучей преломляется и падает на контролируемую поверхность детали 4, накладываемую сверху на корпус прибора. Лучи, отраженные от эталонного зеркала 5 и от контролируемой поверхности 4, вновь встречаются в разделительной призме 5 и направляются через линзу 2 в окуляр 1 прибора. Через окуляр можно наблюдать интерференционные полосы, изгиб которых соответствует микропрофилю поверхности, причем масштабом служит расстояние между серединами двух соседних темных (илп светлых) полос, соответствующее длине полуволны света (для белого света 0,275 мк). [c.375]

Профилографы предназначаются для лабораторного исследования чистоты поверхностей. Они данэт увеличенную запись микропрофиля поверхности в виде профилограммы. Из профилограммы определяется Н к или Н(.р — средняя арифметическая высота неровностей поверхности. [c.516]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...